一种检测飞机下位锁的装置和方法.pdf

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摘要
申请专利号:

CN201410471068.8

申请日:

2014.09.16

公开号:

CN104197885A

公开日:

2014.12.10

当前法律状态:

撤回

有效性:

无权

法律详情:

发明专利申请公布后的视为撤回IPC(主分类):G01B 21/16申请公布日:20141210|||实质审查的生效IPC(主分类):G01B 21/16申请日:20140916|||公开

IPC分类号:

G01B21/16

主分类号:

G01B21/16

申请人:

沈阳飞机工业(集团)有限公司

发明人:

关月; 陈艳红; 孙士祥; 刘东梅

地址:

110034 辽宁省沈阳市皇姑区陵北街1号

优先权:

专利代理机构:

沈阳杰克知识产权代理有限公司 21207

代理人:

金春华

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内容摘要

本发明涉及一种检测飞机下位锁的装置和方法。采用的技术方案是装置由测高装置、底座和平台构成,测高装置上设有手柄、测头和控制装置,平台安装在底座上,平台上设有导入孔。方法如下:将环状平台置于底座上,将待测飞机下位锁下端的圆柱体Ⅰ插入平台上的导入孔内,待测飞机下位锁圆柱体Ⅱ的下端面与平台的工作面紧密配合;调整测高装置上测头的高度,使之与平台的工作面接触,通过控制装置将此高度设置为“0”;垂直上移,测量下位锁上端的固定孔的最高点和最低点的高度值,得到固定孔轴线的高度值。本发明结构简单,操作方便,测量准确。

权利要求书

1.  一种检测飞机下位锁的装置,其特征在于:由测高装置(1)、底座(2)和平台(3)构成,测高装置(1)上设有手柄(1-1)、测头(1-2)和控制装置(1-3),平台(3)安装在底座(2)上,平台(3)上设有导入孔(3-1)。

2.
  如权利要求1所述的一种检测飞机下位锁的装置,其特征在于:所述的平台(3)为环状。

3.
  如权利要求2所述的一种检测飞机下位锁的装置,其特征在于:平台(3)的高度大于待检测飞机下位锁下端的圆柱体Ⅰ的高度;平台(3)上导入孔(3-1)的孔径小于圆柱体Ⅲ的直径且大于圆柱体Ⅰ的直径,平台(3)上下平面的平行度为0.005mm,平台工作面的平面度为0.005mm,表面粗糙度Ra值为0.4μm。

4.
  如权利要求3所述的一种检测飞机下位锁的装置,其特征在于:平台的工作面硬度为60HRC,线膨胀系数小于±0.3×10-6μm。

5.
  一种检测飞机下位锁的方法,其特征在于利用权利要求1-4任一所述的装置,方法如下:
1)将环状平台(3)置于底座(2)上,将待测飞机下位锁下端的圆柱体Ⅰ插入平台(3)上的导入孔(3-1)内,待测飞机下位锁圆柱体Ⅲ的下端面与平台(3)的工作面紧密配合;
2)调整测高装置(1)上测头(1-2)的高度,使之与平台(3)的工作面接触,通过控制装置(1-3)将此高度设置为“0”;
3)通过手柄(1-1)带动测头(1-2)垂直上移,测量设在待测飞机下位锁上端的固定孔的最高点和最低点的高度值,计算得到固定孔轴线的高度值;
4)将固定孔轴线的高度值与设计值相比较,高度值在“设计值±0.5mm”范围内,即为合格产品。

说明书

一种检测飞机下位锁的装置和方法
技术领域
本发明主要涉及一种应用于对飞机下位锁固定孔轴线与后端小平面距离的检测装置和方法。
背景技术
飞机下位锁为飞机上的一个重要部件,如图1所示为一种飞机下位锁,圆柱形主体(4-1)的下端依次设有圆柱体Ⅲ(4-5)和圆柱体Ⅰ(4-2),上端为设有固定孔(4-3)的圆柱体Ⅱ(4-4)。在飞机下位锁设计中,为了保证飞机下位锁的安装质量,保证固定孔轴线与后端小平面距离是关键。距离过大无法安装,过小产生缝隙,影响安全性。因此固定孔轴线与后端小平面距离是否符合要求是检测产品质量的关键。固定孔轴线与后端小平面距离也就是固定孔轴线与圆柱体Ⅲ(4-5)和圆柱体Ⅰ(4-2)连接面之间的距离。现有的方法是通过手扶将飞机下位锁立住,然后手工操作测量固定孔轴线与后端小平面的距离,存在的问题是:众所周知,通常圆柱体Ⅰ(4-2)的直径约为Φ40mm,构成的后端小平面端面较小、长度为60mm且飞机下位锁的重量较重,因此飞机下位锁站立不稳,定位不准造成测量不准;而且构成主体(4-1)、圆柱体Ⅰ(4-2)、圆柱体Ⅱ(4-4)和圆柱体Ⅲ(4-5)的直径不等,因此固定孔轴线和后端小平面所处的两个平面难以引出,造成测量不准。
发明内容
为了解决以上问题,本发明提供一种结构简单,操作方便,测量准确的检测飞机下位锁的装置。
本发明的另一目的是提供一种通过上述的装置准确测量飞机下位锁固定孔轴线与后端小平面距离的方法。
本发明采用的技术方案是:一种检测飞机下位锁的装置,由测高装置、底座和平台构成,测高装置上设有手柄、测头和控制装置,平台安装在底座上,平台上设有导入孔。
上述的一种检测飞机下位锁的装置,所述的平台为环状。
上述的一种检测飞机下位锁的装置,平台的高度大于待检测飞机下位锁下端的圆柱体Ⅰ的高度;平台上导入孔的孔径小于圆柱体Ⅲ的直径且大于圆柱体Ⅰ的直径,平台上、下平面 的平行度为0.005mm,平台的工作面的平面度为0.005mm,表面粗糙度Ra值为0.4μm。
上述的一种检测飞机下位锁的装置,平台的工作面硬度为60HRC,线膨胀系数小于±0.3×10-6μm。
一种检测飞机下位锁的方法,利用上述的装置,方法如下:
1)将环状平台置于底座上,将待测飞机下位锁下端的圆柱体Ⅰ插入平台上的导入孔内,待测飞机下位锁圆柱体Ⅲ的下端面与平台的工作面紧密配合;
2)调整测高装置上测头的高度,使之与平台的工作面接触,通过控制装置将此高度设置为“0”;
3)通过手柄带动测头垂直上移,测量设在待测飞机下位锁上端的固定孔的最高点和最低点的高度值,计算得到固定孔轴线的高度值;
4)将固定孔轴线的高度值与设计值相比较,高度值在“设计值±0.5mm”范围内,即为合格产品。
本发明的有益效果是:本发明由于设置了环状平台,测量时,将飞机下位锁下端的圆柱体Ⅰ插入导入孔中,使得圆柱体Ⅲ的下端面坐在平台上,由圆柱体Ⅰ和圆柱体Ⅲ之间的平面构成的飞机下位锁后端小平面恰好与环状平台上的工作面紧密配合。因此利用环状平台的工作面将下位锁后端小平面的标准平面引出,作为测量基准面。通过测头采用接触测量原理,即可准确测量。
本发明即可以将待测下位锁稳定装夹在平台上,同时又可以将被测平面引出,实现准确测量。
附图说明
图1是一种飞机下位锁的结构示意图。
图2是本发明检测飞机下位锁的装置结构示意图。
具体实施方式
实施例1 一种检测飞机下位锁的装置
如图2所示,一种检测飞机下位锁的装置,由测高装置(1)、底座(2)和环状平台(3)构成。
测高装置(1)上设有手柄(1-1)、测头(1-2)和控制装置(1-3)。
环状平台(3)安装在底座(2)上,环状平台(3)上设有导入孔(3-1)。
环状平台(3)的高度大于待检测飞机下位锁下端的圆柱体Ⅰ(4-2)的高度;平台(3)上导入孔(3-1)的孔径小于圆柱体Ⅲ(4-5)的直径且大于圆柱体Ⅰ(4-2)的直径,环状平台上、下平面的平行度为0.005mm,平台的工作面的平面度为0.005mm,表面粗糙度Ra值为0.4μm。
由于下位锁专用环状平台的精度较高,所以在选择材料时应考虑表面硬度、线膨胀系数等因素,避免变形及测头划伤表面而影响测量精度。为避免测量过程中由于测力影响力下位锁专用环状平台表面参数,环状平台表面硬度应达到60HRC,线膨胀系数小于±0.3×10-6μm,为此采用58%镍钢材料。
在加工时,加工环境应在(20±1)℃环境下,避免材料因热膨胀系数影响而带来测量结果修正的困难。
加工工艺包括:热处理调质,冷冰处理,线切割,数控平面磨,钳工研磨,内圆磨等。由于该环状规对上下工作面几何量参数要求较高,所以在最后精加工时,应在(20±1)℃环境下,用高精度的三坐标测量机和精密测长仪、粗糙度测量仪对厚度、上下工作面平行度、上表面平面度、上表面粗糙度进行检测,直至符合设计要求。
实施例2 一种检测飞机下位锁的方法
如图1所示为一种飞机下位锁,圆柱形主体(4-1)的下端依次设有圆柱体Ⅲ(4-5)和圆柱体Ⅰ(4-2),上端为设有固定孔(4-3)的圆柱体Ⅱ(4-4)。主体(4-1)的直径为120mm;圆柱体Ⅰ(4-2)的直径为Φ40mm,长度为60mm。在设计时,该下位锁固定孔轴线与后端小平面(5)之间的距离为H=304.8mm。
本实施例以检测如图1所示的飞机下位锁为例,进行说明。
为此,设计环状平台的具体尺寸为:环状平台外径Φ200mm,内径Φ42mm,其公差均为±0.01mm,环状平台的厚度应大于下位锁圆柱体Ⅰ的高度,设计厚度为70mm,公差为±0.005mm,上、下工作面平行度0.005mm,由于上表面将作为测量的基准面,上表面平面度设计为0.005mm,表面粗糙度Ra值为0.4μm。
测高装置采用Mahr817型数字测高仪。
检测方法如下:
1)将环状平台(3)置于底座(2)上,将待测飞机下位锁下端的圆柱体Ⅰ插入平台(3)上的导入孔(3-1)内,待测飞机下位锁圆柱体Ⅲ的下端面与平台(3)的工作面紧密配合;
2)调整Mahr817型数字测高仪的测头(1-2)高度,使之与环状平台(3)的工作面接触,通过控制装置(1-3)将此高度设置为“0”,即将此高度作为被测参数的基准面;
3)通过手柄(1-1)带动测头(1-2)垂直上移,利用Mahr817数字测高仪的孔轴线测量功能,利用测高仪的测头找到固定孔的最高点和最低点,测量高度值,计算得到固定孔轴线的高度值;
4)将固定孔轴线的高度值与设计值相比较,高度值在“设计值±0.5mm”范围内,即为合格产品。

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1、10申请公布号CN104197885A43申请公布日20141210CN104197885A21申请号201410471068822申请日20140916G01B21/1620060171申请人沈阳飞机工业(集团)有限公司地址110034辽宁省沈阳市皇姑区陵北街1号72发明人关月陈艳红孙士祥刘东梅74专利代理机构沈阳杰克知识产权代理有限公司21207代理人金春华54发明名称一种检测飞机下位锁的装置和方法57摘要本发明涉及一种检测飞机下位锁的装置和方法。采用的技术方案是装置由测高装置、底座和平台构成,测高装置上设有手柄、测头和控制装置,平台安装在底座上,平台上设有导入孔。方法如下将环状平台置于底。

2、座上,将待测飞机下位锁下端的圆柱体插入平台上的导入孔内,待测飞机下位锁圆柱体的下端面与平台的工作面紧密配合;调整测高装置上测头的高度,使之与平台的工作面接触,通过控制装置将此高度设置为“0”;垂直上移,测量下位锁上端的固定孔的最高点和最低点的高度值,得到固定孔轴线的高度值。本发明结构简单,操作方便,测量准确。51INTCL权利要求书1页说明书3页附图1页19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书1页说明书3页附图1页10申请公布号CN104197885ACN104197885A1/1页21一种检测飞机下位锁的装置,其特征在于由测高装置1、底座2和平台3构成,测高装置1上设有手柄。

3、11、测头12和控制装置13,平台3安装在底座2上,平台3上设有导入孔31。2如权利要求1所述的一种检测飞机下位锁的装置,其特征在于所述的平台3为环状。3如权利要求2所述的一种检测飞机下位锁的装置,其特征在于平台3的高度大于待检测飞机下位锁下端的圆柱体的高度;平台3上导入孔31的孔径小于圆柱体的直径且大于圆柱体的直径,平台3上下平面的平行度为0005MM,平台工作面的平面度为0005MM,表面粗糙度RA值为04M。4如权利要求3所述的一种检测飞机下位锁的装置,其特征在于平台的工作面硬度为60HRC,线膨胀系数小于03106M。5一种检测飞机下位锁的方法,其特征在于利用权利要求14任一所述的装置。

4、,方法如下1将环状平台3置于底座2上,将待测飞机下位锁下端的圆柱体插入平台3上的导入孔31内,待测飞机下位锁圆柱体的下端面与平台3的工作面紧密配合;2调整测高装置1上测头12的高度,使之与平台3的工作面接触,通过控制装置13将此高度设置为“0”;3通过手柄11带动测头12垂直上移,测量设在待测飞机下位锁上端的固定孔的最高点和最低点的高度值,计算得到固定孔轴线的高度值;4将固定孔轴线的高度值与设计值相比较,高度值在“设计值05MM”范围内,即为合格产品。权利要求书CN104197885A1/3页3一种检测飞机下位锁的装置和方法技术领域0001本发明主要涉及一种应用于对飞机下位锁固定孔轴线与后端小。

5、平面距离的检测装置和方法。背景技术0002飞机下位锁为飞机上的一个重要部件,如图1所示为一种飞机下位锁,圆柱形主体41的下端依次设有圆柱体45和圆柱体42,上端为设有固定孔43的圆柱体44。在飞机下位锁设计中,为了保证飞机下位锁的安装质量,保证固定孔轴线与后端小平面距离是关键。距离过大无法安装,过小产生缝隙,影响安全性。因此固定孔轴线与后端小平面距离是否符合要求是检测产品质量的关键。固定孔轴线与后端小平面距离也就是固定孔轴线与圆柱体45和圆柱体42连接面之间的距离。现有的方法是通过手扶将飞机下位锁立住,然后手工操作测量固定孔轴线与后端小平面的距离,存在的问题是众所周知,通常圆柱体42的直径约为。

6、40MM,构成的后端小平面端面较小、长度为60MM且飞机下位锁的重量较重,因此飞机下位锁站立不稳,定位不准造成测量不准;而且构成主体41、圆柱体42、圆柱体44和圆柱体45的直径不等,因此固定孔轴线和后端小平面所处的两个平面难以引出,造成测量不准。发明内容0003为了解决以上问题,本发明提供一种结构简单,操作方便,测量准确的检测飞机下位锁的装置。0004本发明的另一目的是提供一种通过上述的装置准确测量飞机下位锁固定孔轴线与后端小平面距离的方法。0005本发明采用的技术方案是一种检测飞机下位锁的装置,由测高装置、底座和平台构成,测高装置上设有手柄、测头和控制装置,平台安装在底座上,平台上设有导入。

7、孔。0006上述的一种检测飞机下位锁的装置,所述的平台为环状。0007上述的一种检测飞机下位锁的装置,平台的高度大于待检测飞机下位锁下端的圆柱体的高度;平台上导入孔的孔径小于圆柱体的直径且大于圆柱体的直径,平台上、下平面的平行度为0005MM,平台的工作面的平面度为0005MM,表面粗糙度RA值为04M。0008上述的一种检测飞机下位锁的装置,平台的工作面硬度为60HRC,线膨胀系数小于03106M。0009一种检测飞机下位锁的方法,利用上述的装置,方法如下00101将环状平台置于底座上,将待测飞机下位锁下端的圆柱体插入平台上的导入孔内,待测飞机下位锁圆柱体的下端面与平台的工作面紧密配合;00。

8、112调整测高装置上测头的高度,使之与平台的工作面接触,通过控制装置将此高度设置为“0”;说明书CN104197885A2/3页400123通过手柄带动测头垂直上移,测量设在待测飞机下位锁上端的固定孔的最高点和最低点的高度值,计算得到固定孔轴线的高度值;00134将固定孔轴线的高度值与设计值相比较,高度值在“设计值05MM”范围内,即为合格产品。0014本发明的有益效果是本发明由于设置了环状平台,测量时,将飞机下位锁下端的圆柱体插入导入孔中,使得圆柱体的下端面坐在平台上,由圆柱体和圆柱体之间的平面构成的飞机下位锁后端小平面恰好与环状平台上的工作面紧密配合。因此利用环状平台的工作面将下位锁后端小。

9、平面的标准平面引出,作为测量基准面。通过测头采用接触测量原理,即可准确测量。0015本发明即可以将待测下位锁稳定装夹在平台上,同时又可以将被测平面引出,实现准确测量。附图说明0016图1是一种飞机下位锁的结构示意图。0017图2是本发明检测飞机下位锁的装置结构示意图。具体实施方式0018实施例1一种检测飞机下位锁的装置0019如图2所示,一种检测飞机下位锁的装置,由测高装置1、底座2和环状平台3构成。0020测高装置1上设有手柄11、测头12和控制装置13。0021环状平台3安装在底座2上,环状平台3上设有导入孔31。0022环状平台3的高度大于待检测飞机下位锁下端的圆柱体42的高度;平台3上。

10、导入孔31的孔径小于圆柱体45的直径且大于圆柱体42的直径,环状平台上、下平面的平行度为0005MM,平台的工作面的平面度为0005MM,表面粗糙度RA值为04M。0023由于下位锁专用环状平台的精度较高,所以在选择材料时应考虑表面硬度、线膨胀系数等因素,避免变形及测头划伤表面而影响测量精度。为避免测量过程中由于测力影响力下位锁专用环状平台表面参数,环状平台表面硬度应达到60HRC,线膨胀系数小于03106M,为此采用58镍钢材料。0024在加工时,加工环境应在201环境下,避免材料因热膨胀系数影响而带来测量结果修正的困难。0025加工工艺包括热处理调质,冷冰处理,线切割,数控平面磨,钳工研磨。

11、,内圆磨等。由于该环状规对上下工作面几何量参数要求较高,所以在最后精加工时,应在201环境下,用高精度的三坐标测量机和精密测长仪、粗糙度测量仪对厚度、上下工作面平行度、上表面平面度、上表面粗糙度进行检测,直至符合设计要求。0026实施例2一种检测飞机下位锁的方法0027如图1所示为一种飞机下位锁,圆柱形主体41的下端依次设有圆柱体45和圆柱体42,上端为设有固定孔43的圆柱体44。主体41的直径为说明书CN104197885A3/3页5120MM;圆柱体42的直径为40MM,长度为60MM。在设计时,该下位锁固定孔轴线与后端小平面5之间的距离为H3048MM。0028本实施例以检测如图1所示的。

12、飞机下位锁为例,进行说明。0029为此,设计环状平台的具体尺寸为环状平台外径200MM,内径42MM,其公差均为001MM,环状平台的厚度应大于下位锁圆柱体的高度,设计厚度为70MM,公差为0005MM,上、下工作面平行度0005MM,由于上表面将作为测量的基准面,上表面平面度设计为0005MM,表面粗糙度RA值为04M。0030测高装置采用MAHR817型数字测高仪。0031检测方法如下00321将环状平台3置于底座2上,将待测飞机下位锁下端的圆柱体插入平台3上的导入孔31内,待测飞机下位锁圆柱体的下端面与平台3的工作面紧密配合;00332调整MAHR817型数字测高仪的测头12高度,使之与环状平台3的工作面接触,通过控制装置13将此高度设置为“0”,即将此高度作为被测参数的基准面;00343通过手柄11带动测头12垂直上移,利用MAHR817数字测高仪的孔轴线测量功能,利用测高仪的测头找到固定孔的最高点和最低点,测量高度值,计算得到固定孔轴线的高度值;00354将固定孔轴线的高度值与设计值相比较,高度值在“设计值05MM”范围内,即为合格产品。说明书CN104197885A1/1页6图1图2说明书附图CN104197885A。

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