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1、10申请公布号CN104111766A43申请公布日20141022CN104111766A21申请号201410355371122申请日20140724G06F3/04520060171申请人福建联迪商用设备有限公司地址350003福建省福州市鼓楼区软件大道89号福州软件园一区23号楼72发明人张明辉刘勤能74专利代理机构福州市仓山区景弘专利代理事务所普通合伙35219代理人林祥翔吕元辉54发明名称电阻式触摸屏的校准方法57摘要本发明提供了一种电阻式触摸屏的校准方法，包括步骤在一批使用电阻式触摸屏的电子设备产品中选取M台电子设备，对每台取出的电子设备的电阻式触摸屏的进行测试，以获取该电子设备。
2、的校准参数，基准点C的物理坐标XC，YC，基准点C的逻辑坐标XLC，YLC，X轴偏差系数KX以及Y轴偏差系数KY；取M台电子设备的X轴偏差系数KX，以及Y轴偏差系数KY，分别得到二者的平均值以及将基准点C的物理坐标XC，YC，基准点C的逻辑坐标XLC，YLC，X轴偏差系数平均值以及Y轴偏差系数平均值存入每一台该批电子设备中。51INTCL权利要求书2页说明书6页附图3页19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书2页说明书6页附图3页10申请公布号CN104111766ACN104111766A1/2页21一种电阻式触摸屏的校准方法，包括步骤在一批使用电阻式触摸屏的电子设备产品中。
3、选取M台电子设备，其中M1；对每台取出的电子设备的电阻式触摸屏的进行测试，以获取该电子设备的校准参数，所述校准参数包括电阻式触摸屏上各点的物理坐标与逻辑坐标之间的函数关系参数，校准参数的获取过程包括步骤在每台取出的电子设备的电阻式触摸屏上取N个的测试点，N2，点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标，根据各测试点的物理坐标与逻辑坐标计算校准参数；将校准参数或其平均值存入每一台该批电子设备中。2根据权利要求1所述的电阻式触摸屏的校准方法，其特征在于，校准参数包括X轴偏差系数KX，Y轴偏差系数KY，以及基准点的物理坐标与逻辑坐标，校准参数的获取过程包括步骤在电阻式触摸屏上取N个的测试点，N3，其中至少。
4、3个测试点的物理X坐标不同，且至少3个测试点的物理Y坐标不同，各测试点物理坐标分别表示为XA，YA，XB，YBXN，YN；点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标XLA，YLA，XLB，YLBXLN，YLN；在测试点中，选取P对物理X坐标不同的测试点计算X轴偏差系数KX，P1，选取Q对物理Y坐标不同的测试点计算Y轴偏差系数KY，Q1，X轴偏差系数KX的计算公式如下其中XLI表示每对物理X坐标不同的点的逻辑X坐标差值，XI表示每对物理X坐标不同的点的物理X坐标差值，Y轴偏差系数KY的计算公式如下其中YLI表示每对物理Y坐标不同的点的逻辑Y坐标差值，YI表示每对物理Y坐标不同的点的物理Y坐标差值；在测。
5、试点中选取一点C点XC，YC点作为基准点，记录该电子设备的校准参数如下基准点C的物理坐标XC，YC，基准点C的逻辑坐标XLC，YLC，X轴偏差系数KX以及Y轴偏差系数KY；取M台电子设备的基准点C的逻辑坐标XLC，YLC，X轴偏差系数KX，以及Y轴偏差系数KY，分别得到以上参数的平均值以及将基准点C的物理坐标XC，YC，基准点C的逻辑坐标的平均值X轴偏差系数平均值以及Y轴偏差系数平均值存入每一台该批电子设备中。3根据权利要求2所述的电阻式触摸屏的校准方法，其特征在于，点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标XLA，YLA，XLB，YLBXLN，YLN之后，比较测试点之间的逻辑坐标的差值与物理坐标的。
6、差值之间的差异，若测试点的逻辑坐标的差值与物理坐标的差值之间的差异在预设范围之内，则进行下一步骤，否则重复点触各测试点，以重新得到各测试点的逻辑坐标XLA，YLA，XLB，YLBXLN，YLN，直至测试点的逻辑坐标的差值与物理坐标的差值的之间差异在预设范围之内。权利要求书CN104111766A2/2页34根据权利要求2所述的电阻式触摸屏的校准方法，其特征在于，获取电子设备的校准参数还包括步骤在测试点中选取一点C点XC，YC点作为基准点，并选取一点EXE，YE点作为校准点，计算E点的理论逻辑坐标XLE，YLE，E点的理论逻辑坐标计算公式如下XLEXLCKXXEXC，YLEYLCKYYEYC；将。
7、E点的理论逻辑坐标XLE，YLE与E点的逻辑坐标XLE，YLE进行比对，若E点的理论逻辑坐标XLE，YLE与E点的逻辑坐标XLE，YLE的差值在预设的范围之内，则记录该电子设备的校准参数如下基准点C的物理坐标XC，YC，基准点C的逻辑坐标XLC，YLC，X轴偏差系数KX以及Y轴偏差系数KY，若否，重复点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标XLA，YLA，XLB，YLBXLN，YLN，并重新计算X轴偏差系数KX以及Y轴偏差系数KY，然后计算E点的理论逻辑坐标，直至若E点的理论逻辑坐标XLE，YLE与E点的逻辑坐标XLE，YLE的差值在预设的范围之内。5根据权利要求2至4任意一项所述的电阻式触摸屏的。
8、校准方法，其特征在于，所述电阻式触摸屏为矩形，所述测试点数量N5，其中4个测试点分别构成一测试矩形的4个顶点，所述测试矩形的4条边与电阻式触摸屏的4条边分别平行，另一测试点位于测试矩形之中。6根据权利要求5所述的电阻式触摸屏的校准方法，其特征在于，位于测试矩形之中的测试点具体位于测试矩形的中点。7根据权利要求1至4任意一项所述的电阻式触摸屏的校准方法，其特征在于，所述测试点距电阻式触摸屏的边缘3MM以上。权利要求书CN104111766A1/6页4电阻式触摸屏的校准方法技术领域0001本发明涉及电子设备触摸屏校准的方法，尤其涉及一种电阻式触摸屏的校准方法。背景技术0002电阻式触摸屏是一种传感。
9、器，它将矩形区域中触摸点X,Y的物理位置转换为代表X坐标和Y坐标的电压。很多LCD模块都采用了电阻式触摸屏。0003电阻式触摸屏是一种传感器，基本上是薄膜加上玻璃的结构，薄膜和玻璃相邻的一面上均涂有ITO纳米铟锡金属氧化物涂层，ITO具有很好的导电性和透明性。当触摸操作时，薄膜下层的ITO会接触到玻璃上层的ITO，经由感应器传出相应的电信号，经过转换电路送到处理器，通过运算转化为屏幕上的X、Y值，而完成点选的动作，并呈现在屏幕上。具体地，电阻触摸屏的屏体部分是一块与显示器表面非常配合的多层复合薄膜，由一层玻璃或有机玻璃作为基层，表面涂有一层透明的ITO导电层，上面再盖有一层外表面硬化处理、光滑。
10、防刮的塑料层，它的内表面也涂有一层ITO导电层，在两层导电层之间有许多细小小于千分之一英寸的透明隔离点把它们隔开绝缘。点触电阻屏时，两层ITO导电层出现一个接触点，因其中一面导电层接通Y轴方向的5V均匀电压场，使得侦测层的电压由零变为非零，控制器侦测到这个接通后，进行A/D转换，并将得到的电压值与5V相比，即可得触摸点的Y轴坐标，同理得出X轴的坐标，这就是电阻技术触摸屏的最基本原理。0004在使用电阻屏的电子设备组装完成后，一般在出货前，会对电阻屏进行校准。电阻屏校准的基本原理是将CPU采集到的逻辑坐标通过点击电阻屏获取与显示屏建立一一对应的的关系。在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中存。
11、在如下问题，由于校准工序的时间关系，不可能对电阻屏的每个点进行采集，而要保证精度，采集点的数量又不能太少，所以校准过程费时费力，而且在校准过程中，很容易出现因为工作人员操作失误导致校准失败，从而需要重新校准或者误判定电阻屏不合格的情况。特别是，大批量生产时，进行每一台设备的电阻屏进行逐台校准，生产效率较低。发明内容0005为此，需要提供一种快捷准确的电阻式触摸屏的校准方法，以解决大批量生产时的电阻屏校准时间长、效率低的问题。0006为实现上述目的，发明人提供了一种电阻式触摸屏的校准方法，包括步骤0007在一批使用电阻式触摸屏的电子设备产品中选取M台电子设备，其中M1；0008对每台取出的电子设。
12、备的电阻式触摸屏的进行测试，以获取该电子设备的校准参数，所述校准参数包括电阻式触摸屏上各点的物理坐标与逻辑坐标之间的函数关系参数，校准参数的获取过程包括步骤0009在每台取出的电子设备的电阻式触摸屏上取N个的测试点，N2，0010点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标，说明书CN104111766A2/6页50011根据各测试点的物理坐标与逻辑坐标计算校准参数；0012将校准参数或其平均值存入每一台该批电子设备中。0013其中，对每台取出的电子设备的电阻式触摸屏的进行测试，以获取该电子设备的校准参数，校准参数的获取过程包括步骤0014在电阻式触摸屏上取N个的测试点，N3，其中包括3个以上不同X坐。
13、标的测试点，以及3个以上不同Y坐标的测试点，各测试点物理坐标分别表示为XA，YA，XB，YBXN，YN；0015点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标XLA，YLA，XLB，YLBXLN，YLN；0016在测试点中，选取P对物理X坐标不同的测试点计算X轴偏差系数KX，P1，选取Q对物理Y坐标不同的测试点计算Y轴偏差系数KY，Q1，X轴偏差系数KX的计算公式如下其中XLI表示每对物理X坐标不同的点的逻辑X坐标差值，XI表示每对物理X坐标不同的点的物理X坐标差值，Y轴偏差系数KY的计算公式如下其中YLI表示每对物理Y坐标不同的点的逻辑Y坐标差值，YI表示每对物理Y坐标不同的点的物理Y坐标差值；001。
14、7在测试点中选取一点C点XC，YC点作为基准点，记录该电子设备的校准参数如下基准点C的物理坐标XC，YC，基准点C的逻辑坐标XLC，YLC，X轴偏差系数KX以及Y轴偏差系数KY；0018取M台电子设备的基准点C的逻辑坐标XLC，YLC，X轴偏差系数KX，以及Y轴偏差系数KY，分别得到这些参数的平均值以及0019将基准点C的物理坐标XC，YC，基准点C的逻辑坐标的平均值X轴偏差系数平均值以及Y轴偏差系数平均值存入每一台该批电子设备中。0020可选的，点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标XLA，YLA，XLB，YLBXLN，YLN之后，比较测试点之间的逻辑坐标的差值与物理坐标的差值之间的差异，若测。
15、试点的逻辑坐标的差值与物理坐标的差值之间的差异在预设范围之内，则进行下一步骤，否则重复点触各测试点，以重新得到各测试点的逻辑坐标XLA，YLA，XLB，YLBXLN，YLN，直至测试点的逻辑坐标的差值与物理坐标的差值的之间差异在预设范围之内。0021可选的，获取电子设备的校准参数还包括步骤0022在测试点中选取一点C点XC，YC点作为基准点，并选取一点EXE，YE点作为校准点，计算E点的理论逻辑坐标XLE，YLE，E点的理论逻辑坐标计算公式如下XLEXLCKXXEXC，YLEYLCKYYEYC；0023将E点的理论逻辑坐标XLE，YLE与E点的逻辑坐标XLE，YLE进行比对，若E点的理论逻辑坐。
16、标XLE，YLE与E点的逻辑坐标XLE，YLE的差值在预设的范围之内，则记录该电子设备的校准参数如下基准点C的物理坐标XC，YC，基准点C的逻辑坐标XLC，YLC，X轴偏差系数KX以及Y轴偏差系数KY，若否，重复点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标XLA，YLA，XLB，YLBXLN，YLN，并重新计算X轴偏差系数KX以及Y轴偏差系数KY，然后说明书CN104111766A3/6页6计算E点的理论逻辑坐标，直至若E点的理论逻辑坐标XLE，YLE与E点的逻辑坐标XLE，YLE的差值在预设的范围之内。0024可选的，所述电阻式触摸屏为矩形，所述测试点数量N5，其中4个测试点分别构成一测试矩形的4个。
17、顶点，所述测试矩形的4条边与电阻式触摸屏的4条边分别平行，另一测试点位于测试矩形之中。0025可选的，位于测试矩形之中的测试点具体位于测试矩形的中点。0026可选的，所述测试点距电阻式触摸屏的边缘3MM以上。0027区别于现有技术，上述技术方案在测试时对一批次使用电阻式触摸屏的电子产品进行抽样，并利用通过获取这些样品的校准参数，求得X轴偏差系数平均值以及Y轴偏差系数平均值连同基准点的物理坐标与逻辑坐标存储到这一批电子产品中，使得每一台设备均可以在软件中读取这些参数，而不需要通过手动校准的方式去获得，节省了人力。附图说明0028图1为具体实施方式所述电阻式触摸屏的校准方法的流程图；0029图2为。
18、具体实施方式所述电阻式触摸屏的校准方法所述测试点的分布示意图1；0030图3为具体实施方式所述电阻式触摸屏的校准方法所述测试点的分布示意图2；0031图4为具体实施方式所述电阻式触摸屏的校准方法所述测试点的分布示意图3。具体实施方式0032为详细说明技术方案的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合具体实施例并配合附图详予说明。0033请参阅图1，本实施例提供了一种电阻式触摸屏的校准方法，包括以下步骤0034S101在一批使用电阻式触摸屏的电子设备产品中选取M台电子设备，其中M1，例如选取30台屏幕尺寸为320240带电阻式触摸屏的电子设备。由于样本选取数量越多，最终的校准结果就越准确，。
19、但是校准所花费的工时也就越多，因此，根据产品的实际情况与质量控制需求，可以选取数量不同的样品测试，在某些情况下，也可以只选取一台样品测试。0035对每台取出的电子设备的电阻式触摸屏的进行测试，以获取该电子设备的校准参数，校准参数的获取过程包括步骤0036S102在电阻式触摸屏上取N个的测试点，N3，其中包括3个以上不同X坐标的测试点，以及3个以上不同Y坐标的测试点，各测试点物理坐标分别表示为XA，YA，XB，YBXN，YN；在如图2所示的实施例中，电阻式触摸屏2为矩形，所述测试点数量N5，其中4个测试点A、B、C、D分别构成一测试矩形20的4个顶点，所述测试矩形20的4条边与电阻式触摸屏的4条。
20、边分别平行，另一测试点E位于测试矩形20之中，某些实施例中，位于测试矩形之中的测试点具体位于测试矩形的中点也就是在矩形的几何中心处。具体的，在电阻式触摸屏上取五个测试点，其物理坐标分布为A5625，200，B28125,200，C5625，5625，D28125,5625，E16875,128125；0037矩形分布的测试点便于测试与结果计算，当然，在某些实施例中，由于实际需要，可以采用其他方式的测试点分布，例如斜线形、三角形，菱形，六角形、圆形等形式。说明书CN104111766A4/6页70038在实施例中，所述测试点距电阻式触摸屏的边缘3MM以上，这是由于电阻式触摸屏的边缘部分经常点触容。
21、易导致电阻屏损坏，因此选择离电阻式触摸屏边缘3MM以上的位置作为测试点。0039同时由于希望获得较小的相对误差，在实施例中，各测试点的距离应适当拉大，以减少最终结果的误差。0040S103点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标XLA，YLA，XLB，YLBXLN，YLN；对应上述实施例，逐步用电阻笔点击ABCDE五个点，得到五个点的逻辑坐标A90,320，B450,321，C91,90，D450,89，E270,205；0041S104比较测试点之间的逻辑坐标的差值与物理坐标的差值之间的差异，若测试点的逻辑坐标的差值与物理坐标的差值之间的差异在预设范围之内，则进行下一步骤，否则重复点触各测试点，。
22、以重新得到各测试点的逻辑坐标XLA，YLA，XLB，YLBXLN，YLN，直至测试点的逻辑坐标的差值与物理坐标的差值的之间差异在预设范围之内。这一步骤的目的在于保证校准的精度，使得误差值在需求精度范围之内。0042为了便于比对，在实施例中，测试点的物理坐标呈矩形分布，这样，在比对测试点的逻辑坐标的差值与物理坐标的差值之间的差异时，由于位于矩形同一条边上的点X轴上的物理坐标相同，或Y轴上的物理坐标相同，因此可以选择测试点之间物理坐标的差值为0的测试点构成一对进行比较，只要计算这些测试点之间的逻辑坐标差值，即可以等同于逻辑坐标的差值与物理坐标的差值之间的差异，这就大大方便了比对。0043例如上述实。
23、施例所示的数据，A点逻辑坐标90,320和C点逻辑坐标C91,90的X轴的逻辑坐标差值为191901，物理坐标的差值为0，二者差异为1；0044B逻辑坐标450,321和D逻辑坐标450,89的X轴的逻辑坐标差值为04504500，物理坐标的差值为0，二者之间的差异为0；0045因此A和C、B和D的逻辑坐标差值与物理坐标的差值之间的差异在预设范围3以内。0046A和B的Y轴的逻辑坐标差值为13213201，物理坐标的差值为0，二者差异为1；0047C和D的Y轴的逻辑坐标差值为190891，物理坐标的差值为0，二者之间的差异为1；0048因此A和B、C和D的逻辑坐标差值与物理坐标的差值之间的差异。
24、在预设范围3以内，进行下一步骤0049S105在测试点中，选取P对物理X坐标不同的测试点计算X轴偏差系数KX，P1，选取Q对物理Y坐标不同的测试点计算Y轴偏差系数KY，Q1，0050X轴偏差系数KX的计算公式如下公式1，其中XLI表示每对物理X坐标不同的点的逻辑X坐标差值，XI表示每对物理X坐标不同的点的物理X坐标差值，0051具体的，在本实施例中公式11，说明书CN104111766A5/6页80052Y轴偏差系数KY的计算公式如下公式2，其中YLI表示每对物理Y坐标不同的点的逻辑Y坐标差值，YI表示每对物理Y坐标不同的点的物理Y坐标差值；0053具体的，在本实施例中，公式21；0054实际。
25、上，由于不同实施例中测试点的数量不同，以及测试点之间的配对方式不同，上述公式适用于以下各种情况，例如0055测试点之间两两组合成一对对测试点，每一测试点只存在一对测试点中，例如A、B、C、D四点构成的测试矩形，在计算KX时，A、B为一对测试点，C、D为另外一对测试点，计算公式为在计算KY时，A、C为一对测试点，B、D为另外一对测试点，计算公式为不存在重复的测试点；0056对应由A、B、C、D四点构成的测试矩形，P、Q分别等于2，0057计算X轴偏差系数0058KX45090/28125562545091/281255625/2160；0059Y轴偏差系数0060KY32090/20056253。
26、2189/2005625/21610061应当说明的是，公式1中与公式2中多项式中每一单项式中坐标相减的两个测试点不同即可，但同一个测试点可以在不同单项式中呈现，例如如图4所述测试点三角形分布时的情况。测试点之间组合为一对对测试点，但某些测试点分别与多个测试点组合，如图4所示，A、B、C三点构成一三角形，这时，在计算KX时，可以将A、B列为一对测试点，A、C为另外一对测试点，计算公式为此时，A点与多个测试点分别组合，在计算KY时，B、C为一对测试点，A、C为另外一对测试点，计算公式为C点与多个测试点分别组合，这样的实施例中，测试点对中存在重复的测试点。0062S106在测试点中选取一点C点XC。
27、，YC点作为基准点，并选取一点EXE，YE点作为校准点，计算E点的理论逻辑坐标XLE，YLE，基准点的选择优选位于其他测试点围成的多边形之内，这样使得测试结果更为准确。0063由于电阻式触摸屏上任意一点F的理论逻辑坐标计算公式如下，XLFXLCKXXFXC公式3，YLFYLCKYYFYC公式4；将上述实施例的数据代入，得到XLF91160XF5625，以及YLF90161YF56250064将校准点E的物理坐标16875,128125代入，我们得到校准点E点的理论逻辑说明书CN104111766A6/6页9坐标计算公式如下270,2057；0065S107将E点的理论逻辑坐标XLE，YLE与E。
28、点的逻辑坐标XLE，YLE进行比对，若E点的理论逻辑坐标XLE，YLE与E点的逻辑坐标XLE，YLE的差值在预设的范围之内，例如上述实施例，E点的理论逻辑坐标270,2057，与E点的逻辑坐标270,205比较，横坐标的差值为0，纵坐标的差值为07，均在预设的范围3以内；0066因此记录该电子设备的校准参数如下基准点C的物理坐标XC，YC，基准点C的逻辑坐标XLC，YLC，X轴偏差系数KX以及Y轴偏差系数KY，若否，重复点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标XLA，YLA，XLB，YLBXLN，YLN，并重新计算X轴偏差系数KX以及Y轴偏差系数KY，然后计算E点的理论逻辑坐标，直至若E点的理论逻。
29、辑坐标XLE，YLE与E点的逻辑坐标XLE，YLE的差值在预设的范围之内。该步骤的目的在于保证校准的精度，使得误差值在需求的精度范围之内。0067S108记录该电子设备的校准参数如下基准点C的物理坐标XC，YC，基准点C的逻辑坐标XLC，YLC，X轴偏差系数KX以及Y轴偏差系数KY；0068S109取M台电子设备的基准点C的逻辑坐标XLC，YLC，X轴偏差系数KX，以及Y轴偏差系数KY，分别得到三者的平均值以及0069S110将基准点C的物理坐标XC，YC，基准点C的逻辑坐标XLC，YLC，X轴偏差系数平均值以及Y轴偏差系数平均值存入每一台该批电子设备中。0070在另外一个实施例中，为了加快测。
30、试，减少了测试的测试点，如图3所示，采用了斜线分布的A、B、C三点作为测试点，其中以C为测试点，A为基准点，此时P、Q分别等于1。之所以采用斜线分布的三点的原因在于，可以避免测试点之间X坐标与Y坐标的重合，拉开二者之间的坐标差值，减少误差，同时可以检索测试点的数量。0071需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包。
31、括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括”或“包含”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的要素。此外，在本文中，“大于”、“小于”、“超过”等理解为不包括本数；“以上”、“以下”、“以内”等理解为包括本数。0072尽管已经对上述各实施例进行了描述，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改，所以以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利保护范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围之内。说明书CN104111766A1/3页10图1说明书附图CN104111766A102/3页11图2图3说明书附图CN104111766A113/3页12图4说明书附图CN104111766A12。