地址生成和检测方法、再现和记录装置 【技术领域】
本发明涉及一种记录有地址的记录介质、例如进行光盘的地址生成和检测的方法、从记录介质进行数据的记录再现的再现装置、记录装置。
背景技术
在专利文献1的图6中，示出Blu‑ray Disc的地址信息的相关性，公开有段落
的记载“地址单元编号(AUN)如图6所示，与物理扇区编号相关联，并且与物理ADIP(Address In Pre‑groove：地址预刻)地址相关联，所以用作搜索记录位置用的参照信息。”。根据图，就分配1个地址给扇区单位的数据的物理扇区编号(Physical SectorNumber、PSN)与埋入抖动(wobble)的物理ADIP地址(Physical ADIPAddress、PAA)的关系而言，为32*PSN＝3*PAA的关系，但PSN的位31至位27的5个位未分配对应于PAA的位。
专利文献1：日本特开2008‑41243号公报
在专利文献1的位分配中，当PSN比以前用27位表现的数据量多的情况下，应埋入抖动的PAA的位数会不足。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种变更了抖动地址(wobble address)的位扩展或位分配的记录介质的地址生成和检测方法、再现和记录装置。
为了解决上述问题，从光盘中检测地址的位分配识别信息，选择现有的抖动地址的位分配与变更后的位分配并进行控制，检测光盘上的物理位置地址。
本发明提供一种记录介质的地址生成方法，该记录介质具有：记录具有多个记录层和多个簇结构的数据的区域和表示记录介质中的物理记录位置的地址，该地址生成方法中，上述地址是由表示上述多个记录层的编号的层编号地址、表示上述多个簇的数据位置的簇编号地址和对上述簇的簇内进行计数的计数值构成的地址，具有由h位的层编号地址、i位的簇编号地址、j位的计数值构成的第1位分配；和由(h‑k)位的层编号地址、(i+k)位的簇编号地址和j位的计数值构成的第2位分配的任意一个，其中，h、i、j、k为自然数，根据上述记录介质中存储的位分配识别信息，选择上述第1位分配与第2位分配，生成地址。
本发明还提供一种记录介质的地址检测方法，该记录介质具有：记录具有多个记录层和多个簇结构的数据的区域和表示记录介质中的物理记录位置的地址，该地址检测方法中，上述地址是由表示上述多个记录层的编号的层编号地址、表示上述多个簇的数据位置的簇编号地址和对上述簇的簇内进行计数的计数值构成的地址，具有由h位的层编号地址、i位的簇编号地址、j位的计数值构成的第1位分配；和由(h‑k)位的层编号地址、(i+k)位的簇编号地址和j位的计数值构成的第2位分配的任意一个，其中，h、i、j、k为自然数，根据上述记录介质中存储的位分配识别信息，选择上述第1位分配与第2位分配，检测地址。
本发明还提供一种从记录介质再现数据的再现装置，该记录介质具有：记录具有多个记录层和多个簇结构的数据的区域和表示记录介质中的物理记录位置的地址，该再现装置中，上述地址是由表示上述多个记录层的编号的层编号地址、表示上述多个簇的数据位置的簇编号地址和对上述簇的簇内进行计数的计数值构成的地址，具有由h位的层编号地址、i位的簇编号地址、j位的计数值构成的第1位分配；和由(h‑k)位的层编号地址、(i+k)位的簇编号地址和j位的计数值构成的第2位分配的任意一个，其中，h、i、j、k为自然数，具有对应于上述第1位分配来检测地址的第1地址再现单元；和对应于上述第2位分配来检测地址的第2地址再现单元，根据上述记录介质中存储的位分配识别信息，选择上述第1再现单元和第2再现单元的检测结果，检测出地址，再现数据。
本发明还提供一种在记录介质中记录数据的记录装置，该记录介质具有：记录具有多个记录层和多个簇结构的数据的区域和表示记录介质中的物理记录位置的地址，该记录装置中，上述地址是由表示上述多个记录层的编号的层编号地址、表示上述多个簇的数据位置的簇编号地址和对上述簇的簇内进行计数的计数值构成的地址，具有由h位的层编号地址、i位的簇编号地址、j位的计数值构成的第1位分配；和由(h‑k)位的层编号地址、(i+k)位的簇编号地址和j位的计数值构成的第2位分配的任意一个，其中，h、i、j、k为自然数，具有对应于上述第1位分配来检测地址的第1地址再现单元；和对应于上述第2位分配来检测地址的第2地址再现单元，根据上述记录介质中存储的位分配识别信息，选择上述第1再现单元和第2再现单元的检测结果，检测出地址，记录数据。
通过本发明，除现有技术中的位分配的记录介质的地址检测外，还能够进行变更了位扩展或位分配后的记录介质的地址检测。
【附图说明】
图1是作为本发明第1实施例的光盘记录再现装置(之1)。
图2是现有的多层光盘的地址相关图。
图3是本发明第1实施例的多层光盘的地址相关图。
图4是本发明第2实施例的多层光盘的地址相关图(之1)。
图5是本发明第2实施例的多层光盘的地址相关图(之2)。
图6是本发明第3实施例的多层光盘的地址相关图(之1)。
图7是本发明第3实施例的多层光盘的地址相关图(之2)。
图8是本发明第4实施例的多层光盘的地址相关图。
图9是现有技术中、本发明第2实施例(之1)的多层光盘的ADIP地址构造图。
图10是作为本发明第1实施例的光盘记录再现装置(之2)。
符号说明
101：光盘；102：拾取器；103：主轴电机；
104：第1地址再现电路；105：第2地址再现电路；106：选择电路；
107：位分配识别电路；108：数据记录再现电路；109：主机；
110：微机；201：物理扇区编号(Physical Sector Number：PSN)；
202：地址单元编号(Address Unit Number：AUN)；
203：物理ADIP地址(Physical ADIP Address：PAA)；
301：物理扇区编号(Physical Sector Number：PSN)；
302：地址单元编号(Address Unit Number：AUN)；
303：物理ADIP地址(Physical ADIP Address：PAA)；
401：物理扇区编号(Physical Sector Number：PSN)；
402：地址单元编号(Address Unit Number：AUN)；
403：物理ADIP地址(Physical ADIP Address：PAA)；
501：物理扇区编号(Physical Sector Number：PSN)；
502：地址单元编号(Address Unit Number：AUN)；
503：物理ADIP地址(Physical ADIP Address：PAA)；
504：物理ADIP地址(Physical ADIP Address：PAAW)；
505：加扰电路；506：“异”门；
601：物理扇区编号(Physical Sector Number：PSN)；
602：地址单元编号(Address Unit Number：AUN)；
603：物理ADIP地址(Physical ADIP Address：PAA)；
701：物理扇区编号(Physical Sector Number：PSN)；
702：地址单元编号(Address Unit Number：AUN)；
703：物理ADIP地址(Physical ADIP Address：PAA)；
704：物理ADIP地址(Physical ADIP Address：PAAW)；
801：物理扇区编号(Physical Sector Number：PSN)；
802：地址单元编号(Address Unit Number：AUN)；
803：物理ADIP地址(Physical ADIP Address：PAA)；
901：现有的ADIP数据结构；902：扩展ADIP数据结构；
1001：地址再现电路。
【具体实施方式】
下面，参照附图来说明本发明的实施例。
图1是作为本发明第1实施例的从光盘再现数据、记录数据的记录再现装置的一例。101表示光盘，102表示拾取器，103表示主轴电机，104表示第1地址再现电路，105表示第2地址再现电路，106表示选择电路，107表示位分配识别电路，108表示数据记录再现电路，109表示外部主机，110表示统一管理系统整体的微机。图1的光盘101作为具有图2或图3所示地址相关图的光盘进行说明。图2是现有的Blu‑ray每层25GB的光盘中的地址相关图，201是作为扇区的物理扇区编号的物理扇区编号(Physical Sector Number：下面称为PSN)，202是作为埋入簇单位的数据中的地址的地址单元编号(Address UnitNumber：下面称为AUN)，203是作为基于抖动的物理的ADIP地址的物理ADIP地址(Physical ADIP Address：下面称为PAA)。从图中可知，PAA分配为3位的层编号(layer number)、19位的簇编号(sequencenumber)、2位的簇内计数(intra‑RUB number)，向到8层为止的层编号与每层32G字节(64K字节×2
19)的数据容量的数据分配地址。但是，在每层超过32G字节的高密度光盘的情况下，簇编号地址则不能由19位表现。因此，图3中示出将簇编号地址扩展为20位，将层编号地址削减为2位的实例。此时，可向到4层为止的层编号与每层64G字节(64K字节×2
20)的数据容量的数据分配地址。这样，无论是否相同物理构造的光盘，在现有的光盘(图2)与高密度光盘(图3)双方存在的情况下，必需对应于双方进行地址检测。因此，在图1的记录再现装置中，构成第1地址再现电路104，作为基于现有光盘(图2)的位分配的地址检测，构成第2地址再现电路105，作为基于高密度光盘(图3)的位分配的地址检测，利用从光盘上的信息读取的每层的记录容量，选择各检测结果，进行控制。
说明图1的记录再现装置中的数据记录再现动作。从图2或图3所示的位分配构成的光盘101中，经拾取器102，读取伺服信号或光盘101上的媒体的识别信息，进行媒体判别。从光盘内周的BCA区域或盘信息区域，经数据记录再现电路108读取光盘的种类、标准的版本或层数、记录容量等信息，将信息存储在位分配识别电路107中。在本实施例的情况下，由于图2与图3的差异源于每层的记录容量不同，所以通过存储每层的记录容量来进行。因此，从光盘101经拾取器102读取的抖动信号输入第1地址再现电路104和第2地址再现电路105中。第1地址再现电路104执行图2所示现有光盘的位分配所对应的地址检测，第2地址再现电路105执行图3所示的高密度光盘的位分配所对应的地址检测。因此，通过对应于位分配识别电路107中存储的记录容量，由选择电路106选择检测地址后进行输出，能够检测对数据进行记录再现的位置。在本实施例中，使用两个地址再现电路104、105来说明，但也可如图10那样，仅由1个地址再现电路1001构成，在地址再现电路1001内，从PAA位23‑2的地址，对应于位分配识别电路107中存储的记录容量，也能够选择至层编号地址、簇编号地址的地址变换。另外，虽然对通过利用硬件处理来实现地址变换进行了说明，但从微机110等取得位分配识别电路107中存储的记录容量信息、从检测到PAA位23‑2的地址利用微机将地址变换为层编号地址、簇编号地址等软件处理同样也能够实现。
如上所述，在相同物理构造的光盘中，地址的位分配不同的2种光盘通过从盘中读取每层的记录容量后选择地址的检测方法，能够容易地特定物理位置。
图4是作为第2实施例的记录再现装置中使用的光盘101的地址相关图的实例。与第1实施例一样，举例说明现有的光盘(图2)与高密度光盘(图4)的切换。图4中，在现有PAA24位结构的地址扩展1位，为25位结构。在设PAA地址为25位的情况下，必需改变埋入抖动中的地址结构。图9示出包含ADIP地址的ADIP数据结构。图9(a)示出现有结构，由图2的PAA地址的位分配所对应的PAA23‑0的24位的ADIP address、和作为存储盘信息等的辅助区域的12位的AUX data构成。但是，在对应于图4的高密度光盘将PAA地址扩展为25位的情况下，必需确保1位的数据存储的区域。因此，作为一例，图9(b)示出扩展时的构造，不将辅助区域用作为AUX data的区域，而单纯作为地址的区域来分配。
在此，说明图1的记录再现装置中现有光盘(图2)与高密度光盘(图4)的数据记录再现动作。与第1实施例一样，将从盘101读取的每层的记录容量存储在位分配识别电路107中，从盘101经拾取器102读取的抖动信号输入到第1地址再现电路104和第2地址再现电路105。第1地址再现电路104中执行图9(a)的24位地址构造和图2的位分配所示的现有光盘所对应的地址检测，第2地址再现电路105中执行图9(b)的25位地址构造和图3所示的位分配所示的高密度光盘所对应的地址检测。因此，通过对应于位分配识别电路107中存储的记录容量，由选择电路106选择检测地址而进行输出，能够检测出对数据进行记录再现的位置。另外，在本实施例的图9(b)中，为了确保PAA位24的存储区域，使用现有技术中作为AUX data区域的部位来存储，由此进行说明，但位配置不限于本实施例，将追加位的信息不作为位本身存储，而是作为特殊的模式埋入AUX data区域中，或抖动地址构造自身也改变，增加ADIP address存储区域而重新构成，也同样能够实现。
另外，如图5所示，使用虚拟位扩展地址，埋入抖动中的地址位数不变化的情况下，也可同样应对。图5的情况下，作为虚拟位，作为信息埋入其它位中，生成地址，检测时使用复原的地址相关性。具体而言，将PAA位24作为确定加扰电路105的加扰处理ON/OFF的控制位而输入，将对低位(下游)2位的PAA位1‑0实施加扰处理后的ADIP地址(图9中PAAW 504)埋入抖动中。因此，由于埋入抖动中的地址只需24位即可，所以不必大幅度改变ADIP数据构造。因此，同样，第1地址再现电路104中执行图2的位分配所示的现有光盘所对应的地址检测，第2地址再现电路105中执行图5的位分配所示的高密度光盘所对应的地址检测。第2地址再现电路105中从由抖动检测到的ADIP地址504的低位(下游)2位(PAAW位1‑0)的连续性中检测出有无加扰，通过PAA位24的复原和PAAW位1‑0的解扰，可得到PAA位1‑0。因此，对应于位分配识别电路107中存储的记录容量，由选择电路106选择检测地址后输出，由此能够检测出对数据进行记录再现的位置。另外，虚拟位的位数、配置虚拟位的位的位置、埋入加扰信息等信息的位位置、地址的位构成、加扰等信息的埋入方法不限于本实施例，只要构成为基于该地址生成方法的地址再现电路105，就同样能够实现。
如上所述，相同物理构造的光盘中、地址的位分配不同的2种光盘中，通过从盘中读取每层的记录容量后选择地址的检测方法，可容易地特定物理位置。
图6是作为第3实施例的记录再现装置中使用的光盘101的地址相关图的实例。与第1实施例一样，举例说明现有的光盘(图2)与高密度光盘(图6)的切换。图6中，对现有(图2)的19位的簇编号、2位的簇内计数，作为20位的簇编号、1位的簇内计数，执行位分配。
在此，说明图1的记录再现装置中现有光盘(图2)与高密度光盘(图6)的数据记录再现动作。与第1实施例一样，将从盘101读取的每层的记录容量存储在位分配识别电路107中，从盘101经拾取器102读取的抖动信号输入到第1地址再现电路104和第2地址再现电路105中。第1地址再现电路104中执行图2的位分配所示的现有光盘所对应的地址检测，第2地址再现电路105中执行图6的位分配所示的高密度光盘所对应的地址检测。第2地址再现电路105中根据从抖动检测到的ADIP地址603的低位(下游)1位(PAA位0)的连续性来特定物理位置。例如，若仅由PAA位0看，则由于计数为0、1、0、0、1、0、...，所以利用前后的连续性，能够特定位置，或者由于低位(下游)2位的PAA位1‑0计数为0、1、0、2、3、2、0、1、0、...，所以同样能够进行地址检测、位置特定。因此，对应于位分配识别电路107中存储的记录容量，利用选择电路106选择检测地址而进行输出，由此能够检测对数据进行记录再现的位置。
另外，如图7所示，在与图5的实例一样将虚拟位分配给PAA位1的情况下，利用PAAW位1前后的连续性或PAAW位1‑0的值检测等，复原PAA位1，同样能够检测地址。
如上所述，在为相同物理构造的光盘而地址的位分配不同的2种光盘中，通过从盘中读取每层的记录容量后选择地址的检测方法，能够容易地特定物理位置。
图8是作为第4实施例的记录再现装置中使用的光盘101的地址相关图的实例。与第1实施例一样，举例说明现有的光盘(图2)与高密度光盘(图8)的切换。在图8中，对现有(图2)的3位层编号、19位的簇编号，将22位的簇编号作为对所有层的通用编号，进行位分配。
在此，说明图1的记录再现装置中现有光盘(图2)与高密度光盘(图8)的数据记录再现动作。与第1实施例一样，将从盘101读取的每层的记录容量存储在位分配识别电路107中，从盘101经拾取器102读取的抖动信号输入到第1地址再现电路104和第2地址再现电路105中。第1地址再现电路104执行图2的位分配所示的现有光盘所对应的地址检测，第2地址再现电路105执行图8的位分配所示的高密度光盘所对应的地址检测。第2地址再现电路105读取的地址如图8所示，为了作为通用的编号分配给所有层，将各层的开头地址信息计算为偏置信息，从而可容易检测层编号与每层的簇编号的地址。之后，通过对应于位分配识别电路107中存储的记录容量，由选择电路106选择检测地址后输出，能够检测对数据进行记录再现的位置。在本实施例中，使用两个地址再现电路104、105来说明，但也可与第1实施例一样，如图10那样仅由1个地址再现电路1001构成，在地址再现电路1001内，从PAA位23‑2的地址，对应于位分配识别电路107中存储的记录容量，选择向层编号地址、簇编号地址的地址变换，也同样能够实现。另外，虽然对通过利用硬件处理来实现地址变换进行了说明，但也可利用从微机110等取得位分配识别电路107中存储的记录容量的信息，从检测到PAA位23‑2的地址利用微机将地址变换为层编号地址、簇编号地址等的软件处理来得以实现。
如上所述，在为相同物理构造的光盘而地址的位分配不同的2种光盘中，通过从盘中读取每层的记录容量后选择地址的检测方法，能够容易地特定物理位置。
在此前的实施例中，举例说明高密度光盘作为地址分配与现有光盘不同的盘，但不限于该规格，对可改写的盘与追记型盘、不多于2层的盘与3层以上的多层盘等，物理构造或地址的存储构造大致相同、仅向地址的物理位置的位分配不同的两种或多种盘能够同样适用。作为此时的存储到位分配识别电路107的信息，只要存储能够识别地址的位分配不同的适当信息即可。
另外，作为本实施例中进行记录的介质，使用光盘进行了说明，作为地址，使用埋入抖动中的地址进行了说明，但不限于本实施例。另外，使用埋入抖动中的地址的检测过程进行了说明，但当然利用不同的位分配识别地址生成、其位分配的信息向盘中的记录等的地址的生成过程也是适用的。