光盘设备、控制光盘设备的方法以及记录介质 【技术领域】
本发明涉及把信息记录在光盘上，并从光盘再现信息的光盘设备，以及控制该光盘设备的方法，尤其涉及自动确定光盘的标准的光盘设备。
背景技术
众所周知，近年来创立了密集记录信息的技术。在一面的一层中具有4.7GB(千兆字节)的记录容量的光盘已投入实际应用。
这种光盘包括，例如遵守各种标准的只读DVD-ROM(数字通用光盘-只读存储器)，可重写地DVD-RAM(随机存取存储器)，DVD-RW(可重写的)，+RW，和可记录的DVD-R(可记录的)。
能够对遵守数种标准的光盘执行记录和再现的光盘设备包括利用光盘的光反射率随着标准而变化的事实的功能。这种功能自动确定所安装的光盘的标准，从而根据确定结果，调节光盘设备的每个部分，并改变设置。
即使遵守相同的标准，根据光盘中使用的记录膜的特性，目前的可重写光盘被进一步分成一种以上的类型。
具体地说，存在两种可重写光盘。其中一种具有高的光反射率，并在反转(invert)(初始化)记录膜的特性(characteristic)，以致膜以光电方式把反射光转换成L(低)电平(否则，所述膜以光电方式把反射光转换成H(高)电平)之后，记录数据(下面将把这种类型的光盘称为L-H介质)。另一种具有低的光反射率，并在反转(初始化)记录膜的特性，以致膜以光电方式把反射光转换成H电平(否则，所述膜以光电方式把反射光转换成L电平)之后，记录数据(下面将把这种类型的光盘称为H-L介质)。
从而，重要的是具有不仅确定诸如DVD-RAM、DVD-RW和+RW之类基本标准，而且自动确定遵守相同标准的每个可重写光盘是L-H介质还是H-L介质，从而调节光盘设备的每个部分，并改变设置的功能。
日本专利申请KOKAI公布No.2001-266367公开一种对装入的光盘进行聚焦搜索，从而根据获得的聚焦误差信号，测量光盘的光反射率的结构。该结构从而确定光盘是CD(光盘)-ROM、CD-R还是CD-RW，以便根据确定结果，转换记录和再现电路。
该公布没有描述遵守相同标准的这种可重写光盘的自动确定，遵守相同标准的这种可重写光盘的类型以所使用的记录膜的特性为基础。
【发明内容】
鉴于上述情况做出了本发明。本发明的目的是提供一种光盘设备，以及控制光盘设备的方法，所述光盘设备自动确定遵守相同标准的可重写光盘的类型，所述类型以记录膜的特性为基础。
根据本发明，提供一种光盘设备，其中有选择地装入第一、第二、第三和第四光盘，第一和第二光盘具有不同的记录膜特性，并且都具有单层记录层，第三和第四光盘具有不同的记录膜特性，并且都具有双层记录层，所述光盘设备把信息记录到装入的光盘上，并从装入的光盘再现信息。所述光盘设备包括用光束照射装入的光盘，从而提供与反射光对应的再现信号的光头，和使用光头从装入的光盘的最内侧圆周部分再现信息，从而根据获得的再现信号的电平，确定第一到第四光盘中的哪一个被装入的确定部分。
所述光盘设备还包括处理光头提供的再现信号，从而从再现信号抽取信息的再现信号处理部分，和根据确定部分的确定结果，控制再现信号处理部分的控制部分。控制部分根据确定部分的确定结果，控制再现信号处理部分，再现记录在装入的光盘的内圆周部分中的，指示光盘的类型的信息。控制部分随后对照确定部分的确定结果，检查再现的信息，以便确定第一到第四光盘中的哪一个已被装入。
通过能够实现当使用遵守相同标准，但是具有不同记录膜特性的四种可重写介质的混合物时的信息的记录和再现，能够允许灵活地使用遵守可再现标准的介质。这又允许从一组大量的记录膜中选择适合于某一用途或应用(记录和再现速度，多次进行重写和记录操作，记录容量等)的记录膜。此外，当根据来自BCA区的再现信号的强度的评估，确定介质的类型时(所述再现信号的强度对应于记录膜的反射率)，版本信息可与确定结果比较，或者可被用作参考。从而，能够进行非常可靠的介质确定。此外，由于BCA确定和介质识别是同时进行的，因此能够高速进行从导入区再现信息之前的激活过程。此外，从数据区再现信息的电路可被预先转换，从而允许高速从数据区再现信息。
根据本发明的记录介质用作适合于上述光盘设备的光盘。记录介质的最内侧圆周部分具有BCA，并且包括双层L-H介质和双层H-L介质。初始化状态下双层L-H介质的L0层的光反射率的范围不重叠未初始化状态下双层H-L介质的L0层的光反射率的范围。此外，记录介质包括单层L-H介质和单层H-L介质。初始化状态下的单层L-H介质，初始化状态下的双层H-L介质的L0层，和未初始化状态下的双层L-H介质的L0层的光反射率不重叠初始化状态下的单层H-L介质的光反射率。
因此，为了确定具有不同记录膜特性，遵守相同标准的介质之一，可设置对应于记录膜特性的再现信号强度的公共基准值。此外，由于可设置基准值，因此能够产生准确地确定遵守相同标准，但是具有不同记录膜特性的四种介质的设备。此外，通过评估来自BCA区的信号的强度，能够在进入导入区之前完成介质确定。从而，能够产生一种能够激活对应于记录膜特性的再现和记录电路的设备。
根据本发明的记录介质这样形成，以致初始化状态下的单层L-H介质，初始化状态下的双层H-L介质的L0层，和初始化状态及未初始化状态下的双层L-H介质的L0层的光反射率均被设置成4～10％。初始化状态下的单层H-L介质的光反射率被设置成12～40％。
于是，通过把初始化状态下的反射率设置成大于最小值的一个值，在所述最小值下，电路能够进行再现，能够确保在再现期间，获得地址信息等。此外，通过把反射率设置在可获得良好的再现信号的范围内，能够产生一种设备，所述设备能够在保持高的介质生产质量的时候，实现确定。
对于遵守相同的标准，但是具有不同记录膜特性的第一到第四光盘，根据通过从光盘的最内侧圆周部分再现信息，获得的再现信号的电平，确定第一到第四光盘中的哪一个已被装入，这使得不仅能够确定光盘的基本标准，而且能够自动确定遵守相同标准的可重写光盘的类型，所述类型以记录膜的特性为基础。
【附图说明】
包含在说明书中，并构成说明书的一部分的附图图解说明本发明的实施例，并和上面给出的概述以及下面给出的实施例的详细说明一起解释本发明的原理。
图1表示本发明的一个实施例，并图解说明单层可重写光盘中的信息记录区的结构；
图2图解说明利用条形码，写入光盘的BCA中的信息；
图3是详细说明利用条形码，写入光盘的BCA中的信息的表格；
图4图解说明光盘中的系统导入区，连接区和数据导出区的数据结构；
图5是图解说明在光盘上记录信息和从光盘再现信息的光盘设备的方框图；
图6是图解说明光盘设备执行的，实现关于光盘的自动确定，从而执行记录或再现过程的操作；
图7A和7B图解说明把条形码信息写入光盘的BCA中的方式的例子，和来自光盘的再现信号之间的关系；
图8A-8C图解说明把条形码信息写入光盘的BCA中的方式的另一例子，和来自光盘的再现信号之间的关系；
图9是详细说明光盘设备进行的，完成关于光盘的自动确定，以便执行记录或再现过程的操作的基本部分的流程图；
图10图解说明如何根据光盘的类型，设置初始化状态下的光反射率；
图11A和11B表示如果通过从单层和双层可重写介质除去膜，记录条形码，那么从BCA区获得的再现信号的特性；
图12是单层和双层可重写介质的确定及再现和记录电路的转换的流程图，其中通过除去记录膜，把条形码信息写入BCA区中；
图13A-13E表示来自BCA区的再现信号的特性，在可重写介质的记录膜已被初始化之后，条形码被写入所述BCA区中；
图14A-14E表示来自BCA区的再现信号的特性，在可重写介质的记录膜未被初始化的时候，条形码被写入所述BCA区中；
图15是单层和双层可重写介质的确定及再现和记录电路的转换的流程图，其中条形码信息被写入初始化状态下的BCA区中；
图16是单层和双层可重写介质的确定及再现和记录电路的转换的流程图，其中条形码信息被写入未初始化状态下的BCA区中；
图17表示单层和双层可重写介质的记录膜的反射率范围；
图18是单层和双层可重写介质的确定及再现和记录电路的转换的流程图，其中BCA区中的条形码信息的信号特性被定义为L信号。
【具体实施方式】
下面详细说明本发明的实施例。图1表示单层可重写光盘11中的信息记录区的结构。从光盘的内圆周到其外圆周，在光盘中形成下述区域：BCA(烧录区，Burst Cutting Area)12，系统导入区13，连接区14，数据导入区15，数据区16，和数据导出区17。
数据导入区15，数据区16和数据导出区17采用凸台凹槽系统，所述凸台凹槽系统使用信息记录层中的凹面和凸面形成信息记录轨道。此外，从最内侧圆周BCA 12到外侧的圆周，读取记录的信息。
利用条形码，信息被写入光盘11的BCA 12中，如图2中所示。利用条形码写入的信息包括标准的版本和版权保护信息，如图3中所示。
使用条形码把信息写入BCA 12中的技术有两种。其中一种技术初始化整个光盘11的记录膜，随后借助激光修整除去记录膜和反射膜。另一种技术利用记录膜的初始化状态和未初始化状态之间的光反射率之间的差异。
图4表示了系统导入区13，连接区14和数据导入区15的数据结构。四个区段，包括初始化区段13a、缓冲区段13b、控制数据区段13c和缓存区段13d按照该顺序，从内到外形成于系统导入区13中。
连接区14只由一个连接区段14a组成。六个区段，包括保护轨道区段(zone)15a，盘测试区段15b，驱动器测试区段15c，保护轨道区段15d，盘识别区段15e和DMA1 & DMA2 15f按照该顺序，从内到外形成于数据导入区15中。
下面，说明应用本发明的实施例的信息记录和再现设备。图5是表示信息记录和再现设备的结构的方框图。
附图标记401和402分别表示信息记录介质(光盘)和光头。附图标记403表示可控地沿着光盘的径向方向移动光头的光头进给机构。主设备(未示出)通过数据I/O接口422，把记录信号输入ECC编码电路408。记录信号被进行ECC块处理，随后被提供给调制电路407。调制电路407随后对信息进行例如8/16调制。调制后的信息随后被输出给记录、再现、擦除和控制波形生成电路406，变成记录信号。记录信号被提供给激光驱动电路405，控制来自光头402的激光束的强度。
在再现期间，光头402读取再现信号，放大器413放大该信号。放大后的信号随后被输入二进制化电路412，二进制化电路使信号二进制化。二进制化信号被输入PLL电路411和解调电路410。解调电路410执行16/8解调。纠错电路409随后纠正每个ECC块的解调信号中的错误。此时，利用半导体存储器419。放大器413，二进制化电路，PLL电路411和解调电路构成再现电路(再现信号处理电路)430。再现电路430执行，例如PRML(部分响应和最大似然)信号处理，从而执行来自再现信号30的信息。再现电路430根据来自控制部分420的指令，为光盘上的每个区，即BCA 12、系统导入区13等，改变放大器413的增益或者PRML信号处理的处理参数。从而，再现电路430恰当地从再现信号30抽取信息。
来自PLL电路的时钟被输入介质转速检测电路414。介质转速检测电路414检测的转速信息被输入主轴电动机控制部分415。主轴电动机控制部分415控制电动机404的旋转以转动旋转台421，以便获得光盘11的所需转速。
进给电动机驱动电路416控制光头进给机构403，从而控制光头402和光盘401的相对位置。聚焦寻轨误差检测电路417检测光头信号中的聚焦误差，寻轨误差等。聚焦寻轨误差检测电路417向物镜致动器驱动机构418提供关于误差的控制信号。所述控制信号校正光头402的聚焦或寻轨(tracking)。控制部分420控制所有部件，并确定装入当前设备中的光盘。在记录期间，控制部分420产生记录在光盘中的管理信息。在再现期间，控制部分420识别例如从其读取并再现管理信息的位置。
对于可重写的光盘11，已开发了适合于各种目的或应用的多种记录膜；记录膜意图例如用于提高记录或再现的信息的可靠性，增大信息可被重写的次数，或者提高记录速度。光盘11是前面说明的L-H介质还是H-L介质，取决于使用的记录膜的特性。
对于常规的光盘设备来说，可重写光盘11的再现信号特性被严格限定。因此，不可能处理具有用于各种目的或应用的不同类型的记录膜的光盘的混合物。换句话说，在记录或再现方面，常规的光盘设备不能适合于L-H介质的光盘，以及H-L介质的光盘11。
图6是表示光盘设备18执行的，自动确定装入的光盘11是L-H介质还是H-L介质，以便实现适合于光盘11的记录或再现过程，即，能够实现L-H和H-L介质的混合使用的操作的流程图。
首先，光盘11被装在旋转台421上，使设备开始工作(步骤S1)。在步骤S2，控制部分420旋转驱动光盘。在步骤S3，控制部分420把光头402移动到光盘11的最内侧的圆周部分。在步骤S4，控制部分420使光头402中的激光二极管发出激光。
在步骤S5，控制部分420进行聚焦搜索；控制部分420找到光盘11的表面反射位置，并沿着聚焦方向移动光头402中的物镜，搜索物镜的聚焦位置。在聚焦搜索中，在步骤S6，控制部分420根据再现信号的电平，测量光反射率。控制420从而认识到可重写的光盘11已被装入。
随后，在步骤S7，控制部分420沿着光盘11的径向方向移动光头402，检测BCA 12。从而，在步骤S8，控制部分420确定光盘是L-H介质还是H-L介质。该确定是根据由BCA 12中的记录膜的反射率的差异引起的再现信号电平的差异，以及记录在BCA 12中的条形码信息(版本)的读取结果来进行的，这在后面详细说明。
随后，在步骤S9，控制部分420调节设备的每个部分，并改变设置，以使设备适合于在步骤S8中对其进行确定的光盘11上执行的记录或再现。在步骤S10，控制部分420执行包络检测，以检测系统导入区13。在步骤S11，控制部分420通过连接区14。在步骤S12，控制部分420检测数据导入区15。在步骤S13，控制部分420对数据区16执行记录或再现。控制部分420从而完成操作(步骤S14)。
在上面的操作中，在检测ECA 12之后，控制部分420立即确定光盘11是L-H介质还是H-L介质。因此，本发明具有减少激活对导入区执行再现的电路部分所需的时间的优点。
根据来自BCA 12的再现信号的电平，确定光盘11是L-H介质还是H-L介质的技术有两种。这是因为所述确定取决于条形码信息写入BCA12的形式。
图7A表示了其中在光盘基体的整个表面上执行了记录膜40的形成和初始化过程之后，通过部分除去记录膜40，写入条形码信息的光盘。
这种情况下，H-L介质中的记录膜40的光反射率高于L-H介质中的记录膜40的光反射介质。换句话说，H-L介质中的记录膜40的再现信号电平高于L-H介质中的记录膜40的再现信号电平。图7B表示了写入L-H介质和H-L介质的光盘的BCA 12中的条形码信息的再现信号电平。
无记录膜的光盘部分的光反射率几乎为0％。因此，来自这些部分的反射光的强度，即，再现信号的最小电平几乎为0。来自记录膜40的某一部分的再现信号的最大电平Smax对应于记录膜40的光反射率特性。从而，能够准确地评估L-H介质和H-L介质之间光反射率的差异。
具体地说，确定基准电平被设置在来自H-L介质的再现信号的最大电平Smax(H-L)的下限(最低峰值的电平)，和来自L-H介质的再现信号的最大电平Smax(L-H)的上限(最高峰值的电平)之间。比较再现信号的最大电平Smax和确定基准电平，从而确定光盘是L-H介质还是H-L介质。
随后，在根据再现信号电平进行确定之后，对照从BCA 12读取的标准的版本信息，检查确定结果。这进一步提高了确定结果的可靠性。
现在，将说明其中根据记录膜是否已被初始化，写入条形码信息的光盘。在这种光盘中，如图8A中所示，在光盘基体41的整个表面上形成未初始化的记录膜42。通过部分初始化记录膜42，条形码信息被写入记录膜42中。在图8A中，阴影部分表示初始化部分。这种情况下，BCA中的几乎整个记录膜42都未被初始化。从而，处于在未初始化状态下获得的电平的来自BCA的再现信号的概率远远大于处于在初始化状态下获得的电平的来自BCA的再现信号的概率。
具体地说，如图8B中所示，在L-H介质中，未初始化部分具有较高的反射率，来自未初始化部分的再现信号处于H电平。初始化部分具有较低的反射率，来自初始化部分的再现信号处于L电平。从而，获得H电平的再现信号的比例(rate)远远大于获得L电平的再现信号的比例。这使得能够确定该光盘是L-H介质。
相反，如图8C中所示，在H-L介质中，未初始化部分具有较低的反射率，来自未初始化部分的再现信号处于L电平。初始化部分具有较高的反射率，来自初始化部分的再现信号处于H电平。从而，获得L电平的再现信号的比例远远大于获得H电平的再现信号的比例。这使得能够确定该光盘是H-L介质。
即使对于通过当整个记录膜42被初始化，保留部分记录膜42不被初始化，写入条形码信息的光盘，如上所述，根据再现信号电平，也能够确定该光盘是L-H介质还是H-L介质。
但是，这种情况下，当获得H电平的再现信号的比例高于获得L电平的再现信号的比例时，光盘被确定为H-L光盘。另一方面，当获得L电平的再现信号的比例高于获得H电平的再现信号的比例时，光盘被确定为L-H光盘。这样，确定结果与上面所述的确定结果相反。
如果如上所述，根据再现信号电平进行确定，通过对照从BCA 12读取的标准的版本(book version)信息，检查确定结果，还能够进一步提高确定结果的可靠性。
图9是详细说明如上所述，对光盘11进行确定的操作，尤其是在图6中所示的步骤S7-S9中执行的操作的流程图。
首先，开始操作(步骤S15)。在步骤S16，检测BCA 12。随后，在步骤S17，控制部分420评估再现信号电平。在步骤S18，控制部分420确定光盘是L-H介质还是H-L介质。
如果光盘被确定为L-H介质，那么在步骤S19中，控制部分420把处理来自BCA 12的再现信号的再现电路430中的放大器413的增益转变成与L-H介质适应的值。
随后，在步骤S20，控制部分420从BCA 12读取并再现版本信息，即条形码信息。在步骤S21，控制部分420对照步骤S18中的确定结果，检查版本信息。在步骤S22，控制部分420确定它们是否匹配。
这里，如果确定版本信息和确定结果不匹配(否)，那么流程返回到步骤S17中的处理。如果确定它们匹配(是)，那么在步骤S23，控制部分420设置用于记录和再现的信号处理部分，使之与L-H介质相适应。控制部分420随后结束操作(步骤S24)。
另一方面，如果在步骤S18中，光盘被确定为H-L介质，那么控制部分420把放大来自BCA 12的再现信号的放大器413的增益转变成与H-L介质相适应的值。
随后，在步骤S26，控制部分420从BCA 12读取并再现版本信息，即条形码信息。在步骤S27，控制部分420对照步骤S18中的确定结果，检查版本信息。在步骤S28，控制部分420确定它们是否匹配。
这里，如果确定版本信息和确定结果不匹配(否)，那么流程返回到步骤S17中的处理。如果确定它们匹配(是)，那么在步骤S29，控制部分420设置用于记录和再现的信号处理部分，使之与L-H介质相适应。控制部分420随后结束操作(步骤S24)。
如上所述，为了把来自BCA 12的再现信号的电平用于确定光盘是L-H介质还是H-L介质，处于其初始化状态的L-H介质的光反射率被设置成4～10％。另一方面，处于其初始化状态的H-L介质的光反射率被设置成12～40％。
这是因为在它们的初始化状态下(L-H介质的L电平和H-L介质的H电平下)，这两种介质的光反射率必须不会相互重叠，即，H电平(H-L介质的初始化状态)下的光反射率高于L电平(L-H介质的初始化状态)下的光反射率的上限。
可重写光盘11中使用的，类似于基于光反射率的测量的常规确定装置的相变膜一般具有小于40％的反射率。因此，L电平下的光反射率最好尽可能地低(尽可能地接近于0)，以致再现信号具有良好的对比度。
对于L-H介质，在初始化状态下，从所有区获得的再现信号都处于L电平。因此，由于地址信息被再现，因此必须把L电平下的光反射率设置至少成可再现的水平。
从而，鉴于再现电路中的电噪声，通常光反射率最好至少为5％。为了检测低于5％的光反射率的再现信号，必须改进电路部分。从而，目前难以实现能够检测低光反射率的设备。
但是，随着L电平下的光反射率被增大，以便容易地检测信号，再现信号电平也增大，但是噪声量也增大。从而，总的SN比降低。于是，初始化状态下的L-H介质的光反射率最好被设置成最多8％。根据上面的说明，处于初始化状态的L-H介质的光反射率显然必须被设置成4～10％，如图10中所示，以便制造提供良好信号特性的介质。
对于H-L介质，已发现初始化状态(H电平)下的光反射率必须被设置成约为15％，以便获得良好的信号特性。但是，可制造具有低光反射率的该介质。
但是，H电平下，H-L介质的光反射率必须高于10％，所述10％对应于L电平下，L-H介质的光反射率的上限。因此，光反射率被确定为至少12％，如图10中所示。
此外，H电平下，H-L介质的上限光反射率约为普通相变材料的光反射率的上限的40％。因此，上限光反射率被定义为40％，如图10中所示。如上所述，通过规定初始化状态下，单层可重写光盘11的光反射率，能够在保持良好的再现信号质量的同时，准确地确定光盘是H-L介质还是L-H介质。
上面给出了只使用单层可重写光盘时，执行的光盘确定方法的说明。现在，将说明如果还使用双层可重写光盘时，执行的光盘确定方法。
在双层可重写光盘中，存在更接近读取侧表面的一层(L0层)和远离读取侧表面的一层(L1层)，作为记录表面。通过把激光聚焦到记录表面之一上，再现和记录信息。如同单层介质的情况一样，记录膜特性是H-L和L-H。考虑到L0层的反射和吸收，L1层的表观反射率(apparentreflectance)(反射光的强度与在光头观测到的入射光的强度的比值)约为实际反射率(直接从记录膜反射的光线的强度与直接入射在记录膜上的光线的强度的比值)的四分之一。相变膜一般具有最多约40％的反射率。因此，L1层具有最多约10％的表观反射率。另外，在关于检测电路的问题方面，已知记录膜的反射率必须至少约为5％，以便对记录膜执行地址信息的检测，寻轨和聚焦。因此，初始化状态下的L1层的表观反射率必须至少约为5％。
对于L-H介质，在初始化状态(L电平)下，L1层的表观反射率至少约为5％，在记录状态(H电平)下，L1层的表观反射率最多约为10％。对于H-L介质，初始化状态(H电平)下的表观反射率最多约为10％。但是，记录状态(L电平)下的反射率可被设置成尽可能接近于0％，以便提高SN比。对于这两种记录膜特性，L0层都必须具有足够的透射率，以便从L1层读取信息。因此，初始化状态下的L0层的反射率最好尽可能地低。但是，和L1层的情况一样，初始化状态下，L0层的反射率必须至少约为5％，以便执行例如地址段的检测。从而，对于L-H介质，记录状态(H电平)下过高的反射率增大层间串扰。这影响从L1层的读取。另一方面，对于H-L介质，记录状态(L电平)下的反射率可被设置成接近于0％，以便增大SN比。
另一方面，通过利用不同的记录膜，例如第一层中的L-H特性和第二层中的H-L特性，能够生产双层介质。但是，在访问记录在另一层中的信息之前，再现电路必须被转换，从而从L0层到L1层的高速访问是不可能的。从而，这种结构并不实际。因此，本发明的实施例涉及一种两层的介质，所述两层具有相同的记录膜特性。
如同只有单层介质的情况一样，通过利用以来自BCA区的再现信号的强度的评估为基础的确定方法，四种介质，即双层L-H和H-L介质，和单层L-H和H-L介质被混合在一起。就把条形码信息写入BCA区中的技术来说，这种确定方法可被粗略分成两种。这些方法之一通过借助激光修整等，除去BCA区中的记录膜，把条形码写入BCA区中。另一种方法利用初始化状态和未初始化状态之间，记录膜的反射率的差异，记录条形码。下面将详细说明每种情况下，来自BCA区的再现信号的特性，以及利用这些特性的介质确定方法。这种情况下，如同专用再现介质，例如DVD-ROM的情况一样，通过评估来自L0层的信号的强度，估计双层介质的BCA区中的反射率。这是因为来自L1层的信号已通过L0层，中间层等，从而可能受到环境的影响，以致来自L0层的信号更可靠。
如果在整个介质中的记录膜已被初始化之后，通过除去BCA区中的记录膜，写入条形码，那么首先确定与初始化状态下的记录膜的反射率对应的再现信号的强度。如图11中所示，根据初始化状态(H电平)下，单层H-L介质的下限反射率和初始化状态(L电平)下，单层L-H介质的上限反射率之间的差异，预定设置再现信号强度的基准值。对于单层H-L介质来说，反射信号强度的最大值大于基准值。对于单层L-H介质来说，反射信号强度的最大值小于基准值。从而，介质确定是可能的。
如前所述，对于双层L-H和双层H-L介质，如同单层L-H介质的情况一样，初始化状态下的L0层的反射率约为5～7％。因此，对于这两种介质，反射信号强度的最大值小于基准值。这使得能够将这些介质与单层H-L介质区分开。图12是利用由记录膜的反射率的差异引起的再现信号强度的差异，确定介质的流程图。开始确定操作(步骤S30)。控制部分420首先检测BCA区(步骤S31)。控制部分420从而检测再现信号强度的最大值(步骤S32)。如果最大值小于基准值(步骤S33中为否)，那么控制部分420确定光盘是单层L-H介质或者双层L-H或H-L介质(步骤S34)。根据该确定结果，控制部分420调节例如BCA再现电路430的放大器的增益(步骤S35)。控制部分420随后准确地再现记录在BCA区中的条形码信息的版本信息(步骤S36)。控制部分420检查读取的版本信息是否对应于单层L-H介质(步骤S37)。如果读取的版本信息对应于单层L-H介质，那么控制部分420确定光盘是单层L-H介质(步骤S38)。控制部分420随后激活用于单层L-H介质的再现电路，即，设置用于单层L-H介质的再现电路430的处理参数(步骤S39)。
如果版本信息不对应于单层L-H介质(步骤S37中为否)，那么控制部分420检查版本信息是否对应于双层H-L介质(步骤S40)。如果版本信息对应于双层H-L介质(步骤S40中为是)，那么控制部分420确定光盘是双层H-L介质(步骤S41)。控制部分420随后激活用于双层H-L介质的再现电路，即，设置用于双层H-L介质的再现电路430的处理参数(步骤S42)。如果确定光盘不是双层H-L介质(步骤S40中为否)，那么控制部分420检查版本信息是否对应于双层L-H介质(步骤S43)。如果版本信息对应于双层L-H介质(步骤S43中为是)，那么控制部分420确定光盘是双层L-H介质(步骤S44)。控制部分420随后激活用于双层L-H介质的再现电路，即，设置用于双层L-H介质的再现电路430的处理参数(步骤S45)。如果版本信息不对应于双层L-H介质(步骤S43中为否)，那么流程返回再现信号强度的评估(步骤S32)。
另一方面，在信号强度的第一次评估中(步骤S32)，如果再现信号强度的最大值大于基准值(步骤S33中为是)，那么控制部分420确定光盘是单层H-L介质(步骤S46)。随后，控制部分420调节BCA再现电路430的放大器的增益(步骤S47)。控制部分420随后读取并再现记录在BCA区中的条形码信息中的版本信息(步骤S48)。随后，控制部分420检查读取的版本信息是否对应于单层H-L介质(步骤S49)。如果版本信息与再现信号强度的评估结果相符，那么控制部分420确定光盘是单层H-L介质(步骤S50)。控制部分420随后激活用于单层H-L介质的处理电路，即，设置用于单层H-L介质的再现电路430的处理参数(步骤S50)。如果版本信息与再现信号强度的评估结果不相符(步骤S49中为否)，那么流程返回再现信号强度的评估(步骤S32)。在上面的确定过程中，如果多次进入返回再现信号强度的评估的循环，那么控制部分420可输出介质确定错误，以便允许取出光盘。此外，实际上，不是所有这些记录膜都需要被使用，从而，该确定方法的任意步骤可被省略。
现在，说明以初始化状态和未初始化状态之间，记录膜的反射率的差异为基础的条形码的记录。如同关于只用于单层介质的确定方法所述那样，通过提供与未包括在单层H-L和L-H介质的反射率范围中的反射率对应的信号强度电平的基准值(基准值1)，能够进行介质确定。此外，通过提供基准值(基准2)，比较来自初始化状态(L电平)下的双层L-H介质的信号的强度和来自未初始化状态(L电平)下的双层H-L介质的信号的强度，能够确定光盘是双层L-H介质还是双层H-L介质。
这里，再现信号特性取决于在BCA区中产生条形码的方法，即，条形码的条是被初始化还是未被初始化。通过预先确定条形码的条是被初始化还是未被初始化，能够防止可能的问题。但是，在未初始化状态下，双层H-L介质具有低于检测灵敏度的反射率。因此，当条形码部分被初始化，而其它部分未被初始化时，几乎整个BCA都具有这样的低反射率，以致检测是不可能的。从而，对于双层H-L介质，必须产生除处于初始化状态的、提供高反射率的条，和处于未初始化状态的、提供低反射率的条部分之外的条形码。从而，对于双层H-L介质，记录在BCA区中的条形码信息中的条必须在未初始化状态下写入。于是，再现信号特性被唯一确定。另一方面，对于双层L-H介质，在初始化状态下，L0层的反射率约为5％，在未初始化状态下，L0层的反射率约为7％。因此，对于双层L-H介质，可在初始化状态或未初始化状态下，写入条形码信息中的条。
图13表示了当在单层和双层可重写介质的BCA区中，在未初始化状态下产生条形码时，观察到的信号特性。图13A是这种情况下，记录膜的情形的示意图。这里，记录膜中的阴影部分表示条部分。图13B和13C表示反射信号强度与基准值1和2的比较。基准值1和前面描述的实施例中的基准值相同。图13B表示了单层L-H介质的情况。条形码信息中的条(bar)提供L信号。再现信号强度与基准值1的比较指示来自条的信号的强度小于该基准值，来自除条之外的条形码的信号的强度大于基准值1。图13C表示了单层H-L介质的情况。条形码信息中的条提供H信号。这种情况下，来自条的信号的强度大于该基准值。来自除条形之外的条形码的信号的强度小于基准值1。
图13D表示了双层L-H介质的L0层的情况。条形码信号中的条形部分提供L信号。与单层相反，来自条形的信号和来自除条形之外的条形码的信号的强度都小于基准值1。图13E表示了双层H-L介质的L0层的情况。条形码信号中的条形部分提供L信号。和双层L-H介质的情况一样，来自条形的信号和来自除条形之外的条形码的信号的强度都小于基准值1。双层L-H介质和双层H-L介质之间的信号特性的差异是L信号的强度的差异。利用关于检测极限值的基准值2的比较指示来自双层L-H介质的L信号(处于初始化状态下的信号)需要至少约5％的反射率，以便如前所述执行地址段(section)的读取，聚焦和寻轨。于是，来自双层L-H介质的L信号具有大于基准值2的强度。另一方面，为使SN比最大，在未初始化状态下，双层H-L介质具有约0～2％的反射率，从而具有小于基准值2的强度。于是，与基准值2的比较使得能够确定光盘是双层L-H介质还是双层H-L介质。
图14表示如果在单层和双层可重写介质的BCA区中，在未初始化状态下产生条形码的条形时，观察到的信号特性。图14A是这种情况下，记录膜的情形的示意图。这里，记录膜中的阴影部分表示条形部分。图14B-14E表示反射信号强度与基准值1和2的比较。图14B表示单层L-H介质的情况。条形码信息中的条形部分提供H信号。再现信号强度与基准值1的比较指示来自条形部分的信号的强度大于该基准值，来自除条形之外的条形码的信号的强度小于基准值1。图14C表示单层H-L介质的情况。条形码信息中的条形部分提供L信号。这种情况下，来自条形的信号的强度小于该基准值。来自除条形之外的条形码的信号的强度大于基准值1。
图14D表示了双层L-H介质的L0层的情况。条形码信号中的条形部分提供H信号。与单层相反，来自条形的信号和来自除条形之外的条形码的信号的强度都小于基准值1。此外，来自除条形之外的条形码的信号的强度大于基于前述信号检测条件的基准值2。图13E表示了双层H-L介质的L0层的情况。利用L信号再现条形部分。来自条形的信号和来自除条形之外的条形码的信号的强度都小于基准值1。此外，来自条形部分的信号的强度小于基准值2。
下面详细说明根据在单层介质的BCA区中产生条形码的方法执行的确定方法。该方法适用于如图5中所示的光盘设备。该方法由例如控制部分220执行。图15是如果在单层和双层可重写介质的BCA区中，在初始化状态下写入条形码的条形，进行的确定的流程图。开始确定操作(步骤S50)。如同只有单层介质的情况一样，控制部分420首先检测BCA区(步骤S51)。控制部分420随后利用前面说明的图7或8中所示的方法，估计再现信号强度(步骤S52)。如果来自BCA区中，除条形之外的条形码的信号的强度小于基准值(步骤S53中为否)，那么控制部分420把光盘识别成单层H-L介质或者双层介质(步骤S54)。随后，控制部分420评估条形码的条形部分的再现强度(步骤S55)。如果条形部分的再现强度大于基准值1，那么控制部分420确定光盘是单层H-L介质(步骤S57)。根据确定结果，控制部分420调节BCA再现电路430的放大器的增益(步骤S58)。控制部分420随后再现包含在条形码信息中的版本(步骤S59)。随后，控制部分420检查版本是否和根据信号强度的评估确定的单层H-L介质相符(步骤S60)。如果版本和单层H-L介质相符，那么如前所述，控制部分420激活用于单层H-L介质的再现电路(步骤S61)。如果版本和单层H-L介质不符，那么流程返回再现信号强度的评估。此外，当评估条形码的条形部分的再现强度时(步骤D56)，如果再现强度小于基准值1，那么控制部分420认识到光盘是双层介质(步骤S62)。随后，控制部分420类似地调节BCA再现电路430的放大器的增益(步骤S63)。控制部分420随后比较L信号强度与基准值2(步骤S64)。如果L信号具有大于基准值2的强度(或者L信号可被检测)，那么控制部分420认识到光盘是双层L-H介质(步骤S66)。控制部分420随后再现包含在条形码信息中的版本信息(步骤S67)。控制部分420检查读取的版本是否对应于双层L-H介质(步骤S68)。如果读取的版本对应于双层L-H介质，那么控制部分420激活用于双层L-H介质的再现电路(步骤S69)。此外，如果L信号的强度小于基准值2(或者L信号不能被检测)，那么控制部分420认识到光盘是双层H-L介质(步骤S70)。控制部分420随后再现包含在条形码信息中的版本信息(步骤S71)。控制部分420检查读取的版本是否对应于双层H-L介质(步骤S72)。如果读取的版本对应于双层H-L介质，那么控制部分420激活用于双层H-L介质的再现电路(步骤S73)。另一方面，当最初评估再现信号强度时(步骤D53)，如果来自BCA区中，除条形之外的条形码的信号的强度大于基准值，那么控制部分420确定光盘是单层L-H介质(步骤S74)。如上所述，对于来自位于最内侧的圆周部分的BCA的再现信号，如果位于高于基准值1的电平的再现信号的比例大于位于低于基准值1的电平的再现信号的比例，那么控制部分420确定装入的光盘是单层L-H。根据该确定结果，控制部分420调节BCA再现电路430的放大器的增益(步骤S75)。控制部分420随后可再现地读取包含在条形码信息中的版本(步骤S76)。随后，控制部分420检查版本是否与单层L-H介质相符(步骤S77)。如果版本与单层L-H介质相符，那么如前所述，控制部分420激活用于单层L-H介质的再现电路(步骤S78)。在上述确定过程中，如果版本与基于信号强度的确定结果不符，那么流程返回基于再现信号强度的反射评估。此外，如果在确定步骤中，该循环被多次重复，那么控制部分420可输出盘识别错误，以允许取出盘。
图16是如果在单层介质的BCA区中，在未初始化状态下写入条形码，进行的确定的流程图。该过程基本上与上面说明的确定步骤相同。但是，单层H-L和L-H介质的信号特性被反转，以致关于单层的确定结果与图15中所示的确定结果相反。因此，省略操作的详细说明。
根据预定实施例，可利用四种介质，单层L-H和H-L介质和双层H-L和L-H介质的混合物，能够记录信息。从而，能够从一组大量的介质中，选择具有适合于记录用途或应用的记录膜的介质。此外，BCA区中的介质确定使得能够在进入导入区之前，转换信息再现和记录电路。这允许较早地读取写入系统导入区中的记录速度信息。于是，在进入数据区之前，设置规定速度的信息记录。这允许快速激活信息记录电路(主轴电动机驱动电路415等)。
就上面的确定方法来说，首先，必须提供基准值1，以便确定来自单层H-L和L-H介质的再现信号的强度。图17表示了单层和双层可重写介质中，记录膜的反射率的范围。为了设置用于评估第一阶段中的信号强度的基准值1，必须使用其中单层H-L介质的初始化状态(H电平)不与单层L-H介质的初始化状态(L电平)重叠的介质。这种情况下，如前所述，初始化状态(H电平)下的单层H-L介质的反射率被定义成4-10％的范围。初始化状态(L电平)下的单层L-H介质的反射率被定义成4-10％的范围。类似地，只需双层H-L介质的L0层的初始化状态(H电平)，及双层L-H介质的L0层的未初始化状态(H电平)不与单层H-L介质的初始化状态(H电平)重叠。于是，如图17中所示，当类似于初始化状态(H电平)下的单层H-L介质的反射率，初始化状态(H电平)下的双层H-L介质的L0层的反射率，及未初始化状态(H电平)下的双层L-H介质的L0层的反射率被定义成4～10％的范围时，能够在BCA区中准确地执行上述介质确定方法。这种情况下，基准值1的范围等于与高于10％和低于12％的反射率对应的再现信号强度的范围。
具有高再现信号质量的双层介质的L0层的反射率约为5～7％，如上所述。反射率的这种定义确保再现信号质量。虽然可以只利用版本信息完成确定，不过使用具有确定的反射率的介质，能够根据与该反射率对应的再现信号强度，确定介质的类型。这使得能够预调节放大器的增益。从而，实际上不必考虑读取再现的版本信息时的错误。于是，能够实现准确读取。由于读取的版本信息可与信号强度评估的结果比较，因此最终能够完成非常准确的介质确定。此外，这种确定方法不包括如同聚焦搜索情况下，透镜的任何垂直操作；通过处理电信号，能够简单地完成这种确定方法。于是，能够实现很快的确定。
另一方面，基准值2被用于确定光盘是双层L-H介质还是双层H-L介质，即，用于比较来自这些介质的L信号。因此，为了提供该基准值，初始化状态(L电平)下的双层L-H介质的反射率必须不与未初始化状态(L电平)下的双层L-H介质的反射率重叠。重要的是能够检测来自初始化状态下的L-H介质的L信号，以便进行地址的检测，聚焦和寻轨。但是，这不适用于H-L介质。L电平下，H-L介质的反射率最好尽可能地接近于0％，以便提高SN比，为2％或者更小。因此，通过把初始化状态(L电平)下，双层L-H介质的反射率定义为4～10％的范围，并把未初始化状态(L电平)下，双层H-L介质的反射率定义为0～2％的范围，能够提供基准值1的范围，所述基准值1的范围等于与高于10％和低于12％的反射率对应的再现信号范围的范围。从而，能够提供确定设备，所述确定设备使用基准值2确定光盘是双层L-H介质还是双层H-L介质。实际上，对应于检测极限的信号强度电平与基准值2对应。出于下述原因，初始化状态下，双层L-H介质的反射率的上限被定义成10％：未初始化状态对应于H电平，并且未初始化状态下的反射率被定义成4～10％的范围，以便提供基准值1，从而L电平下的反射率始终低于H电平下的反射率。
在上面的说明中，利用产生BCA区的固定方法，进行介质比较。但是，也可利用信号特性，定义BCA区中的条形码的产生。从而，假定再现信号特性被固定，那么利用上述基准值和关于介质反射膜的反射率的定义，也能够完成介质确定。例如，现有的DVD通常被制造成条形码的条形部分提供L信号。因此，下面将说明设置再现信号特性，使得条形部分提供L信号，而除条形部分之外的条形码提供H信号的确定方案。
如果通过除去记录膜，写入条形码，那么条形部分提供L信号，而除条形部分之外的条形码提供H信号。因此，可利用图12中所示的方案完成确定。另一方面，如果在记录膜的初始化状态和未初始化状态的基础上，写入条形码，那么对于单层和双层介质来说，在未初始化状态下，条形码部分被写入H-L介质，在初始化状态下，条形码部分被写入LH介质，以便获得相同的再现信号特性。
图18表示为其定义条形码信息中的条形，以便提供L信号的介质的确定方案。另外，在这种情况下，使用基准值1和2。控制部分420开始确定操作(步骤S110)。控制部分420检测BCA(步骤S111)，随后评估再现信号强度(步骤S112)。控制部分420首先评估再现信号的H信号。如果H信号的强度小于基准值1(步骤S113中为否)，那么控制部分420确定光盘是双层介质(步骤S114)。控制部分420调节放大器的增益(步骤S115)，随后评估L信号的信号强度(步骤S116)。如果L信号的强度大于基准值2，那么控制部分420确定光盘是双层L-H介质(步骤S118)。随后，控制部分420进一步调节放大器增益电路(步骤S119)，之后再现包含在BCA区中的条形码信息中的版本(步骤S120)。控制部分420随后检查光盘是否是双层L-H介质(步骤S121)。如果信号强度评估结果与版本相符，那么如前所述，控制部分420激活用于双层L-H介质的再现和记录电路(步骤S122)。如果评估结果指示L信号的强度小于基准值2(或者L信号不能检测到)，那么控制信号420认识到光盘是双层H-L介质(步骤S123)。控制部分420类似地调节放大器增益电路(步骤S124)，随后再现包含在条形码信息中的版本(步骤S125)。控制部分420随后检查光盘是否是双层H-L介质(步骤S126)。如果信号强度评估结果与版本相符，那么如前所述，控制部分420激活用于双层H-L介质的再现和记录电路(步骤S127)。如果两种情况下，评估结果都不相符，那么流程返回到初始信号强度评估。另一方面，如果评估结果指示H信号的强度大于基准值1，那么控制信号420认识到光盘是单层介质(步骤S128)。控制部分420调节放大器增益电路(步骤S129)，随后再现包含在条形码信息中的版本(步骤S130)。控制部分420首先检查光盘是否是单层L-H介质(步骤S131)。如果光盘是单层L-H介质，那么控制部分420激活用于单层L-H介质的再现和记录电路(步骤S132)。如果光盘不是单层L-H介质，那么控制部分420检查光盘是否是单层H-L介质(步骤S133)。如果评估结果和版本相符，那么控制部分420激活用于单层H-L介质的再现和记录电路(步骤S134)。另外这种情况下，如果评估结果和版本不相符，那么流程返回初始的信号强度评估。
如上所述，(1)进行设置，以致初始化状态(H电平)下，单层H-L介质的反射率不重叠初始化状态(L电平)下的单层L-H介质，未初始化状态(H电平)下的双层H-L介质的L0层，或者初始化状态(H电平)下的双层H-L介质的L0层的反射率。此外，(2)未初始化状态(L电平)下的双层H-L介质的L0层的反射率被设置成最多为检测极限值。这使得能够使用遵守可重写光盘的相同标准的四种介质的混合物。此外，如图17中所示，初始化状态(H电平)下，单层H-L介质的反射率被定义为12～40％。初始化状态(L电平)下的单层L-H介质，未初始化状态(H电平)下双层L-H介质的L0层，和初始化状态(H电平)下双层H-L介质的L0层的反射率均被定义为4～10％。这使得能够产生满足避免反射率的重叠，同时保持高信号质量的条件的确定设备。关于实现介质确定的方法和设备，上面说明了实现关于具有不同记录膜特性和层数的所有四种可重写光盘的确定的方案。但是，设备不必进行关于所有这四种可重写光盘的确定。如果可从一组数目较少的介质类型中进行选择，那么不必关于不必要的介质类型执行确定步骤。
本领域的技术人员易于想到其它优点和修改。于是，本发明并不局限于这里表示和说明的具体细节和典型实施例。因此，在不脱离由附加权利要求及其等同物限定的总的发明构思的精神或范围的情况下，能够做出各种修改。