半导体模式转换器的制作方法.pdf

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摘要
申请专利号:

CN00124757.3

申请日:

2000.09.13

公开号:

CN1343030A

公开日:

2002.04.03

当前法律状态:

终止

有效性:

无权

法律详情:

专利权的终止(未缴年费专利权终止)授权公告日:2003.5.14|||授权|||公开|||实质审查的生效申请日:2000.9.13

IPC分类号:

H01S5/00; H01L33/00

主分类号:

H01S5/00; H01L33/00

申请人:

中国科学院半导体研究所;

发明人:

刘国利; 王圩; 朱洪亮; 董杰

地址:

100083北京市912信箱

优先权:

专利代理机构:

中科专利商标代理有限责任公司

代理人:

汤保平

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内容摘要

一种半导体模式转换器的制作方法,1、在磷化铟衬底上生长下波导层;2、在波导上生长磷化铟间隔层、铟镓砷磷有源层和磷化铟盖层;3、在磷化铟盖层上淀积一层介质膜;4、沿模式转换器的出光方向在介质膜上刻出图形;5、采用选择腐蚀磷化铟;6、采用选择腐蚀铟镓砷磷;7、腐蚀去掉介质膜后,重新长上磷化铟盖层,包在磷化铟中的一段厚度渐变薄、长度较短的铟镓砷磷有源区与铟镓砷磷下波导层一起构成了一个自对准方式的模式转换器。

权利要求书

1、一种半导体模式转换器的制作方法,包括以下步骤:
步骤1:在磷化铟平面衬底上生长一层低折射率的下波导层;
步骤2:在波导上依次生长磷化铟间隔层、铟镓砷磷有源层和磷化
铟盖层;
步骤3:在磷化铟盖层上淀积一层介质膜;
步骤4:沿模式转换器的出光方向在介质膜上刻出图形,图形的长
度与转换器的长度相当;
步骤5:采用选择腐蚀磷化铟,不腐蚀介质膜和铟镓砷磷的腐蚀液
刻蚀磷化铟盖层,由于磷化铟在腐蚀液中侧向的腐蚀速度较快,因此在
介质膜下形成一钻蚀的洞;
步骤6:采用选择腐蚀铟镓砷磷,不腐蚀介质膜和磷化铟的腐蚀液
刻蚀铟镓砷磷有源层,由于铟镓砷磷在钻蚀洞中的腐蚀速率较慢,因此
有源层在纵向上形成了一厚度渐变的梯形;
步骤7:腐蚀去掉介质膜后,重新长上磷化铟盖层,包在磷化铟中
的一段厚度渐变薄、长度较短的铟镓砷磷有源区与铟镓砷磷下波导层一
起构成了一个自对准方式的模式转换器。
2、根据权利要求1所述的半导体模式转换器的制作方法,其特征
在于:对传输不同波长的光,采用不同组份的波导层;对于1.3微米波
段的器件,波导层的荧光峰的波长<1.2微米;对于1.55微米波段的
器件,波导层的荧光峰的波长<1.35微米。
3、根据权利要求1所述的半导体模式转换器的制作方法,其特征
在于:波导层的厚度控制在0.05~0.3微米,从而实现对远场垂直方
向发散角的精确控制,实现圆形或近圆形的远场图样。
4、根据权利要求1所述的半导体模式转换器的制作方法,其特征
在于:间隔层的厚度控制在5纳米~0.5微米,从而实现对模式转换器
耦合长度的控制;间隔层薄,耦合长度短;间隔层厚,耦合长度长。
5、根据权利要求1所述的半导体模式转换器的制作方法,其特征
在于:盖层的厚度控制在0.1~2微米,从而实现对有源层楔形长度的
控制。
6、根据权利要求1所述的半导体模式转换器的制作方法,其特征
在于:介质膜可选用氮化硅、二氧化硅、氮氧化硅、或光刻胶。
7、根据权利要求1所述的半导体模式转换器的制作方法,其特征
在于:采用盐酸+磷酸,比例为1~10∶1,室温下应用或盐酸+水,比
例为3~12∶1,0℃下应用,这两种腐蚀液均腐蚀磷化铟,不腐蚀
介质膜和铟镓砷磷,刻蚀磷化铟盖层,在盖层中形成侧向的腐蚀洞。
8、根据权利要求1所述的半导体模式转换器的制作方法,其特征
在于:采用硫酸+双氧水+水,比例为2~10∶1∶1,50℃至室温使
用,腐蚀液腐蚀铟镓砷磷,不腐蚀介质膜和磷化铟,刻蚀铟镓砷磷有源
层,利用有源层在钻蚀洞下的腐蚀速率较慢,在有源层的纵向上形成了
一厚度的楔形。

说明书

半导体模式转换器的制作方法

本发明涉及一种新型的半导体光电子器件(激光器、放大器、探测
器、调制器、超辐射发光管等,需要与单模光纤耦合的器件)的模式转
换器(spot-size-converter,SSC)的制作方法。

由于半导体光电子器件有源区的截面为长方形,因此光场在其中的
分布为椭圆形,这导致其远场(光场的空间分布)亦为椭圆形,即水平
方向的发散角为0°~15°左右,而垂直方向的发散角可达30°甚至
60°。当具有这样发散角的器件与直径只有几个微米的单模光纤(模式
场为圆形)直接耦合时,由于光纤的光场模式与半导体器件的光场模式
不匹配,有很大一部分的光不能耦合到光纤中(或相反)。因此为提高耦
合效率,需要在半导体器件与光纤间插入一柱状透镜,实现半导体与光
纤模式场的匹配。然而透镜的插入不仅增加了耦合的难度,增加了单个
模块的成本,而且在集成光子器件中,阻碍了有源器件与波导、光纤等
无源器件之间的耦合,降低了集成的规模。为此,需要在半导体器件中
添加一模式转换器。目前,制作模式转换器的方式有两种:横向波导宽
度渐变窄及纵向波导厚度渐变薄。已有报道:采用上述两种结构制作的
模式转换器与激光器的集成器件,如:1).Electron.Lett.,vol.31,1995,
2102;2).Electron.Lett.,vol.31,1995,1838;3).IEEE Photon.
Technol.Lett.,6,1994,1080。在采用横向波导宽度渐变窄的模
式转换器中,采用的是刻蚀技术形成横向的尖劈,出光端面尖劈波导的
宽度对解理要求严格,因此较麻烦;而在纵向波导厚度渐变薄的模式转
换器中,采用的是选择外延技术,该技术利用生长速率在选择区内外的
不同(选择区内外生长速率之比至少大于2,才能够实现传输损耗小的
SSC),在垂直方向形成厚度的楔形,因此该方法对材料的生长技术要求
高,实现起来技术难度较大。

本发明的目的在于提供一种半导体模式转换器的制作方法,其特点
是采用一种自对准的方式制作双波导结构—纵向波导厚度渐变薄的模式
转换器。与通常的纵向波导厚度渐变薄模式转换器不同,本发明不采用
选择外延方法,在平面衬底上通过自对准方式制作一段能量转换器即可
将光场由有源区耦合到下部厚度较薄的波导中,光场经过下波导的模式
变换,即可实现圆形或近圆形的远场模式。

本发明一种半导体模式转换器的制作方法包括以下步骤:

步骤1:在磷化铟(InP)平面衬底上生长一层低折射率的下波导层
(waveguide layer);

步骤2:在波导上依次生长InP间隔层(space layer)、铟镓砷磷
(InGaAsP)有源层(active layer)和InP盖层(cap layer);

步骤3:在InP盖层上淀积一层介质膜(mask);

步骤4:沿模式转换器的出光方向在介质膜上刻出图形,图形的长
度与转换器的长度相当;

步骤5:采用选择腐蚀InP盖层,不腐蚀介质膜和InGaAsP有源层
的腐蚀液刻蚀InP盖层,由于InP在腐蚀液中侧向的腐蚀速度较快,因此
在介质膜下的InP盖层中形成一钻蚀的洞;

步骤6:采用选择腐蚀InGaAsP有源层,不腐蚀介质膜和InP盖层
的腐蚀液刻蚀InGaAsP有源层,由于InGaAsP在钻蚀洞中的腐蚀速率较
慢,因此在有源层的纵向上形成了一厚度渐变的楔形;

步骤7:腐蚀去掉介质膜后,重新长上InP盖层,包在InP盖层中的
一段厚度渐变薄、长度较短的楔形InGaAsP有源区与InGaAsP下波导层
一起构成了一个自对准方式的模式转换器。

对传输不同波长的光,采用不同组份的波导层;对于1.3微米波段
的器件,波导层的荧光峰的波长<1.2微米;对于1.55微米波段的器
件,波导层的荧光峰的波长<1.35微米。

波导层的厚度控制在0.05~0.3微米,从而实现对远场垂直方向
发散角的精确控制,实现圆形或近圆形的远场图样。

间隔层的厚度控制在5纳米~0.5微米,从而实现对模式转换器耦
合长度的控制;间隔层薄,耦合长度短;间隔层厚,耦合长度长。

盖层的厚度控制在0.1~2微米,从而实现对有源层楔形长度的控
制。

介质膜可选用氮化硅、二氧化硅、氮氧化硅、或光刻胶。

采用盐酸+磷酸,比例为1~10∶1,室温下应用或盐酸+水,比例
为3~12∶1,0℃下应用,这两种腐蚀液均腐蚀磷化铟,不腐蚀介
质膜和铟镓砷磷,刻蚀磷化铟盖层,在盖层中形成侧向的腐蚀洞。

采用硫酸+双氧水+水,比例为2~10∶1∶1,50℃至室温使用,
腐蚀液腐蚀铟镓砷磷,不腐蚀介质膜和磷化铟,刻蚀铟镓砷磷有源层,
利用有源层在钻蚀洞下的腐蚀速率较慢,在有源层的纵向上形成了一厚
度的楔形。

为进一步说明本发明的内容和特征,下面结合附图和具体实施例对
本发明作进一步的说明,其中:

图1是制作半导体模式转换器所采用的结构示意图;

图2是模式转换器的示意图。

请参阅图1和图2,在(001)晶向的InP衬底1上,采用金属有
机化合物气相外延(MOVPE)方法生长厚度在0.05~0.3微米的低
折射率的波导层2(对于用在1.3微米波段的器件,波导层的荧光峰的
波长<1.2微米;应用在1.55微米波段的器件,波导层的荧光峰的波
长<1.35微米);随后在波导层2上生长厚度大于5纳米的InP间隔层
3、有源层4和厚度大于0.1微米的InP盖层5;在InP盖层5上淀积
氮化硅(SiNx)、二氧化硅(SiO2)、氮氧化硅(SiON)或光刻胶等介质
膜6;上述结构如图1所示。沿SSC出光方向(即〔110〕方向)在
介质膜6上刻出宽度在30~500微米的窗口图形;采用盐酸+磷酸(比
例1~10∶1,室温下应用)腐蚀液(腐蚀InP,不腐蚀介质膜和InGaAsP)
或盐酸+水的(比例3~12∶1,0℃下应用)腐蚀液,刻蚀InP盖层
5,由于InP在腐蚀液中的侧向腐蚀速度较快,因此在介质膜6下的InP
盖层5中形成一个的钻蚀洞;采用硫酸+双氧水+水(比例2~10∶1∶1,
50℃至室温使用)腐蚀液(腐蚀InGaAsP,不腐蚀介质膜和InP)刻
蚀InGaAsP有源层4,由于InGaAsP在钻蚀洞下的腐蚀速率较慢,因此
有源层4在纵向上形成了一厚度渐变薄的楔形4-1;去掉介质膜6后,
采用MOVPE重新生长InP盖层5,则包在InP盖层5中的厚度渐变薄、
长度较短的楔形InGaAsP有源区4-1与InGaAsP下波导层2一起构成
了一个自对准方式的模式转换器,SSC最终的结构如图2所示。

本发明采用该方法制作的模式转换器具有以下优点:

1.模式转换器中的下波导厚度可以精确控制,因此远场的发散角
可控;

2.模式转换器的耦合长度可由下波导与有源区之间的InP间隔层
的厚度控制;

3.外延工艺与常规外延工艺兼容,不需特别的技术;

4.有源层与下波导之间的能量转换效率高;

5.自对准模式转换器的制作工艺简单;

6.该模式转换器与其它与其集成的光电子器件之间的耦合效率高。

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一种半导体模式转换器的制作方法,1、在磷化铟衬底上生长下波导层;2、在波导上生长磷化铟间隔层、铟镓砷磷有源层和磷化铟盖层;3、在磷化铟盖层上淀积一层介质膜;4、沿模式转换器的出光方向在介质膜上刻出图形;5、采用选择腐蚀磷化铟;6、采用选择腐蚀铟镓砷磷;7、腐蚀去掉介质膜后,重新长上磷化铟盖层,包在磷化铟中的一段厚度渐变薄、长度较短的铟镓砷磷有源区与铟镓砷磷下波导层一起构成了一个自对准方式的模式转换。

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