一种低介电常数碳膜电阻.pdf

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摘要
申请专利号:

CN201710024037.1

申请日:

2017.01.13

公开号:

CN106653256A

公开日:

2017.05.10

当前法律状态:

实审

有效性:

审中

法律详情:

实质审查的生效IPC(主分类):H01C 7/00申请日:20170113|||公开

IPC分类号:

H01C7/00

主分类号:

H01C7/00

申请人:

昆山福烨电子有限公司

发明人:

李文武

地址:

215325 江苏省苏州市昆山市周庄镇明通路99号

优先权:

专利代理机构:

南京纵横知识产权代理有限公司 32224

代理人:

董建林

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内容摘要

本发明公开了一种低介电常数碳膜电阻,包括如下组分及重量份数:40~50石墨;18~30PA6;20~25滑石粉;8~20增韧剂;12~18阻燃剂;30~40Mn2O3;3~11Al2O3;3~8??AgNO3;2~4B2O3;1~3Bi2O3;1~2SiO2。本发明低介电常数碳膜电阻,采用此配方能做到高阻值、低B值之配方组合:可在较宽温度范围内使用,即可在高、低温时同时使用;电性能、机械性能及可靠性方面的性能均有明显的提升,并可以将电阻瓷体的相对介电常数控制在50??100以内,电位梯度也保持在正常500??900v/mm之间,具有优良的综合性能。

权利要求书

1.一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:包括如下组分及重量份数:40~50石墨;18~30PA6;20~25滑石粉;8~20增韧剂;12~18阻燃剂;30~40Mn2O3;3~11Al2O3 ;3~8 AgNO3 ;2~4B2O3;1~3Bi2O3 ;1~2SiO2。2. 根据权利要求1 所述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述AgNO3为6份。3.根据权利要求2所述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述石墨为45份。4.根据权利要求3所述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述增韧剂为15份。5.根据权利要求4所述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述滑石粉为23份。6.根据权利要求5所述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述PA6为28份。7.根据权利要求6所述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述Mn2O3为35份。8.根据权利要求7所述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述Al2O3为7份。9.根据权利要求8所述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述Bi2O3为2份。10.根据权利要求9所述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述SiO2为1.5份。 -->

说明书

一种低介电常数碳膜电阻

技术领域

本发明涉及一种电阻材料,特别是涉及一种低介电常数碳膜电阻。

背景技术

碳膜电阻器是膜式电阻中的一种。它是采用高温真空镀膜技术将碳紧密附在瓷棒
表面形成碳膜,然后加适当接头切割,并在其表面涂上环氧树脂密封保护而成的。其表面常
涂以绿色保护漆。碳膜的厚度决定阻值的大小,通常用控制膜的厚度和刻槽来控制电阻器。

当前,随着电子线路高频化的发展,各种高速数据传输线路及接口如:HDMI、
USB3.0等得到了越来越广泛的使用。为了减少此类线路中传输信号的损耗,需要尽可能减
小其中所使用电阻的电容量,但是电阻的介电常数与电压梯度呈反增长关系,降低介电常
数的同时会使得电压梯度超出正常范围,因此,现有电阻的介电常数一般都高于300。

发明内容

为了解决现有技术中的问题,本发明提供了一种具有良好性能的低介电常数碳膜
电阻。

为了解决上述问题,本发明所采取的技术方案是:

一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:包括如下组分及重量份数:

40~50石墨;

18~30PA6;

20~25滑石粉;

8~20增韧剂;

12~18阻燃剂;

30~40Mn2O3;

3~11Al2O3 ;

3~8 AgNO3 ;

2~4B2O3;

1~3Bi2O3 ;

1~2SiO2。

前述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述AgNO3为6份。

前述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述石墨为45份。

前述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述增韧剂为15份。

前述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述滑石粉为23份。

前述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述PA6为26份。

前述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述Mn2O3为35份。

前述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述Al2O3为7份。

前述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述Bi2O3为2份。

前述的一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:所述SiO2为1.5份。

本发明所达到的有益效果:本发明低介电常数碳膜电阻,采用此配方能做到高阻
值、低B值之配方组合:可在较宽温度范围内使用,即可在高、低温时同时使用;电性能、机械
性能及可靠性方面的性能均有明显的提升,并可以将电阻瓷体的相对介电常数控制在50-
100以内,电位梯度也保持在正常500-900v/mm 之间,具有优良的综合性能。

具体实施方式

以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案,而不能以此来限制本发明
的保护范围。

一种低介电常数碳膜电阻,其特征在于:包括如下组分及重量份数:

45份石墨;

26份PA6;

23份滑石粉;

15份增韧剂;

15份阻燃剂;

35份Mn2O3;

7份Al2O3 ;

6份AgNO3 ;

3份B2O3;

2份Bi2O3 ;

1.5份SiO2。

综上所述:本发明低介电常数碳膜电阻,采用此配方能做到高阻值、低B值之配方
组合:可在较宽温度范围内使用,即可在高、低温时同时使用;电性能、机械性能及可靠性方
面的性能均有明显的提升,并可以将电阻瓷体的相对介电常数控制在50-100以内,电位梯
度也保持在正常500-900v/mm 之间,具有优良的综合性能。

以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征及优点。本行业的技术人员应该
了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原
理,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进
都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界
定。

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本发明公开了一种低介电常数碳膜电阻,包括如下组分及重量份数:4050石墨;1830PA6;2025滑石粉;820增韧剂;1218阻燃剂;3040Mn2O3;311Al2O3;38?AgNO3;24B2O3;13Bi2O3;12SiO2。本发明低介电常数碳膜电阻,采用此配方能做到高阻值、低B值之配方组合:可在较宽温度范围内使用,即可在高、低温时同时使用;电性能、机械性能及可靠性方面的性能均有明显的提。

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