一种机载询问机数字信号处理模块检测仪及其检测方法.pdf

本发明提供了一种机载询问机数字信号处理模块检测仪及其检测方法，包括测试主机，测试主机采用标准PXI总线接口的各个硬件功能模块通过PXI机箱背板相连；所述各个硬件功能模块包括主控计算机、总线卡、1553B卡、综合接口卡、万用表卡和示波器卡；还包括测试夹具，包括电源模块、底板转接板和结构腔体，结构腔体起支撑作用，电源模块给待测件提供工作需要的电源并通过底板转接板输出；还包括与所述主控计算机相连的键盘显示模块；待测件装载在测试夹具上通过电缆与主机连接。体积小、成本低，能够针对机载询问机数字处理模块进行功能、性能等测试，能够实现元器件级别故障定位。

1.  一种机载询问机数字信号处理模块检测仪，包括测试主机，测试主机采用标准PXI总线接口的各个硬件功能模块通过PXI机箱背板相连；所述各个硬件功能模块包括主控计算机、总线卡、1553B卡、综合接口卡、万用表卡和示波器卡；其特征在于：还包括测试夹具，包括电源模块、底板转接板和结构腔体，结构腔体起支撑作用，电源模块给待测件提供工作需要的电源并通过底板转接板输出；还包括与所述主控计算机相连的键盘显示模块；待测件装载在测试夹具上通过电缆与主机连接。

2.  根据权利要求1所述的检测仪，其特征在于，所述每个待测件与主机之间的连接电缆均为专用测试电缆。

3.  基于权利要求1所述的检测仪的机载询问机数字信号处理模块检测方法，点迹处理模块的检测方法为：在综合接口卡中预存点迹处理模块的RS422数据A；检测上电前，对点迹处理模块进行短路和电压测试，确保无短路发生并且各路工作电压正常；检测上电后，显控界面通过综合接口卡给点迹处理模块发送读总线数据命令；点迹处理模块通过AT96总线读取储存于综合接口卡RAM中关于点迹处理模块的AT96总线控制命令，并通过总线卡分析点迹处理模块的RS422数据B；总线卡将所述RS422数据A与所述RS422数据B相比较，给出RS422数据B正确与否的判断，显示在显示器上；对输出信号出错的相应线路进行测试点测试，根据测试点特性定位故障元器件。

4.  根据权利要求3所述的检测方法，译码模块的检测方法为：在综合接口卡中预存译码模块的译码数据A；检测上电前，对译码模块进行短路和电压测试，确保无短路发生并且各路工作电压正常；检测上电后，显控界面通过综合接口卡给译码模块发送读总线数据命令；译码模块通过AT96总线读取储存于综合接口卡RAM中关于译码模块的AT96总线控制命令，并通过总线卡分析译码模块的译码数据B；总线卡将所述译码数据A与所述译码数据B相比较，给出译码数据B正确与否的判断，显示在显示器上。

5.  根据权利要求4所述的检测方法，所述译码数据包括和视频信号数据、差视频信号数据、Sin鉴相视频信号数据和Cos鉴相视频信号数据。

6.  根据权利要求3所述的检测方法，编码接口模块检测方法为：在综合接口卡中预存编码接口模块的下传控制数据A；检测上电前，对编码接口模块进行短路和电压测试，确保无短路发生并且各路工作电压正常；检测上电后，显控界面通过综合接口卡给编码接口模块发送读总线数据命令；1553B卡发出下传数据给编码接口模块；综合接口卡接收所述下传数据得出编码接口模块的下传控制数据B；综合接口卡将所述下传控制数据A与所述下传控制数据B相比较，给出编码接口模块的下传控制数据B正确与否的判断，显示在显示器上。

7.  根据权利要求3到6之一所述的检测方法，所述编码接口模块检测方法还包括，在1555B卡中预存译码模块的编码接口模块上传控制状态数据A；综合接口卡通过AT96总线发送上传数据给编码接口模块；编码接口模块将所述上传数据得出的上传状态数据B发送给1555B卡；1555B卡将所述上传控制状态数据A与所述上传控制状态数据B相比较，给出编码接口模块的上传控制状态数据B正确与否的判断，显示在显示器上。

8.  根据权利要求7所述的检测方法，所述上传控制状态数据包括编码控制数据和离散控制数据。

9.  根据权利要求3所述的检测方法，所述测试点的测试方法为：添加所述测试对象的所有测试点位置的测试图片信息；将实际测试点的测量值转换为波形或数据后与其参考值对比并给出判断结果；所述测试图片信息包括测试点位置、信号类型和测试点参考波形或数据。

一种机载询问机数字信号处理模块检测仪及其检测方法
技术领域
本发明涉及一种机载询问机数字信号处理模块检测仪及其检测方法，特别是涉及一种适用于航天领域，机载询问机内部数字信号处理模块的专用检测仪及其检测方法。
背景技术
机载询问机是机载询问应答系统的重要组成之一，另一重要组成则为机载应答机。询问机按规定编码格式和使用要求进行询问后, 等待接收来自机载应答机（空空）或舰载应答机(空地)的应答信号，检测和译出此应答信号, 以识别该应答机的载机的身份，为飞行员或自动的监视系统做出对应的响应提供依据。这些信息包括飞机身份代码识别、位置信息以及友机的特殊位置回答信号、应急回答信息等。
迄今为止，国内外市场上尚无专门针对机载询问机数字处理模块进行功能、性能等测试、元器件级别故障定位的自动化专用检测设备。
但是，现有测试手段主要采用专用及通用硬件功能模块进行搭建测试环境，再通过总线控制的手段进行自动测试。测试仪器数量多体积大成本高，部分专用仪器又受购买限制；元器件级别故障定位受限于待测模块预留测试点少的状况，很多特性信号需要在芯片引脚直接测量，需要测试人员按照软件提示逐步手动进行排故，尚无法做到自动。
PXI技术具有很好的开放性与可扩展性，可根据需求实现不同的功能设计。配合灵活的软件，可以完成各种自动化测试工作。PXI技术将测试环境的搭建从以前的一大堆各式各样测试设备的集合简化为一个机箱加相应硬件功能模块及显控装置。
PXI技术革新了传统复杂繁琐的测试工作，开展了便携测试的新局面。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种体积小、成本低，能够针对机载询问机数字处理模块进行功能、性能等测试、元器件级别故障定位的机载询问机数字信号处理模块检测仪及其检测方法。
本发明采用的技术方案如下：一种机载询问机数字信号处理模块检测仪，包括测试主机，测试主机采用标准PXI总线接口的各个硬件功能模块通过PXI机箱背板相连；所述各个硬件功能模块包括主控计算机、总线卡、1553B卡、综合接口卡、万用表卡和示波器卡；其特征在于：还包括测试夹具，包括电源模块、底板转接板和结构腔体，结构腔体起支撑作用，电源模块给待测件提供工作需要的电源并通过底板转接板输出；还包括与所述主控计算机相连的键盘显示模块；待测件装载在测试夹具上通过电缆与主机连接。
作为优选，所述每个待测件与主机之间的连接电缆均为专用测试电缆。
基于上述检测仪的机载询问机数字信号处理模块检测方法，点迹处理模块的检测方法为：在综合接口卡中预存点迹处理模块的RS422数据A；检测上电前，对点迹处理模块进行短路和电压测试，确保无短路发生并且各路工作电压正常；检测上电后，显控界面通过综合接口卡给点迹处理模块发送读总线数据命令；点迹处理模块通过AT96总线读取储存于综合接口卡RAM中关于点迹处理模块的AT96总线控制命令，并通过总线卡分析点迹处理模块的RS422数据B；总线卡将所述RS422数据A与所述RS422数据B相比较，给出RS422数据B正确与否的判断，显示在显示器上；对输出信号出错的相应线路进行测试点测试，根据测试点特性定位故障元器件。
作为优选，译码模块的检测方法为：在综合接口卡中预存译码模块的译码数据A；检测上电前，对译码模块进行短路和电压测试，确保无短路发生并且各路工作电压正常；检测上电后，显控界面通过综合接口卡给译码模块发送读总线数据命令；译码模块通过AT96总线读取储存于综合接口卡RAM中关于译码模块的AT96总线控制命令，并通过总线卡分析译码模块的译码数据B；总线卡将所述译码数据A与所述译码数据B相比较，给出译码数据B正确与否的判断，显示在显示器上。
作为优选，所述译码数据包括和视频信号数据、差视频信号数据、Sin鉴相视频信号数据和Cos鉴相视频信号数据。
作为优选，编码接口模块检测方法为：在综合接口卡中预存编码接口模块的下传控制数据A；检测上电前，对编码接口模块进行短路和电压测试，确保无短路发生并且各路工作电压正常；检测上电后，显控界面通过综合接口卡给编码接口模块发送读总线数据命令；1553B卡发出下传数据给编码接口模块；综合接口卡接收所述下传数据得出编码接口模块的下传控制数据B；综合接口卡将所述下传控制数据A与所述下传控制数据B相比较，给出编码接口模块的下传控制数据B正确与否的判断，显示在显示器上。
作为优选，所述编码接口模块检测方法还包括，在1555B卡中预存译码模块的编码接口模块上传控制状态数据A；综合接口卡通过AT96总线发送上传数据给编码接口模块；编码接口模块将所述上传数据得出的上传状态数据B发送给1555B卡；1555B卡将所述上传控制状态数据A与所述上传控制状态数据B相比较，给出编码接口模块的上传控制状态数据B正确与否的判断，显示在显示器上。
作为优选，所述上传控制状态数据包括编码控制数据和离散控制数据。
作为优选，所述测试点的测试方法为：添加所述测试对象的所有测试点位置的测试图片信息；将实际测试点的测量值转换为波形或数据后与其参考值对比并给出判断结果；所述测试图片信息包括测试点位置、信号类型和测试点参考波形或数据。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：体积小、成本低，能够针对机载询问机数字处理模块进行功能、性能等测试，能够实现元器件级别故障定位。
附图说明
图1为本发明其中一实施例中点迹处理模块检测方法示意图。
图2为本发明其中一实施例中译码模块检测方法示意图。
图3为本发明其中一实施例中编码接口模块检测方法示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本说明书（包括任何附加权利要求、摘要和附图）中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或者具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。
一种机载询问机数字信号处理模块检测仪，包括测试主机，测试主机采用标准PXI总线接口的各个硬件功能模块通过PXI机箱背板相连；所述各个硬件功能模块包括主控计算机、总线卡、1553B卡、综合接口卡、万用表卡和示波器卡；其特征在于：还包括测试夹具，包括电源模块、底板转接板和结构腔体，结构腔体起支撑作用，电源模块给待测件提供工作需要的电源并通过底板转接板输出；还包括与所述主控计算机相连的键盘显示模块；待测件装载在测试夹具上通过电缆与主机连接。
根据该检测设备在内场生产线的使用要求，设计时考虑到小巧便携、易于扩展的特性，采用通用模块搭建，方便使用和维护。主机部分所有硬件模块均采用PXI标准接口，通过机箱的背板的PXI总线进行数据传输，完成测控与现实功能。
所述每个待测件与主机之间的连接电缆均为专用测试电缆。
考虑到设备的便携式设计，所以在主机和专用测试夹具之间配有专用测试电缆的防插错设计。测试电缆便于安装、拆卸和运输。测试过程中一步到位，无需更换连接电缆。
基于上述检测仪的机载询问机数字信号处理模块检测方法，如图1所示，点迹处理模块的检测方法为：在综合接口卡中预存点迹处理模块的RS422数据A；检测上电前，对点迹处理模块进行短路和电压测试，确保无短路发生并且各路工作电压正常；检测上电后，显控界面通过综合接口卡给点迹处理模块发送读总线数据命令；点迹处理模块通过AT96总线读取储存于综合接口卡RAM中关于点迹处理模块的AT96总线控制命令，并通过总线卡分析点迹处理模块的RS422数据B；总线卡将所述RS422数据A与所述RS422数据B相比较，给出RS422数据B正确与否的判断，显示在显示器上；对输出信号出错的相应线路进行测试点测试，根据测试点特性定位故障元器件。
如图2所示，译码模块的检测方法为：在综合接口卡中预存译码模块的译码数据A；检测上电前，对译码模块进行短路和电压测试，确保无短路发生并且各路工作电压正常；检测上电后，显控界面通过综合接口卡给译码模块发送读总线数据命令；译码模块通过AT96总线读取储存于综合接口卡RAM中关于译码模块的AT96总线控制命令，并通过总线卡分析译码模块的译码数据B；总线卡将所述译码数据A与所述译码数据B相比较，给出译码数据B正确与否的判断，显示在显示器上。
所述译码数据包括和视频信号数据、差视频信号数据、Sin鉴相视频信号数据和Cos鉴相视频信号数据。由综合接口卡产生待测件“译码模块”专用的视频信号，并分析译码模块输出的专用格式译码数据。
如图3所示，编码接口模块检测方法为：在综合接口卡中预存编码接口模块的下传控制数据A；检测上电前，对编码接口模块进行短路和电压测试，确保无短路发生并且各路工作电压正常；检测上电后，显控界面通过综合接口卡给编码接口模块发送读总线数据命令；1553B卡发出下传数据给编码接口模块；综合接口卡接收所述下传数据得出编码接口模块的下传控制数据B；综合接口卡将所述下传控制数据A与所述下传控制数据B相比较，给出编码接口模块的下传控制数据B正确与否的判断，显示在显示器上。
所述编码接口模块检测方法还包括，在1555B卡中预存译码模块的编码接口模块上传控制状态数据A；综合接口卡通过AT96总线发送上传数据给编码接口模块；编码接口模块将所述上传数据得出的上传状态数据B发送给1555B卡；1555B卡将所述上传控制状态数据A与所述上传控制状态数据B相比较，给出编码接口模块的上传控制状态数据B正确与否的判断，显示在显示器上。
由于编码接口模块接收和发送的信号的特殊性，只能采用我们专用的1553B卡和综合接口卡进行分析。
所述上传控制状态数据包括编码控制数据和离散控制数据。
所述测试点的测试方法为：添加所述测试对象的所有测试点位置的测试图片信息；将实际测试点的测量值转换为波形或数据后与其参考值对比并给出判断结果；所述测试图片信息包括测试点位置、信号类型和测试点参考波形或数据。所述测试图片信息还包括测试该点应使用的探头、测试线缆连接关系和测试注意事项。
如果检测到被测对象存在故障，则首先对被测对象的基本测试点（电源、输入信号和可编程器件）进行测试，然后对出现故障的输出信号测试点进行测试，部分无法使用仪器检测的情况下，测试系统给出准确结果由操作人员参照准确结果判断对错。
大部分情况下根据测试点的实测波形或数据，与采集的标准波形或数据进行比对，即可诊断出故障元器件。当测试点收到外界干扰等情况时，实测结果不能反映被测模块的真实状态。以射频模块测试为例，由于空间辐射的影响，在对某测试点进行测试时，可能因为操作环境不同而导致测试结果不同，这种情况下，就不能以测试点某次的实测值来判断元器件好坏，而是根据本次手动测试一系列测试点实测值的变化规律来判定某元器件的好坏。