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本发明公开了一种集成电路结构及其制作方法,用以解决金属熔断过程中,金属熔丝与衬底之间发生短路的问题。该集成电路结构包括:衬底、绝缘保护层、金属熔丝及隔离金属部件,该金属熔丝与衬底和绝缘保护层均绝缘;该隔离金属部件设置于金属熔丝与衬底之间,且该隔离金属部件与上述金属熔丝及衬底绝缘;该金属熔丝裸露在对绝缘保护层的预定区域进行刻蚀形成的空间中,该预定区域的尺寸不大于隔离金属部件相对于绝缘保护层一面的尺寸。