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1、(10)申请公布号 CN 103575996 A (43)申请公布日 2014.02.12 CN 103575996 A (21)申请号 201310441564.4 (22)申请日 2013.09.25 G01R 27/06(2006.01) (71)申请人 苏州佳世达电通有限公司 地址 215011 江苏省苏州市高新区珠江路 169 号 申请人 佳世达科技股份有限公司 (72)发明人 徐绍恩 (54) 发明名称 天线检测装置 (57) 摘要 本发明关于一种天线检测装置， 其包括 ： 基 座 ； 承载平台， 该承载平台设置于该基座上， 且该 承载平台具有承载面用于承载待测装置， 该待测 装置。
2、具有第一待测天线 ； 以及测试结构， 该测试 结构设置于该承载平台与该基座之间， 且该测试 结构包括 ： 第一框架 ； 第一滑动件， 该第一滑动件 设置于该第一框架上， 且该第一滑动件可相对该 第一框架于第一方向往复移动 ； 第一接地板， 该 第一接地板设置于该第一滑动件上 ； 及第一测试 探针， 该第一测试探针设置于该接地板上， 通过滑 动该第一滑动件以使该第一测试探针与该第一待 测天线的接触点电性接触。本发明的天线检测装 置利用滑动结构实现了对不同型号的待测装置进 行检测， 从而提高了检测效率。 (51)Int.Cl. 权利要求书 1 页 说明书 5 页 附图 3 页 (19)中华人民共和。
3、国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书1页 说明书5页 附图3页 (10)申请公布号 CN 103575996 A CN 103575996 A 1/1 页 2 1. 一种天线检测装置， 其特征在于， 该天线测试装置包括 ： 基座 ； 承载平台， 该承载平台设置于该基座上， 且该承载平台具有承载面用于承载待测装置， 该待测装置具有第一待测天线 ； 以及 测试结构， 该测试结构设置于该承载平台与该基座之间， 且该测试结构包括 ： 第一框架 ； 第一滑动件， 该第一滑动件设置于该第一框架上， 且该第一滑动件可相对该第一框架 于第一方向往复移动 ； 第一接地板， 该第一接地板设置于该第一。
4、滑动件上 ； 及 第一测试探针， 该第一测试探针设置于该接地板上， 通过滑动该第一滑动件以使该第 一测试探针与该第一待测天线的接触点电性接触。 2. 如权利要求 1 所述的天线检测装置， 其特征在于， 该第一接地板可相对于该第一滑 动件于第二方向上往复移动， 该第一方向与该第二方向相异。 3. 如权利要求 1 所述的天线检测装置， 其特征在于， 该天线测试装置还包括基座柱， 该 基座柱设置于该基座的第一侧边， 该基座柱具有滑槽， 该第一框架具有凸起， 该凸起可相对 该滑槽上下移动地设置于该滑槽内， 以调节该测试结构与该待测装置之间的距离， 使得该 第一测试探针与该第一待测天线的接触点电性接触。。
5、 4. 如权利要求 1 所述的天线检测装置， 其特征在于， 该待测装置具有第二待测天线。 5. 如权利要求 4 所述的天线检测装置， 其特征在于， 该测试结构还包括第二滑动件、 第 二接地板及第二测试探针， 该第二滑动件设置于该第一框架上， 该第二接地板设置于该第 二滑动件上， 该第二测试探针设置于该第二接地板上， 通过滑动该第二滑动件以使该第二 测试探针与该第二待测天线的接触点电性接触。 6. 如权利要求 5 所述的天线检测装置， 其特征在于， 该第二滑动件可相对于该第一框 架沿第三方向往复移动。 7. 如权利要求 6 所述的天线检测装置， 其特征在于， 该第二接地板可相对于该第二滑 动件沿。
6、第四方向往复移动， 且该第四方向与该第三方向相异。 8. 如权利要求 1 所述的天线检测装置， 其特征在于， 该承载平台包括第二框架以及第 三滑动件， 该第三滑动件可相对该第二框架沿至少一个方向往复移动， 以使该第三滑动件 与该第二框架形成大小可调节的容置空间以容置该待测装置。 9. 如权利要求 1 所述的天线检测装置， 其特征在于， 该待测装置为手机、 平板电脑或笔 记本电脑。. 10. 如权利要求 1 所述的天线检测装置， 其特征在于， 该第一测试探针为金属探针或者 金属弹片。 权 利 要 求 书 CN 103575996 A 2 1/5 页 3 天线检测装置 技术领域 0001 本发明涉。
7、及一种天线检测装置， 尤其涉及一种是用不同尺寸移动通信装置的天线 检测装置。 背景技术 0002 天线作为移动通信装置的关键组件之一， 在研发过程中或出厂前均需要进行参数 测试。 现有技术中的天线测试过程大致为 ： 将一待测天线放置至屏蔽箱内， 该待测天线的接 触点通过导线或电缆线电连接至天线测试装置， 如矢量网络分析仪等。 0003 近年来， 随着科技的不断进步， 快速发展出各式各样不同尺寸和类型的移动通信 装置， 因此在移动通信装置的天线的检测过程中， 需要依移动通信装置的尺寸和类型制作 专属的天线检测装置， 同时配合网络分析仪 (Network Analyzer) 以测试其天线的参数， 。
8、因 而容易造成资源的浪费和成本的增加。 0004 如图 1 所示， 图 1 为现有技术中的天线检测装置， 天线检测装置 10 包括基座 11、 承载框架 12、 接地板 14、 测试探针 13 及基座柱 16， 其中， 基座 11 由木材或压克力材质所构 成， 基座 11 的侧边设有基座柱 16， 基座 11 的上方依次设有接地板 14 及承载框架 12， 且接 地板 14 与承载框架 12 的侧边分别依次固定于基座柱 16 上， 接地板 14 位于承载框架 12 的 下方， 其中， 承载框架 12 用以承载具有待测天线的待测移动通信装置， 接地板 14 上设置有 至少一个测试探针 13， 测。
9、试探针 13， 例如 ： 天线弹片， 测试探针 13 与接地板 14 之间电性连 接， 测试时， 测试探针 13 与待测天线的接触点电性接触。 0005 天线检测装置 10 还包括至少一个同轴电缆接口 15， 电缆线通过同轴电缆接口 15 将天线检测装置 10 与网络分析仪电性连接， 且这些同轴电缆接口 15 与这些测试探针 13 之 间一一对应。 0006 天线检测装置 10 工作时， 首先， 将具有待测天线的移动通信装置放置于承载框架 12 上， 并使得待测天线的接触点与测试探针 13 电性接触 ； 其次， 将电缆线的一端连接至同 轴电缆接口 15， 将电缆线的一端连接至网络分析仪。测试时。
10、， 通过观察网络分析仪上的天 线反射系数或者驻波比等天线特性参数， 以判断待测天线是否准确组装置至移动通信装置 上， 待测天线本身的品质是否合格等。 0007 然而， 上述天线检测装置 10 在实际使用中存在如下问题 ： 1) 测试探针的位置固 定， 因而只能针对特定信号的移动通信装置的待测天线进行测试 ； 2) 测试探针与同轴电缆 接口之间以电缆线连接， 由于电缆线的长度过长， 或者测试探针与接地板之间接地不完全 等因素， 导致待测试天线的特性参数无法确认而产生误判， 进而造成人力及资源的浪费。 发明内容 0008 本发明的目的在于提供一种天线检测装置， 以满足各种不同尺寸和类型的移动通 信。
11、装置的天线测试， 以提高检测的效率， 同时避免了使用专用测试治具， 而降低了测试产品 测试中资源的浪费和成本的增加。 说 明 书 CN 103575996 A 3 2/5 页 4 0009 本发明提供一种天线检测装置， 该天线测试装置包括 ： 基座 ； 承载平台， 该承载平 台设置于该基座上， 且该承载平台具有承载面用于承载待测装置， 该待测装置具有第一待 测天线 ； 以及测试结构， 该测试结构设置于该承载平台与该基座之间， 且该测试结构包括 ： 第一框架 ； 第一滑动件， 该第一滑动件设置于该第一框架上， 且该第一滑动件可相对该第一 框架于第一方向往复移动 ； 第一接地板， 该第一接地板设置。
12、于该第一滑动件上 ； 及第一测 试探针， 该第一测试探针设置于该接地板上， 通过滑动该第一滑动件以使该第一测试探针 与该第一待测天线的接触点电性接触。 0010 作为可选的技术方案， 该接地板可相对于该第一滑动件于第二方向上往复移动， 该第一方向与该第二方向相异。 0011 作为可选的技术方案， 该天线测试装置还包括基座柱， 该基座柱设置于该基座的 第一侧边， 该基座柱具有滑槽， 该第一框架具有凸起， 该凸起可相对该滑槽上下移动地设置 于该滑槽内， 以调节该测试结构与该待测装置之间的距离， 使得该第一测试探针与该第一 待测天线的接触点相电性接触。 0012 作为可选的技术方案， 该待测装置具有。
13、第二待测天线。 0013 作为可选的技术方案， 该测试结构还包括第二滑动件、 第二接地板及第二测试探 针， 该第二滑动件设置于该第一框架上， 该第二接地板设置于该第二滑动件上， 该第二测试 探针设置于该第二接地板上， 通过滑动该第二滑动件以使该第二测试探针与该第二待测天 线的接触点电性接触。 0014 作为可选的技术方案， 该第二滑动件可相对于该第一框架沿第三方向往复移动。 0015 作为可选的技术方案， 该第二接地板可相对于该第二滑动件沿第四方向往复移 动， 且该第四方向与该第三方向相异。 0016 作为可选的技术方案， 该承载平台包括第二框架以及第三滑动件， 该第三滑动件 可相对该第二框架。
14、沿至少一个方向往复移动， 以使该第三滑动件与该第二框架形成大小可 调解的容置空间以容置该待测装置。 0017 作为可选的技术方案， 该待测装置为手机、 平板电脑或笔记本电脑。. 0018 作为可选的技术方案， 该第一测试探针为金属探针或者金属弹片。 0019 与现有技术相比， 首先， 本发明的天线检测装置通过滑动件的滑动， 使得承载平台 具有大小可调解的容置空间以容置各种型号和尺寸的待测装置， 改善了现有技术中检测装 置不能重复利用的问题 ； 其次， 本发明的天线检测装置中采用小尺寸的多个独立的接地板， 并藉由滑动件使接地板灵活的移动， 使得接地板上的探针可以快速的与待测装置的待测天 线的接触。
15、点进行电性接触， 因而提高了测试的效率。 附图说明 0020 图 1 为现有技术中的天线检测装置的示意图。 0021 图 2 为本发明的天线检测装置的示意图。 0022 图 3 为本发明另一实施例中测试探针的滑动结构示意图。 0023 图 4 为本发明又一实施例中第二框架与第三滑动件的示意图。 具体实施方式 说 明 书 CN 103575996 A 4 3/5 页 5 0024 以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述， 但不作为对本发明的限定。 0025 请参照图 2， 图 2 为本发明的天线检测装置的示意图， 天线检测装置 20 包括 ： 基座 21、 承载平台23以及测试结构， 基座。
16、21上方设有测试结构， 测试结构上方设有承载平台23， 亦即测试结构设置于承载平台 23 与基座 21 之间， 承载平台 23 用以承载待测装置， 待测装 置具有第一待测天线， 其中， 测试结构包括 ： 第一框架 22、 第一滑动件 222、 第一接地板 224 及第一测试探针 223， 第一滑动件 222 可相对于第一框架 22 沿 S1 方向往复移动， 第一测试 探针223设置于第一接地板224上， 且通过滑动第一滑动件222可以使第一测试探针223移 动并与第一待测天线的接触点电性接触。本实施方式中的待测装置可以为手机、 平板电脑 或笔记本电脑等， 除此之外， 待测装置也可以是电路板或者。
17、未完全组装的通信装置， 其中， 电路板上具有待测天线的接触点。 0026 上述实施方式中， 第一滑动件 222 相对于第一框架 22 沿 S1 方向往复移动， 藉由第 一滑动件 222 在第一框架 22 的上的滑槽 221 中往复移动来实现。 0027 为提高天线检测装置的灵活性， 第一接地板 224 还可以相对于第一滑动件 222 沿 S2 方向往复移动， 其中， S1 方向与 S2 方向相异。在本实施方式中， 第一接地板 224 例如设 置于滑块结构 225 上， 滑块结构 225 可相对于第一滑动件 222 沿 S2 方向往复移动， 以带动 第一接地板 224 与第一测试探针 223 在。
18、 S2 方向上移动， 并使得第一测试探针 223 与第一待 测天线的接触点电性接触。 在第一接地板224的下方设有同轴电缆接口226， 同轴电缆接口 226 通过电缆线与第一测试探针 223 之间电性连接。而且较佳地， 本实施方式中 S1 方向与 S2 方向相互垂直。 0028 请参照图3， 图3为本发明另一实施例中测试探针的滑动结构示意图， 接地板2213 设置于滑块组件 2212 上， 滑块组件 2212 包括底座 2112b 和柱体 2212a， 柱体 2212a 具有承 载面 ( 未示出 ) 用以固定接地板 2213， 接地板 2213 上方设有测试探针 2214， 接地板 2213 。
19、的下方设有与测试探针 2214 相匹配的电缆转接口 2215， 本实施方式中， 柱体 2212a 可相对 于底座 2212b 沿图中箭头所示的方向进行旋转。当对待测天线进行测试时， 可通过旋转柱 体2212a， 调整接地板2213及测试探针2214的位置， 使得测试探针2214准确的与待测天线 的接触点电性接触， 从而缩短了测试探针 2214 与待测天线对位的时间， 提高了天线检测装 置 20 测试效率。 0029 请继续参照图 3， 为更加准确且简便的调整测试结构中测试探针与待测天线之间 相对位置， 可相对于第一框架 22 沿 S1 方向往复滑动的滑动件 2216 具有滑槽 2217， 滑块。
20、组 件 2212 可在滑槽 2217 中进行滑动， 而本实施方式中将滑块组件 2212 的底座 2212b 设置为 圆形， 因此， 在待测天线的测试过程中， 藉由圆形的底座 2212b 在滑槽 2217 中的旋转， 使得 滑块组件2212旋转， 从而得以调整测试探针2214与待测天线的相对位置， 进而缩短对位时 间， 提高检测效率。 0030 图 3 所示的实施方式中通过旋转结构调整测试探针与待测天线之间相对位置， 其 中， 为使得测试探针与待测天线之间在位置调整后能够更稳定的进行电性接触， 底座 2212b 设有滑槽 ( 未示出 )， 柱体 2212a 利用底座 2212b 上的滑槽进行滑动。
21、 ； 滑槽 2217 上设有凹 陷部2218， 当测试探针与待测天线调整至合适位置， 柱体2212a在底座2212b上的滑槽中移 动， 使得柱体 2212a 进入凹陷部 2218 中， 利用凹陷部 2218 限制柱体 2212a 进一步移动， 使 得测试探针与待测天线之间实现稳定可靠的接触， 以提高检测结果的准确性。 说 明 书 CN 103575996 A 5 4/5 页 6 0031 此外， 本发明的上述天线检测装置20还可以包括基座柱25， 本实施例中以基座21 为矩形进行说明， 基座柱 25 设置于基座 21 的侧边， 基座柱 25 用于固定承载平台 23 和第一 框架 22， 其中，。
22、 基座柱 25 具有凹槽 251， 第一框架 22 具有第一凸起 ( 未示出 )， 第一凸起可 相对凹槽251上下移动， 以调节第一框架22与待测装置之间的距离， 使得第一测试探针223 与该第一待测天线的接触点电性接触。 0032 在本实施方式中， 承载平台 23 与基座柱 25 固定的侧边还可以设有第二凸起 ( 未 示出 )， 第二凸起可相对凹槽 251 上下移动， 使得承载平台 23 能够上下移动， 以调节待测装 置与测试探针的距离， 提高检测装置的灵活性和测试效率。 0033 当然， 为提高本发明的天线检测装置检测效率， 天线检测装置 20 包括第二滑动件 227、 第二接地板 228。
23、 及第二测试探针 229， 第二滑动件 227 设置于第一框架 22 上且可相对 于滑槽 221 沿 S3 方向往复移动， 其中， 本实施方式中， S3 方向与前述 S1 方向相同， 第二测 试探针 229 设置于第二接地板 228， 且第二接地板 228 可相对第二滑动件 227 沿 S4 方向往 复移动， 其中， 本实施方式中 S4 方向与前述 S2 方向相同， 因而 S3 与 S4 相异。而且较佳地， 本实施方式中 S1 方向与 S2 方向相互垂直。在本实施方式中， 第二接地板 228 可相对第二 滑动件 227 沿 S4 方向往复移动， 例如第二接地板 228 设置于滑块结构 2210。
24、 上， 藉由滑块结 构2210相对于第二滑动件227的往复移动， 以使第二接地板228与第二测试探针229在S4 方向上移动， 并使得第二测试探针 229 与第二待测天线的接触点电性接触。进一步的， 在本 实施方式中， 在第二接地板 228 的下方设有同轴电缆接口 2211， 利用电缆线连接同轴电缆 接口 2211， 使得天线检测装置 20 与天线测试装置， 如矢量网络分析仪之间电性连接。值得 注意的是， 本实施例中将天线检测装置 20 的测试探针的数量设置为两个， 但是并不以此为 限， 在实际的检测中测试探针的数量与待测天线的数量相适配。 此外， 本实施方式中设置多 个测试探针， 是对具有多。
25、个待测装置的某一待测装置进行检测， 但在本发明的其它实施例 中， 多个测试探针也可以是对多个待测装置的待测天线进行检测。 0034 进一步， 为使得本发明的天线检测装置可以适合各种不同型号或者尺寸的待测装 置， 天线检测装置 20 还包括第二框架 24 和第三滑动件 242， 第二框架 24 设置于承载平台 23 的上方， 第三滑动件 242 可相对于第二框架 24 沿至少一个方向往复移动， 以使第三滑动 件 242 与第二框架形成大小可调的容置空间以容置待测装置。具体而言， 本实施方式中， 第 二框架 24 具有滑槽 241a 与 241b ； 第三滑动件 242 包括第一滑动杆 243， 。
26、第一滑动杆 243 的 第一端固定于第一滑槽241a中， 并可沿滑槽241a沿S1方向往复移动， 以使第一滑动杆243 与第二框架 24 形成大小的可调节的容置空间以容纳不同型号或者尺寸的待测装置。 0035 此外， 为使得能够更灵活的调节待测装置的容纳空间， 上述第三滑动件 242 还包 括 ： 第二滑动杆 244， 第二滑动杆 244 的第一端设置于滑槽 241b 中， 第二滑动杆 244 上设有 贯穿槽 245， 第一滑动杆 243 的第二端穿过贯穿槽 245， 使得第二滑动杆 244 在滑槽 241b 中 沿 S2 方向往复移动， 进而通过同时滑动第二滑动杆 244 及第一滑动杆 24。
27、3 与第二框架 24 形成大小可调节的容置空间以容纳不同型号或者尺寸的待测装置。 0036 当然， 为使天线检测装置能够更好的适应不同型号或者尺寸的待测装置， 请参照 图4， 图4为本发明的另一实施方式中第二框架与第三滑动件配合的示意图， 其中， 图4中具 有与图 2 相同号码标记的元件， 有相同或类似的结构以及功能， 在此不做赘述。 0037 如图 4 所示， 本实施例中第二框架 24 具有滑槽 241b， 第三滑动件 242 还包括 ： 第 说 明 书 CN 103575996 A 6 5/5 页 7 三滑动杆 246， 第三滑动杆 246 具有贯穿槽 247， 其中， 第三滑动杆 246。
28、 的第一端固定于滑槽 241b 中， 且第二滑动的杆 244 的第一端穿过贯穿槽 247， 藉由滑槽 241b 和贯穿槽 247 使得 第三滑动件 246 可相对于第二框架 24 沿 S2 方向往复移动， 从而能够通过滑动第一滑动杆 242、 第二滑动杆 244 及第三滑动杆 246 与第二框架 24 形成大小可调节的容置空间以更好 的容纳待测装置。 0038 本发明的上述测试探针为金属探针或者金属弹片。 0039 当采用天线检测装置 20 检测待测天线的特性参数时， 步骤 1， 将待测装置放置于 承载平台 23 上， 滑动第三滑动件 242， 并使其与第二框架 24 形成的容纳空间对待测装置。
29、进 行固定 ； 步骤 2， 滑动滑块 225 使得测试探针 223 与待测天线的接触点电性接触 ； 步骤 3， 利 用电缆线将同轴电缆接口 226 连接至天线测试装置， 如矢量网络分析仪等， 待测天线的测 试数据通过测探针 223、 电缆线、 同轴电缆接口 226 传送至天线测试装置， 如矢量网络分析 仪， 操作者可以从天线测试装置上读取待测天线的特性参数， 依据特性参数判断待测天线 的品质。 0040 上述检测过程以检测具有一个待测天线的待测装置为例， 但事实并不以此为限， 当需要检测多个待测天线时， 可以同时滑动或者旋转多个滑动件调整测试探针与多个待测 天线接触点之间的相对位置， 以使多个。
30、测试探针与多个待测天线的接触点电性接触， 以同 时测试多个天线， 节省了测试时间， 提高了天线测试效率。 0041 综上， 本发明的天线检测装置已由上述实施方式说明， 与现有技术相比， 本发明中 采用小尺寸的多个独立的接地板， 并藉由滑动件使得接地板灵活的移动， 使得接地板上的 探针可以快速的与待测装置的待测天线的接触点进行电性接触， 因而提高了测试的效率。 此外， 本发明中通过移动滑动件使其与第二框架配合形成大小不同的容置空间以容纳不同 型号及尺寸的待测装置， 从而改善了现有技术中检测装置不能重复利用的问题。 0042 当然， 本发明还可有其他多种实施例， 在不背离本发明精神及其实质的情况下， 熟 悉本领域的技术人员可根据本发明作出各种相应的改变和变形， 但这些相应的改变和变形 都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。 说 明 书 CN 103575996 A 7 1/3 页 8 图 1 说 明 书 附 图 CN 103575996 A 8 2/3 页 9 图 2 图 3 说 明 书 附 图 CN 103575996 A 9 3/3 页 10 图 4 说 明 书 附 图 CN 103575996 A 10 。