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1、10申请公布号CN104198861A43申请公布日20141210CN104198861A21申请号201410464600322申请日20140913G01R31/00200601G05B19/05200601G05D27/0220060171申请人安徽鑫龙电器股份有限公司地址241008安徽省芜湖市鸠江区九华北路118号电器部件园72发明人束龙胜崔文梅高峰张希吴小春李颖汪菁涵杨先忠沈松马小群74专利代理机构芜湖安汇知识产权代理有限公司34107代理人马荣54发明名称一种电子产品老化测试系统57摘要本发明公开了一种电子产品老化测试系统，其特征在于所述的测试系统为后台系统控制PLC模块分别连。
2、接温度模块、湿度模块、温度调节模块、湿度调节模块、时间调节模块；时间调节模块连接待测产品；信号源模块与PLC模块通讯后连接到待测产品上。由于采用上述的结构，本发明的优点在于1、房间设定温度、湿度范围广，在常温85范围内、湿度0100RH可任意连续可调；2、系统保护功能齐全，能确保安全稳定无故障运行测试；3、根据产品的性能进行信号输入和时间需求，满足电子产品在线测试的准确性；4、有效提高电子产品的可靠性。51INTCL权利要求书1页说明书3页附图1页19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书1页说明书3页附图1页10申请公布号CN104198861ACN104198861A1/1。
3、页21一种电子产品老化测试系统，其特征在于所述的测试系统为后台系统1控制PLC模块2分别连接温度模块3、湿度模块4、温度调节模块5、湿度调节模块6、时间调节模块7；时间调节模块7连接待测产品9；信号源模块8与PLC模块2通讯后连接到待测产品9上。2根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试系统，其特征在于所述的PLC模块2通过温度模块3、湿度模块4对老化房内的温度、湿度信息进行采集并通过温度调节模块5、湿度调节模块6进行调节保证老化房内的温度湿度处于规定范围内。3根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试系统，其特征在于所述的后台系统1将信号源模块8的输入信号与待测产品9的输出信号进行计算对比，当。
4、输出信号超出阙值后判断产品不合格。4根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试系统，其特征在于所述的后台系统1设置在设置于老化电子产品房的门外的控制桌上的控制室内。5根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试系统，其特征在于所述的温度模块3、湿度模块4、温度调节模块5、湿度调节模块6、时间调节模块7和信号源模块8设置在电子产品老化房中。权利要求书CN104198861A1/3页3一种电子产品老化测试系统技术领域0001本发明涉及电子产品的质量检测领域，特别涉及一种电子产品老化测试系统。背景技术0002电子产品，不管是元件、部件、整机、设备、都要进行老化测试。电子产品通过生产制造后，形成了完整的产品。
5、，已经可以发挥使用价值了，但使用以后发现会有这样那样的毛病，又发现这些毛病绝大部分发生开始的几小时至几十小时之内，后来干脆就规定了电子产品必须经过老化测试方可投入市场。0003为了达到满意的合格率，几乎所有的电子产品在出厂前都要经过老化测试。电子产品的老化测试是指仿照或者等效产品的使用状态在出厂前对电子产品进行测试，把有问题的产品留在工厂，老化后没问题的产品给用户，以保证买给用户的产品是可靠的或者是问题较少的。而现有的电子厂家都是根据其各自产品制定不同的测试工装进行测试，通用性不强，而且测试环境与精度不够，不能满足老化测试的需求。0004针对上述问题，为各种电子产品提供一种新型的老化测试系统，。
6、提高电子产品的出厂合格率的同时提高电子成品的可靠性。发明内容0005本发明所要解决的技术问题是，提供一种电子产品老化测试系统，提高电子产品的出厂合格率的同时提高电子成品的可靠性。0006为达到上述目的，本发明的技术方案是，一种电子产品老化测试系统，其特征在于所述的测试系统为后台系统控制PLC模块分别连接温度模块、湿度模块、温度调节模块、湿度调节模块、时间调节模块；时间调节模块连接待测产品；信号源模块与PLC模块通讯后连接到待测产品上。0007所述的PLC模块通过温度模块、湿度模块对老化房内的温度、湿度信息进行采集并通过温度调节模块、湿度调节模块进行调节保证老化房内的温度湿度处于规定范围内。00。
7、08所述的后台系统将信号源模块的输入信号与待测产品的输出信号进行计算对比，当输出信号超出阙值后判断产品不合格。0009所述的后台系统设置在设置于老化电子产品房的门外的控制桌上的控制室内。0010所述的温度模块、湿度模块、温度调节模块、湿度调节模块、时间调节模块和信号源模块设置在电子产品老化房中。0011一种电子产品老化测试系统，由于采用上述的结构，本发明的优点在于1、房间设定温度、湿度范围广，在常温85范围内、湿度0100RH可任意连续可调；2、系统保护功能齐全，能确保安全稳定无故障运行测试；3、根据产品的性能进行信号输入和时间需求，满足电子产品在线测试的准确性；4、有效提高电子产品的可靠性。。
8、附图说明说明书CN104198861A2/3页40012下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明；0013图1为本发明一种电子产品老化测试系统结构示意图；0014在图1中，1、后台系统；2、PLC模块；3、温度模块；4、湿度模块；5、温度调节模块；6、湿度调节模块；7、时间调节模块；8、信号源模块；9、待测产品。具体实施方式0015本发明包括后台系统1即计算机，PLC模块2，温度模块3，湿度模块4，温度调节模块5，湿度调节模块6，时间调节模块7，信号源模块80016后台系统1为监控层。PLC模块2是控制层。温度模块3、湿度模块4、温度调节模块5与湿度调节模块6、时间调节模块7、信号。
9、源模块8共同进行现场数据采集，组成现场层。0017具体的如图1所示，本发明为后台系统1控制PLC模块2分别连接温度模块3、湿度模块4、温度调节模块5、湿度调节模块6、时间调节模块7；时间调节模块7连接待测产品9；信号源模块8与PLC模块2通讯后连接到待测产品9上。0018PLC模块2通过温度模块3、湿度模块4对老化房内的温度、湿度信息进行采集并通过温度调节模块5、湿度调节模块6进行调节保证老化房内的温度湿度处于规定范围内。后台系统1将信号源模块8的输入信号与待测产品9的输出信号进行计算对比，当输出信号超出阙值后判断产品不合格。后台系统1设置在设置于老化电子产品房的门外的控制桌上的控制室内。温度。
10、模块3、湿度模块4、温度调节模块5、湿度调节模块6、时间调节模块7和信号源模块8设置在电子产品老化房中。0019后台系统1实时采集电子产品老化房内的温度信息和湿度信息与设定的温度参数、湿度参数进行对比，当超出设定范围后控制温度调节模块5或者湿度调节模块6，当对电子仓库内的温度和湿度进行调节。同时根据后台系统连接的电子产品的信号输入部分与电子产品显示的输出部分进行计算对比，进行调节信号输入的数值。0020后台系统1以计算机为中心，通过通讯网络与PLC模块2连接及与信号源模块8，组成一个网络。后台系统1将PLC模块2采集的各种信息老化房内的温度、湿度、及老化中的电子产品输出的实时数据保存并且与设置。
11、参数对比，进行相应处理。PLC模块2主要由PLC组成，对环境系统的参数进行设置，并且通过通讯接口把PLC采集的信息上传到后台系统1。温度模块3根据PLC设置的温度参数、实时进行调节。当温度模块参数低与PLC设置参数时动作。温度调节模块5设定的老化房内的实时温度进行比较，环境中的温度高于设定的参数时进行相应降温工作。湿度调节模块6根据PLC设置的湿度参数4060RH范围中，与电子产品老化房内的实时湿度进行比较，环境中的湿度低于设定的参数时进行相应加湿工作。时间调节模块7根据PLC模块都电子产品设置的老化时间进行设定、调节。信号源模块8根据老化中的产品需求进行各种信号的持续输入，由产品内部的计算出输出信号的数值，与标准产品的数值进行对比和调节。0021本发明能有效提高电子产品的寿命、降低电子产品故障，同时也为电子成品消除了一部分的安全隐患。这种系统具有很强的通用性，适合不同种类的电子产品的老化在线测试。0022上面结合附图对本发明进行了示例性描述，显然本发明具体实现并不受上述方式说明书CN104198861A3/3页5的限制，只要采用了本发明技术方案进行的各种改进，或未经改进直接应用于其它场合的，均在本发明的保护范围之内。说明书CN104198861A1/1页6图1说明书附图CN104198861A。