一种视野失真综合测试尺技术领域
本发明涉及医疗影像设备领域，尤其涉及一种应用在数字X射线摄影
系统中的视野失真综合测试尺。
背景技术
目前，数字X射线摄影系统中通常采用“视野失真综合测试卡”来检
测系统的有效区域。“视野失真综合测试卡”作为一种综合性标准工具，可
以很好的测量探测器的有效区域，还可以辅助调试光野和X射线野的对中，
所以非常实用。但是现有的“视野失真综合测试卡”存在一个缺点，就是
测试卡需要覆盖整个探测器板面，所以尺寸较大，不方便携带，若需要外
出装机和系统维护检修，就更不方便携带。
因此，现有技术还有待于改进和发展。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种视野失真综合
测试尺，旨在解决现有的综合测试卡其尺寸大、不方便携带的问题。
本发明的技术方案如下：
一种视野失真综合测试尺，其中，包括第一测试尺以及第二测试尺，
所述第二测试尺的长度为第一测试尺的一半，所述第二测试尺的一端转动
连接在所述第一测试尺的中间位置。
所述的视野失真综合测试尺，其中，第一测试尺和第二测试尺的刻度
线用65μm厚的铜皮加工制成。
所述的视野失真综合测试尺，其中，第一测试尺和第二测试尺的厚度
为2mm。
所述的视野失真综合测试尺，其中，所述第一测试尺的刻度线从中间
位置对称设置。
所述的视野失真综合测试尺，其中，所述第一测试尺和第二测试尺的
刻度线上设置有从0到23cm之间的刻度。
所述的视野失真综合测试尺，其中，所述第一测试尺和第二测试尺的
刻度线上从16到21cm之间的最小刻度设置为0.2cm。
所述的视野失真综合测试尺，其中，所述第一测试尺和第二测试尺的
刻度线上从21到23cm之间的最小刻度设置为0.1cm。
所述的视野失真综合测试尺，其中，所述第一测试尺和第二测试尺的
主体材料为环氧树脂。
所述的视野失真综合测试尺，其中，所述第一测试尺和第二测试尺采
用PCB板制板的方式制作。
有益效果：本发明中的综合测试尺采用折叠式的结构设计，分为转动
连接的第一测试尺和第二测试尺，从而减小了尺寸，也方便了携带，满足
了售后装机人员、维护/维修人员在装机现场完成一系列相关的测试和调试
的需求。
附图说明
图1为本发明一种视野失真综合测试尺第一状态的结构示意图。
图2为本发明一种视野失真综合测试尺第二状态的结构示意图。
图3为本发明一种视野失真综合测试尺的分解结构示意图。
具体实施方式
本发明提供一种视野失真综合测试尺，为使本发明的目的、技术方案
及效果更加清楚、明确，以下对本发明进一步详细说明。应当理解，此处
所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明为了现有的测试尺其尺寸较大，不方便携带的问题，提供了一
种简易的视野失真综合测试尺。该测试尺采用折叠式结构设计，可以满足
售后装机人员、维护/维修人员在装机现场完成一系列相关的测试和调试的
需求。
请参阅图1，图1为本发明的视野失真综合测试尺的结构示意图，如图
所示，其包括：第一测试尺100以及第二测试尺200，所述第二测试尺200
的长度为第一测试尺100的一半，所述第二测试尺200的一端转动连接在
所述第一测试尺100的中间位置。
本发明采用折叠式的结构，在需要使用第二测试尺200时，将第二测
试尺200转出张开，如图2所示，即可使用，从而实现同时测量不同角度
的长度，实现X射线下的有效区域检测。在携带或不需要使用时，可将第
二测试尺200转入到第一测试尺100上，即将第二测试尺200回收，方便
携带和运输等，实现测试尺的小型及便携化。
所述第一测试尺100以及第二测试尺200均采用PCB板制板的方式制
作测试尺，所以该本发明的测试尺极易复制加工并且成本较为低廉，实现
其可复制和广泛性应用PCB加工工艺。所述第一测试尺100以及第二测试
尺200的刻度线采用单面2oz(65μm厚)铜皮加工制成，以实现X射线
下的有效区域检测。所述第一测试尺100以及第二测试尺200的厚度为
2mm。
本发明的第一测试尺100以及第二测试尺200均采用环氧树脂作为测
试尺的主体材料，其成本较低，有利于推广使用，并且还有助于加工成型。
所述第一测试尺100的刻度线从中间位置对称设置，即可以以中间位
置为起点，两边均能进行测量。而第二测试尺200的长度为第一测试尺100
的一半，所以相当于有三个同样长度的测试工具，如图3所示。第二测试
尺200的刻度是从连接位置为起点，从0开始。
所述第一测试尺100和第二测试尺200的刻度线上设置有从0到23cm
之间的刻度。其中第一测试尺100和第二测试尺200的刻度线上从0到16cm
之间的最小刻度为0.5cm。而从16到21cm之间的最小刻度设置为0.2cm。
所述第一测试尺100和第二测试尺200的刻度线上从21到23cm之间
的最小刻度设置为0.1cm。即越离中心越远，其最小刻度也越小，这样有利
于提高实际测量过程中的精度。
综上所述，本发明通过折叠式的测试尺结构，可以有效实现传统的“视
野失真测试综合卡”的测试功能，并且结构简单，成本低、体积小，便于
携带。
应当理解的是，本发明的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术
人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应
属于本发明所附权利要求的保护范围。