在记录媒体上记录信息的方法和装置 技术领域
本发明涉及利用激光束在光盘上记录信息的方法。本发明还涉及利用激光束在光盘上记录信息的装置。
背景技术
已知用标记边缘记录技术(标记长度记录技术)在光盘上记录信息。在光盘上记录信息的一个例子是采用激光束。具体而言，其信息记录期间，将激光束间歇地施加在光盘上同时使其相对移动。记录标记便形成在光盘上暴露于激光束的位置中。
通常，激光束是由激光二极管产生的。为了实现激光束的间歇产生，用脉冲信号驱动激光二极管。在传统的方法中，光盘上的每个记录标记对应于馈送给激光二极管的一个驱动脉冲。此外，记录标记的长度对应于驱动脉冲的宽度。在这种情况中，热累积效应引起记录标记的边缘的位置和形状误差。
在已知的改进方法中，光盘上的每个记录标记是由馈送给激光二极管的多脉冲串引起的。多脉冲串意味着一系列短驱动脉冲。选择多脉冲串的占空比以提供激光束的合适有效记录功率，在该功率下热累积效应可以被足够地抑制。通常，多脉冲串中第一个驱动脉冲的宽度大于其他驱动脉冲的宽度。
日本专利申请公布号11-312311揭示一种光盘上记录信息的方法。用日本申请11-312311地方法，标记数据长度“nT”是基于记录信道时钟信号的周期“T”确定的，这里“n”表示选自预定自然数的一个整数。对于标记数据长度“nT”，将多脉冲串馈送给激光二极管，在光盘上形成记录标记。多脉冲串意味着一系列短驱动脉冲。多脉冲串中驱动脉冲之一比其他驱动脉冲长得多。具体而言，长驱动脉冲的宽度等于或大于“1.5T”而其它驱动脉冲大约等于或小于“T”。在日本申请11-312311的方法中，光电二极管检测前向激光束被光盘反射而产生的反射激光束的强度。在将长驱动脉冲施加于激光二极管期间，光电二极管检测的激光束强度升高并随后在稳定前下降。在施加长驱动脉冲期间在稳定阶段的某一时刻对检测激光束取样。检测激光束的取样指示了标记形成状况。检测激光束的取样是针对多脉冲串分别产生的。响应于检测激光束的取样而控制包含多脉冲串的对激光二极管的驱动信号，以使标记记录状况维持在适当的范围内。
发明内容
本发明的第一个目的是提供一种在诸如光盘的记录媒体上记录信息的改进方法。
本发明的第二个目的是提供一种在诸如光盘的记录媒体上记录信息的改进装置。
本发明的第一方面提供一种在光盘上记录信息的方法。该方法包括以下步骤：将前向激光束的多脉冲串施加到光盘，把标记区记录在其上，所述多脉冲串分别对应于所述标记区；检测前向激光束被光盘反射而产生的反射激光束的强度；将检测强度除以设定强度，得到一个除法结果；响应于该除法结果，检测每个标记区的记录状况；以及响应于检测状况，控制多脉冲串的每一个的幅度。
本发明的第二方面提供一种在光盘上记录信息的方法。该方法包括以下步骤：将前向激光束的多脉冲串施加到光盘，把标记区记录在其上，所述多脉冲串分别对应于所述标记区；检测前向激光束被光盘反射而产生的反射激光束的强度；检测由每一个多脉冲串中脉冲当中第一个脉冲引起的反射激光束的最大强度；将检测强度除以检测最大强度，得到一除法结果；响应于该除法结果，检测每个标记区的记录状况；以及响应于该检测状况，控制多脉冲串的每一个的幅度。
本发明的第三方面基于其第一方面，提供一种方法，其中，检测强度包括对应于每个多脉冲串的头之后时间部分的反射激光束的检测平均强度。
本发明的第四方面基于其第一方面，提供一种方法，其中，检测强度包括对应于每个多脉冲串的头之后时间部分的反射激光束的检测平均强度与对应于多脉冲串之间每个间隔的反射激光束的检测强度之间的差值。
本发明的第五方面基于其第一方面，提供一种方法，其中，检测强度包括对应于每个多脉冲串的头之后时间部分的反射激光束的检测平均强度与对应于多脉冲串之间每个间隔的反射激光束的检测强度之间的比率。
本发明的第六方面基于其第一方面，提供一种方法，其中，检测强度包括对应于每个多脉冲串的头之后时间部分的反射激光束的检测平均强度与对应于多脉冲串之间每个间隔的反射激光束的检测强度之间的差值(1)和比率(2)之一。
本发明的第七方面基于其第一方面，提供一种方法，进一步包括在幅度达到其上限的情况中响应于检测状况控制每个多脉冲串的占空比的步骤。
本发明的第八方面基于其第三方面，提供一种方法，其中，检测的平均强度由对应于多脉冲串当中所选这些的每一个的头之后时间部分的反射激光束的检测平均强度组成，所选多脉冲串对应于7T与14T之间标记数据长度，这里“T”表示信道周期。
本发明的第九方面基于其第三方面，提供一种方法，其中，检测的平均强度由对应于多脉冲串当中所选这些的每一个的头之后时间部分的反射激光束的检测平均强度组成，所选多脉冲串对应于最大标记数据长度。
本发明的第十方面基于其第三方面，提供一种方法，其中，检测的平均强度由对应于多脉冲串当中所选这些的每一个的头之后时间部分的反射激光束的检测平均强度组成，所选多脉冲串对应于nT的标记数据长度，nT是后期运行长度，这里“T”表示信道周期，“n”表示预定的自然数。
本发明的第十一方面基于其第三方面，提供一种方法，其中，检测的平均强度包括基于对应于多脉冲串中两个脉冲串的至少两个检测平均强度的检测平均强度。
本发明的第十二方面基于其第三方面，提供一种方法，其中，检测的平均强度包括基于对应于光盘上公用角度位置的至少两个检测平均强度的检测平均强度。
本发明的第十三方面基于其第三方面，提供一种方法，其中进一步包括利用滤波器获得检测平均强度的步骤，所述滤波器使频率等于多脉冲串频率的信号分量衰减至少30dB。
本发明的第十四方面基于其第一方面，提供一种方法，其中，检测强度包括对应于每个多脉冲串的后半时间部分中某一时间点的反射激光束的检测平均强度。
本发明的第十五方面基于其第一方面，提供一种方法，其中，检测强度包括对应于每个多脉冲串中除第一脉冲以外脉冲的反射激光束的检测平均强度。
本发明的第十六方面提供一种在光盘上记录信息的装置。该装置包括：将前向激光束的多脉冲串施加到光盘，把标记区记录在其上的第一装置，所述多脉冲串分别对应于所述标记区；接收前向激光束被光盘反射而产生的反射激光束的光敏元件，所述光敏元件产生依赖于反射激光束强度的电流；将由光敏元件产生的电流转变为电压的的第二装置；接收由第二装置产生的电压的低通滤波器，用于衰减频率等于多脉冲串频率的电压分量；基于来自低通滤波器的输出信号检测对应于每个多脉冲串的反射激光束的平均强度的取样保持电路；使(1)检测平均强度、(2)检测平均强度与对应于多脉冲串之间每个间隔的反射激光束的检测强度之差、和(3)检测平均强度与对应于多脉冲串之间每个间隔的反射激光束的检测强度之比中一个除以设定强度，产生除法结果的第三装置；以及响应于由第三装置产生的除法结果检测每个标记区的记录状况的第四装置。
本发明的第十七方面提供一种在光盘上记录信息的装置。该装置包括：将前向激光束的多脉冲串施加到光盘，把标记区记录在其上的第一装置，所述多脉冲串分别对应于所述标记区；接收前向激光束被光盘反射而产生的反射激光束的光敏元件，所述光敏元件产生依赖于反射激光束强度的电流；将由光敏元件产生的电流转变为电压的的第二装置；基于由第二装置产生的电压，检测由每个多脉冲串中多个脉冲当中第一一个引起的反射激光束的最大强度的第三装置；接收由第二装置产生的电压的低通滤波器，用于衰减频率等于多脉冲串频率的电压分量；基于来自低通滤波器的输出信号，检测对应于每个多脉冲串的反射激光束的平均强度的取样保持电路；使(1)检测平均强度、(2)检测平均强度与对应于多脉冲串之间每个间隔的反射激光束的检测强度之差、和(3)检测平均强度与对应于多脉冲串之间每个间隔的反射激光束的检测强度之比中一个除以由第三装置检测的最大强度，产生除法结果的第四装置；以及响应于由第四装置产生的除法结果，检测每个标记区的记录状况的第五装置。
本发明的第十八方面提供一种在光盘上记录信息的装置。该装置包括：将前向激光束的多脉冲串施加到光盘，把标记区记录在其上的第一装置，所述多脉冲串分别对应于所述标记区；接收前向激光束被光盘反射而产生的反射激光束的光敏元件，所述光敏元件产生依赖于反射激光束强度的电流；将由光敏元件产生的电流转变为电压的的第二装置；基于由第二装置产生的电压，检测对应于每个多脉冲串的反射激光束的强度的第一取样保持电路；接收由第二装置产生的电压的低通滤波器，用于衰减频率等于多脉冲串频率的电压分量；基于来自低通滤波器的输出信号，检测对应于每个多脉冲串的反射激光束的平均强度的第二取样保持电路；使(1)检测平均强度、(2)检测平均强度与对应于多脉冲串之间每个间隔的反射激光束的检测强度之差、和(3)检测平均强度与对应于多脉冲串之间每个间隔的反射激光束的检测强度之比中一个除以由第一取样保持电路检测的强度，产生除法结果的第三装置；以及响应于由第三装置产生的除法结果，检测每个标记区的记录状况的第四装置。
本发明的第十九方面提供一种在光盘上记录信息的装置，该装置包括：将前向激光束的多脉冲串施加到光盘的第一装置；检测前向激光束被光盘反射而产生的反射激光束的强度的第二装置；产生由第二装置检测的强度的平均的第三装置，该平均对应于每个多脉冲串；以及响应于由第三装置产生的平均，控制每个多脉冲串的幅度的第四装置。
本发明的第二十方面提供一种在光盘上记录信息的装置，该装置包括：将前向激光束的多脉冲串施加到光盘的第一装置；检测前向激光束被光盘反射而产生的反射激光束的强度的第二装置；产生由第二装置检测的强度的平均的第三装置，该平均对应于每个多脉冲串；对由第二装置检测的强度取样，产生对应于由每个多脉冲串中多个脉冲当中第一个引起的反射激光束的最大强度的第一强度取样的第四装置；对由第二装置检测的强度取样，产生第二强度取样的第五装置，第二强度采用代表对应于多脉冲串之间每个间隔的反射激光束的强度；以及响应于由第三装置产生的平均、由第四装置产生的第一强度取样、和由第五装置产生的第二强度取样，控制每个多脉冲串的幅度的第六装置。
附图说明
图1是根据本发明第一实施例的信息记录装置的方框图。
图2是图1所示装置中信号、数据、前向激光束功率、和反射激光束强度的例子的时域图。
图3是一部分图1所示装置的例子的方框图。
图4是前向激光束的记录功率与光盘上记录标记的抖动J之间的关系图。
图5是前向激光束的记录功率与低通滤波器的输出信号的电压之间的关系图，低通滤波器的输出信号的电压对应于反射激光束的强度的平均值Vmp。
图6是前向激光束的记录功率与反射激光束强度的平均值Vmp除以记录功率的结果之间的关系图。
图7是前向激光束的记录功率与I/V转换器的输出信号的电压之间的关系图，I/V转换器的输出信号的电压对应于反射激光束的强度的最大值Vtop。
图8是前向激光束的记录功率与反射激光束强度的平均值Vmp除以其最大值Vtop的结果之间的关系图。
图9是除法结果“Vmp/功率”与光盘上记录标记的抖动J之间的关系图。
图10是图1所示装置中信号、数据、和前向激光束功率的例子的时域图。
图11是根据本发明第二实施例的信息记录装置中信号、数据、和前向激光束功率的例子的时域图。
图12是根据本发明第三实施例的信息记录装置的一部分的方框图。
具体实施方式
第一实施例
图1示出根据本发明第一实施例的信息记录装置。图1所示的装置包括取样保持电路1、光电二极管(PD)2、电流一电压转换器(I/V转换器)3、低通滤波器(LPF)4、CPU5、LD控制器6、激光二极管(LD)7、光电二极管(PD)8、电流一电压转换器(I/V转换器)9、自动功率控制(APC)电路10、取样保持电路11和12、以及差动放大器13。
光电二极管2与I/V转换器3电连接，I/V转换器3之后是LPF4和取样保持电路11。LPF4之后是取样保持电路1。取样保持电路1和11与CPU5连接。CPU5与LD控制器6连接。LD控制器6与差动放大器13连接。差动放大器13与激光二极管7连接。光电二极管8与激光二极管7光耦合。光电二极管8与I/V转换器9电连接。I/V转换器9之后是APC电路10和取样保持电路12。APC电路10与差动放大器13连接。取样保持电路12与CPU5连接。
激光二极管7发射前向激光束，将该前向激光束施加到光盘15。前向激光束按照待记录的信息被调制。具体地说，激光二极管7受代表要记录信息的多脉冲串驱动。因此激光二极管7发射前向激光束的相应多脉冲串。光盘15通过诸如主轴电机的合适驱动装置(图中未示出)旋转。在旋转期间，通过前向激光束对光盘15扫描，从而在其上记录或写入信息。具体而言，代表信息的记录标记(标记区)被形成在光盘15上。记录标记分别对应于多脉冲串。前向激光束被光盘15至少部分反射，作为反射激光束反向传播。前向激光束被光盘15的反射依赖于每个记录标记的形成的状况。光电二极管2暴露于一部分反射激光束。光电二极管检测反射激光束的强度(具体说，这部分反射激光束的强度)，产生代表检测强度的电流信号。光电二极管2将电流信号输出到I/V转换器3。
I/V转换器3将电流信号变为相应的电压信号。由I/V转换器3产生的电压信号代表反射激光束的检测强度。具体说，电压信号的电平随检测强度的增大而升高。I/V转换器3将电压信号输出到LPF4和取样和保持电路11。
LPF4使I/V转换器3的输出信号经受带宽限制处理，即低通滤波处理，这相应于信号电压平均化或平滑处理。LPF4产生滤波结果信号，该信号代表反射激光束的检测强度的平均。LPF4将滤波结果信号输出到取样和保持电路1。
合适的脉冲发生器(图中未示出)响应于每个多脉冲串的结束，产生第一取样脉冲和第二取样脉冲。第一取样脉冲处在多脉冲串结束之前的第一预定时间间隔处。第二取样脉冲跟在多脉冲串结束之后的第二预定时间间隔处。取样和保持电路1接收来自脉冲发生器的每个第一取样脉冲和每个第二取样脉冲。取样和保持电路1响应于每个第一取样脉冲对LPF4的输出信号进行取样，然后保持LPF4的输出信号的结果取样。取样和保持电路1将保持的信号取样输出到CPU5。对应于第一取样脉冲的信号取样代表出现在相关多脉冲串的之后时间部分中的反射激光束的检测强度的平均值Vmp。此外，取样和保持电路1响应于每个第二取样脉冲对LPF4的输出信号进行取样，然后保持LPF4的输出信号的取样。取样和保持电路1将保持的信号取样输出到CPU5。对应于第二取样脉冲的信号取样代表在不形成记录标记的时间间隔或者多脉冲串之间的时间间隔中反射激光束的检测强度的底部值(基础值)Vsp。底值Vsp小于平均值Vmp。底部值Vsp等于某一预定小的值，对应于例如1mW的光功率。
CPU5包括输入/输出端、处理部分、ROM和RAM的组合。CPU5按照存储在ROM中的控制程序操作。CPU5中的输入/输出端包括模数转换器，用于将取样和保持电路1的输出信号变换为相应数字信号，可由CPU5中处理部分来处理。
根据控制程序，CPU5周期性地从取样和保持电路1的输出信号中导出平均值Vmp和底部值Vsp。CPU5从平均值Vmp中减去底部值Vsp，计算差值“Vmp-Vsp”或者让平均值Vmp除以底部值Vsp，计算比值“Vmp/Vsp”。CPU5具有代表设定记录功率或者检测记录功率的信息。CPU5让平均值Vmp除以设定记录功率(或者检测记录功率)。另外，CPU5可以让差值“Vmp-Vsp”或者比值“Vmp/Vsp”除以设定记录功率(或者检测记录功率)。除法结果代表每个记录标记的形成的检测状况。
较佳地，LPF4使频率等于多脉冲串频率的信号分量衰减至少30dB。在这种情况下，由多脉冲串引起并保持在LPF4输出信号中的波纹电平对应于3％或更少。
CPU5响应于每个多脉冲串的脉冲当中的第一个脉冲，计算(或估算)I/V转换器3输出信号电压峰值的定时。CPU5在算出的定时上将取样脉冲输出到取样和保持电路11。取样和保持电路11响应于每个取样脉冲，对I/V转换器3的输出信号进行取样，然后保持I/V转换器3的输出信号的最终取样。信号取样代表对应于相关多脉冲串的脉冲当中第一个脉冲的反射激光束的检测强度的最大值Vtop。取样和保持电路11将保持的信号取样输出到CPU5。
取样和保持电路11可以包括峰值检测器，用于检测I/V转换器3对每个多脉冲串的输出信号的电压峰值。在这种情况下，检测的电压峰值是通过相关多脉冲串的脉冲当中的第一个脉冲引起的。取样和保持电路11保持该检测电压峰值并将所保持的电压峰值输出到CPU5。检测的电压峰值代表对应于相关多脉冲串的脉冲当中第一个脉冲的反射激光束的检测强度。
如前所述，CPU5周期性地从取样和保持电路1的输出信号导出平均值Vmp和底部值Vsp。CPU5从平均值Vmp减去底部值Vsp，计算差值“Vmp-Vsp”，或者让平均值Vmp除以底部值Vsp，计算比值“Vmp/Vsp”。CPU5的输入/输出端包括模数转换器，用于将取样和保持电路11的输出信号变为相应的数字信号，数字信号由CPU5中的处理部分进行处理。CPU5周期性地从取样和保持电路11的输出信号导出最大值Vtop。CPU5让平均值Vmp除以最大值Vtop。另一方面，CPU5可以让差值“Vmp-Vsp”或比值“Vmp/Vsp”除以最大值Vtop。除法结果代表每个记录标记的形成的检测状况。
应当注意，取样和保持电路11可以略去。在这种情况中，CPU5的操作与最大值Vtop无关。
光电二极管8暴露于从激光二极管7发射的一部分前向激光束。光电二极管8检测前向激光束的功率(或强度)，产生代表检测功率(或强度)的电流信号。光电二极管8将电流信号输出到I/V转换器9。
I/V转换器9将电流信号变为相应的电压信号。由I/V转换器9产生的电压信号代表前向激光束的检测功率(或检测强度)。具体而言，电压信号的电平随检测功率的增大而增大。I/V转换器9将电压信号输出到APC电路10和取样保持电路12。
CPU5计算激光二极管7被每个多脉冲串的脉冲当中一个指定脉冲激励的定时。CPU5在算出的定时上将取样脉冲输出到取样保持电路12。取样保持电路12响应于每个取样脉冲对I/V转换器9的输出信号取样，然后保持I/V转换器9的输出信号的取样结果。信号取样代表了对应于相关多脉冲串的脉冲当中的指定脉冲的前向激光束的检测功率(或强度)。取样保持电路12将所保持的信号取样输出到CPU5。CPU5中的输入/输出端口包含模数转换器，用于将取样和保持电路12的输出信号变为经CPU5中处理部分处理的相应的数字信号。CPU5从取样和保持电路12的输出信号推导出前向激光束的检测功率。CPU5将前向激光束的检测设定为检测的记录功率。正如前面所述，检测的记录功率被用于检测每个记录标记的形成的条件。
检测到的记录功率可以被CPU5提供的设定记录功率所替代。在这种情况下，取样保持电路12可省略。
CPU5有了代表形成每个记录标记的目标条件的信息，还有了代表对应于形成每个记录标记的目标条件的最佳记录功率的信息。CPU5从其目标条件计算形成每个记录标记的检测条件的误差(或偏差)。算出的误差对应于功率误差。CPU5响应于算出的误差而控制LD控制器6，使检测条件等于目标条件。具体而言，CPU5响应于算出的误差产生控制信号，并将产生的控制信号输出到LD控制器6。
LD控制器6响应于从CPU5送出的控制信号产生基本LD驱动信号(第一LD驱动信号)。基本LD驱动信号包含多脉冲串，其幅度由控制信号确定。多脉冲串代表待记录的信息。LD控制器6将基本LD驱动信号输出到差分放大器13。
APC电路10从I/V转换器9的输出信号推导出前向激光束的检测功率。APC电路10响应于前向激光束的检测功率产生校正电压信号。APC电路10将校正电压信号输出到差分放大器13。
差分放大器13从基本LD驱动信号中减去校正电压信号，响应于差值结果产生最终LD驱动信号(第二LD驱动信号)。最终LD驱动信号包含代表要记录信息的多脉冲串。差分放大器13将最终LD驱动信号输出到激光二极管7。激光二极管7被最终LD驱动信号激励或去激励，由此发射按照待记录的信息调制的前向激光束。前向激光束的强度或功率取决于最终LD驱动信号中每个多脉冲串的幅度。
激光二极管7、光电二极管8，I/V转换器9和APC电路10组成以所要求电平调整前向激光束功率的APC反馈回路。另一方面，将LD控制器6受CPU5的控制设计成实施前向激光束功率的调节，以使形成每个记录标记的检测条件等于其目标条件。一般地，由CPU5的功率调节在由APC电路10的功率控制上占主导地位。
待记录的信息在EFM(八到十四调制)基础上利用EFM码被调制，并与信道时钟信号同步化。以标记边缘记录技术(标记长度记录技术)将信息记录在光盘15上。EFM导致的数据，即从信息EFM产生的双值数据作为在其上形成的标记和空间被记录在光盘15上。待记录的数据在分别对应于标记和空间的高电平状态和低电平状态之间反复地变化。标记的数据长度和空间的数据长度在3T至14T可以变化，这里“T”表示信道时钟信号的周期。LD控制器6包括产生多脉冲串的其幅度可以变化的传统电路。对应于一个标记的数据的时段被LD控制器6中的上述传统电路转换为一个多脉冲串。因此，一个多脉冲串被分配给一个标记。多脉冲串的长度对应于相关标记的数据长度。
较佳地，CPU5拒绝对应于数据长度短于7T的多脉冲串的取样和保持电路1的输出信号。在这种情况下，CPU5接收仅对应于数据长度等于或大于7T的多脉冲串的取样和保持电路1的输出信号。更好地，CPU5拒绝对应于数据长度短于14T的多脉冲串的取样和保持电路1的输出信号。在这种情况下，CPU5接收仅对应于数据长度等于14T的多脉冲串的取样和保持电路1的输出信号。另外，CPU5可以接收仅对应于数据长度等于nT的多脉冲串的取样和保持电路1的输出信号，这里“n”表示一个预定的自然数。
基于对应于至少两个多脉冲串的取样和保持电路1的输出信号，CPU5可以确定平均值Vmp、差值“Vmp-Vsp”或者比值“Vmp/Vsp”。在这种情况下，能够防止平均值Vmp、差值“Vmp-Vsp”或者比值“Vmp/Vsp”的准确度由于光盘15中的缺陷造成不可接收的下降。
基于对应于已分配给光盘15上一个共用角度位置的至少两个多脉冲串的取样和保持电路1的输出信号，CPU5可以确定平均值Vmp、差值“Vmp-Vsp”或者比值“Vmp/Vsp”。在这种情况下，能够防止平均值Vmp、差值“Vmp-Vsp”或者比值“Vmp/Vsp”的准确度由于光盘15中的翘曲造成不可接收的下降。
图1所示装置的操作可以在包括记录模式和测试模式的不同模式当中变化。一般情况下，图1所示的装置在以记录模式工作之前以测试模式工作。在测试模式工作期间，将代表测试图案的信号反复地记录在光盘15上同时改变从激光二极管7发射的前向激光束的功率。另外，监测取样和保持电路1、11和12的输出信号。从光盘15再现被记录的信号，同时掌握再现信号与前向激光束功率之间的关系。给出相对长标记与短标记对称性相关或者与抖动相关的再现信号状况的观察结果。检测对应于最好标记对称性或最少抖动的再现信号的时段，并将对应于检测到的再现信号时段的前向激光束功率定义为最佳记录功率。对应于最佳记录功率的取样和保持电路1、11和12的输出信号被认为是形成每个记录标记的目标状况的表示。CPU5内的存储器载有代表形成每个记录标记的目标状况的信息以及代表最佳记录功率的信息。在测试模式工作之后的记录模式工作期间使用代表目标状况的信息和代表最佳记录功率的信息。
光盘15是利用有机颜料的WO(一次写入)型。待记录的信息被转换为写在光盘15上的DVD-R格式的数据。正如前面所述，待记录的信息利用EFM码基于EFM被调制并与信道时钟信号同步化。以标记边缘记录技术(标记长度记录技术)把信息记录在光盘15上。EFM结果数据，即由信息EFM产生的两值数据被记录在光盘15上，作为标记和空间。
正如图2所示，待记录的数据与具有固定周期T的信道时钟信号同步化。待记录的数据在分别对应于标记和空间的高电平状态和低电平状态之间反复变化。标记的数据长度和空间的数据长度在3T至14T之间变化。具体而言，把14T标记分配给同步信号。在图2中，对应于8T标记的高电平状态、对应于4T空间的低电平状态和对应于3T标记的高电平状态按照该次序顺序排列。在数据记录期间，光盘15以基于CLV(恒定线速度)控制的速率旋转。例如，固定周期T约等于38纳秒，而记录线速度约等于3.5m/s。
对应于一个标记的数据的每个时段被LD控制器6转换为一个多脉冲串。因此，给一个多脉冲串分配一个标记。多脉冲串的长度对应于相关标记的数据长度。多脉冲串中除了最短的以外的每一个具有顺序出现的脉冲。较佳地，将每个多脉冲串的脉冲当中的第一个的宽度(长度)设定为第一值，而将其中的第二个或以后的脉冲的宽度(长度)设定为第二值。换句话说，每个多脉冲串的脉冲当中的第一个脉冲比第二或以后的脉冲要长。例如，每个多脉冲串的脉冲当中的第一个脉冲在长度上等于或长于1T，而第二和以后的脉冲短于1T。在一个多脉冲串中的脉冲数目取决于相关标记的数据长度。每个多脉冲串中最后一个脉冲的尾边沿与相关标记的数据长度的末尾相重合。电信号中的每个多脉冲串是从LD控制器6发射到激光二极管7，被激光二极管7转换为前向激光束的相应多脉冲串。正如图2所示，前向激光束的常用多脉冲串为交替的正极性脉冲和负极性脉冲。正极性脉冲是由相应电多脉冲串中的脉冲引起的。正极性脉冲称为加热脉冲，而负极性脉冲称为非加热脉冲。
正如图2所示，由I/V转换器3的输出信号表示的反射激光束的强度随前向激光束的功率而变化。反射激光束的强度以对应于前向激光束的多脉冲串的锯齿波形形式变化。具体而言，反射激光束的强度与前向激光束的多脉冲串中每个加热脉冲相对应。由于，前向激光束的多脉冲串的加热脉冲当中的第一个脉冲比第二和以后的加热脉冲要长，对应于第一脉冲的反射激光束峰值高于对应于第二和以后脉冲的反射激光束峰值。对应于第一脉冲的反射激光束峰值被取样和保持电路11检测，作为反射激光束的检测强度的最大值Vtop。
I/V转换器3的输出信号(代表反射激光束的强度)被LPF4平滑。正如图2所示，LPF4的输出信号以对反射激光束强度的波形平滑所产生的波形而变化。对应前向激光束的每个多脉冲，LPF4的输出信号的电压从底部电平(基本电平)增大到峰值电平，然后从峰值电平降低到中间电平，而后继续等于该中间电平。底部电平对应于反射激光束强度的底部值(基本值)Vsp，而中间电平对应于反射激光束强度的平均值Vmp，该平均值在前向激光束的相关多脉冲串的后期时段中出现。在前向激光束的每个多脉冲串的后期时段内的一个给定定时，由取样和保持电路1对LPF4的输出信号取样，从而检测反射激光束强度的平均值Vmp。检测的平均值Vmp指示了记录状况，即形成相关记录标记的状况。在前向激光束的每个多脉冲串结束后的一个给定定时，由取样和保持电路1对LPF4的输出信号取样，从而检测反射激光束强度的底部值Vsp。
图1所示的装置包括把取样脉冲重复地馈送到取样和保持电路1的部分。图3示出装置的这个部分的例子。参考图3，将EFM结果数据提供给延迟电路80和脉冲发生器82。延迟电路80使EFM结果数据推迟一个预定时间间隔，该间隔等于检测平均值Vmp的定时与多脉冲串结束之间的时间间隔。被推迟的EFM结果数据被称为第一延迟EFM结果数据。延迟电路880将第一延迟EFM结果数据输出到延迟电路81和84，以及将第一延迟EFM结果数据转换为多脉冲串的下一级。延迟电路81使第一延迟EFM结果数据推迟一个预定时间间隔，该间隔等于多脉冲串结束与检测底部值Vsp的定时之间的时间间隔。经推迟的EFM结果数据称为第二延迟EFM结果数据。延迟电路81将第二延迟EFM结果数据输出到脉冲发生器83。延迟电路84使第一延迟EFM结果数据推迟一给定时间间隔。被推迟的EFM结果数据称为第三延迟EFM结果数据。延迟电路84将第三延迟EFM结果数据输出到门电路85。脉冲发生器82响应于EFM结果数据中每个下降沿产生第一取样脉冲。脉冲发生器82将第一取样脉冲输出到门电路85。当第三延迟EFM结果数据处于高电平状态时，门电路85打开。当第三延迟EFM结果数据处于低电平状态时，门电路85关闭。当门电路85打开时，第一取样脉冲通过并传送到“或”电路86和CPU5。然后，第一取样脉冲在到达取样和保持电路1之前通过“或”电路86。当门电路85关闭时，禁止第一取样脉冲通过。脉冲发生器83响应于第二延迟EFM结果数据中的每个下降沿，产生第二取样脉冲。脉冲发生器83将第二取样脉冲输出到“或”电路86和CPU5。第二取样脉冲在到达取样和保持电路1之前先通过“或”电路86。取样和保持电路1响应于每个接收到的第一和第二取样脉冲，对LPF4的输出信号取样，然后保持LPF4的输出信号的结果取样。每个第一取样脉冲对应于平均值Vmp，而每个第二取样脉冲对应于底部值(基本值)Vsp。CPU5基于接收到的第一和第二取样脉冲，确定取样和保持电路1的输出信号是代表平均值Vmp还是代表底部值Vsp。
图4示出前向激光束的功率(记录功率或标记记录功率)与光盘15上记录标记的抖动J之间的关系。正如图4所示，当记录功率处于9.3mW与10.5mW之间的范围内时，抖动J相对较低。因此，记录功率的较佳范围在9.3mW与10.5mW之间。
图5示出前向激光束的功率(记录功率或标记记录功率)与对应于反射激光束强度平均值Vmp的LPF4的输出信号电压之间的关系。正如前面所述，平均值Vmp出现在多脉冲串的后期时段中。参考图5，LPF输出电压随记录功率从约7mW增大到约9mW而增大到峰值。LPF输出电压随记录功率从约9mW增大到约11mW而从峰值下降。
图6示出前向激光束的功率(记录功率或标记记录功率)与反射激光束强度平均值Vmp除以记录功率的结果之间的关系。参考图6，除法结果随记录功率从约9mW增大到约11mW而单调地下降。这一关系表明，通过针对除法结果的反馈控制，记录功率能够被维持在前述的较佳范围内。正如前面说明的，当记录功率处于较佳范围内时，记录标记的抖动J相对较低。
关于记录功率的控制，反射激光束的强度的平均值Vmp可以用值“Vmp-Vsp”或者值“Vmp/Vsp”替代，这里Vsp表示反射激光束的强度的底部值。记录功率使用设定记录功率、前向激光束的强度、或者对应于多脉冲串的脉冲当中的第一个脉冲的反射激光束强度的最大值Vtop。
图7示出前向激光束的功率(记录功率或标记记录功率)与I/V转换器3输出信号的电压(对应于反射激光束的强度的最大值Vtop)之间的关系。正如前面所述，最大值Vtop对应于多脉冲串的脉冲当中的第一个脉冲。正如图5所述，反射激光束的强度的最大值Vtop正比于记录功率。
图8示出前向激光束的功率(记录功率或标记记录功率)与反射激光束强度平均值Vmp除以其最大值Vtop的结果之间的关系。参考图8，除法结果随记录功率从约9mW增大到约11mW而单调地下降。这一关系表明，通过针对除法结果的反馈控制，记录功率能够被维持在前述的较佳范围内。正如前面说明的，当记录功率处于较佳范围内时，记录标记的抖动J相对较低。
反射激光束的强度的平均值Vmp除以记录功率的结果是以“Vmp/功率”表示的。图9示出除法结果“Vmp/功率”与光盘15上记录标记的抖动J之间的关系。参考图9，随除法结果“Vmp/功率”从1.2增大到1.5，抖动J降低到最小值。随除法结果“Vmp/功率”从1.5增大，抖动J从最小值增大。因此，在除法结果“Vmp/功率”等于1.5处，抖动J最小化。因此，在图9中，除法结果“Vmp/功率”等于1.5被认为是最佳的。事先要找出这个最佳除法结果“Vmp/功率”。将该最佳除法结果“Vmp/功率”设定为目标除法结果“Vmp/功率”。在图1所示装置的工作期间，检测记录状况，根据检测到的记录状况计算除法结果“Vmp/功率”。控制记录功率，以使算出的除法结果“Vmp/功率”等于目标除法结果“Vmp/功率”。在图9所示关系的情况下，控制记录功率，使算出的除法结果“Vmp/功率”等于1.5。
如前所述，图1所示的装置在以记录模式工作之前以测试模式工作。测试模式工作基于再现信号的非对称状况或抖动状况确定最佳记录功率。最佳记录功率对应于形成每个记录标记的目标状况。此外，测试模式工作确定目标除法结果“Vmp/功率”，它对应于最佳记录功率。由于最佳记录功率对应于形成每个记录标记的目标状况，目标除法结果“Vmp/功率”也与它对应于。在测试模式工作之后的记录模式工作期间，经光电二极管2和8检测记录状况，基于检测到的记录状况计算除法结果“Vmp/功率”。CPU5计算该算出除法结果“Vmp/功率”与目标除法结果“Vmp/功率”之间的误差。CPU5响应于算出的误差控制多脉冲串的幅度，它是由LD控制器6产生的。结果，从激光二极管7发射的前向激光束的功率(或强度)响应于算出的误差而受到控制。将这一功率控制设计为使算出的除法结果“Vmp/功率”等于目标除法结果“Vmp/功率”。因此，形成每个记录标记的实际状况被保持等于其目标状况。正如图10所示，前向激光束的功率(或强度)可以在例如三个不同电平当中变化。
正如前面所述，在前向激光束的每个多脉冲串的后期时段内的某一给定定时，由取样和保持电路1对LPF4的输出信号取样，以检测反射激光束的强度的平均值Vmp。较佳地，取样定时是考虑到获取时间和取样和保持电路1的孔径延迟而决定的。通常，取样定时在相关多脉冲串的持续时间的中心时间点之后。较佳地，取样定时是在相关多脉冲串的持续时间结束前的约1.0T时间间隔。
第二实施例
除了下文所述的附加设计外，本发明的第二实施例类似于第一实施例。在本发明的第二实施例中，CPU5响应于算出的除法结果“Vmp/功率”与目标除法结果“Vmp/功率”间的误差而控制由LD控制器6产生的多脉冲串的占空比。这一控制被设计成使算出的除法结果“Vmp/功率”等于目标除法结果“Vmp/功率”。前向激光束的多脉冲串的占空比等于由LD控制器6产生的相应多脉冲串的占空比。正如图11所示，前向激光束的多脉冲串的占空比是可以变化的。前向激光束的多脉冲串的占空比取决于加热脉冲长度之和与非加热脉冲长度之和之比。
根据第一个例子，占空比控制和幅度控制是彼此独立地执行的。
根据第二个例子，占空比控制和幅度控制是彼此相联系地执行的。通常，幅度控制是主动的，而占空比控制是非主动的。在由于执行幅度控制的结果，多脉冲串的幅度达到其上限的情况中，执行占空比控制，而多脉冲串的幅度维持等于其上限。在执行占空比控制期间，将来自最佳记录功率的功率误差转换为多脉冲串占空比上的所要求的增加。多脉冲串的实际占空比按照所要求的增加而变化。
第三实施例
除了后面所述的设计变化之外，本发明的第三实施例类似于第一实施例。本发明的第三实施例用图12所示的装置部分替代图3所示的装置部分。
参考图12，EFM结果数据提供给延迟电路90和91、门电路92和将EFM结果数据转换为多脉冲串的下一级。延迟电路90使EFM结果数据推迟一预定时间间隔。被推迟的EFM结果数据称为第一延迟EFM结果数据。延迟电路90将第一延迟EFM结果数据输出到脉冲发生器93。脉冲发生器93响应于第一延迟EFM结果数据中的每个上升沿产生第一取样脉冲。脉冲发生器93将第一取样脉冲输出到门电路92。当EFM结果数据处于高电平状态时门电路92打开，而当EFM结果数据处于低电平状态时门电路92关闭。当门电路92打开时，第一取样脉冲通过并到达“或”电路95和CPU5。然后，第一取样脉冲通过“或”电路95而后到达取样和保持电路1。当门电路92关闭时，禁止第一取样脉冲通过。另一方面，延迟电路91使EFM结果数据推迟一预定时间间隔。被推迟的EFM结果数据称为第二延迟EFM结果数据。延迟电路91将第二EFM结果数据输出到脉冲发生器94。脉冲发生器94响应于第二延迟EFM结果数据中每个下降沿，产生一个第二取样脉冲。脉冲发生器94将第二取样脉冲输出到“或”电路95和CPU5。第二取样脉冲通过“或”电路95而后到达取样和保持电路1。取样和保持电路1响应于收到的第一和第二取样脉冲，对LPF4的输出信号取样，然后保持LPF4的输出信号的结果取样。每个第一取样脉冲对应于平均值Vmp，而每个第二取样脉冲对应于底部值Vsp。基于收到的第一和第二取样脉冲，CPU5确定取样和保持电路1的输出信号是代表平均值Vmp还是代表底部值Vsp。