光信息处理装置和光信息处理方法、以及光信息处理装置的调节装置、调节方法和调节程序.pdf

本发明以较少的测定点数进行球面像差校正量和聚焦调节值的调节。光信息处理装置(100)具有：光学头(300)，其向光盘(500)照射光，检测来自光盘的反射光而输出再现信号；球面像差校正部(160)，其对照射到光盘的光的球面像差进行校正；聚焦调节部(201)，其根据聚焦调节值对照射到光盘的光的聚焦位置进行调节；以及调节部(202)，其分别针对以球面像差校正部(160)的球面像差校正量和聚焦调节值为坐标轴的平面上的至少3条直线，在该直线上的至少3点的测定位置处测定再现信号的信号特性，根据该测定结果，求出信号特性为大致同一水平的平面上的至少5个位置作为估计位置，并基于该至少5个估计位置调节球面像差校正量和聚焦调节值。

1.  一种光信息处理装置，其特征在于，该光信息处理装置具有：
照射受光单元，其向光盘照射光，检测来自所述光盘的反射光而输出再现信号；
球面像差校正单元，其对照射到所述光盘的光的球面像差进行校正；
聚焦调节单元，其根据聚焦调节值对照射到所述光盘的光的聚焦位置进行调节；以及
调节单元，其分别针对以所述聚焦调节值和所述球面像差校正单元的球面像差校正量为坐标轴的平面上的至少3条直线，在该直线上的至少3点的测定位置处测定所述再现信号的信号特性，根据该测定结果，求出所述信号特性为大致同一水平的所述平面上的至少5个位置作为估计位置，并基于该至少5个估计位置调节所述球面像差校正量和所述聚焦调节值。

2.  根据权利要求1所述的光信息处理装置，其特征在于，
所述至少3条直线包含与所述聚焦调节值的坐标轴平行的聚焦轴直线、和与所述聚焦轴直线不同的至少两条剩余直线，
所述调节单元在所述聚焦轴直线上的至少3点的测定位置处测定出所述信号特性后，依次变更所述球面像差校正量，每当变更所述球面像差校正量时，在变更后的球面像差校正量下在所述各剩余直线上的测定位置处测定所述信号特性，由此分别针对所述至少3条直线，在该直线上的至少3点的测定位置处测定所述信号特性。

3.  根据权利要求2所述的光信息处理装置，其特征在于，
所述各剩余直线被设定为通过所述聚焦轴直线上的所述至少3点的测定位置中的任意一个测定位置。

4.  根据权利要求3所述的光信息处理装置，其特征在于，
针对所述聚焦轴直线，在用2次以上的多项式对所述测定位置与在所述测定位置处测定出的信号特性之间的关系进行了近似时，在将所述信号特性为极值的位置设为了极值位置的情况下，
所述各剩余直线被设定为通过所述聚焦轴直线上的所述至少3点的测定位置中的、所述极值位置附近的测定位置。

5.  根据权利要求1～4中的任意一项所述的光信息处理装置，其特征在于，
所述调节单元针对所述各直线，在用2次以上的多项式对所述测定位置与在所述测定位置处测定出的信号特性之间的关系进行了近似时，在所述信号特性为极值的位置包含在所述测定位置的范围内为止，在以扩展所述测定位置的范围的方式变更所述测定位置的同时进行所述信号特性的测定。

6.  根据权利要求1～5中的任意一项所述的光信息处理装置，其特征在于，
所述至少3条直线相对于所述球面像差校正量和所述聚焦调节值的坐标轴倾斜，包含将所述平面中的所述信号特性的等高线视作椭圆的情况下的、与椭圆的长轴大致平行的直线。

7.  根据权利要求1～6中的任意一项所述的光信息处理装置，其特征在于，
所述调节单元针对所述至少3条直线中的至少1条直线，在至少两点的测定位置处测定出所述信号特性后，对所述至少两点的测定位置中的、两端的测定位置处的所述信号特性进行比较，将自所述两端的测定位置中的所述信号特性良好的一方的测定位置、朝与朝向另一方的测定位置相反的方向离开而得到的位置决定为下一测定位置。

8.  根据权利要求1～7中的任意一项所述的光信息处理装置，其特征在于，
所述调节单元对所述至少5个估计位置进行椭圆近似，根据该椭圆近似的结果求出椭圆的中心位置，并基于该椭圆的中心位置决定所述球面像差校正量和所述聚焦调节值。

9.  根据权利要求8所述的光信息处理装置，其特征在于，
所述调节单元针对所述各直线，根据用2次以上的多项式对所述测定位置与在所述测定位置处测定出的信号特性之间的关系进行近似而得到的近似结果，求出在所述信号特性为规定水平的所述平面上的位置，作为所述估计位置，并使用所得到的估计位置中的至少5个来进行所述椭圆近似。

10.  根据权利要求8或9所述的光信息处理装置，其特征在于，
所述调节单元进行所述椭圆近似的结果是否示出椭圆的判断，在所述判断中判断为未示出椭圆的情况下，变更所述信号特性的水平来求出所述至少5个估计位置，在使用该至少5个估计位置进行了所述椭圆近似后，再次进行所述判断，在所述判断中判断为示出椭圆的情况下，根据所述椭圆近似的结果求出所述椭圆的中心位置。

11.  根据权利要求8或9所述的光信息处理装置，其特征在于，
所述调节单元分别在所述信号特性的多个水平下，求出所述至少5个估计位置，对该至少5个估计位置进行椭圆近似，求出该椭圆近似的结果与所述至少5个估计位置之间的误差量，并根据与所述多个水平对应的多个椭圆近似结果中的、所述误差量最小的椭圆近似结果，求出所述椭圆的中心位置。

12.  根据权利要求1～11中的任意一项所述的光信息处理装置，其特征在于，
所述调节单元判断所述测定的妥当性，在判断为不妥当的情况下，在追加的测定位置处测定所述信号特性，根据包括在该追加的测定位置处测定出的信号特性在内的测定结果，进行所述调节。

13.  根据权利要求12所述的光信息处理装置，其特征在于，
所述调节单元在所求出的所述椭圆的中心位置不包含在根据所述测定位置规定的规定范围内的情况下，判断为所述测定不妥当。

14.  根据权利要求12所述的光信息处理装置，其特征在于，
所述调节单元在所述至少3条直线中的至少1条中、所述测定位置与在所述测定位置处测定出的信号特性之间的关系为单调增加或单调减少的情况下，判断为所述测定不妥当。

15.  根据权利要求1～14中的任意一项所述的光信息处理装置，其特征在于，
所述信号特性是所述再现信号的振幅。

16.  根据权利要求1～14中的任意一项所述的光信息处理装置，其特征在于，
所述信号特性是所述再现信号的质量。

17.  根据权利要求1～14中的任意一项所述的光信息处理装置，其特征在于，
所述信号特性是循轨误差信号的振幅。

18.  根据权利要求1～17中的任意一项所述的光信息处理装置，其特征在于，
所述光信息处理装置还具有记录调节单元，所述记录调节单元对记录到所述光盘时所使用的记录用的聚焦调节值进行调节，
所述记录调节单元在变更所述聚焦调节值的同时，使用固定的记录功率进行对所述光盘的测试记录，利用固定的聚焦调节值对通过所述测试记录所记录的信号进行再现，测定再现信号的信号特性，用2次以上的多项式对所述聚焦调节值与所述测定出的信号特性之间的关系进行近似，根据该近似的结果求出信号特性为最佳的聚焦调节值，并将该聚焦调节值决定为所述记录用的聚焦调节值。

19.  一种光信息处理方法，其特征在于，该光信息处理方法包括以下步骤：
照射受光步骤，向光盘照射光，检测来自所述光盘的反射光而输出再现信号；
球面像差校正步骤，对照射到所述光盘的光的球面像差进行校正；
聚焦调节步骤，根据聚焦调节值对照射到所述光盘的光的聚焦位置进行调节；以及
调节步骤，分别针对以所述聚焦调节值和在所述球面像差校正步骤中得到的球面像差校正量为坐标轴的平面上的至少3条直线，在该直线上的至少3点的测定位置处测定所述再现信号的信号特性，根据该测定结果，求出所述信号特性为大致同一水平的所述平面上的至少5个位置作为估计位置，并基于该至少5个估计位置调节所述球面像差校正量和所述聚焦调节值。

20.  根据权利要求19所述的光信息处理方法，其特征在于，
所述至少3条直线包含与所述聚焦调节值的坐标轴平行的聚焦轴直线、和与所述聚焦轴直线不同的至少两条剩余直线，
在所述调节步骤中，在所述聚焦轴直线上的至少3点的测定位置处测定出所述信号特性后，依次变更所述球面像差校正量，每当变更所述球面像差校正量时，在变更后的球面像差校正量下在所述各剩余直线上的测定位置处测定所述信号特性，由此分别针对所述至少3条直线，在该直线上的至少3点的测定位置处测定所述信号特性。

21.  根据权利要求20所述的光信息处理方法，其特征在于，
所述各剩余直线被设定为通过所述聚焦轴直线上的所述至少3点的测定位置中的任意一个测定位置。

22.  根据权利要求21所述的光信息处理方法，其特征在于，
针对所述聚焦轴直线，在用2次以上的多项式对所述测定位置与在所述测定位置处测定出的信号特性之间的关系进行了近似时，在将所述信号特性为极值的位置设为了极值位置的情况下，
所述各剩余直线被设定为通过所述聚焦轴直线上的所述至少3点的测定位置中的、所述极值位置附近的测定位置。

23.  根据权利要求19～22中的任意一项所述的光信息处理方法，其特征在于，
在所述调节步骤中，针对所述各直线，在用2次以上的多项式对所述测定位置与在所述测定位置处测定出的信号特性之间的关系进行了近似时，在所述信号特性为极值的位置包含在所述测定位置的范围内为止，在以扩展所述测定位置的范围的方式变 更所述测定位置的同时进行所述信号特性的测定。

24.  根据权利要求19～23中的任意一项所述的光信息处理方法，其特征在于，
所述至少3条直线相对于所述球面像差校正量和所述聚焦调节值的坐标轴倾斜，包含将所述平面中的所述信号特性的等高线视作椭圆的情况下的、与椭圆的长轴大致平行的直线。

25.  根据权利要求19～24中的任意一项所述的光信息处理方法，其特征在于，
在所述调节步骤中，针对所述至少3条直线中的至少1条直线，在至少两点的测定位置处测定出所述信号特性后，对所述至少两点的测定位置中的、两端的测定位置处的所述信号特性进行比较，将自所述两端的测定位置中的所述信号特性良好的一方的测定位置、朝与朝向另一方的测定位置相反的方向离开而得到的位置决定为下一测定位置。

26.  根据权利要求19～25中的任意一项所述的光信息处理方法，其特征在于，
在所述调节步骤中，对所述至少5个估计位置进行椭圆近似，根据该椭圆近似的结果求出椭圆的中心位置，并基于该椭圆的中心位置决定所述球面像差校正量和所述聚焦调节值。

27.  根据权利要求26所述的光信息处理方法，其特征在于，
在所述调节步骤中，针对所述各直线，根据用2次以上的多项式对所述测定位置与在所述测定位置处测定出的信号特性之间的关系进行近似而得到的近似结果，求出在所述信号特性为规定水平的所述平面上的位置，作为所述估计位置，并使用所得到的估计位置中的至少5个来进行所述椭圆近似。

28.  根据权利要求26或27所述的光信息处理方法，其特征在于，
在所述调节步骤中，
进行所述椭圆近似的结果是否示出椭圆的判断，
在所述判断中判断为未示出椭圆的情况下，变更所述信号特性的水平来求出所述至少5个估计位置，在使用该至少5个估计位置进行了所述椭圆近似后，再次进行所述判断，
在所述判断中判断为示出椭圆的情况下，根据所述椭圆近似的结果求出所述椭圆的中心位置。

29.  根据权利要求26或27所述的光信息处理方法，其特征在于，
在所述调节步骤中，
分别在所述信号特性的多个水平下，求出所述至少5个估计位置，对该至少5个估计位置进行椭圆近似，求出该椭圆近似的结果与所述至少5个估计位置之间的误差量，
并根据与所述多个水平对应的多个椭圆近似结果中的、所述误差量为最小的椭圆近似的结果，求出所述椭圆的中心位置。

30.  根据权利要求19～29中的任意一项所述的光信息处理方法，其特征在于，
在所述调节步骤中，判断所述测定的妥当性，在判断为不妥当的情况下，在追加的测定位置处测定所述信号特性，根据包括在该追加的测定位置处测定出的信号特性在内的测定结果，进行所述调节。

31.  根据权利要求30所述的光信息处理方法，其特征在于，
在所述调节步骤中，在所求出的所述椭圆的中心位置不包含在根据所述测定位置规定的规定范围内的情况下，判断为所述测定不妥当。

32.  根据权利要求30所述的光信息处理方法，其特征在于，
在所述调节步骤中，在所述至少3条直线中的至少1条中所述测定位置与在所述测定位置处测定出的信号特性之间的关系为单调增加或单调减少的情况下，判断为所述测定不妥当。

33.  根据权利要求19～32中的任意一项所述的光信息处理方法，其特征在于，
所述信号特性是所述再现信号的振幅。

34.  根据权利要求19～32中的任意一项所述的光信息处理方法，其特征在于，
所述信号特性是所述再现信号的质量。

35.  根据权利要求19～32中的任意一项所述的光信息处理方法，其特征在于，
所述信号特性是从所述再现信号得到的循轨误差信号的振幅。

36.  根据权利要求19～35中的任意一项所述的光信息处理方法，其特征在于，
所述光信息处理方法还包括记录调节步骤，在所述记录调节步骤中，对记录到所述光盘时所使用的记录用的聚焦调节值进行调节，
在所述记录调节步骤中，在变更所述聚焦调节值的同时，使用固定的记录功率进行对所述光盘的测试记录，利用固定的聚焦调节值对通过所述测试记录所记录的信号进行再现，测定再现信号的信号特性，用2次以上的多项式对所述记录时的聚焦调节 值与所述测定出的信号特性之间的关系进行近似，根据该近似的结果求出信号特性为最佳的记录时的聚焦调节值，并将该聚焦调节值决定为所述记录用的聚焦调节值。

37.  一种光信息处理装置的调节装置，所述光信息处理装置具有：照射受光单元，其向光盘照射光，检测来自所述光盘的反射光而输出再现信号；球面像差校正单元，其对照射到所述光盘的光的球面像差进行校正；以及聚焦调节单元，其根据聚焦调节值对照射到所述光盘的光的聚焦位置进行调节，所述调节装置的特征在于，
该调节装置具有调节单元，所述调节单元分别针对以所述聚焦调节值和所述球面像差校正单元的球面像差校正量为坐标轴的平面上的至少3条直线，在该直线上的至少3点的测定位置处测定所述再现信号的信号特性，根据该测定结果，求出所述信号特性为大致同一水平的所述平面上的至少5个位置作为估计位置，并基于该至少5个估计位置调节所述球面像差校正量和所述聚焦调节值。

38.  一种光信息处理装置的调节方法，所述光信息处理装置具有：照射受光单元，其向光盘照射光，检测来自所述光盘的反射光而输出再现信号；球面像差校正单元，其对照射到所述光盘的光的球面像差进行校正；以及聚焦调节单元，其根据聚焦调节值对照射到所述光盘的光的聚焦位置进行调节，所述调节方法的特征在于，
该调节方法包括调节步骤，在所述调节步骤中，分别针对以所述聚焦调节值和所述球面像差校正单元的球面像差校正量为坐标轴的平面上的至少3条直线，在该直线上的至少3点的测定位置处测定所述再现信号的信号特性，根据该测定结果，求出所述信号特性为大致同一水平的所述平面上的至少5个位置作为估计位置，并基于该至少5个估计位置调节所述球面像差校正量和所述聚焦调节值。

39.  一种光信息处理装置的调节程序，所述光信息处理装置具有：照射受光单元，其向光盘照射光，检测来自所述光盘的反射光而输出再现信号；球面像差校正单元，其对照射到所述光盘的光的球面像差进行校正；以及聚焦调节单元，其根据聚焦调节值对照射到所述光盘的光的聚焦位置进行调节，所述调节程序的特征在于，
使计算机执行如下的调节步骤，在所述调节步骤中，分别针对以所述聚焦调节值和所述球面像差校正单元的球面像差校正量为坐标轴的平面上的至少3条直线，在该直线上的至少3点的测定位置处测定所述再现信号的信号特性，根据该测定结果，求出所述信号特性为大致同一水平的所述平面上的至少5个位置作为估计位置，并基于该至少5个估计位置调节所述球面像差校正量和所述聚焦调节值。

光信息处理装置和光信息处理方法、以及光信息处理装置的调节装置、调节方法和调节程序
技术领域
本发明涉及光信息处理装置和光信息处理方法、以及光信息处理装置的调节装置、调节方法和调节程序。
背景技术
在大容量光盘、例如Blu－ray Disk(BD：蓝光光盘)中，为了减小在光盘上形成的光斑直径，需要缩短激光的波长以及增大物镜的数值孔径(NA)。例如，在DVD(Digital Versatile Disk：数字多功能光盘)中采用波长为650nm的激光和NA为0.65的物镜，与此相对，在BD中采用波长为405nm的激光和NA为0.85的物镜。通常公知有，当光盘的保护信息记录层的保护层的厚度发生变动时，产生球面像差，该球面像差的产生量与NA的大约4次方成正比，与波长成反比。因此，BD再现时产生的球面像差为DVD再现时产生的球面像差的约6.5倍(≒{(0.85/0.6)⁴}×(650/405))。这样，由于容易受到球面像差的影响，在BD再现中，采用了校正球面像差的球面像差校正单元。
此外，在光盘的再现中，为了使激光的聚焦位置追随光盘的信息记录面，进行了在与光盘的信息记录面垂直的方向上控制物镜位置的聚焦伺服控制。
上述球面像差校正单元的球面像差校正量、和上述聚焦伺服控制中的聚焦平衡值(或聚焦位置)理想的是以能够得到良好的再现质量的方式进行调节，但均为光轴方向的调节，从而相互受影响。因此，提出了用于适当调节球面像差校正量和聚焦平衡值(或聚焦位置)这双方的技术。
在专利文献1中示出了如下技术：在具有球面像差校正机构和使光束会聚到光盘的物镜的光拾取装置中，将聚焦平衡和球面像差校正量调节到最佳。在该技术中，在聚焦平衡和球面像差校正量的多个组合中取得循轨误差信号(TES信号)，选择多个可得到规定水平以上的TES信号的组合，在所选择的多个组合中取得光强度信号(RF 信号)，选择RF信号的信号水平为最大的聚焦平衡和球面像差校正量的组合。
在专利文献2中示出了如下技术：以使得循轨误差信号(TE信号)的振幅水平为最大的方式，调节球面像差校正用的可动透镜的位置和聚焦平衡值。在该技术中，以可动透镜的位置和聚焦平衡值中的一方为横轴、另一方为纵轴，得到描绘出TE信号的振幅水平为等水平的等水平线的曲线图，根据该曲线图，预先求出大致椭圆的等水平线的长边相对于横轴的斜率α，仅改变可动透镜的位置和聚焦平衡值中的一方来搜索使得TE信号的振幅水平为最大的条件，然后，沿着通过搜索到的可动透镜的位置和聚焦平衡值的斜率α的调节线，搜索使得TE信号的振幅水平为最大的条件。
在专利文献3中示出了如下技术：通过改变聚焦位置和球面像差量，二维地搜索使得抖动的值为最佳的聚焦位置和球面像差量。具体而言，示出了如下方法：交替反复进行抖动为最小的聚焦位置的搜索和抖动为最小的球面像差量的搜索；在缩短以聚焦位置和球面像差量为轴的曲线图中的长方形的边的同时，反复搜索长方形的4个顶点和中心点中的、抖动最小的点的处理；在球面像差量Y1下搜索抖动最小的聚焦位置X1，在球面像差量Y1下搜索抖动最小的聚焦位置X2，在连接点(X1，Y1)和点(X2，Y2)的直线上搜索抖动最小的点；在规定斜率a的直线上搜索抖动最小的点，然后，在通过该点的斜率为-1/a的直线上搜索抖动最小的点。
专利文献4中示出了将球面像差校正值和聚焦偏置值调节为最佳值的技术。在该技术中，在以球面像差校正值和聚焦偏置值为轴的平面中，在规定的斜率A的方向上使必要裕量假定范围移动的同时，反复进行在必要裕量假定范围的外周上的8点处测定抖动值并求出抖动值的最大值作为代表值的动作，以能够得到最小的代表值的必要裕量假定范围的中心点为起点，在规定的斜率B的方向上使必要裕量假定范围移动的同时，反复进行上述求出代表值的动作，确定能够得到最小的代表值的必要裕量假定范围的中心点。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2011-134391号公报
专利文献2：日本特开2010-287276号公报
专利文献3：日本特开2007-188632号公报
专利文献4：日本特开2007-141369号公报
发明内容
发明所要解决的课题
在上述专利文献1～4所记载的技术中，在进行球面像差校正量和聚焦位置的调节值(例如聚焦平衡值)的调节的情况下，在多个测定点处进行了振幅水平和抖动的测定，因此调节需要较长时间。
本发明的目的在于提供一种能够以较少的测定点数进行球面像差校正量和聚焦调节值的调节的光信息处理装置和光信息处理方法、以及光信息处理装置的调节装置、调节方法和调节程序。
用于解决课题的手段
本发明的光信息处理装置的特征在于，具有：照射受光单元，其向光盘照射光，检测来自所述光盘的反射光而输出再现信号；球面像差校正单元，其对照射到所述光盘的光的球面像差进行校正；聚焦调节单元，其根据聚焦调节值对照射到所述光盘的光的聚焦位置进行调节；以及调节单元，其分别针对以所述聚焦调节值和所述球面像差校正单元的球面像差校正量为坐标轴的平面上的至少3条直线，在该直线上的至少3点的测定位置处测定所述再现信号的信号特性，根据该测定结果，求出所述信号特性为大致同一水平的所述平面上的至少5个位置作为估计位置，并基于该至少5个估计位置调节所述球面像差校正量和所述聚焦调节值。
本发明的光信息处理方法的特征在于，包括以下步骤：照射受光步骤，向光盘照射光，检测来自所述光盘的反射光而输出再现信号；球面像差校正步骤，对照射到所述光盘的光的球面像差进行校正；聚焦调节步骤，根据聚焦调节值对照射到所述光盘的光的聚焦位置进行调节；以及调节步骤，分别针对以所述聚焦调节值和在所述球面像差校正步骤中得到的球面像差校正量为坐标轴的平面上的至少3条直线，在该直线上的至少3点的测定位置处测定所述再现信号的信号特性，根据该测定结果，求出所述信号特性为大致同一水平的所述平面上的至少5个位置作为估计位置，并基于该至少5个估计位置调节所述球面像差校正量和所述聚焦调节值。
本发明的光信息处理装置的调节装置具有：照射受光单元，其向光盘照射光，检测来自所述光盘的反射光而输出再现信号；球面像差校正单元，其对照射到所述光盘的光的球面像差进行校正；以及聚焦调节单元，其根据聚焦调节值对照射到所述光盘 的光的聚焦位置进行调节，所述调节装置的特征在于，其具有调节单元，所述调节单元分别针对以所述聚焦调节值和所述球面像差校正单元的球面像差校正量为坐标轴的平面上的至少3条直线，在该直线上的至少3点的测定位置处测定所述再现信号的信号特性，根据该测定结果，求出所述信号特性为大致同一水平的所述平面上的至少5个位置作为估计位置，并基于该至少5个估计位置调节所述球面像差校正量和所述聚焦调节值。
在本发明的光信息处理装置的调节方法中，所述光信息处理装置具有：照射受光单元，其向光盘照射光，检测来自所述光盘的反射光而输出再现信号；球面像差校正单元，其对照射到所述光盘的光的球面像差进行校正；以及聚焦调节单元，其根据聚焦调节值对照射到所述光盘的光的聚焦位置进行调节，所述调节方法的特征在于，其包括调节步骤，在所述调节步骤中，分别针对以所述聚焦调节值和所述球面像差校正单元的球面像差校正量为坐标轴的平面上的至少3条直线，在该直线上的至少3点的测定位置处测定所述再现信号的信号特性，根据该测定结果，求出所述信号特性为大致同一水平的所述平面上的至少5个位置作为估计位置，并基于该至少5个估计位置调节所述球面像差校正量和所述聚焦调节值。
在本发明的光信息处理装置的调节程序中，所述光信息处理装置具有：照射受光单元，其向光盘照射光，检测来自所述光盘的反射光而输出再现信号；球面像差校正单元，其对照射到所述光盘的光的球面像差进行校正；以及聚焦调节单元，其根据聚焦调节值对照射到所述光盘的光的聚焦位置进行调节，所述调节程序的特征在于，其使计算机执行调节步骤，在所述调节步骤中，分别针对以所述聚焦调节值和所述球面像差校正单元的球面像差校正量为坐标轴的平面上的至少3条直线，在该直线上的至少3点的测定位置处测定所述再现信号的信号特性，根据该测定结果，求出在所述信号特性为大致同一水平的所述平面上的至少5个位置作为估计位置，并基于该至少5个估计位置调节所述球面像差校正量和所述聚焦调节值。
发明效果
根据本发明，能够以较少的测定点数进行球面像差校正量和聚焦调节值的调节。
附图说明
图1是示出实施方式1的光信息处理装置的结构例的图。
图2是示出再现信号振幅相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的关系的一例的图。
图3是示出再现信号质量相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的关系的一例的图。
图4是示出再现信号振幅相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的分布的一例的图。
图5是示出再现信号质量相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的分布的一例的图。
图6是示出循轨误差信号(TE信号)振幅相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的分布的一例的图。
图7是提取再现信号振幅、再现信号质量、TE信号振幅各自的等高线的一部分并描绘到同一xy坐标系而得的图。
图8的(a)是示出球面像差校正量与再现信号振幅之间的关系的一例的图，图8的(b)是示出聚焦平衡值与再现信号振幅之间的关系的一例的图。
图9的(a)是示出球面像差校正量与再现信号质量之间的关系的一例的图，图9的(b)是示出聚焦平衡值与再现信号质量之间的关系的一例的图。
图10是示出再现信号振幅相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的分布、以及实施方式1中的测定点、估计点、椭圆和椭圆中心的一例的图。
图11的(a)～(c)是示出二次近似曲线和估计点的例子的图。
图12的(a)～(f)是示出实施方式1中的测定点的配置例的图。
图13是示出实施方式1的光信息处理装置的再现动作的步骤的一例的流程图。
图14是示出实施方式1的光信息处理装置中的、球面像差校正量和聚焦平衡值的调节步骤的一例的流程图。
图15是示出实施方式2的光信息处理装置中的、球面像差校正量和聚焦平衡值的调节步骤的一例的流程图。
图16是示出再现信号振幅相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的分布、以及实施方式2中的测定点、估计点、椭圆和椭圆中心的一例的图。
图17是示出实施方式3中的测定点的配置例的图。
图18是示出实施方式3的光信息处理装置中的、球面像差校正量和聚焦平衡值 的调节步骤的一例的流程图。
图19的(a)是示出记录时的聚焦平衡值与再现信号振幅之间的关系的一例的图，图19的(b)是示出记录时的聚焦平衡值与调制度以及不对称性之间的关系的一例的图。
图20是示出实施方式4的光信息处理装置的记录动作的步骤的一例的流程图。
图21是示出实施方式4的光信息处理装置中的、记录用的聚焦平衡值的调节步骤的一例的流程图。
具体实施方式
以下，参照附图对本发明的实施方式进行说明。
实施方式1.
图1示出实施方式1的光信息处理装置100的结构例的图。光信息处理装置100是进行光盘的信息处理的装置，例如是对光盘进行信息的记录和再现中的至少一方的光记录再现装置。在图1的例子中，光信息处理装置100是对光盘500进行再现的再现装置，光盘500是BD。
在图1中，光信息处理装置100具有前置放大器(head amplifier)110、再现信号处理部120、信号质量测定部121、数据解码器122、再现特性测定部123、FE信号生成部130、TE信号生成部140、TE信号特性测定部141、螺旋电机(sled motor)控制部150、螺旋电机151、球面像差校正部160、致动器控制部170、主轴电机控制部180、主轴电机181、中央控制部200、缓存240和光学头300。
主轴电机控制部180控制主轴电机181，使光盘500以期望的旋转速度旋转。螺旋电机控制部150控制螺旋电机151，(例如在光盘500的半径方向上)使光学头300朝期望的位置移动。
光学头300朝光盘500照射光，检测来自光盘500的反射光并输出再现信号，也被称作光拾取器。光学头300具有半导体激光器310、激光器驱动电路320、准直透镜330、光束分离器340、物镜350、检测透镜360、受光元件370、球面像差校正用透镜380和致动器390。这些部件中的半导体激光器310、准直透镜330、光束分离器340、物镜350、检测透镜360和球面像差校正用透镜380构成光学系统。
半导体激光器310由激光器驱动电路320驱动，射出具有数据再现所需的输出值 (再现功率)的激光。从半导体激光器310射出的激光经由准直透镜330、光束分离器340、球面像差校正用透镜380和物镜350被会聚和照射到光盘500。来自光盘500的反射光在通过物镜350和球面像差校正用透镜380后被光束分离器340分离为入射光，并经由检测透镜360而由受光元件370接收。
球面像差校正用透镜380是用于校正照射到光盘500的激光的球面像差的可动透镜，配置在光学头300的光学系统中。球面像差校正用透镜380在激光的光轴方向上设置成可移动，由球面像差校正部160进行控制。
致动器390保持物镜350，在聚焦方向和轨道方向上驱动物镜350，并由致动器控制部170进行控制。这里，聚焦方向是与光盘500的旋转轴方向平行的方向、即与光盘500的信息记录面垂直的方向，轨道方向是与光盘500的半径方向平行的方向。
受光元件(或光检测器)370将接收到的光信号转换为作为再现信号的电信号。在受光元件370中转换后的电信号经由前置放大器110被提供到中央控制部200、再现信号处理部120、FE信号生成部130和TE信号生成部140。
中央控制部200根据从前置放大器110提供的信号进行地址信息的解码，从而得到光学头300的当前位置的地址信息。并且，中央控制部200通过将所得到的当前位置的地址信息、与要访问的位置(访问对象位置)的地址信息的差分提供给螺旋电机控制部150，控制螺旋电机151，从而使光学头300向访问对象位置移动。
FE信号生成部130对来自前置放大器110的信号进行处理，生成聚焦误差信号(FE信号)。作为FE信号的生成方法，能够使用公知的方法，例如像散法、刀口(knife-edge)法、光斑尺寸检测法等。
TE信号生成部140对来自前置放大器110的信号进行处理，生成循轨误差信号(TE信号)。作为TE信号的生成方法，能够使用公知的方法、例如推挽法、DPP(Differential Push-Pull：差动推挽)法、DPD(Differential Phase Detection：差分相位检测)法等。
再现信号处理部120对来自前置放大器110的信号进行均衡处理(波形整形)，并提供到信号质量测定部121和数据解码器122。此外，再现信号处理部120将均衡处理前的电信号提供到再现特性测定部123。
再现特性测定部123根据来自再现信号处理部120的信号，测定再现信号的振幅(再现信号振幅)，作为再现信号的信号特性(再现信号特性)。
信号质量测定部121根据来自再现信号处理部120的信号，测定抖动值、i-MLSE(integrated Maximum Likelihood Sequence error Estimation：集成的最大似然序列错误估计)值或错误率等再现信号的质量(再现信号质量)，作为再现信号的信号特性。
数据解码器122在通过PRML(Partial Response Maximum Likelihood：部分响应最大似然)等信号处理对从再现信号处理部120提供的再现信号进行二值化后，进行解调和纠错等处理，由此生成(再现)光盘500所记录的数据，并送出到中央控制部200。中央控制部200在将由数据解码器122生成的数据存储到了缓存240后，将该数据送出到与光信息处理装置100连接的上位控制器400。
TE信号特性测定部141测定由TE信号生成部140生成的TE信号的振幅和TE信号平衡等TE信号特性。
球面像差校正部160根据来自中央控制部200的控制信号，调节球面像差校正用透镜380的位置来校正球面像差。球面像差校正部160通过使球面像差校正用透镜380的位置在光轴方向上移动，来改变球面像差校正用透镜380的球面像差校正量。球面像差校正量与球面像差校正用透镜380的位置对应。
另外，在本例中，例示了通过球面像差校正用透镜380进行球面像差校正的结构，但还能够通过其他结构进行球面像差校正，例如也可以通过液晶元件进行球面像差校正。在使用液晶元件的情况下，球面像差校正部160通过变更向液晶元件施加的电压，而改变球面像差校正量。
致动器控制部170根据来自中央控制部200的控制信号，控制致动器390，在聚焦方向和轨道方向上驱动物镜350。
中央控制部200在光信息处理装置100读出来自光盘500的信息等时，控制装置整体，接收来自信号质量测定部121的抖动等再现信号质量、来自再现特性测定部123的再现信号振幅、来自FE信号生成部130的FE信号、来自TE信号生成部140的TE信号、来自TE信号特性测定部141的TE信号振幅以及TE信号平衡值等TE信号特性、以及来自数据解码器122的再现数据，另一方面，将控制信号提供给激光器驱动电路320、螺旋电机控制部150、球面像差校正部160、致动器控制部170和主轴电机控制部180。
中央控制部200根据TE信号，向致动器控制部170提供控制信号来控制致动器390，由此进行控制物镜350的轨道方向位置的循轨伺服控制，以使得激光的光斑追 随光盘500的轨道。此外，中央控制部200根据FE信号，向致动器控制部170提供控制信号来控制致动器390，由此进行控制物镜350的聚焦方向位置的聚焦伺服控制，以使得激光的聚焦位置追随光盘500的信息记录面。
此外，中央控制部200具有根据聚焦调节值调节照射到光盘500的激光的聚焦位置的聚焦调节功能。这里，聚焦调节值是用于调节聚焦位置的调节值，是与聚焦位置(或物镜的位置)对应的参数、或表示聚焦位置(或物镜的位置)的参数。在本例中，中央控制部200根据作为聚焦调节值的聚焦平衡值，在聚焦方向上调节物镜350的位置来调节聚焦位置。这里，聚焦平衡是表示接收来自光盘500的反射光而得到的FE信号(聚焦误差信号)的特性的S次曲线的平衡，聚焦平衡值是FE信号的S字曲线的平衡值。该聚焦平衡值例如能够通过调节前置放大器110的增益、或者调节施加到FE信号的偏置而进行改变。例如，中央控制部200对FE信号施加偏置来进行聚焦伺服控制，在变更聚焦平衡值的情况下，变更施加到FE信号的偏置。在执行聚焦伺服控制过程中聚焦平衡值被变更时，物镜350在聚焦方向上的位置发生变动，激光的聚焦位置发生变化。因此，中央控制部200例如通过向FE信号施加与期望的聚焦平衡值对应的偏置，而将聚焦位置调节到与期望的聚焦平衡值对应的位置。
并且，中央控制部200进行调节(或优化)球面像差校正量和聚焦调节值的调节处理。之后将详细说明该调节处理。通过调节处理决定的球面像差校正量和聚焦调节值例如在针对光盘500再现或记录信息时被使用。例如，中央控制部200在执行再现或记录前，决定球面像差校正量和聚焦平衡值的最佳组合。并且，中央控制部200使球面像差校正用透镜380移动到与所决定的球面像差校正量对应的位置，将与所决定的聚焦平衡值对应的偏置施加到FE信号来进行聚焦伺服控制，并进行针对光盘500的再现或记录。
另外，图1中示出了实现上述聚焦调节功能的聚焦调节部201、和进行上述球面像差校正量和聚焦调节值的调节处理的调节部202。
中央控制部200例如具有CPU(Central Processing Unit：中央处理器)210、存储有该CPU 210的动作用的程序的ROM(Read Only Memory：只读存储器)220、和存储数据的RAM(Random Access Memory：随机存取存储器)230。ROM 220所存储的程序包含之后将说明的用于调节球面像差校正量和聚焦平衡值的调节处理程序、和定义测定条件等的部分。另外，上述程序可以被记录在光盘等计算机可读取的 记录介质中来进行提供，也可以经由互联网等通信线路来进行提供。此外，中央控制部200的功能也可以仅通过硬件电路来实现。
接着，对球面像差校正量与聚焦平衡值之间的关系进行说明。这里，针对BD－RE(Rewritable：可重写)的3层盘的第2层(L1层，3层中的正中间的层)，在使球面像差校正量和聚焦平衡值分别变化的同时实测再现信号振幅和再现信号质量的结果，以该结果为例进行说明。
图2是示出球面像差校正量以及聚焦平衡值与再现信号振幅之间的关系的一例的图。图中的实线是按照多个再现信号振幅水平描绘以再现信号振幅为高度的情况下的等高线而得到的。在图2中，再现信号振幅在图的中央附近是最大的。
图3是示出球面像差校正量以及聚焦平衡值与再现信号质量(i-MLSE值)之间的关系的一例的图。图中的实线是按照多个i-MLSE水平描绘以i-MLSE值为高度的情况下的等高线而得到的。在图3中，再现信号质量在图的中央附近是最佳(最小)的。
光信息处理装置100为了高质量地从光盘500再现信息，求出图3的使得再现信号质量最佳(最小)的球面像差校正量和聚焦平衡值的组合即可。此外，图3中的使得再现信号质量为最佳的(最小的)球面像差校正量和聚焦平衡值的组合的位置、与图2中的使得再现信号振幅为最大的球面像差校正量和聚焦平衡值的组合的位置虽然有一些偏差，但大致处于接近的位置处，因此也可以求出使得再现信号振幅为最大的球面像差校正量和聚焦平衡值的组合。
通常，测定再现信号振幅的时间比测定再现信号质量的时间短，因此在考虑到调节时间时，理想的是根据再现信号振幅进行调节。
此外，能够通过求出使得再现信号质量为最佳或再现信号振幅为最大的、球面像差校正量和聚焦平衡值的组合附近，来确保再现质量的裕量。
图4是示出再现信号振幅相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的分布的一例的图。图4是将图2的再现信号振幅的等高线投影到xy坐标系(二维平面)而得的图，该xy坐标系以球面像差校正量为x坐标，以聚焦平衡值为y坐标。如图4所示，可知等高线具有相对于x轴和y轴倾斜的大致椭圆的形状。此外，可知即使再现信号振幅不同，椭圆的中心也处于大致相同的位置。因此，只要能够求出与任意一个等高线对应的椭圆的中心位置，则能够求出再现信号振幅为最大或最大附近的位置(即最佳 或接近最佳的球面像差校正量和聚焦平衡值的组合)。
图5是示出再现信号质量(i-MLSE)相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的分布的一例的图。与图4同样，图5是将图3的再现信号质量的等高线投影到xy坐标系而得的图。如图5所示，与图4同样，可知等高线具有倾斜的大致椭圆的形状。此外，可知即使再现信号质量不同，椭圆的中心也处于大致相同的位置。因此，只要能够求出与任意一个等高线对应的椭圆的中心位置，则能够求出再现信号质量为最佳或最佳附近的位置(即最佳或接近最佳的球面像差校正量和聚焦平衡值的组合)。
图6是示出循轨误差信号(TE信号)振幅相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的分布的一例的图。图6是将按照多个TE信号振幅水平描绘以TE信号振幅为高度的情况下的等高线而得的曲线投影到xy坐标系而得的图。从图6可知，TE信号振幅在对球面像差校正量进行变更的方向(x轴方向)上，变化较小，是与图4以及图5不同的等高线分布。当TE信号的振幅变得过小时，循轨伺服容易发生偏离，如果在这样的条件下进行调节，则在使循轨伺服重新进行动作的重试处理等中，有时需要额外的时间。另外，在图6中，即使在TE信号振幅为图中最小的1.34V的情况下，也不会满足循轨伺服易偏离的条件，但例如在聚焦平衡值被变更从而TE信号振幅相比1.34V进一步减小的情况下，循轨伺服容易发生偏离的可能性较高。因此，为了使循轨伺服稳定进行动作，需要注意不从图6所示的分布(例如1.34V的等高线的内侧范围)起过度变更聚焦平衡值。
图7是示出再现信号振幅、再现信号质量和TE信号振幅相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的分布的一例的图。从图4、图5和图6所示的等高线中提取再现信号振幅为1.12V的等高线、i-MLSE为14.4％的等高线和TE信号振幅为1.44V的等高线，并描绘到同一xy坐标系中而得到图7。图中的方形符号表示将再现信号振幅的等高线设为了大致椭圆时的椭圆中心点，圆形符号表示将i-MLSE的等高线设为了大致椭圆时的椭圆中心点。从图7可知，再现信号振幅的椭圆中心位置和i-MLSE的椭圆中心位置处的球面像差校正量和聚焦平衡值均仅相差几级(step)，处于比较接近的位置关系。因此可知，通过调节为使得再现信号振幅为最大那样的球面像差校正量和聚焦平衡值，能够得到高质量的再现质量。
图8的(a)是示出球面像差校正量与再现信号振幅之间的关系的图。图8的(a)中示出了图2的球面像差校正量以及聚焦平衡值与再现信号振幅之间的关系中的、聚 焦平衡值为“-10”、“10”、“30”的情况下的球面像差校正量与再现信号振幅之间的关系。这里，聚焦平衡值“10”是再现信号振幅为最大附近时的聚焦平衡值，聚焦平衡值“-10”和“30”是从聚焦平衡值“10”变更±20级后得到的值。图中的圆形符号、方形符号、三角符号表示测定图2的关系时的实测值，分别与聚焦平衡值“-10”、“10”、“30”的情况对应。实线、虚线、点线是分别用2次式对圆形符号、方形符号、三角符号的实测值进行了近似时的近似曲线。根据图8的(a)可知，不论在哪种情况下，都能够利用2次式对球面像差校正量与再现信号振幅之间的关系进行近似。
图8的(b)是示出聚焦平衡值与再现信号振幅之间的关系的图。图8的(b)中示出了图2的球面像差校正量以及聚焦平衡值与再现信号振幅之间的关系中的、球面像差校正量为“-34”、“-28”、“-22”的情况下的聚焦平衡值与再现信号振幅之间的关系。这里，球面像差校正量“-28”是再现信号振幅处于最大附近时的球面像差校正量，球面像差校正量“-34”和“-22”是从球面像差校正量“-28”变更±6级后而得到的值。图中的圆形符号、方形符号、三角符号表示测定图2的关系时的实测值，分别与球面像差校正量“-34”、“-28”、“-22”的情况对应。实线、虚线、点线是分别用2次式对圆形符号、方形符号、三角符号的实测值进行了近似时的近似曲线。从图8的(b)可知，不论在哪种情况下，都能够利用2次式对聚焦平衡值与再现信号振幅之间的关系进行近似。
图9的(a)是示出球面像差校正量与i-MLSE(再现信号质量)之间的关系的图。图9的(a)中示出了图3的球面像差校正量以及聚焦平衡值与i-MLSE之间的关系中的、聚焦平衡值为“-15”、“5”、“25”的情况下的球面像差校正量与i-MLSE之间的关系。这里，聚焦平衡值“5”是i-MLSE为最佳附近时的聚焦平衡值，聚焦平衡值“-15”和“25”是从聚焦平衡值“5”变更±20级后得到的值。图中的圆形符号、方形符号、三角符号表示测定图3的关系时的实测值，分别与聚焦平衡值“-15”、“5”、“25”的情况对应。实线、虚线、点线是分别用2次式对圆形符号、方形符号、三角符号的实测值进行了近似时的近似曲线。从图9的(a)可知，不论在哪种情况下，都能够利用2次式对球面像差校正量与i-MLSE之间的关系进行近似。
图9的(b)是示出聚焦平衡值与i-MLSE(再现信号质量)之间的关系的图。图9的(b)中示出了图3的球面像差校正量以及聚焦平衡值与i-MLSE之间的关系中的、球面像差校正量为“-36”、“-30”和“-24”的情况下的聚焦平衡值与i-MLSE之间的关系。 这里，球面像差校正量“-30”是i-MLSE处于最佳附近时的球面像差校正量，球面像差校正量“-36”和“-24”是从球面像差校正量“-30”变更±6级后得到的值。图中的圆形符号、方形符号、三角符号表示测定图3的关系时的实测值，分别与球面像差校正量“-36”、“-30”、“-24”的情况对应。实线、虚线、点线是分别用2次式对圆形符号、方形符号、三角符号的实测值进行了近似时的近似曲线。从图9的(b)可知，不论在哪种情况下，都能够利用2次式对聚焦平衡值与i-MLSE之间的关系进行近似。
另外，在以上的说明中，以针对BD－RE的第2层的实测结果为例进行了说明，但即使是其他层或其他种类的盘，虽然椭圆的形状不同，但也能够得到与上述相同的结果。
以下，参照图10对本实施方式的球面像差校正量和聚焦平衡值的调节方法进行说明。图10在图4的再现信号振幅相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的分布中，追加示出了本实施方式的调节方法中的测定点、估计点以及椭圆中心点等。
在图10中，用圆形符号表示的测定点PM是在调节方法中进行再现信号振幅的测定的位置。即，在调节方法中，分别关于多个测定点PM中的各个测定点PM，将球面像差校正量和聚焦平衡值设定为与该测定点PM对应的值，对光盘500所记录的信号进行再现，并测定再现信号振幅。
测定点PM按照如下的条件进行配置：在以球面像差校正量和聚焦平衡值为坐标轴的平面上的至少3条直线上，分别存在至少3点的测定点PM。在图10的例子中，在以球面像差校正量为x轴(横轴)、聚焦平衡值为y轴(纵轴)的xy坐标系(xy平面，二维平面)中，在3种直线L1、L2、L3上分别存在3点的测定点PM，配置有合计7点的测定点PM。另外，图10中示出了3种直线，但也可以是至少需要3种直线，而对4种以上的直线配置测定点PM。此外，图10中在各直线上配置有3点的测定点，但针对1条直线至少需要3点的测定点，也可以对1条直线配置4点以上的测定点。
此外，在测定点PM的设定方面，从确保调节精度的观点出发，理想的是各直线上的各测定点PM间的间隔尽可能较宽。这是因为，如果测定点PM间的间隔过窄，则测定点PM间的测定结果之差变小，从而无法忽视噪声和偏差的影响，后述的二次近似的精度变差。另一方面，如果测定点PM间的间隔过宽，则容易成为使得循轨伺服不稳定的设定。因此，例如根据图6所示的循轨误差信号(TE信号)振幅相对于 球面像差校正量和聚焦平衡值的分布，在能够确保循轨伺服的稳定性的范围内，以各测定点PM间的间隔较宽的方式设定测定点PM。另外，在图10的例子中，测定点PM的配置未考虑上述情况，是各测定点PM间的间隔不太宽的配置。
另外，在各测定点PM处测定再现信号振幅的情况下，例如可以在循轨伺服关闭的状态下进行测定。该情况下，例如可以检测盘的一周中的再现信号的最大值(峰值)和最小值(谷值)，来计算再现信号振幅。由此，即使在测定点PM(球面像差校正量和聚焦平衡值)被配置在循轨伺服不稳定的区域中的情况下，也能够没有问题地进行测定。
此外，期望测定点PM以球面像差校正量的总变更量和变更次数减少的方式进行设定。这是因为，球面像差校正用透镜380的移动比物镜350的移动更花时间，球面像差校正量的变更比基于聚焦平衡值变更的聚焦位置变更更花时间。例如，球面像差校正用透镜380的移动中利用了步进电机，比利用了基于线圈和磁铁的电磁驱动方式的致动器390的物镜350的移动花时间。在图10中，例如依照箭头所示的顺序进行各测定点PM处的测定。
这里，在图10的例子中，直线L1是仅球面像差校正量改变的、与x轴平行的直线，直线L2是仅聚焦平衡值改变的、与y轴平行的直线，直线L3是将等高线视作大致椭圆的情况下的、与椭圆的长轴方向大致平行的直线。等高线的椭圆斜率根据光学头300的光学规格而较大程度地改变，但在相同规格的光学头300中，虽然根据光学头300的个体偏差、温度、进行再现的光盘500的不同而有些偏差，但不会较大程度地改变。因此，能够通过预先调查图2那样的特性并求出椭圆的斜率，而将直线L3的斜率设定为与实际的椭圆斜率接近的值。
接着，分别关于直线L1、L2、L3，根据该直线上的各测定点PM的测定结果，对测定点PM的位置与在测定点PM处测定出的再现信号振幅之间的关系进行二次近似。具体而言，关于各直线，设在该直线上的位置为p、再现信号振幅为q，根据测定结果求出对p与q之间的关系进行近似的2次式。另外，关于直线Li(i＝1、2、3)的二次近似式(二次近似曲线的式子)如下述式(1)那样表示。
q＝ai·p²+bi·p+ci…(1)
在上述式(1)中，ai、bi、ci是常数。例如在直线L1的情况下，将球面像差校正量设为p，求出上述二次近似式的系数a1、b1、c1。在直线L2的情况下，将聚焦 平衡值设为p，求出上述二次近似式的系数a2、b2、c2。在直线L3的情况下，将球面像差校正量(或聚焦平衡值)设为p，求出上述二次近似式的系数a3、b3、c3。
图11是示出通过上述二次近似得到的二次近似曲线的图。图11的(a)示出对直线L1上的测定点PM的测定结果进行近似得到的二次近似曲线C1，图11的(b)示出对直线L2上的测定点PM的测定结果进行近似得到的二次近似曲线C2，图11的(c)示出对直线L3上的测定点PM的测定结果进行近似得到的二次近似曲线C3。另外，图中的圆形符号表示测定点PM。
接着，分别关于直线L1、L2、L3，根据通过上述二次近似得到的二次近似曲线，求出该直线上的再现信号振幅的大小为规定的估计用水平ZE的位置作为估计点PE。即，关于各直线，根据关于该直线得到的二次近似式，求出q＝ZE时的位置p的值。例如，关于直线Li(i＝1、2、3)，再现信号振幅为估计用水平ZE的位置p(估计点PE)能够使用通过二次近似得到的2次式的系数ai、bi、ci，利用下述式(2)作为2次式的解求出。
q＝{－bi±√(bi²－4·ai·(ci－ZE)}/(2·ai)…(2)
通过按照3种直线L1、L2、L3分别求出估计点PE，求出例如合计6个估计点PE。在图10和图11中，用方形符号示出了设为估计用水平ZE＝1.07V的情况下的估计点PE。
接着，在xy平面上，对所求出的6个估计点PE进行椭圆近似。图10中示出了通过椭圆近似导出的椭圆DE。该椭圆DE是与再现信号振幅为规定的估计用水平ZE(例如1.07V)的等高线对应的近似椭圆。
椭圆式通过球面像差校正量x和聚焦平衡值y，例如由下述式(3)表示。
A·x²+B·x·y+C·y²+D·x+E·y+1＝0…(3)
能够根据所求出的估计点PE求出上述式(3)的系数A、B、C、D、E，导出椭圆DE的式子。只要至少具有5个估计点PE，则能够导出系数A、B、C、D、E，例如能够通过使用所求出的6个估计点PE中的5个估计点PE，解以下那样的5个线形方程式(4)～(8)来求出系数A、B、C、D、E。
A·x1²+B·x1·y1+C·y1²+D·x1+E·y1＝－1…(4)
A·x2²+B·x2·y2+C·y2²+D·x2+E·y2＝－1…(5)
A·x3²+B·x3·y3+C·y3²+D·x3+E·y3＝－1…(6)
A·x4²+B·x4·y4+C·y4²+D·x4+E·y4＝－1…(7)
A·x5²+B·x5·y5+C·y5²+D·x5+E·y5＝－1…(8)
这里，在上述式(4)～(8)中，xn(n＝1～5)分别是5个估计点PEn的x坐标值(球面像差校正量)，yn(n＝1～5)分别是5个估计点PEn的y坐标值(聚焦平衡值)。
另外，在上述例子中，仅使用所求出的6个估计点PE中的5个导出了椭圆DE的式子，但也可以使用全部6个点的估计点PE，利用例如最小二乘法导出椭圆DE的式子。
此外，在仅使用6个估计点PE中的5个的情况下，例如省略6个估计点PE中的、与不同的两点之间的距离之和的最小值为最小的点。这里，“与不同的两点之间的距离之和的最小值”表示针对某个估计点PE，该估计点PE以外的其他估计点PE中的、与该估计点PE接近的两点分别与该估计点PE的距离之和，“最小值为最小的点”表示上述距离之和为最小的估计点。此外，作为另一方法，也可以分别求出6个估计点PE的x坐标值(球面像差校正量)的平均值xave、和y坐标值(聚焦平衡值)的平均值yave，并省略6个估计点PE中的、与估计点PE的平均值(xave、yave)的距离最短的估计点PE。
然后，根据所导出的椭圆DE的式子(或椭圆系数)，计算椭圆DE的中心PC。图10中用星型符号表示椭圆DE的中心PC。椭圆中心PC(xc，yc)例如能够通过解以下的线性方程式(9)、(10)求出。
2·A·xc+B·yc＝－D…(9)
B·xc+2·C·yc＝－E…(10)
另外，椭圆中心PC也可以利用解上述的线形方程式的方法以外的方法求出。
所求出的椭圆中心PC与再现信号振幅最大的位置对应，为球面像差校正量和聚焦平衡值的调节结果。例如，将椭圆中心PC的坐标设定或利用为最佳的球面像差校正量和聚焦平衡值。
接着，说明测定点PM的其他配置例。在本实施方式1的球面像差校正量和聚焦平衡值的调节方法中，测定点PM按照如下条件进行设定：在以球面像差校正量为x坐标、聚焦平衡值为y坐标的xy坐标系(二维平面)中，测定点PM处于不同的3种以上的直线上，在各个直线上配置有3点以上的测定点PM。
图12是示出与图10的测定点PM的配置例不同的6种配置例的图。在图12的配置例中，也配置有3种直线L1、L2、L3。
在图10中，在3种直线L1、L2、L3上分别各配置有3点的测定点PM，直线L1是仅球面像差校正量改变的、与x轴平行的直线，直线L2是仅聚焦平衡值改变的、与y轴平行的直线，直线L3是将等高线视作大致椭圆的情况下的、与椭圆的长轴方向大致平行的直线，测定点PM中的1点通过全部3种直线，全部配置有7点的测定点PM。
与此相对，在图12的(a)中，在3种直线L1、L2、L3上分别各配置有3点的测定点PM，测定点PM的个数全部有6点，比图10的情况少。该情况下，相比图10的情况，能够减少测定点PM处的测定次数，能够缩短整体的调节时间。
在图12的(b)中，直线L2是与y轴平行的直线，直线L1和直线L3均是相对于x轴和y轴倾斜的直线。全部直线在1个交点处相交，在该交点处配置有1个测定点PM，关于该测定点PM左右(x轴方向)和上下(y轴方向)对称地配置有6个测定点PM。例如，在由于光学头300的规格等导致再现信号振幅或再现信号质量相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的分布的等高线不斜向倾斜、与等高线对应的椭圆的长轴和短轴分别与x轴和y轴平行的情况下，期望是图12的(b)所示那样的测定点PM的配置。另外，也可以是使图12的(b)的配置绕交点的(中央的)测定点PM旋转90度后的配置，但在该情况下，至少需要变更5次球面像差校正量，因此在球面像差校正量的变更花费时间那样的光信息处理装置100的结构时，相比图12的(b)的情况，调节时间变长。
在图12的(c)中，全部3种直线L1、L2、L3是相对于x轴和y轴倾斜的直线，直线L2与直线L3相互大致垂直。这里，例如直线L3是具有与图10所示的椭圆长轴平行的斜率的直线，直线L2是具有与该椭圆短轴平行的斜率的直线。此外，直线L1是具有与直线L2以及直线L3不同的斜率的直线。直线L1、L2、L3在1个交点处相交，在该交点处配置有1个测定点PM。分别关于3条直线L1、L2、L3，在作为交点的测定点PM的两侧各配置有1个测定点PM，该两侧的测定点PM的x坐标值(球面像差校正量)在3条直线间是相同的。直线L1的交点两侧的测定点PM的y坐标值(聚焦平衡值)是直线L2的交点两侧的测定点PM、和直线L3的交点两侧的测定点PM的中间附近的值。能够通过这样配置测定点PM，求出椭圆的长轴和短 轴的方向上的估计点PE，根据估计点PE求出的椭圆式的精度提高。
此外，在图12的(c)中，在由虚线表示的直线L4、L5上也配置有3点的测定点PM，通过对这些直线L4、L5也进行二次近似来求出估计点PE，能够与根据直线L1、L2、L3得到的估计点PE结合，最大得到10点的估计点PE。如果根据该10点的估计点PE求出椭圆式，则所求出的椭圆的精度提高。
在图12的(d)中，全部3种直线L1、L2、L3是与x轴或y轴平行的直线。与图12的(c)同样，对于直线L4、L5也能够求出估计点PE。
图12的(e)示出了全部3种直线L1、L2、L3上配置有4点的测定点PM的一例。该情况下，在各直线上，能够使用4点的测定点PM的位置及其测定结果，利用例如最小二乘法等进行二次近似，求出估计点PE。由此，能够提高二次近似的精度，能够提高根据二次近似结果求出的估计点PE的精度、和根据估计点PE导出的椭圆的精度。
另外，在图12的(e)中，与图12的(c)、(d)同样，能够追加对直线L4的二次近似。此外，可以不在全部3种直线上都配置4点的测定点PM，而仅对任意一条直线或3种中的两种直线配置4点的测定点PM。针对被认为容易产生二次近似的误差的直线增加测定点PM是有效的，例如对与椭圆的长轴方向平行的直线L3配置4点或5点以上的测定点PM等。
在图12的(f)中，测定点PM的配置是与图10相同的配置。这里，进一步设定通过直线L1上的测定点PM和直线L2上的测定点PM的直线L4和直线L5。并且，根据直线L3的二次近似结果导出这些直线L4、L5与直线L3的交点(图中的三角符号，以下称作“测定点PM2”)处的再现信号振幅，作为假想的测定结果。由此，在直线L4上和直线L5上，分别存在结合两个测定点PM和1个测定点PM2后的3点的测定点，能够进行二次近似来追加求出估计点PE，由此能够通过比根据直线L1、L2、L3求出的全部6点的估计点PE多的估计点PE求出椭圆式。由此，与图10的情况相比，能够在不增加测定点PM的数量的情况下增加估计点PE的数量，因此能够在不增加测定所需时间的情况下，提高根据估计点PE导出的椭圆式的精度。
另外，图10和图12所示的测定点PM的配置是例子，只要满足在至少3种直线上分别配置有至少3点的测定点PM，则测定点PM的配置也可以是上述以外的配置。此外，如图12的(f)所示，在根据某个直线上的二次近似结果求测定点PM2的情 况下，也可以是在包含通过测定点PM2的直线在内的3种以上的直线上，分别配置有至少3点的测定点PM或测定点PM2那样的配置。即，也可以将测定点PM2视作测定点PM来进行使用。
此外，测定点PM的配置例如可以对应于根据光学头300的规格等而改变的、再现信号振幅或再现信号质量相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的分布(椭圆的形状和/或斜率)来确定，针对光学头300的规格相同的分布使用相同的测定点PM的配置即可。
图13是示出本实施方式的光信息处理装置100的再现动作的步骤的一例的流程图。以下，参照图13说明光信息处理装置100的再现动作的步骤。
首先将光盘500插入到光信息处理装置100时，通过未图示的传感器检测该情况(步骤S10)，并传递到中央控制部200。于是，中央控制部200借助致动器控制部170等驱动光学头300，判别插入到了光信息处理装置100的光盘500的类别(CD、DVD、BD等类别)、以及光盘500是几层盘等(步骤S11)。
接着，在步骤S12中，中央控制部200在实施了光学头300相对于光盘500的倾斜角度、各种信号的增益设定以及伺服条件等的粗调等初始调节后，在步骤S13中，进行球面像差校正量和聚焦平衡值的调节。该步骤S13的处理的详细情况将后述。
然后，中央控制部200从光盘500中读出用于控制光盘的固有信息和/或再现动作的控制信息等，判断是否开始再现(步骤S14)，在步骤S15中开始要进行的对来自光盘500的数据的再现(正式再现)。
图14是示出图13的步骤S13的处理的流程图。以下，参照图14说明步骤S13的球面像差校正量和聚焦平衡值的调节(或组合的决定)。
首先，在步骤S20中，中央控制部200借助螺旋电机控制部150控制螺旋电机151，使光学头300移动到用于调节球面像差校正量和聚焦平衡值的调节用区域，使得能够在光盘500的调节用区域中再现信号。
这里，调节用区域是已对光盘500记录了信号的已记录区域，例如是记录有再现数据的数据区域、记录有光盘500的ID等固有信息的盘管理区域(通常记录在光盘500的内周)、以及对光盘500的记录有数据的地址等进行管理的记录管理区域(通常记录在光盘500的内周)。
另外，在光盘500具有多个信息记录层的情况下，在各个信息记录层中，需要球 面像差校正量和聚焦平衡值的调节，需要作为调节对象的信息记录层的再现。
接着，在步骤S21中，中央控制部200决定测定点PM。在测定点PM的决定中，可以在决定基准点后通过与基准点的球面像差校正量和聚焦平衡值的差分量的组合来决定测定点PM，也可以预先决定全部测定点PM的球面像差校正量和聚焦平衡值的组合。例如，在决定基准点后决定测定点PM的情况下，例如从ROM 220或RAM 230等，从按照光盘500的每个种类和记录层预先存储的、球面像差校正量和聚焦平衡值中，读出与将要进行调节的光盘500和记录层对应的值，并设定为基准点。此外，从ROM 220或RAM 230中读出测定点PM的决定所需的与基准点的差分量数据等，从而决定全部测定点PM。另外，在步骤S12中的伺服条件等的粗调时，在大致调节了球面像差校正量和聚焦平衡值的情况下，可以将其调节结果设为基准点。此外，也可以在步骤S21中不需要决定全部的测定点PM，例如可以根据下一步骤S22中的测定结果决定下一测定点PM的位置。
接着，在步骤S22中，中央控制部200在利用步骤S21决定的各测定点PM处，测定再现信号振幅。具体而言，中央控制部200将球面像差校正量和聚焦平衡值设定为与第1个测定点PM对应的值，并测定再现信号振幅。然后，按照测定顺序将球面像差校正量和聚焦平衡值设定为与第2个之后的测定点PM对应的值，在各测定点PM处依次测定再现信号振幅，从而得到各测定点PM处的测定结果。即，依照规定的测定顺序，针对各测定点PM，使用与该测定点PM对应的球面像差校正量和聚焦平衡值再现光盘500，并测定再现信号振幅。
接着，在步骤S23中，中央控制部200根据在步骤S22中测定出的各测定点PM的测定结果，沿着至少通过3个测定点PM的3种以上的直线(这里为3种直线L1、L2、L3)进行二次近似处理，从而求出二次近似式(或2次式的系数)。
然后，在步骤S24中，中央控制部200针对各直线L1、L2、L3，根据在步骤S23中求出的2次式的系数，计算再现信号振幅为估计用水平ZE的位置，作为估计点PE。
另外，估计用水平ZE不一定必须为预先确定的规定值，例如可以根据测定点PM处的再现信号振幅的测定结果进行计算并设定。该情况下，例如针对各直线L1、L2、L3，根据在步骤S23中求出的2次式的系数，求出二次近似曲线的最大值，并将估计用水平ZE设定为比所求出的3个最大值中的最小值小的值。或者，也可以将估计用水平ZE设定为比各测定点PM的测定结果的最小值小的值。
此外，可以不仅使用某1个估计用水平ZE，而设定不同的多个估计用水平ZE，求出各个估计用水平ZE时的估计点PE，并根据所求出的估计点PE，求出各个估计用水平ZE时的椭圆中心PC。
接着，在步骤S25中，中央控制部200根据在步骤S24中求出的估计点PE计算椭圆式(或构成椭圆式的椭圆系数)，然后，在步骤S26中，根据在步骤S25中求出的椭圆式(或椭圆系数)计算椭圆中心PC(xc，yc)。
接着，在步骤S27中，中央控制部200将球面像差校正量和聚焦平衡值设定为在步骤S26中求出的椭圆中心PC。即，将球面像差校正量设定为xc、聚焦平衡值设定为yc，完成步骤S13的球面像差校正量和聚焦平衡值的调节。
根据以上说明的本实施方式，能够得到下述(1)～(7)的效果。
(1)在本实施方式中，光信息处理装置分别针对以球面像差校正量和聚焦调节值(例如聚焦平衡值)为坐标轴的平面上的至少3条直线，在该直线上的至少3点的测定位置处测定再现信号的信号特性，根据该测定结果，求出信号特性为大致同一水平的上述平面上的至少5个位置作为估计位置，并基于该至少5个估计位置来调节球面像差校正量和聚焦调节值。因此，根据本实施方式，能够通过至少6点的测定位置处的测定，对球面像差校正量和聚焦调节值进行调节，能够以较少的测定点数进行球面像差校正量和聚焦位置的调节。由此，例如能够在短时间内进行球面像差校正量和聚焦位置的调节。
(2)光信息处理装置求出对上述至少5个估计位置进行椭圆近似而得到的椭圆的中心位置，并根据该椭圆的中心位置，进行球面像差校正量和聚焦位置的调节。因此，在以球面像差校正量和聚焦调节值为坐标轴的平面上，能够求出再现信号的信号特性为最佳或最佳附近的位置，能够根据该位置高精度地进行调节。具体而言，能够求出信号特性为大致同一水平的等高线(分布)的中心位置作为椭圆中心位置，能够将球面像差校正量和聚焦调节值设定为基于椭圆中心位置的最佳或接近最佳的值。此外，能够利用信号特性相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的等高线为大致椭圆的情况，估计该椭圆并求出椭圆中心，因此能够进行确保了裕量的调节。
(3)光信息处理装置针对上述各直线，根据用2次以上的多项式对上述测定位置与在上述测定位置处测定出的信号特性之间的关系进行近似而得到的近似结果，求出在信号特性为规定水平的上述平面上的位置作为上述估计位置，并使用所得到的估 计位置中的至少5个求出上述椭圆的中心位置。因此，能够准确地求出估计位置，能够高精度地求出椭圆的中心位置。
(4)光信息处理装置使用再现信号的振幅，作为再现信号的信号特性。根据本方式，与使用再现信号的质量的情况相比，能够缩短调节时间。
(5)光信息处理装置使用再现信号的质量，作为再现信号的信号特性。根据本方式，与使用再现信号的振幅的情况相比，能够进行使得再现信号质量良好的调节。
(6)测定位置的配置和测定顺序以球面像差校正量的变更次数和总变更量减小的方式进行设定。因此，能够减少变更费时间的球面像差校正量的变更，能够在短时间内进行调节。
(7)上述至少3条直线中的1条是将信号特性的等高线视作椭圆的情况下的、与椭圆的长轴方向大致平行的直线。根据本方式，能够高精度地近似出椭圆。例如，在估计椭圆的情况下，有时长轴方向上误差较大，但根据本方式，能够通过在沿着长轴方向的位置处进行测定，而减轻该误差。
另外，在上述说明中，例示了测定再现信号振幅来进行调节的方法，但同样也可以测定再现信号质量来进行调节。该情况下，需要替代再现信号振幅，而利用再现信号质量的大小来规定用于求出估计点PE的条件。此外，在使用再现质量越好值越小的指标(例如i-MLSE)作为再现信号质量的情况下，期望估计用水平比各测定点PM处的测定结果的最大值大。此外，在测定再现信号质量来进行调节的情况下，再现信号质量的测定需要时间，因此整体的调节时间比测定再现信号振幅的情况长，但与测定再现信号振幅的情况相比，能够进行使得再现信号质量更良好的调节。这是因为再现信号振幅的分布与再现信号质量的分布存在一些差异而导致的(参照图7)。
此外，可以测定再现信号振幅来求出椭圆中心PC，再次设定以该椭圆中心PC为基准点的测定点PM(或在该椭圆中心PC附近再次设定测定点PM)，在该测定点PM处测定再现信号质量来重新求出椭圆中心PC。这样做的理由，是因为在测定点PM较大程度偏离椭圆中心PC的情况下存在无法正确测定再现信号质量的情况、或再现信号质量的值饱和的情况。求出一次基于再现信号振幅的椭圆中心PC，根据该椭圆中心PC再次设定测定点PM，并在该测定点PM处测定再现信号质量，由此再现信号质量的测定结果成为妥当的结果，能够正确地求出椭圆中心PC。
此外，在测定再现信号振幅来求出椭圆中心PC的情况下，可以利用球面像差校 正量和聚焦平衡值分别预先求出图7所示那样的、再现信号振幅的椭圆中心与再现信号质量的椭圆中心之差，并将上述差与根据测定结果求出的再现信号振幅的椭圆中心PC相加，由此校正椭圆中心PC的位置。但是，在设定上述差的情况下，需要考虑光信息处理装置100和光盘500在再现信号振幅的椭圆中心与再现信号质量的椭圆中心之间的位置关系方面的个体偏差等进行设定。
此外，在上述说明中，例示了等高线为相对于x轴和y轴倾斜的椭圆的情况，但根据光学头300的光学规格，还存在等高线为不倾斜的椭圆的情况、或斜率较小的情况。在该情况下，也能够通过相同的方法求出椭圆中心PC，但例如期望将测定点PM的配置等设定为可恰当估计椭圆那样的位置关系。
此外，在上述说明中，主要示出了使用3个测定点PM进行二次近似的情况，但为了进一步提高调节的精度，也可以使用4个以上的测定点PM进行二次近似。即，可以在3种直线上分别配置4个以上的测定点PM。此外，3种直线上的测定点PM的点数不需要在直线间相同，例如可以优先再现信号振幅的特性变动较小的方向(例如图10的直线L3的方向)，增多直线上的测定点PM的点数。
此外，在各直线上配置4个以上的测定点PM的情况下，可以不进行二次近似，而进行3次近似、或4次以上的多项式近似。但是，需要多项式近似的次数以上的测定点PM。另外，根据这样进行多项式近似的结构，即使在与椭圆中心远离的位置处、且在倾斜地横穿椭圆的长轴和短轴的直线上进行近似的情况下等、原本的特性是不对称的情况下，也能够正确地进行近似，能够高精度地求出用于求出椭圆式的估计点PE。
此外，在上述说明中，例示了将所求出的椭圆中心PC设定为最佳的球面像差校正量和聚焦平衡值的情况，但也可以在所求出的椭圆中心PC附近，进一步测定再现信号振幅和再现信号质量，并且将球面像差校正量和聚焦平衡值调节为最佳，从而进一步提高调节精度。
此外，在上述说明中，例示了根据至少5个估计位置求出椭圆式、并根据该椭圆式计算椭圆的中心位置的结构，但光信息处理装置可以根据至少5个估计位置，用其他方法进行调节。例如，光信息处理装置可以预先存储将5个估计位置的组合、与最佳的球面像差校正量和聚焦平衡值的组合对应起来的表，参照该表，根据5个估计位置的组合，决定最佳的球面像差校正量和聚焦平衡值的组合。
此外，在上述说明中，例示了光信息处理装置100是光再现装置的情况，但光信息处理装置100也可以是向光盘500进行记录的装置(光记录装置)。该情况下，光信息处理装置100除了图1所示的结构以外，例如还包含：将来自上位控制器的用户数据编码成用于记录到光盘500的数据的数据编码器；以及控制进行记录到光盘500时的激光的发光控制的与写入策略控制相关的控制部等、向光盘500进行记录所需的控制部。
此外，在光记录装置中进行球面像差校正量和聚焦平衡值的情况下，也通过对在光盘500中记录有信号的已记录区域进行再现来进行调节，但在光盘500为例如空白光盘那样不存在已记录区域的情况下，可以通过在例如用于调节激光功率的测试记录区域等中进行试写等，生成已记录区域，并使用所生成的已记录区域调节球面像差校正量和聚焦平衡值。
此外，本实施方式的调节方法也可以用于在初始调节中进行的粗调。特别是在光信息处理装置100为光记录装置、且光盘500为例如空白光盘那样不存在已记录区域的情况下，作为粗调，有时以使得循轨误差信号的振幅最大的方式，对球面像差校正量和聚焦平衡值进行调节。此外，在光信息处理装置100为光再现装置的情况下，为了使得循轨伺服稳定动作，有时也以使得循轨误差信号的振幅最大的方式，对球面像差校正量和聚焦平衡值进行调节。在循轨误差信号的振幅的等高线(或分布)与再现信号的振幅的等高线(或分布)相同的情况下，光信息处理装置100也可以使用循轨误差信号的振幅，作为再现信号的信号特性，进行球面像差校正量和聚焦平衡值的调节。例如，在图14的步骤S22中，可以不测定再现信号振幅而测定循轨误差信号的振幅，在步骤S23～S27中，使用循轨误差信号的振幅的测定结果进行各处理。
此外，在图10的例子中，预先调查球面像差校正量以及聚焦平衡值与再现信号的信号特性之间的关系来求出椭圆的斜率，并将直线L3的斜率设定为接近椭圆斜率的斜率，但椭圆的斜率有时也根据光盘500的反射率而改变。例如，在根据光盘500的反射率适当变更光检测器370的输出增益设定和/或前置放大器110的增益设定的结构中，根据光盘500的反射率的不同，球面像差校正量以及聚焦平衡值与再现信号的信号特性之间的关系有时会发生变化，从而椭圆的斜率发生变化。因此，光信息处理装置100也可以预先存储表示光盘500的反射率与椭圆斜率之间的对应关系的对应关系信息，在调节时，取得表示作为调节对象的光盘500的反射率的反射率信息，根 据反射率信息和对应关系信息确定与作为调节对象的光盘500的反射率对应的椭圆斜率，并设定直线L3使其具有该斜率。具体而言，光信息处理装置100也可以按照光盘500的每个种类或反射率、或按照光检测器370和/或前置放大器110的每个增益设定，存储椭圆的斜率，在调节时，取得作为调节对象的光盘500的种类或反射率、或者光检测器370等的增益设定，使用所存储的信息求出与作为调节对象的光盘500的种类等对应的椭圆斜率，并将该斜率设定为直线L3的斜率。另外，上述对应关系信息例如通过对反射率不同的多个光盘调查椭圆的斜率而得到。
实施方式2.
以下，说明实施方式2的光信息处理装置。实施方式2的光信息处理装置相比于上述实施方式1的光信息处理装置，在调节处理方面不同，其他部分均相同。在以下的说明中，对与实施方式1同样的部分省略或简化说明，对与实施方式1相同或对应的要素标注相同的标号。
中央控制部200判断信号特性的测定的妥当性，在判断为不妥当的情况下，在追加的测定位置处测定信号特性，根据包含在该追加的测定位置处测定的信号特性的测定结果，进行球面像差校正量和聚焦调节值的调节。
在本例中，中央控制部200根据所求出的椭圆的中心位置与在该椭圆的中心位置导出中使用的测定位置之间的关系，判断该椭圆的中心位置是否妥当，在椭圆的中心位置不妥当的情况下，判断为测定是不妥当的。具体而言，中央控制部200在椭圆的中心位置相对于测定位置偏离超出规定基准的情况下，判断为椭圆的中心位置不妥当。更具体而言，中央控制部200在椭圆的中心位置不包含在根据测定位置规定的规定范围内的情况下，判断为椭圆的中心位置不妥当。例如，中央控制部200在椭圆中心的x坐标值处于测定点PM的x坐标值的范围内(最小值与最大值之间)，且椭圆中心的y坐标值处于测定点PM的y坐标值的范围内(最小值与最大值之间)的情况下判断为妥当，在除此以外的情况下判断为不妥当。并且例如，中央控制部200在椭圆中心位于用直线连接测定点PM而成的图形(例如图10中为六边形)的范围内的情况下判断为妥当，在除此以外的情况下判断为不妥当。另外，上述规定的基准和规定范围不限于上述例子，可以适当设定。
图15是示出本实施方式2中的调节处理的流程图。例如在图13的步骤S13中不执行图14的调节处理，而执行图15的调节处理。以下，参照图15对本实施方式的 球面像差校正量和聚焦平衡值的调节进行说明。
在图15中，计算椭圆中心PC之前的处理(即步骤S20至步骤S26的处理)与图14大致相同，中央控制部200与实施方式1同样地计算椭圆中心PC(步骤S20～S26)。
在椭圆中心PC的计算后，在步骤S28中，中央控制部200根据在步骤S26中计算出的椭圆中心PC与在步骤S21中决定的测定点PM之间的位置关系，判断计算出的椭圆中心PC的妥当性(良好与否)。例如，中央控制部200在椭圆中心PC位于由测定点PM规定的规定范围内的情况下判断为良好(妥当)，在椭圆中心PC不位于规定范围内的情况下判断为不好(不妥当)。
在利用步骤S28中的良好与否判断而判断为良好的情况下，中央控制部200将球面像差校正量和聚焦平衡值设定为在步骤S26中求出的椭圆中心PC(步骤S27)，并结束球面像差校正量和聚焦平衡值的调节。
另一方面，在利用步骤S28中的良好与否判断而判断为不好的情况下，中央控制部200使处理进入到步骤S29。
在步骤S29中，中央控制部200决定追加测定点PM3，作为与已有的测定点不同的追加测定点。例如，在步骤S21中决定了测定点PM时的直线L1、L2、L3上，分别在相比已有的测定点而更接近在步骤S26中计算出的椭圆中心PC的位置处设定追加测定点PM3。
以下，使用图16对追加测定点PM3的决定进行说明。图16与图10大致相同，图16中示出了再现信号振幅的等高线和直线L1、L2、L3。此外，图16中示出了在步骤S21中决定的测定点PM(圆形符号)、在步骤S24中计算出的估计点PE(白色方形符号)、在步骤S25中近似出的椭圆DE1、和在步骤S26中计算出的椭圆中心PC1。在图16的例子中，与图10的情况相比，在球面像差校正量和聚焦平衡值均向负侧移动后的位置处设定测定点PM，由于步骤S23的二次近似的误差，求出比原本大的椭圆DE1，在从原本位置偏离的位置处求出椭圆中心PC1。这是因为假定了在测定点PM从原本的椭圆中心(处于图16的点PC2附近)偏离的情况下(例如测定点PM的范围不包含原本的椭圆中心的情况下)，例如直线L3上的测定点PM的范围不包含直线L3上的再现信号振幅为最大的点，从而二次近似曲线与原本的再现信号振幅特性间的误差(即近似误差)容易变大。
因此，当在步骤S26中计算出的椭圆中心PC1不处于测定点PM的范围内的情况下，在步骤S26中计算出的椭圆中心PC1与原本的椭圆中心(原本应调节出的最佳的球面像差校正量和聚焦平衡值)之间产生偏差的可能性变高。
因此，在本实施方式中，当在步骤S28中判断为测定点PM与椭圆中心PC之间的关系不好的情况下，在步骤S29中，以能够校正上述偏差的方式，设定追加测定点PM3。
图16中用三角符号示出了追加测定点PM3的一例。在图16的例子中，分别对已有的直线L1、L2、L3设定1个追加测定点PM3，在各直线上，追加测定点PM3被设定在相比已有的测定点PM而更接近在步骤S26中计算出的椭圆中心PC1的位置(即，从已有的测定点PM朝接近椭圆中心PC1的方向移动后的位置)处。
在上述追加测定点PM3的决定后，在步骤S30中，中央控制部200在所决定的各追加测定点PM3处测定再现信号振幅。即，关于各追加测定点PM3，将球面像差校正量和聚焦平衡值设定为与该追加测定点PM对应的值，并测定再现信号振幅。
接着，中央控制部200返回到步骤S23，进行二次近似处理。在这里的二次近似处理中，除了已测定的测定点PM的结果以外，还使用在步骤S30中测定的追加测定点PM3的结果，进行二次近似处理，并进行二次近似结果的更新。
并且，中央控制部200根据在步骤S23中更新后的二次近似结果，在步骤S24中重新计算估计点PE(图16的黑色方形符号)，在步骤S25中计算椭圆式(相当于图16的椭圆DE2)，在步骤S26中进行椭圆中心的计算，从而得到椭圆中心PC2(参照图16)。
接着，在步骤S28中，中央控制部200根据包含追加测定点PM3的测定点与在步骤S26中再次计算出的椭圆中心PC的结果(椭圆中心PC2)之间的关系，判断椭圆中心的妥当性，如果妥当则进入步骤S27，如果不妥当则进入步骤S29。即，到计算出妥当的椭圆中心为止，反复进行设定追加测定点PM3来求出椭圆中心的处理，在计算出了妥当的椭圆中心的情况下，将球面像差校正量和聚焦平衡值设定为该椭圆中心。
根据以上说明的本实施方式，除了上述(1)～(7)以外，还可以得到下述(8)～(10)的效果。
(8)光信息处理装置判断信号特性的测定的妥当性，在判断为不妥当的情况下， 在追加的测定位置处测定信号特性，根据包含在该追加的测定位置处测定的信号特性的测定结果，进行球面像差校正量和聚焦调节值的调节。由此，能够根据更妥当的测定结果进行调节。
(9)光信息处理装置根据测定位置与所求出的椭圆的中心位置之间的关系，判断该椭圆的中心位置的妥当性，在不妥当的情况(或似乎有问题的情况)下，设定追加的测定位置，在该追加的测定位置处进行追加测定，并与已测定的测定位置处的测定结果结合，再次求出椭圆的中心位置。因此，能够适当地求出椭圆的中心位置，能够进行适当的调节。特别是，即使在最佳的球面像差校正量和聚焦调节值的位置与最初所设定的测定位置大幅偏离的情况下，也能够适当地计算椭圆的中心位置。
(10)光信息处理装置在通过测定位置规定的规定范围内(测定位置的范围内)不包含所求出的椭圆的中心位置的情况下，判断为测定(或椭圆的中心位置)不妥当，在包含该椭圆的中心位置的情况下，判断为妥当。根据本方式，能够恰当地判断所求出的椭圆的中心位置是否妥当，能够适当地求出椭圆的中心位置。
另外，在上述说明中，对已有的全部直线L1、L2、L3全部设定了追加测定点PM3，但在图16那样的情况下，也可以仅对直线L3设定追加测定点PM3。这是因为，在图16那样的情况下，直线L1和直线L2中的测定范围包含这些直线上的再现信号振幅的最大点，二次近似结果难以包含较大误差，另一方面，直线L3中的测定范围不包含该直线上的再现信号振幅的最大点，二次近似结果容易包含较大误差。
此外，在上述例子中，以在已有的直线L1、L2、L3上追加测定点的方式设定了追加测定点PM3，但也可以不在已有的直线上，而以能够通过已测定的测定点PM和追加测定点PM3来设定新的直线的方式，设定追加测定点PM3。
此外，在上述例子中，通过判断计算出的椭圆中心PC的妥当性，对测定的妥当性进行了判断，但也可以利用与其不同的方法来判断测定的妥当性。
例如，光信息处理装置也可以在至少3条直线中的至少1条中，测定位置与在测定位置处测定出的信号特性之间的关系是单调增加或单调减少的情况下，判断为测定不妥当，在既不是单调增加也不是单调减少的情况下，判断为测定是妥当的。例如，在图15的步骤S28中，中央控制部200针对各直线，判断测定位置与测定结果之间的关系是否为单调增加或单调减少，在至少1条直线中判断为单调增加或单调减少的情况下，判断为不好。具体而言，在某条直线上，依照测定点PM的位置顺序将各测 定点PM处的测定结果(再现信号振幅)表示为结果1、结果2、···、结果n的情况下，在成为结果1＜结果2＜···＜结果n的单调增加、或成为结果1＞结果2＞···＞结果n的单调减少时，判断为不好。在单调增加或单调减少的情况下，测定点PM的范围(或结果1～结果n的范围)内不包含再现信号振幅的最大值，在二次近似处理中可能产生误差。另外，中央控制部200也可以在图15的步骤S22后进行上述判断，如果良好，则进入步骤S23，如果不好，则返回步骤S21，追加测定点重新进行测定。
并且例如，中央控制部200也可以根据步骤S23中的二次近似处理的结果，求出二次近似曲线的峰值位置(再现信号振幅为最大的位置)，在峰值位置不包含在测定点PM的范围内的情况下，判断为不好。该情况下，中央控制部200可以在图15的步骤S28中进行上述判断，也可以在图15的步骤S23后进行上述判断，如果良好，则进入步骤S24，如果不好，则返回步骤S21，追加测定点重新进行测定。
并且例如，也可以调查再现信号振幅相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的等高线的分布，预先求出将等高线视作大致椭圆的情况下的、椭圆的长轴与短轴的比率，中央控制部200根据在步骤S25中计算出的椭圆式求出长轴与短轴的比率，对两个比率进行比较，在其差为规定以上的情况下，判断为不好。该判断可以在步骤S28中进行，也可以在步骤S25后进行。
实施方式3.
以下，说明实施方式3的光信息处理装置和光信息处理方法。实施方式3的光信息处理装置相比于上述实施方式1的光信息处理装置，在调节处理方面不同，其他部分均相同。在以下的说明中，对与实施方式1同样的部分省略或简化说明，对与实施方式1相同或对应的要素标注相同的标号。
图17是在图4的再现信号振幅相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的分布中，追加示出了本实施方式的调节方法中的测定点以及椭圆中心点等的图。以下，适当参照图17说明本实施方式的调节处理。
在本实施方式中，上述至少3条直线包含与聚焦调节值的坐标轴(y轴)平行的直线(以下称作“聚焦轴直线”)、和与聚焦轴直线不同的至少两条直线(以下称作“剩余直线”)。各剩余直线例如是相对于球面像差校正量的坐标轴(x轴)和聚焦调节值的坐标轴(y轴)倾斜的直线。图17中示出了作为聚焦轴直线的直线L1、以及作为 剩余直线的直线L2和直线L3。直线L2是与x轴平行的直线。直线L3相对于x轴和y轴倾斜，是将xy平面上的信号特性的等高线视作椭圆的情况下的、与椭圆的长轴大致平行的直线。
中央控制部200在聚焦轴直线上的至少3点的测定位置处测定出再现信号的信号特性后，依次变更球面像差校正量，每当变更球面像差校正量时，在变更后的球面像差校正量下在各剩余直线上的测定位置处测定再现信号的信号特性，由此分别针对至少3条直线，在该直线上的至少3点的测定位置处测定再现信号的信号特性。例如图17所示，在直线L1上的4点的测定点PM0、PM1、PM2、PM3处测定信号特性后，变更球面像差校正量，在变更后的球面像差校正量下在直线L2、L3上的测定点PM4、PM5处测定信号特性，进一步变更球面像差校正量，在变更后的球面像差校正量下在直线L2、L3上的测定点PM6、PM7处测定信号特性。图17中，虚线箭头表示测定顺序。在一例中，中央控制部200如下构成。
中央控制部200以通过聚焦轴直线上的至少3点的测定位置中的任意一个测定位置的方式，设定各剩余直线。在优选的一个方式中，中央控制部200针对聚焦轴直线，根据用2次以上的多项式对测定位置与在测定位置处测定出的信号特性之间的关系进行近似而得到的近似结果，求出信号特性为极值的位置，作为极值位置。并且，以通过聚焦轴直线上的至少3点的测定位置中的、极值位置附近的测定位置的方式，设定各剩余直线。极值位置附近的测定位置例如是最接近极值位置的测定位置。在图17的例子中，作为极值位置，在直线L1上示出再现信号振幅为最大的最大点PMp1(黑色方形符号)，直线L2和L3被设定为通过直线L1上的测定点中的、最接近最大点PMp1的测定点PM2。但是，极值位置附近的测定位置不限于最接近极值位置的测定位置，也可以是与极值位置相邻的测定位置等。此外，至少两条剩余直线可以如图17那样被设定为通过彼此相同的测定位置，也可以如图12的(a)那样被设定为通过彼此不同的测定位置。在至少两条剩余直线通过彼此不同的测定位置的情况下，能够通过如图12的(a)那样在剩余直线彼此的交点处设定测定位置，将测定位置的点数抑制得较少。
此外，中央控制部200针对各直线，在用2次以上的多项式对测定位置与在测定位置处测定出的信号特性之间的关系进行了近似时，在信号特性为极值的位置包含在测定位置的范围内为止，在以扩展测定位置的范围的方式变更测定位置的同时进行信 号特性的测定。这里，测定位置的范围具体是指测定位置的球面像差校正量或聚焦调节值的最小值与最大值之间的范围。
此外，中央控制部200针对至少1条直线，在至少两点的测定位置处测定出信号特性后，对该至少两点的测定位置中的、两端的测定位置处的信号特性进行比较，将自两端的测定位置中的信号特性良好的一方的测定位置朝向与朝另一方的测定位置相反的方向离开而得到的位置决定为下一测定位置。这里，信号特性良好例如在信号特性为再现信号振幅的情况下是指信号特性较大，在信号特性为i-MLSE值的情况下是指信号特性较小。
并且，在本实施方式中，中央控制部200在进行了椭圆近似的情况下，进行该椭圆近似的结果是否示出椭圆的判断。并且，在上述判断中判断为未示出椭圆的情况下，变更信号特性的水平来求出至少5个估计位置，在使用该至少5个估计位置进行了椭圆近似后，再次进行上述判断。而且，在上述判断中判断为示出椭圆的情况下，根据示出椭圆的椭圆近似的结果求出椭圆的中心位置，并基于该椭圆的中心位置决定球面像差校正量和聚焦调节值。
或者，中央控制部200可以分别在信号特性的多个水平时，求出至少5个位置作为估计位置，对该至少5个估计位置进行椭圆近似，求出该椭圆近似的结果与至少5个估计位置之间的误差量，并根据与多个水平对应的多个椭圆近似结果中的、误差量最小的椭圆近似的结果，求出椭圆的中心位置，根据该椭圆的中心位置决定球面像差校正量和聚焦调节值。
图18是示出本实施方式3中的调节处理的流程图。例如在图13的步骤S13中不执行图14的调节处理，而执行图18的调节处理。以下，参照图17和图18对本实施方式的球面像差校正量和聚焦平衡值的调节方法进行说明。
在步骤S20中，与实施方式1同样，中央控制部200使光学头300移动到用于调节球面像差校正量和聚焦平衡值的调节用区域，使得能够在光盘500的调节用区域中再现信号。
接着，在步骤S40中，中央控制部200将球面像差校正量和聚焦平衡值设定为与预先确定的直线L1上的初始测定点PM0(图17的白色方形符号)对应的值。
然后，在步骤S41中，中央控制部200利用所设定的球面像差校正量和聚焦平衡值测定再现信号振幅。在步骤S42中，中央控制部200判断已测定的测定点是否为3 点以上。
在步骤S42中判断为已测定的测定点少于3点的情况下(“否”的情况下)，中央控制部200进入到步骤S43，设定接下来要测定的聚焦平衡值。这里，球面像差校正量不从初始测定点PM0进行变更。即，步骤S43的处理相当于在图17中的直线L1上变更测定点来确定下一测定点的处理。然后，中央控制部200返回到步骤S41，测定在步骤S43中变更后的聚焦平衡值中的再现信号振幅，并进入到步骤S42。
在步骤S42中判断为已测定的测定点为3点以上的情况下(“是”的情况下)，处理进入到步骤S44。因此，在步骤S42的判断变为“是”为止，反复实施步骤S43、S41和S42的处理，当步骤S42的判断变为“是”时，处理进入到步骤S44。
在步骤S44中，中央控制部200对已测定的测定点与再现信号振幅之间的关系进行二次近似，并根据其结果，求出再现信号振幅为最大的直线L1上的点作为最大点PMp1。在图17中，最大点PMp1由直线L1上的黑色方形符号表示。另外，在步骤S44中，也可以替代二次近似而进行3次以上的近似，求出最大点PMp1。该情况下，需要根据近似的次数，在步骤S42的判断中适当设定作为阈值的点数，具体而言，需要设定为进行近似所需的最低限度的点数以上。另外，能够通过将步骤S42的判断中的作为阈值的点数设定为比进行近似所需的最低限度的点数大，来提高上述近似的精度。
接着，在步骤S45中，中央控制部200判断最大点PMp1是否处于已测定的测定点的范围内。具体而言，判断最大点PMp1的聚焦平衡值是否处于已测定的测定点的聚焦平衡值的最小值与最大值之间。
在步骤S45中判断为最大点PMp1处于已测定范围外的情况下(“否”的情况下)，中央控制部200返回到步骤S43，设定接下来要测定的聚焦平衡值，并返回到步骤S41。
当在步骤S45中判断为最大点PMp1处于已测定范围内的情况下(“是”的情况下)，处理进入到步骤S50。因此，在步骤S45的判断变为“是”为止，反复实施步骤S43、S41、S42和S44的处理，当步骤S45的判断变为“是”时，处理进入到步骤S50。
图17中示出了如下情况：沿着直线L1，按照测定点PM0、PM1、PM2、PM3的顺序，在减小聚焦平衡值的同时进行再现信号振幅的测定，在测定点的点数变为了4点时，最大点PMp1处于测定范围内。
这里，在聚焦平衡值的设定中，期望不是在一个方向上仅减小或仅增大聚焦平衡 值，而是通过尽可能少的测定点数，以再现信号振幅的最大点包含在测定点的范围内的方式，利用已测定的测定点的测定结果高效地设定聚焦平衡值。例如，对已测定的测定点中的聚焦平衡值最大的测定点处的再现信号振幅、和聚焦平衡值最小的测定点处的再现信号振幅进行比较，并将再现信号振幅较大一方的测定点作为基准，以使测定点范围扩展的方式设定下一测定点的聚焦平衡值。例如，在聚焦平衡值将最大的测定点作为基准的情况下，对该作为基准的测定点的聚焦平衡值加上规定级(step)来设定下一聚焦平衡值，在聚焦平衡值将最小的测定点作为基准的情况下，从该作为基准的测定点的聚焦平衡值中减去规定级来设定下一聚焦平衡值。
此外，关于初始测定点PM0的下一测定点，可以根据初始测定点PM0、以及光信息处理装置中的再现信号振幅相对于球面像差校正量和聚焦平衡值的特性，如下进行设定。例如，在再现信号振幅为最佳的点的聚焦平衡值(即最佳的聚焦平衡值)处于某个基准值(例如零)附近的情况较多的光信息处理装置中，在初始测定点PM0的聚焦平衡值大于基准值的情况下，从该聚焦平衡值中减去规定级来设定下一测定点的聚焦平衡值，在初始测定点PM0的聚焦平衡值小于基准值的情况下，对该聚焦平衡值加上规定级来设定下一测定点的聚焦平衡值。由此，能够在再现信号振幅增大的方向上设定下一测定点的可能性变高。在上述结构中，例如能够预先在多个盘和多个光信息处理装置中包含偏差地调查光信息处理装置中的最佳的聚焦平衡值，例如在光信息处理装置中设定其平均的聚焦平衡值作为基准值。
在步骤S50中，中央控制部200将直线L2的基准点和直线L3的基准点设定为最接近直线L1上的测定点中的最大点PMp1的测定点(在图17的例子中为测定点PM2)。直线L2的基准点是直线L2通过的点，直线L3的基准点是直线L3通过的点。因此，在步骤S50中，设定了直线L2和直线L3。另外，设为基准点的测定点只要接近最大点PMp1即可，不一定需要最接近。此外，直线L2的基准点和直线L3的基准点也可以被设定为彼此不同的测定点。例如在图17中，可以将与最大点PMp1最接近的测定点PM2设为直线L3的基准点，将与最大点PMp2第二接近的测定点PM3设为直线L2的基准点。
在步骤S51中，中央控制部200设定下一球面像差校正量。这里，在步骤S51被初次实施的情况下(在图17的例子中，在从测定点PM0到PM3的测定结束后，在步骤S51中设定下一测定点的球面像差校正量的情况下)，中央控制部200根据在 步骤S50中设定的基准点的聚焦平衡值，决定下一球面像差校正量。例如，在再现信号特性的分布如图17那样相对于y轴朝右倾斜，再现信号振幅为最佳的点的聚焦平衡值(即最佳的聚焦平衡值)处于某个基准值(例如零)附近的情况较多的光信息处理装置中，在基准点的聚焦平衡值大于基准值的情况下，从基准点的球面像差校正量中减去规定级来决定下一球面像差校正量，在基准点的聚焦平衡值小于基准值的情况下，对基准点的球面像差校正量加上规定级来决定下一球面像差校正量。由此，特别在直线L3上，能够在再现信号振幅增大的方向上设定下一测定点的可能性变高。在上述结构中，例如能够预先在多个盘和多个光信息处理装置中包含偏差地调查光信息处理装置中的最佳的聚焦平衡值，例如在光信息处理装置中设定其平均的聚焦平衡值作为基准值。另外，在再现信号特性的分布相对于y轴朝左倾斜的光信息处理装置中，进行与上述处理相反的处理即可。此外，步骤S51的处理不限于上述处理，例如也可以在第1次的步骤S51中，不依据基准点地使球面像差校正量朝预先设定的方向变更规定级，在第2次之后的步骤S51中，根据再现信号振幅是否由于上次的球面像差校正量的变更而增大，来决定下一测定点的球面像差校正量。
接着，在步骤S52中，中央控制部200分别决定与在步骤S51中决定的球面像差校正量对应的剩余直线L2和L3上的点，作为剩余直线L2和L3上的下一测定点。在图17的例子中，作为剩余直线L2和L3上的下一测定点，分别在第1次的步骤S52中决定测定点PM4和PM5，在第2次的步骤S52中决定测定点PM6和PM7。
然后，在步骤S53中，中央控制部200在步骤S52中决定的直线L2和L3的各自的测定点处，测定再现信号振幅。在步骤S54中，中央控制部200判断各直线上的已测定的测定点是否为3点以上。
当在步骤S54中判断为已测定的测定点少于3点的情况下(“否”的情况下)，中央控制部200返回到步骤S51，在决定了接下来要测定的球面像差校正量后，进行下一测定点处的再现信号振幅的测定(步骤S52和S53)，并进入到步骤S54。
当在步骤S54中判断为已测定的测定点为3点以上的情况下(“是”的情况下)，处理进入到步骤S55。因此，在步骤S54的判断变为“是”为止，反复实施步骤S51至S54的处理，当步骤S54的判断变为“是”时，处理进入到步骤S55。
另外，在本例的步骤S52和S53中，并行地进行针对直线L2的处理和针对直线L3的处理，但也可以首先进行针对直线L2的步骤S52和S53的处理，接着进行针对 直线L3的步骤S52和S53的处理，并进入到步骤S54。此外，根据直线L2和直线L3的设定，存在在直线L2和直线L3中测定点相同的情况。该情况下，不将直线L2和L3的测定点作为独立的测定点进行处理，而作为公共的测定点来进行步骤S52和S53的处理即可。
在步骤S55中，中央控制部200分别关于直线L2和L3，对已测定的测定点与再现信号振幅之间的关系进行二次近似，并根据其结果，求出再现信号振幅最大的该直线上的点作为最大点。由此，中央控制部200求出直线L2上的最大点PMp2、和直线L3上的最大点PMp3。在图17中，最大点PMp2和PMp3分别由直线L2和L3上的黑色方形符号表示。另外，在步骤S55中，与步骤S44同样，也可以替代二次近似而进行3次以上的近似，求出最大点。该情况下，需要根据近似的次数，在步骤S54的判断中适当设定作为阈值的点数，具体而言，需要设定为进行近似所需的最低限度的点数以上。此外，近似的次数可以在全部直线中相同，也可以不同。另外，能够通过将步骤S54的判断中的作为阈值的点数设定为比进行近似所需的最低限度的点数大，来提高上述近似的精度。此外，步骤S54的判断中的作为阈值的点数在直线L2和直线L3中可以相同，也可以不同。
接着，在步骤S56中，中央控制部200分别关于直线L2和L3，判断在步骤S55中求出的最大点是否处于已测定的测定点的范围内。具体而言，关于直线L2，判断最大点PMp2的球面像差校正量是否处于已测定的测定点的球面像差校正量的最小值与最大值之间，关于直线L3，判断最大点PMp3的球面像差校正量(或聚焦平衡值)是否处于已测定的测定点的球面像差校正量(或聚焦平衡值)的最小值与最大值之间。
当在步骤S56中判断为某条直线的最大点处于已测定范围外的情况下(“否”的情况下)，中央控制部200返回到步骤S51，再次进行步骤S51～S56的处理。该情况下的处理仅针对直线L2和L3中的、被判断为最大点处于已测定范围外的直线执行即可。
当在步骤S56中判断为任意一条直线的最大点均处于已测定范围内的情况下(“是”的情况下)，处理进入到步骤S24。因此，在步骤S56的判断变为“是”为止，反复实施步骤S51～S56的处理，当步骤S56的判断变为“是”时，处理进入到步骤S24。
在步骤S24中，中央控制部200根据步骤S44和S55的近似结果，与实施方式1 同样，分别针对直线L1、L2、L3，计算再现信号振幅为估计用水平ZE的位置，作为估计点PE。
然后，在步骤S25中，中央控制部200与实施方式1同样，根据在步骤S24中求出的估计点PE计算椭圆式(或构成椭圆式的椭圆系数)。
进而，在步骤S60中，中央控制部200判断在步骤S25中计算出的椭圆式(或椭圆系数)是否妥当。椭圆式(式(3))根据系数的条件，不仅可能成为椭圆(包含圆)，还有可能成为双曲线、抛物线、平行的两条直线等椭圆以外的状态。因此，在步骤60中，判断计算出的椭圆式(或椭圆系数)是否表示椭圆。具体而言，使用椭圆系数根据下述式(11)求出判定值T，在T＜0的情况下判断为椭圆，在除此以外的情况下判断为不是椭圆。
T＝B²－4·A·C…(11)
在步骤S60中判断为椭圆式不表示椭圆的情况下(“否”的情况下)，中央控制部200进入到步骤S61，在变更了估计用水平ZE后，根据变更后的估计用水平ZE，进行估计点PE的计算(步骤S24)、椭圆式的计算(步骤S25)以及椭圆式是否妥当的判定(步骤S60)。
在步骤S60中判断为椭圆式表示椭圆的情况下(“是”的情况下)，处理进入到步骤S26。因此，在步骤S60的判断变为“是”为止，反复实施步骤S61、S24、S25和S60的处理，当步骤S60的判断变为“是”时，处理进入到步骤S26。
另外，在步骤S60中，除了椭圆式是否表示椭圆的判断以外，还可以求出根据椭圆式得到的椭圆与各个估计点PE之间的误差，根据该误差计算表示椭圆式和估计点PE之间的一致程度的值(例如误差的合计或平均值)，并判断该值是否为规定值以下，在规定值以下的情况下判断为妥当，否则判断为不妥当。此外，可以在步骤S24中设定多个估计用水平ZE，计算与各个估计用水平ZE对应的估计点PE，在步骤S25中求出与各个估计用水平ZE对应的椭圆系数，决定与多个估计用水平ZE对应的椭圆系数中的、与估计点PE的误差最小的椭圆系数，作为在椭圆中心的计算中使用的椭圆系数，并进入到步骤S26。
在步骤S26中，中央控制部200与实施方式1同样，根据在步骤S25中求出的椭圆式(或椭圆系数)，计算椭圆中心PC(xc，yc)。然后，在步骤S27中，中央控制部200与实施方式1同样，将球面像差校正量和聚焦平衡值设定为在步骤S26中求出 的椭圆中心PC。
根据以上说明的本实施方式，能够得到下述(11)～(18)的效果。
(11)光信息处理装置在聚焦轴直线上的至少3点的测定位置处测定了信号特性后，依次变更球面像差校正量，每当变更球面像差校正量时，在与变更后的球面像差校正量对应的各剩余直线上的测定位置处，测定信号特性。根据本方式，能够将设定变更需要时间的球面像差校正量的变更次数抑制得较少，能够将调节所需的时间抑制得较短。
(12)各剩余直线通过聚焦轴直线上的至少3点的测定位置中的任意一个。由此，剩余直线可利用聚焦轴直线上的测定位置的测定结果，能够将测定次数抑制得较少。
(13)各剩余直线通过聚焦轴直线上的至少3点的测定位置中的、聚焦轴直线上的极值位置附近的测定位置。根据本方式，在设定与椭圆的长轴大致平行的剩余直线的情况下，能够以通过信号特性最佳的点附近的方式设定剩余直线，能够高精度地近似出椭圆。
(14)光信息处理装置根据已测定的测定位置处的测定结果，设定下一测定位置。根据本方式，能够避免不必要的测定位置处的测定，而进行有效的测定位置处的测定，与预先设定了全部测定位置的情况相比，能够高效地进行球面像差校正量和聚焦调节值的调节。
(15)光信息处理装置针对各直线，在用2次以上的多项式对测定位置与信号特性之间的关系进行了近似时，在信号特性为极值的位置包含在测定位置的范围内为止，在以扩展测定位置的范围的方式变更测定位置的同时进行信号特性的测定。根据本方式，能够求出更准确的估计位置，能够进行更恰当的调节。
(16)光信息处理装置针对至少1条直线，对已测定的至少两点的测定位置中的、两端的测定位置处的信号特性进行比较，将自该两端的测定位置中的信号特性良好的一方的测定位置、朝向与朝另一方的测定位置相反的方向离开而得到的位置决定为下一测定位置。根据本方式，能够高效地设定测定位置。
(17)光信息处理装置判断椭圆近似的结果是否示出椭圆，在判断为未示出椭圆的情况下，变更信号特性的水平(具体而言，为估计用水平ZE)来再次进行椭圆近似。根据本方式，能够防止使用未示出椭圆的不恰当的近似结果进行调节。
(18)光信息处理装置在信号特性的多个水平(具体而言，为估计用水平ZE) 的各个水平下，求出估计位置来进行椭圆近似，求出该椭圆近似的结果与估计位置之间的误差量，并根据误差量最小的椭圆近似的结果求出椭圆的中心位置。根据本方式，和根据与1个水平对应的1个椭圆近似的结果来求出椭圆中心位置的情况相比，能够求出更准确的椭圆的中心位置。
另外，在图18的调节处理中，例如在直线L2和直线L3中的测定点数为规定数以上的情况、或初始测定点PM0的球面像差校正量与在步骤S55中求出的最大点的球面像差校正量之差为规定量以上的情况下，中央控制部200也可以设定与聚焦平衡值的坐标轴平行的新的直线L4，在针对该直线L4进行了与步骤S40至S45相同的处理后，替代直线L1的结果而使用直线L4的结果，进行步骤S24之后的处理。该情况下，在步骤S51至S56中设定已测定的球面像差校正量作为直线L4的球面像差校正量，并设定其他直线上的已测定的测定点作为直线L4上的测定点，由此能够减少追加的测定点数。另外，这样设定新的直线L4是为了在直线L1的球面像差校正量较大程度地偏离最佳值的情况下，避免椭圆近似的精度变差，能够通过进行替代而使用直线L4上的测定点的测定结果，来提高调节的精度。
此外，直线和测定点的配置也可以是例如图12所示的配置等与图17不同的配置。
实施方式4.
以下，说明实施方式4的光信息处理装置和光信息处理方法。在以下的说明中，对与实施方式1同样的部分省略或简化说明，对与实施方式1相同或对应的要素标注相同的标号。
在本实施方式中，光信息处理装置100是对光盘500进行信息记录的光记录装置，对在记录时所使用的记录用的聚焦调节值(这里为聚焦平衡值)进一步进行调节。
具体而言，光信息处理装置100除了图1所示的结构以外，例如还包含：将来自上位控制器的用户数据编码成用于记录到光盘500的数据的数据编码器；以及控制进行记录到光盘500时的激光器的发光控制的与写入策略控制相关的控制部等向光盘500进行记录所需的控制部。这样的记录用的控制部也可以包含在中央控制部200中。
通常，光记录装置在记录数据的情况下，将把光学头的受光元件的光信号转换为电信号时的增益从比较高的再现用的增益切换为比较低的记录用的增益。这是因为，与再现时所使用的再现功率(光功率)相比，记录时所使用的记录功率(光功率)较高，在保持再现用的增益的情况下，受光元件的信号输出饱和，受光元件的响应性变 差，对在记录时被采样和检测的伺服信号也会带来不良影响。
由于受光元件的增益改变，最佳的聚焦平衡值也发生变化，因此在记录数据的情况下，理想的是设定与再现时不同的聚焦平衡值，通常在光记录装置中，在再现时和记录时切换再现用的聚焦平衡值、和记录用的聚焦平衡值这两种值来进行使用的情况较多。
在本实施方式中同样，光信息处理装置100对于光学头300的受光元件370的增益，也在再现时使用比较高的再现用的增益，在记录时使用比较低的记录用的增益。此外，光信息处理装置100在再现时使用再现用的聚焦平衡值，在记录时使用记录用的聚焦平衡值。
本实施方式的光信息处理装置100构成为在与实施方式1～3同样地将再现用的球面像差校正量和聚焦平衡值调节为了最佳后，进一步将记录用的聚焦平衡值调节为最佳。
这里，对记录时的聚焦平衡值(以下称作“记录聚焦平衡值”)与再现信号特性之间的关系进行说明。这里，针对BD－RE的3层盘的第2层，在改变记录聚焦平衡值的同时进行记录，利用最佳的再现用的聚焦平衡值实测再现信号特性，以其结果为例进行说明。
图19的(a)是示出记录聚焦平衡值与再现信号振幅之间的关系的图。图19的(b)是示出记录聚焦平衡值与再现信号特性(调制度和不对称性)之间的关系的图。在图19的(a)和(b)的测定中，在仅使记录聚焦平衡值变化来测定再现信号特性(振幅、调制度、不对称性)时，使用了最佳的再现用的聚焦平衡值(在全部测定中为相同的值)。在图19的(a)中，圆形符号表示再现信号振幅的测定结果(实测值)，实线是利用二次近似对圆形符号的实测值进行了近似时的近似曲线。在图19的(b)中，圆形符号和方形符号分别表示调制度和不对称性的测定结果(实测值)，实线和虚线分别是利用二次近似对圆形符号和方形符号的实测值进行了近似时的近似曲线。从图19的(a)和(b)可知，不论关于再现信号振幅、调制度和不对称性中的哪一个，都能够通过2次式对与记录聚焦平衡值之间的关系进行近似。
另外，在以上的说明中，以针对BD－RE的第2层的实测结果为例进行了说明，但即使是其他层或其他种类的盘，虽然曲线的形状不同，也能够得到与上述相同的结果。
在本实施方式中，调节部202作为调节记录用的聚焦调节值(这里为聚焦平衡值)的记录调节单元发挥作用。具体而言，调节部202在变更记录聚焦平衡值的同时，使用固定的记录功率向光盘500进行测试记录，利用固定的聚焦平衡值(例如再现用的聚焦平衡值)对通过该测试记录所记录的信号进行再现，测定再现信号的信号特性，用2次以上的多项式对记录聚焦平衡值与测定出的信号特性之间的关系进行近似，根据该近似的结果求出信号特性最佳的记录聚焦平衡值，并将该记录聚焦平衡值决定为记录用的聚焦平衡值。
图20是示出本实施方式4的光信息处理装置100的记录动作的步骤的一例的流程图。以下，参照图20说明光信息处理装置100的记录动作的步骤。另外，图20的步骤S10至S14的处理与图13大致相同，在图20的步骤S14后的处理是与记录相关的处理方面与图13不同。
在步骤S14中从光盘500读出用于控制光盘的固有信息和/或记录再现动作的控制信息等后，中央控制部200在步骤S70中设定与记录相关的条件(写入策略和/或记录功率调节等条件)，并在步骤S71中等待直至存在记录指示为止。中央控制部200在步骤S71中检测到存在记录指示时，在步骤S72中，进行在记录时使用的记录用的聚焦平衡值的调节。
接着，在步骤S73中，中央控制部200通过在光盘500的测试记录区域中进行试写，将记录功率调节为最佳的功率。这里，在步骤S73中进行记录功率的调节时，使用在步骤S72中调节后的记录用的聚焦平衡值。
然后，在步骤S74中，使用在步骤S72和S73中调节后的记录用的聚焦平衡值和记录功率，开始针对光盘500的数据记录。
图21是示出图20的步骤S72的处理的流程图。以下，参照图21说明步骤S72的记录用的聚焦平衡值的调节。
首先，在步骤S80中，中央控制部200借助螺旋电机控制部150控制螺旋电机151，使光学头300移动到用于调节记录用的聚焦平衡值的测试记录区域。
这里，测试记录区域是光盘500中的、能够进行测试记录的区域，是在光盘的内周或外周在数据区域之外另外准备的的区域，测试记录用于进行记录功率等的优化。
接着，在步骤S81中，中央控制部200将记录聚焦平衡值设定为初始值。这里，作为初始值，例如可使用在步骤S13中调节后的再现用的聚焦平衡值。但是，初始值 不限于上述调节后的再现用的聚焦平衡值，也可以是预先设定的规定的聚焦平衡值。此外，可以预先调查记录用的聚焦平衡值与再现用的聚焦平衡值之间的关系(或差)等，使用相对于在步骤S13中调节后的再现用的聚焦平衡值偏置上述记录用与再现用之间的关系(或差)而得到的值作为初始值。另外，关于球面像差校正量，例如固定使用在步骤S13中调节后的球面像差校正量。
然后，在步骤S82中，中央控制部200使用所设定的记录聚焦平衡值进行测试记录。在该测试记录中，使用固定的记录功率。即，在记录用的聚焦平衡值的调节处理(步骤S72的处理)期间进行的测试记录全部使用相同的记录功率进行。另外，固定的记录功率只要是在对记录后的信号进行了再现的情况下可检测再现信号振幅的水平即可，不是必须为最佳记录功率。例如，可以将在步骤S14中从光盘500读出的控制信息所记录的记录功率用作固定的记录功率。此外，在设定固定的记录功率前，也可以进行一次记录功率的优化调节，并将调节后的最佳记录功率用作固定的记录功率。此外，进行测试记录的大小只要是至少可测定再现信号振幅的大小即可，从抑制测试记录区域的使用量的观点出发，尽可能小的大小比较理想。
接着，在步骤S83中，中央控制部200对在步骤S82中测试记录的信号进行再现，来测定再现信号振幅。在该测定中，使用固定的聚焦平衡值进行再现。即，在记录用的聚焦平衡值的调节处理(步骤S72的处理)期间进行的再现信号振幅的测定中，全部使用相同的聚焦平衡值进行再现。作为固定的聚焦平衡值，例如使用了再现用的聚焦平衡值(在步骤S13中调节后的聚焦平衡值)，但是不限于此。
在步骤S84中，中央控制部200判断已测定的测定点是否为3点以上。
当在步骤S84中判断为已测定的测定点少于3点的情况下(“否”的情况下)，中央控制部200进入到步骤S85，设定接下来要测定的记录聚焦平衡值。然后，返回到步骤S82，进行基于在步骤S85中设定的记录聚焦平衡值的测试记录，测定测试记录的信号的再现信号振幅(步骤S83)，并进入到步骤S84。
这里，在记录聚焦平衡值的设定中，期望不是在一个方向上仅减小或仅增大记录聚焦平衡值，而且通过尽可能少的测定点数，以再现信号振幅的最大点包含在测定点的范围内的方式，利用已测定的测定点的测定结果高效地设定记录聚焦平衡值。例如，对已测定的记录聚焦平衡值中的最大的记录聚焦平衡值处的再现信号振幅、和最小的记录聚焦平衡值处的再现信号振幅进行比较，将再现信号振幅较大一方的记录聚焦平 衡值作为基准，以扩展测定点范围的方式设定下一测定点的记录聚焦平衡值。例如，在将最大的记录聚焦平衡值作为基准的情况下，对该基准加上规定级来设定下一记录聚焦平衡值，在将最小的记录聚焦平衡值作为基准的情况下，从该基准中减去规定级来设定下一记录聚焦平衡值。
此外，关于初始的记录聚焦平衡值的下一记录聚焦平衡值，也可以根据初始的记录聚焦平衡值、以及光信息处理装置中的再现信号振幅相对于球面像差校正量和记录聚焦平衡值的特性，如下进行设定。例如，在再现信号振幅为最佳的记录聚焦平衡值(即最佳的记录聚焦平衡值)处于某个基准值(例如零)附近的情况较多的光信息处理装置中，在初始的记录聚焦平衡值大于基准值的情况下，从该记录聚焦平衡值中减去规定级来设定下一记录聚焦平衡值，在初始的记录聚焦平衡值小于基准值的情况下，对该记录聚焦平衡值加上规定级来设定下一记录聚焦平衡值。由此，能够在再现信号振幅增大的方向上设定下一测定点的可能性变高。在上述结构中，例如能够预先在多个盘和多个光信息处理装置中包含偏差地调查光信息处理装置中的最佳的记录聚焦平衡值，例如在光信息处理装置中设定其平均的记录聚焦平衡值作为基准值。
当在步骤S84中判断为已测定的测定点为3点以上的情况下(“是”的情况下)，处理进入到步骤S86。因此，在步骤S84的判断变为“是”为止，反复实施步骤S85、S82、S83和S84的处理，当步骤S84的判断变为“是”时，处理进入到步骤S86。
在步骤S86中，中央控制部200对已测定的记录聚焦平衡值与再现信号振幅之间的关系进行二次近似，并根据其结果，求出再现信号振幅最大的最大记录聚焦平衡值FMax。另外，在步骤S86中，也可以替代二次近似而进行3次以上的近似，来求出最大记录聚焦平衡值FMax。该情况下，需要根据近似的次数，在步骤S84的判断中适当设定作为阈值的点数，具体而言，需要设定为进行近似所需的最低限度的点数以上。另外，能够通过将步骤S84的判断中的作为阈值的点数设定为比进行近似所需的最低限度的点数大，来提高上述近似的精度。
接着，在步骤S87中，中央控制部200判断最大记录聚焦平衡值FMax是否处于已测定的记录聚焦平衡值的范围内。具体而言，判断最大记录聚焦平衡值FMax是否处于已测定的记录聚焦平衡值的最小值与最大值之间。
当在步骤S87中判断为最大记录聚焦平衡值FMax处于已测定范围外的情况下(“否”的情况下)，中央控制部200返回到步骤S85，设定接下来要测定的记录聚焦 平衡值，并返回到步骤S82。
当在步骤S87中判断为最大记录聚焦平衡值FMax处于已测定范围内的情况下(“是”的情况下)，处理进入到步骤S88。因此，在步骤S87的判断变为“是”为止，反复实施步骤S85、S82、S83、S84、S86和S87的处理，当步骤S87的判断变为“是”时，处理进入到步骤S88。
在步骤S88中，中央控制部200将最大记录聚焦平衡值FMax设定为记录用的聚焦平衡值，并结束记录用的聚焦平衡值的调节。
根据以上所说明的本实施方式，在对球面像差校正量和再现用的聚焦平衡值进行了调节后，进一步调节记录用的聚焦平衡值，因此在数据的记录中也能够使用最佳或恰当的聚焦平衡值。由此，例如能够得到良好的记录质量，并且能够将记录时所需的记录功率抑制得较低。
另外，在上述说明中，求出了再现信号振幅为最大的记录聚焦平衡值，但也可以替代再现信号振幅，而测定调制度和/或不对称性等再现信号特性，求出再现信号特性最大的记录聚焦平衡值。此外，也可以不求出再现信号特性，而求出再现信号质量(抖动和/或i-MLSE等)，从而求出再现信号质量最佳(或最小)的记录聚焦平衡值。
此外，在上述说明中，将进行测试记录的情况下的记录功率设为了固定的记录功率，但也可以替代基于固定记录功率的测试记录，而分别在多个记录聚焦平衡值下进行最佳记录功率调节，来求出最佳记录功率。该情况下，不求出再现信号振幅最大的记录聚焦平衡值，而求出上述多个记录聚焦平衡值中的、最佳记录功率最小的记录聚焦平衡值即可。这里，不是一定需要使用最佳记录功率，也可以分别在多个记录聚焦平衡值下，测定例如记录功率与再现信号特性(调制度、不对称性、振幅等中的任意一个)之间的关系，由此求出可得到相同的再现信号特性的记录功率，并求出该记录功率为最小的记录聚焦平衡值。
此外，在上述说明中，仅对记录用的球面像差校正量和聚焦平衡值中的、记录用的聚焦平衡值进行了调节，但也可以与实施方式1～3中的再现用的球面像差校正量和聚焦平衡值的调节同样，对记录用的球面像差校正量和聚焦平衡值的双方进行调节。具体而言，可以与实施方式1～3同样，在各测定点处测定再现信号的信号特性，对测定结果进行椭圆近似，并求出椭圆的中心，由此调节记录用的球面像差校正量和聚焦平衡值。该情况下，在信号特性的测定中，变更记录时的球面像差校正量和聚焦 平衡值，在各测定点处进行测试记录，并对测试记录的信号进行再现来测定再现信号的信号特性。此时，在测试记录的信号的再现中，在各测定点处使用公共的设定值(即固定的值)，作为再现时的球面像差校正量和聚焦平衡值。
另外，本发明不限于上述实施方式，能够在不脱离本发明宗旨的范围内以各种方式来实施。
标号说明
100：光信息处理装置；110：前置放大器；120：再现信号处理部；121：信号质量测定部；122：数据解码器；123：再现特性测定部；130：FE信号生成部；140：TE信号生成部；141：TE信号特性测定部；150：螺旋电机控制部；151：螺旋电机；160：球面像差校正部；170：致动器控制部；180：主轴电机控制部；181：主轴电机；200：中央控制部；201：聚焦调节部；202：调节部；210：CPU；220：ROM；230：RAM；300：光学头(光拾取器)；310：半导体激光器；320：激光器驱动电路；330：准直透镜；340：光束分离器；350：物镜；360：检测透镜；370：受光元件；380：球面像差校正用透镜；390：致动器；400：上位控制器；500：光盘。