用于编码数据写入存储介质的装置及方法.pdf

本发明提供一种用于编码数据写入存储介质的装置及方法。其中，用于编码数据写入存储介质的装置包含：质量检测信号产生器，用以产生质量检测信号；缺陷判断单元，耦接于质量检测信号产生器，缺陷判断单元用以依据质量检测信号产生缺陷判断结果；以及校验单元，耦接于缺陷判断单元，用以参考缺陷判断结果来选择性地校验已写入存储介质中的编码数据。利用本发明，无须对所有已写入存储介质中的编码数据进行校验，从而节省了时间，提高了对数据进行编码及对编码数据进行写入处理的效率。

1.  一种用于编码数据写入存储介质的装置，其特征在于，该用于编码数据写入存储介质的装置包含：
质量检测信号产生器，用以产生质量检测信号；
缺陷判断单元，耦接于该质量检测信号产生器，该缺陷判断单元用以依据该质量检测信号产生缺陷判断结果；以及
校验单元，耦接于该缺陷判断单元，用以参考该缺陷判断结果来选择性地校验已写入该存储介质中的编码数据。

2.  如权利要求1所述的用于编码数据写入存储介质的装置，其特征在于，该质量检测信号产生器侦测该存储介质的质量，以产生该质量检测信号。

3.  如权利要求1所述的用于编码数据写入存储介质的装置，其特征在于，当该缺陷判断结果处于第一状态时，停止继续将待写入该存储介质的编码数据写入该存储介质，并且，该校验单元开始校验已写入该存储介质中的编码数据；以及当该缺陷判断结果处于第二状态时，继续将该待写入该存储介质的编码数据写入该存储介质。

4.  如权利要求1所述的用于编码数据写入存储介质的装置，其特征在于，该编码数据来源于一数据块，该数据块包含多个数据行，经由该质量检测信号传送的信息指示译码错误的数据，以及该缺陷判断单元包含：
重映射器，用以依据去交错操作对该质量检测信号进行重映射，来产生多个码字群，其中，对该数据块进行该去交错操作以产生去交错数据块，并且，该去交错数据块包含多个码字群，每个码字群包含多个码字，以及每个码字群的信息包含相应码字群中任意引发译码错误的码字的数据量；
多个计数器，其中每个计数器记录计数值，该计数值指示相应码字群中任意引发译码错误的码字的数据量；以及
检测电路，用以依据由该多个计数器分别产生的多个计数值，来产生该缺陷判断结果。

5.  如权利要求4所述的用于编码数据写入存储介质的装置，其特征在于，该检测电路包含：
比较模块，耦接于该多个计数器，该比较模块用以将该多个计数值与预定值做比较，来产生该缺陷判断结果。

6.  如权利要求5所述的用于编码数据写入存储介质的装置，其特征在于，该检测电路更包含：
检测点控制器，耦接于该比较模块，用以控制该比较模块对该多个计数值与该预定值进行比较的时间。

7.  如权利要求6所述的用于编码数据写入存储介质的装置，其特征在于，该进行比较的时间位于该数据块的边界处。

8.  如权利要求1所述的用于编码数据写入存储介质的装置，其特征在于，该编码数据来源于一数据块，该数据块包含多个数据行，经由该质量检测信号传送的信息指示译码错误的数据，以及该缺陷判断单元包含：
计数器，用以对引发译码错误的多个数据行的数目进行计数，来产生计数值；以及
检测电路，耦接于该计数器，用以依据该计数值来产生该缺陷判断结果。

9.  如权利要求8所述的用于编码数据写入存储介质的装置，其特征在于，该检测电路包含：
比较模块，耦接于该计数器，用以对该计数值与预定值进行比较，来产生该缺陷判断结果。

10.  如权利要求9所述的用于编码数据写入存储介质的装置，其特征在于，该检测电路更包含：
检测点控制器，耦接于该比较模块，用以控制该比较模块对该计数值与该预定值进行比较的时间。

11.  如权利要求10所述的用于编码数据写入存储介质的装置，其特征在于，该进行比较的时间位于该数据块的边界处。

12.  一种用于编码数据写入存储介质的方法，其特征在于，该用于编码数据写入存储介质的方法包含：
产生质量检测信号；
依据该质量检测信号来产生缺陷判断结果；以及
参考该缺陷判断结果来选择性地校验已写入该存储介质中的该编码数据。

13.  如权利要求12所述的用于编码数据写入存储介质的方法，其特征在于，产生该质量检测信号的该步骤包含：
侦测该存储介质的质量，来产生该质量检测信号。

14.  如权利要求12所述的用于编码数据写入存储介质的方法，其特征在于，当该缺陷判断结果处于第一状态时，停止继续将待写入该存储介质的编码数据写入该存储介质，并开始校验已写入该存储介质中的编码数据，以及当该缺陷判断结果处于第二状态时，继续将该待写入该存储介质的编码数据写入该存储介质。

15.  如权利要求12所述的用于编码数据写入存储介质的方法，其特征在于，该编码数据来源于一数据块，该数据块包含多个数据行，经由该质量检测信号传送的信息指示译码错误的数据，以及依据该质量检测信号来产生该缺陷判断结果的该步骤包含：
依据去交错操作，对该质量检测信号进行重映射以产生多个码字群的信息，其中，对该数据块进行该去交错操作以产生去交错数据块，并且，该去交错数据块包含多个码字群，每个码字群包含多个码字，以及每个码字群的信息包含相应码字群中任意引发译码错误的码字的数据量；
记录计数值，该计数值指示每个码字群中任意引发译码错误的码字的数据量；
依据该多个计数值来产生该缺陷判断结果。

16.  如权利要求15所述的用于编码数据写入存储介质的方法，其特征在于，依据该多个计数值来产生该缺陷判断结果的该步骤包含：
将该多个计数值与预定值进行比较，以产生该缺陷判断结果。

17.  如权利要求16所述的用于编码数据写入存储介质的方法，其特征在于，依据该多个计数值来产生该缺陷判断结果的该步骤更包含：
控制将该多个计数值与该预定值进行比较的时间。

18.  如权利要求17所述的用于编码数据写入存储介质的方法，其特征在于，该进行比较的时间位于该数据块的边界处。

19.  如权利要求12所述的用于编码数据写入存储介质的方法，其特征在于，该译码数据来源于一数据块，该数据块包含多个数据行，经由该质量检测信号传送的信息指示译码错误的数据，以及依据该质量检测信号来产生该缺陷判断结果的该步骤包含：
对引发译码错误的多个数据行的数目进行计数，以产生计数值；以及
依据该计数值产生该缺陷判断结果。

20.  如权利要求19所述的用于编码数据写入存储介质的方法，其特征在于，依据该计数值产生该缺陷判断结果的该步骤包含：
将该计数值与预定值进行比较，以产生该缺陷判断结果。

21.  如权利要求20所述的用于编码数据写入存储介质的方法，其特征在于，依据该计数值来产生该缺陷判断结果的该步骤更包含：
控制将该计数值与该预定值进行比较的时间。

22.  如权利要求21所述的用于编码数据写入存储介质的方法，其特征在于，该进行比较的时间位于该数据块的边界处。

用于编码数据写入存储介质的装置及方法
技术领域
本发明是有关于用于编码数据写入存储介质的装置及方法，更具体地，本发明有关于使用校验单元以选择性地校验已写入存储介质中的数据的装置及方法。
背景技术
在对数据块进行编码及写入存储介质(如光盘)的处理过程中，于一特定时间或于一个数据块写入存储介质时，使用校验操作来检测已写入存储介质中的数据的准确性。当执行校验时，停止编码处理。由于无论已写入存储介质中的数据的质量如何，写入存储介质的所有数据均需要进行校验，因此，当对准确的数据进行校验时就造成了时间浪费。
发明内容
为避免由于对所有已写入存储介质中的数据进行校验而造成的时间浪费，本发明目的之一在于提供一种用于将编码数据写入存储介质的装置及方法，以选择性地校验已写入存储介质中的数据来解决上述问题。
本发明提供一种用于编码数据写入存储介质的装置，包含：质量检测信号产生器，用以产生质量检测信号；缺陷判断单元，耦接于该质量检测信号产生器，该缺陷判断单元用以依据该质量检测信号产生缺陷判断结果；以及校验单元，耦接于该缺陷判断单元，用以参考该缺陷判断结果来选择性地校验已写入该存储介质中的该编码数据。
本发明另提供一种用于编码数据写入存储介质的方法，包含：产生质量检测信号；依据该质量检测信号来产生缺陷判断结果；以及参考该缺陷判断结果来选择性地校验已写入该存储介质中的该编码数据。
利用本发明所提供的用于编码数据写入存储介质的装置及方法，所能达到效果之一在于，由于无须对所有已写入存储介质中的数据进行校验，因此，节省了时间，并提高了对数据进行编码及对编码数据进行写入处理的效率。
以下是根据多个图式对本发明的较佳实施例进行详细描述，本领域技术人员阅读后应可明确了解本发明的目的。
附图说明
图1为依据本发明一实施例的用于将数据块进行编码以产生编码数据并用于该编码数据写入存储介质的装置100的示意图。
图2为依据图1所示的缺陷判断单元120的第一实施例的方块示意图。
图3为交错数据块的示意图。
图4为与如图3所示的交错数据块相关的去交错数据块的示意图。
图5为依据如图1所示缺陷判断单元120的第二实施例的方块示意图。
图6为依据如图1所示的缺陷判断单元120的第三实施例的方块示意图。
图7为依据本发明一实施例的将编码数据写入存储介质的简化流程图。
具体实施方式
在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定的组件。所属领域中具有通常知识者应可理解，硬件制造商可能会用不同的名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包含”为一开放式的用语，故应解释成“包含但不限定于”。以外，“耦接”一词在此包含任何直接及间接的电气连接手段。因此，若文中描述一第一装置耦接于一第二装置，则代表该第一装置可直接电气连接于该第二装置，或通过其它装置或连接手段间接地电气连接至该第二装置。说明书后续描述为实施本发明的较佳实施方式，然该描述乃以说明本发明的一般原则为目的，并非用以限定本发明的范围。本发明的保护范围当视所附的权利要求所界定者为准。
请参照图1，图1为依据本发明一实施例的用于将数据块进行编码以产生编码数据并用于该编码数据写入存储介质的装置100的示意图。如图1所示，装置100包含质量检测信号产生器110、缺陷判断单元120及校验单元130。质量检测信号产生器110是用以依据存储介质的信息产生质量检测信号；缺陷判断单元120耦接于质量检测信号产生器110，且缺陷判断单元120是用以依据该质量检测信号来产生缺陷判断结果；以及校验单元130耦接于缺陷判断单元120，且校验单元130是用以参考该缺陷判断结果来选择性地校验已写入存储介质中的编码数据。这意味着，可能只有当该缺陷判断结果指示已写入存储介质中的编码数据有可能具有译码错误风险时，校验单元130才须校验已写入存储介质中的数据。因此，相比校验所有已写入存储介质中的编码数据而不考虑发生译码错误的风险可能性的做法，该校验处理的执行更加有效率。
此外，在一些其它实施例中，缺陷判断结果可用于确定是否应停止将待写入存储介质中之编码数据写入至存储介质中。当缺陷判断结果指示该编码数据中出现较多错误时，则停止写入待写入存储介质中之编码数据。相关描述为本领域技术人员所能了解，简洁起见，此处不再赘述。
质量检测信号产生器110侦测该存储介质的质量来获取该存储介质的信息，并依据该存储介质的信息来产生质量检测信号，所产生的该质量检测信号用以提供指示有可能发生译码错误的存储介质中的区域的信息。以光盘作为该存储介质的示例，该存储介质的信息可为从光盘反射的光强度、光盘的反射率或关于光盘质量的其它信息。另外，该存储介质的信息也可为聚焦误差信号、循迹误差信号或其它伺服控制信号。
请参照图2，图2为依据图1所示的缺陷判断单元120的第一实施例的方块示意图。如图2所示，缺陷判断单元120包含奇偶码字重映射器(even and oddcodeword remapper)210、计数器222、计数器224以及检测电路230，其中，检测电路230包含比较模块232及检测点控制器234。如图2所示的缺陷判断单元120的详细操作如下所述，此处是以一蓝光光盘(如blu-ray disc)作为存储介质的一示例，但本发明并不以此为限。
当向蓝光光盘写入原始数据块时，首先对该原始数据块执行交错操作以产生一交错数据块。然后，对该交错数据块进行编码并写入该蓝光光盘。该原始数据块与该交错数据块的大小的定义，以及该交错操作的定义，上述定义的描述参见蓝光光盘的规范(specification)，且本领域技术人员应当理解该交错操作，因此，此处省略进一步描述。
图3为交错数据块的示意图。如图3所示，该交错数据块包含152列(columns)，并且每列包含432行(rows)主数据与64行同位数据，其中，如图3所示的每个数据E(X，Y)为一字节(byte)。该交错数据块的数据从左向右逐行顺序写入蓝光光盘，也就是，依据字节E(0，0)，E(0，2)，...，E(0，302)，E(0，1)，E(0，3)，...，E(0，303)，...，E(247，1)，E(247，3)，...，E(247，303)的顺序写入蓝光光盘。另外，质量检测信号产生器110所产生的该质量检测信号指示当前数据，如有可能引发译码错误的该记录数据。在本实施例中，三行标识为“缺陷”的数据有可能引发译码错误。
当写在蓝光光盘上的该数据需要被读取并译码时，需要对该交错数据块执行去交错操作以产生去交错数据块(也就是原始数据块)。请参照图4，图4为与如图3所示的交错数据块相关的去交错数据块的示意图。如图4所示，在本实施例中，当对该交错数据块执行去交错操作后，该多个码字划分为两个码字群，偶位码字群与奇位码字群，偶位码字群如图4中的E(0，1)，E(1，1)...E(247，1)以及E(0，303)，E(1，303)...E(247，303)，奇位码字群如图4中的E(0，0)，E(1，0)...E(247，0)以及E(0，302)，E(1，302)...E(247，302)。在图3所示结构中，三行“缺陷”标记横穿该交错数据块，因此，每个偶位码字具有两个缺陷数据，如图4中的E(0，1)与E(215，1)，以及每个奇位码字具有一个缺陷数据，如图4中的E(216，0)，其中，每个码字定义为如图4所示的一个数据列，并且每个码字包含216行主数据与32行同位数据。在本实施例中，图4中对数据块的分群过程可视为重映射过程。
奇偶码字重映射器210用以对该质量检测信号进行重映射来产生该偶位码字群与奇位码字群的信息。每个码字群的信息包含相应码字群中任意可能引发译码错误的码字的数据量。然后，计数器222与计数器224分别记录偶位码字群与奇位码字群中任意可能引发译码错误的码字的数据量。在本实施例中，计数器222记录一个计数值“2”(因为每个偶位码字具有两个缺陷数据)以及计数器224记录一个计数值“1”(因为每个奇位码字具有一个缺陷数据)。
然后，比较模块232分别比较储存在计数器222及计数器224中的计数值与预定值，以产生缺陷判断结果，其中，该预定值可以为一个码字中所能允许的最大缺陷数据。若储存在计数器222的计数值与计数器224中的计数值中的一个大于该预定值，则比较模块232产生的该缺陷判断结果处于第一状态，且停止继续对该交错数据块进行编码，停止继续产生待写入该存储介质的编码数据以及停止继续向该存储介质(如本实施例中的蓝光光盘)写入待写入该存储介质的编码数据，因此，校验单元130开始校验已写入该蓝光光盘的编码数据。若储存在计数器222与计数器224中的计数值均不大于该预定值，则比较模块232产生的该缺陷判断结果处于第二状态，装置100继续进行编码并将待写入该存储介质的编码数据继续写入该蓝光光盘。
需要注意，可在数据写入处理之前设置该预定值，以及在数据写入处理期间该预定值是固定的。然而，在数据写入处理期间该预定值也可设置为可调式。例如，可依据写入速率或储存在该磁盘的导入区中的信息所指示的磁盘类型来调整该预定值。
另外，检测点控制器234用以控制比较模块232对计数值与该预定值进行比较的时间，该时间可设置为当遇到数据块的边界时、一个固定时间的每个结束点或开始点。另外，该时间也可设置为当遇到缺陷下降缘时，如图3所示数据E(0，303)之后及数据E(216，302)之后。
请参照图5，图5为依据如图1所示缺陷判断单元120的第二实施例的方块示意图。如图5所示，缺陷判断单元120包含码字重映射器510、计数器模块520及检测电路530，其中，检测电路530包含比较模块532及检测点控制器534。图5所示缺陷判断单元120的详细操作如下所述，此处以蓝光光盘作为存储介质的一个示例，然本发明并不以此为限。
码字重映射器510用以对该质量检测信号进行重映射，以产生每个码字的信息。每个码字的信息包含可能引发译码错误的码字的数据量。例如，码字重映射器510将图4中的数据块重映射为304列(图中未示)，因此，在本实施例中，计数器模块520配置有304个计数器，以及该304个计数器分别记录每列中可能引发译码错误的该多个码字的数据量。因此，每个计数器记录一个计数值，该计数值指示可能引发译码错误的相应码字的数据量。
然后，比较模块532比较储存在多个计数器中的多个计数值与预定值，以产生缺陷判断结果。在一些实施例中，该预定值可以为一个码字中允许的最大缺陷数据。若储存在该多个计数器中的多个计数值中的一个大于该预定值，则比较模块532产生的该缺陷判断结果处于第一状态，且停止继续产生待写入该存储介质的编码数据并停止将待写入该存储介质的编码数据写入该存储介质(如本实施例中的蓝光光盘)，因此，校验单元130开始校验已写入该蓝光光盘的编码数据。若储存在计数器模块520中的所有计数值均不大于该预定值，则比较模块532产生的缺陷判断结果处于第二状态，且装置100继续进行编码并将待写入该存储介质的编码数据继续写入该蓝光光盘。
需要注意，可在数据写入处理之前设置该预定值，以及在数据写入处理期间该预定值是固定的。然而，在数据写入处理期间该预定值也可设置为可调式。例如，可依据写入速率或储存在该磁盘的导入区中的信息所指示的磁盘类型来调整该预定值。
另外，检测点控制器534用以控制比较模块532对计数值与该预定值进行比较的时间，该时间可设置为当遇到数据块的边界时、一个固定时间的每个结束点或开始点、或当遇到缺陷下降缘时，如图3所示数据E(0，303)之后及数据E(216，302)之后。
请参照图6，图6为依据如图1所示的缺陷判断单元120的第三实施例的方块示意图。如图6所示，缺陷判断单元120包含直接缺陷映射器610、计数器620及检测电路630，其中，检测电路630包含比较模块632及检测点控制器634。结合图3与图4，如图6所示缺陷判断单元120的详细操作描述如下，此处以一蓝光光盘作为存储介质的一个示例，然本发明并不以此为限。
直接缺陷映射器610用以直接对该质量检测信号进行重映射，来产生可能引发译码错误的数据行的数目，这意味着在图6所示的本实施例中不存在重映射过程(如图4所示的分群过程)。因此，计数器620记录可能引发译码错误的数据行的数目。在本实施例中，由于在图3中有三行数据可能引发译码错误，因此，计数器620中储存的计数值为“3”。
然后，比较模块632将储存在计数器620中的计数值与预定值进行比较，以产生缺陷判断结果，其中，该预定值可为一个码字中允许的最大缺陷数据。若储存在计数器620中的计数值大于该预定值，则比较模块632产生的缺陷判断结果处于第一状态，且停止继续产生待写入该存储介质的编码数据并停止继续将待写入该存储介质的编码数据写入该存储介质(如本实施例中的蓝光光盘)，因此，校验单元130开始校验已写入该蓝光光盘的该编码数据。若储存在计数器620中的计数值不大于该预定值，则比较模块632产生的该缺陷判断结果处于第二状态，且装置100继续进行编码，并将待写入该存储介质的编码数据继续写入该蓝光光盘。
需要注意，可在数据写入处理之前设置该预定值，以及在数据写入处理期间该预定值是固定的。然而，在数据写入处理期间该预定值也可设置为可调式。例如，可依据写入速率或储存在该磁盘的导入区中的信息所指示的磁盘类型来调整该预定值。
另外，检测点控制器634用以控制比较模块632对计数值与该预定值进行比较的时间，该时间可设置为当遇到数据块的边界时，一个固定时间的每个结束点或开始点，或当遇到缺陷下降缘时，如图3所示数据E(0，303)之后及数据E(216，302)之后。
另外，在本发明的另一实施例中，检测点控制器634可从图6所示的缺陷判断单元120中移除，以及该预定值可设置为零，这意味着无论是否侦测到缺陷，校验单元130开始校验该编码数据。也就是说，当存在任何缺陷数据时(计数器620的计数值大于零)，停止继续将待写入该存储介质的编码数据写入该蓝光光盘，且校验单元130开始校验已写入该蓝光光盘的编码数据。该可选择的设计落入本发明的范围内。
请参照图7，图7为依据本发明一实施例的将编码数据写入存储介质的简化流程图。需要注意，本实施例提供的结果与上述实施例的结果大致相同，该步骤的实施并不仅限于严格依据如图7所示的精确顺序进行。参照图7所示的流程图，将该编码数据写入存储介质的操作如下：
步骤700：开始。
步骤702：产生质量检测信号。
步骤704：依据该质量检测信号产生缺陷判断结果。
步骤706：参考该缺陷判断结果来选择性地校验已写入存储介质中的该编码数据。
需要注意，在本发明中，校验单元(如图1所示的校验单元130)参考缺陷判断结果来选择性地校验已写入存储介质中的该编码数据。然而，若存储介质的质量很差，应用本发明来对数据进行编码及将编码数据写入该存储介质有可能效率很低。因此，在对数据进行编码及将编码数据写入该存储介质之前，依据上述方法中的一个来检测该存储介质，以确定该存储介质的写入状态。然后，确定是否实施本发明的对数据进行编码及将编码数据写入存储介质的方法。
以光盘作为存储介质的示例，确定该光盘的写入状态的第一方法包含：将测试数据写入该光盘的若干区域，并检测聚焦条件、反射或伺服控制性，以确定该光盘的写入状态。确定该光盘的写入状态的第二方法包含：将光盘重写次数的数目记录于保留区，并通过从该保留区中获取的信息来确定写入状态。另外，当该光盘为可记录式光盘(只支持一次性写入)时，该光盘的写入状态自然适用于应用本发明来进行编码及将编码数据写入该光盘。
若该光盘的写入状态不适用于应用本发明的方法来进行编码及将编码数据写入该光盘，则应用已写入该光盘的每个数据块均需校验的相关方法。
上述的实施例仅用来例举本发明的实施方式，以及阐释本发明的技术特征，并非用来限制本发明的范畴。任何本领域技术人员可依据本发明的精神轻易完成的改变或均等性的安排均属于本发明所主张的范围，本发明的权利范围应以权利要求为准。