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1、(10)申请公布号 CN 103165194 A (43)申请公布日 2013.06.19 CN 103165194 A *CN103165194A* (21)申请号 201110422997.6 (22)申请日 2011.12.16 G11C 29/52(2006.01) (71)申请人 中兴通讯股份有限公司 地址 518057 广东省深圳市南山区高新技术 产业园科技南路中兴通讯大厦法务部 (72)发明人 丁岳 汪旭光 刘建志 (74)专利代理机构 深圳市世纪恒程知识产权代 理事务所 44287 代理人 胡海国 (54) 发明名称 快速检测大容量 NOR Flash 的方法及装置 (57) 。
2、摘要 本发明公开一种快速检测大容量 NOR Flash 的方法及装置， 该方法包括以下步骤 ： 擦除 NOR Flash 的一个扇区， 写入测试数据， 并判断数据线 是否正常 ； 若数据线正常， 则判断地址线是否正 常， 并在地址线不正常时返回测试失败结果 ； 若 数据线不正常， 则返回测试失败结果。 本发明通过 只向 NOR Flash 空间一次性写入一组构造的测试 数据， 在回读校验时无须遍历整个地址空间， 只需 通过地址线移位的方法回读所需检测的地址空间 上的数据来判断数据线和地址线是否存在开路或 短路的情况， 节省了大量的检测时间， 达到了快速 检测大容量 NOR Flash 的有益效。
3、果。 (51)Int.Cl. 权利要求书 2 页 说明书 7 页 附图 4 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书2页 说明书7页 附图4页 (10)申请公布号 CN 103165194 A CN 103165194 A *CN103165194A* 1/2 页 2 1. 一种快速检测大容量 NOR Flash 的方法， 其特征在于， 包括以下步骤 ： 擦除 NOR Flash 的一个扇区， 写入测试数据， 并判断数据线是否正常 ； 若数据线正常， 则判断地址线是否正常， 并在地址线不正常时返回测试失败结果 ； 若数据线不正常， 则返回测试失败结果。 2. 。
4、根据权利要求 1 所述的快速检测大容量 NOR Flash 的方法， 其特征在于， 所述擦除 NOR Flash 的一个扇区， 写入测试数据， 并判断数据线是否正常的步骤具体包括 ： 擦除 NOR Flash 起始地址空间的任一扇区， 并在擦除的扇区写入测试数据 ； 回读写入的测试数据， 并将其与原始写入的测试数据进行比较 ； 若二者相同， 则判断数据线正常 ； 若二者不相同， 则判断数据线不正常。 3.根据权利要求1所述的快速检测大容量NOR Flash的方法， 其特征在于， 所述判断地 址线是否正常的步骤具体包括 ： 判断地址线是否短路 ： 向测试的基地址 0 偏移处写入测试数据， 将地址。
5、线依次左移并 回读， 若读出数据存在与所述写入的测试数据相同的数据， 则判断所述地址线短路， 即地址 线不正常 ； 判断地址线是否开路 ： 若地址线开路， 则其状态一直为0或1 ； 当所述地址线为0时， 向 基地址空间中写入测试数据， 将地址线依次左移并回读， 若回读的数据中包含所述基地址 空间中的数据， 则判断所述地址线开路 ； 当所述地址线为 1 时， 向所述基地址空间写入测试 数据， 将地址线依次左移并回读， 若回读的数据中包含所述基地址空间中的数据， 则判断所 述地址线开路， 即地址线不正常。 4.根据权利要求3所述的快速检测大容量NOR Flash的方法， 其特征在于， 所述判断地 。
6、址线是否短路的步骤具体包括 ： 设置一个初始值为 0 的变量， 并将所述变量设置为自增状态 ； 判断地址线移位是否结束 ； 若是， 则在所述的变量值为1时， 返回地址线正常 ； 在所述的变量不为1时， 显示出错的 地址线位置， 返回地址线不正常 ； 若否， 则继续移位地址线， 回读写入的测试数据并与原始写入的测试数据进行比较 ； 若 二者相同， 则所述的变量值自增。 5.根据权利要求4所述的快速检测大容量NOR Flash的方法， 其特征在于， 所述移位地 址线， 回读写入的测试数据并与原始写入的测试数据进行比较的步骤具体包括 ： 将地址线依次左移， 每次移动一位， 每次移位后均需回读写入的测。
7、试数据并与原始写 入的测试数据进行比较， 并判断二者是否相同， 直至检测完所需检测的所有地址线。 6. 一种快速检测大容量 NOR Flash 的装置， 其特征在于， 包括 ： 数据线检测模块， 用于擦除 NOR Flash 的一个扇区， 写入测试数据， 并判断数据线是否 正常， 并在数据线不正常时， 返回测试失败结果 ； 地址线检测模块， 用于在数据线正常时， 判断地址线是否正常， 并在地址线不正常时返 回测试失败结果。 7.根据权利要求6所述的快速检测大容量NOR Flash的装置， 其特征在于， 所述数据线 检测模块具体用于 ： 权 利 要 求 书 CN 103165194 A 2 2/。
8、2 页 3 擦除 NOR Flash 起始地址空间的任一扇区， 并在擦除的扇区写入测试数据 ； 回读写入的测试数据， 并将其与原始写入的测试数据进行比较 ； 若二者相同， 则判断数据线正常 ； 若二者不相同， 则判断数据线不正常。 8.根据权利要求7所述的快速检测大容量NOR Flash的装置， 其特征在于， 所述地址线 检测模块具体包括 ： 地址线短路检测单元， 用于向测试的基地址 0 偏移处写入测试数据， 将地址线依次左 移并回读， 若读出数据存在与所述写入的测试数据相同的数据， 则判断所述地址线短路， 即 地址线不正常 ； 地址线开路检测单元， 若地址线开路， 则其状态一直为 0 或 1。
9、 ； 当所述地址线为 0 时， 向 基地址空间中写入测试数据， 将地址线依次左移并回读， 若回读的数据中包含所述基地址 空间中的数据， 则判断所述地址线开路 ； 当所述地址线为 1 时， 向所述基地址空间写入测试 数据， 将地址线依次左移并回读， 若回读的数据中包含所述基地址空间中的数据， 则判断所 述地址线开路， 即地址线不正常。 9.根据权利要求8所述的快速检测大容量NOR Flash的装置， 其特征在于， 所述地址线 短路检测单元具体包括 ： 变量设置子单元， 用于设置一个初始值为 0 的变量， 并将所述变量设置为自增状态 ； 移位检测子单元， 用于在判断地址线移位不结束时， 移位地址线。
10、， 回读写入的测试数据 并与原始写入的测试数据进行比较， 若二者相同， 则所述的变量值自增 ； 检测结果子单元， 用于在判断地址线移位结束且所述的变量值为 1 时， 返回地址线正 常 ； 在判断地址线移位结束且所述的变量不为 1 时， 显示出错的地址线位置， 返回地址线不 正常。 10. 根据权利要求 9 所述的快速检测大容量 NOR Flash 的装置， 其特征在于， 所述移位 检测子单元具体用于 ： 将地址线依次左移， 每次移动一位， 每次移位后均需回读写入的测试数据并与原始写 入的测试数据进行比较， 并判断二者是否相同， 直至检测完所需检测的所有地址线。 权 利 要 求 书 CN 103。
11、165194 A 3 1/7 页 4 快速检测大容量 NOR Flash 的方法及装置 技术领域 0001 本发明涉及计算机技术领域， 尤其涉及一种快速检测大容量NOR Flash(非易失闪 存 ) 的方法及装置。 背景技术 0002 NOR Flash是现在市场上主要的非易失闪存技术之一， NOR Flash的特点是芯片内 执行， 这样应用程序可以直接在 Flash 闪存内运行， 而不必再把代码读到系统 RAM(Random Access Memory， 随机存取存储器 ) 中， 且 NOR Flash 的传输效率很高。 0003 NOR Flash 能够提供完整的寻址与数据总线， 并允许随。
12、机存取存储器上的任何区 域。 因此， 目前大部分的嵌入式设备产品中均采用NOR Flash作为存储设备。 如射频识别技 术产品线的电子标签阅读器 ZXRIS6700 和路侧单元 ZXRIS8900， 分别采用 1 片 64MB(MByte， 兆字节 ) 容量的 NOR Flash 和 3 片 64MB 容量的 NOR Flash ； 在转产过程中进行测试时， 如 果遍历整个 NOR Flash 存储空间进行检测， 则需要花费大量时间。 0004 在检测时， 任何 Flash 器件的写入操作只能在空的或已擦除的单元内进行， 所以 大多数情况下， 在进行写入操作之前必须先执行擦除。传统的 NORF。
13、lash 检测的方法是擦除 NOR Flash 全部空间内容， 花费了大量的时间。 发明内容 0005 本发明的主要目的是提供一种快速检测大容量 NOR Flash 的方法， 旨在实现快速 检测大容量 NOR Flash 的功能。 0006 本发明提供了一种快速检测大容量 NOR Flash 的方法， 包括以下步骤 ： 0007 擦除 NOR Flash 的一个扇区， 写入测试数据， 并判断数据线是否正常 ； 0008 若数据线正常， 则判断地址线是否正常， 并在地址线不正常时返回测试失败结 果 ； 0009 若数据线不正常， 则返回测试失败结果。 0010 优选地， 所述擦除 NOR Fla。
14、sh 的一个扇区， 写入测试数据， 并判断数据线是否正常 的步骤具体包括 ： 0011 擦除 NOR Flash 起始地址空间的任一扇区， 并在擦除的扇区写入测试数据 ； 0012 回读写入的测试数据， 并将其与原始写入的测试数据进行比较 ； 0013 若二者相同， 则判断数据线正常 ； 0014 若二者不相同， 则判断数据线不正常。 0015 优选地， 所述判断地址线是否正常的步骤具体包括 ： 0016 判断地址线是否短路 ： 向测试的基地址 0 偏移处写入测试数据， 将地址线依次左 移并回读， 若读出数据存在与所述写入的测试数据相同的数据， 则判断所述地址线短路， 即 地址线不正常 ； 0。
15、017 判断地址线是否开路 ： 若地址线开路， 则其状态一直为 0 或 1 ； 当所述地址线为 0 说 明 书 CN 103165194 A 4 2/7 页 5 时， 向基地址空间中写入测试数据， 将地址线依次左移并回读， 若回读的数据中包含所述基 地址空间中的数据， 则判断所述地址线开路 ； 当所述地址线为 1 时， 向所述基地址空间写入 测试数据， 将地址线依次左移并回读， 若回读的数据中包含所述基地址空间中的数据， 则判 断所述地址线开路， 即地址线不正常。 0018 优选地， 所述判断地址线是否短路的步骤具体包括 ： 0019 设置一个初始值为 0 的变量， 并将所述变量设置为自增状态。
16、 ； 0020 判断地址线移位是否结束 ； 0021 若是， 则在所述的变量值为1时， 返回地址线正常 ； 在所述的变量不为1时， 显示出 错的地址线位置， 返回地址线不正常 ； 0022 若否， 则继续移位地址线， 回读写入的测试数据并与原始写入的测试数据进行比 较 ； 若二者相同， 则所述的变量值自增。 0023 优选地， 所述移位地址线， 回读写入的测试数据并与原始写入的测试数据进行比 较的步骤具体包括 ： 0024 将地址线依次左移， 每次移动一位， 每次移位后均需回读写入的测试数据并与原 始写入的测试数据进行比较， 并判断二者是否相同， 直至检测完所需检测的所有地址线。 0025 本。
17、发明还提供了一种快速检测大容量 NOR Flash 的装置， 包括 ： 0026 数据线检测模块， 用于擦除 NOR Flash 的一个扇区， 写入测试数据， 并判断数据线 是否正常， 并在数据线不正常时， 返回测试失败结果 ； 0027 地址线检测模块， 用于在数据线正常时， 判断地址线是否正常， 并在地址线不正常 时返回测试失败结果。 0028 优选地， 所述数据线检测模块具体用于 ： 0029 擦除 NOR Flash 起始地址空间的任一扇区， 并在擦除的扇区写入测试数据 ； 0030 回读写入的测试数据， 并将其与原始写入的测试数据进行比较 ； 0031 若二者相同， 则判断数据线正常。
18、 ； 0032 若二者不相同， 则判断数据线不正常。 0033 优选地， 所述地址线检测模块具体包括 ： 0034 地址线短路检测单元， 用于向测试的基地址 0 偏移处写入测试数据， 将地址线依 次左移并回读， 若读出数据存在与所述写入的测试数据相同的数据， 则判断所述地址线短 路， 即地址线不正常 ； 0035 地址线开路检测单元， 若地址线开路， 则其状态一直为 0 或 1 ； 用于当所述地址线 为 0 时， 向基地址空间中写入测试数据， 将地址线依次左移并回读， 若回读的数据中包含所 述基地址空间中的数据， 则判断所述地址线开路 ； 当所述地址线为 1 时， 向所述基地址空间 写入测试数。
19、据， 将地址线依次左移并回读， 若回读的数据中包含所述基地址空间中的数据， 则判断所述地址线开路， 即地址线不正常。 0036 优选地， 所述地址线短路检测单元具体包括 ： 0037 变量设置子单元， 用于设置一个初始值为 0 的变量， 并将所述变量设置为自增状 态 ； 0038 移位检测子单元， 用于在判断地址线移位不结束时， 移位地址线， 回读写入的测试 数据并与原始写入的测试数据进行比较， 若二者相同， 则所述的变量值自增 ； 说 明 书 CN 103165194 A 5 3/7 页 6 0039 检测结果子单元， 用于在判断地址线移位结束且所述的变量值为 1 时， 返回地址 线正常 ；。
20、 在判断地址线移位结束且所述的变量不为 1 时， 显示出错的地 址线位置， 返回地 址线不正常。 0040 优选地， 所述移位检测子单元具体用于 ： 0041 将地址线依次左移， 每次移动一位， 每次移位后均需回读写入的测试数据并与原 始写入的测试数据进行比较， 并判断二者是否相同， 直至检测完所需检测的所有地址线。 0042 本发明通过只向 NOR Flash 空间一次性写入一组构造的测试数据， 在回读校验时 无须遍历整个地址空间， 只需通过地址线移位的方法回读所需检测的地址空间上的数据来 判断数据线和地址线是否存在开路或短路的情况， 实现了快速检测大容量 NOR Flash 的有 益效果。。
21、 附图说明 0043 图 1 是本发明快速检测大容量 NOR Flash 的方法一实施例流程示意图 ； 0044 图 2 是本发明快速检测大容量 NOR Flash 的方法中， 判断数据线是否正常一实施 例流程示意图 ； 0045 图 3 是本发明快速检测大容量 NOR Flash 的方法中， 判断地址线是否正常一实施 例流程示意图 ； 0046 图 4 是本发明快速检测大容量 NOR Flash 的装置一实施例的结构示意图 ； 0047 图5是本发明快速检测大容量NOR Flash的装置中地址线检测模块一实施例的结 构示意图 ； 0048 图6是本发明快速检测大容量NOR Flash的装置中。
22、地址线短路检测单元一实施例 的结构示意图 ； 0049 本发明目的的实现、 功能特点及优点将结合实施例， 参照附图做进一步说明。 具体实施方式 0050 以下结合说明书附图及具体实施例进一步说明本发明的技术方案。应当理解， 此 处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明， 并不用于限定本发明。 0051 参照图1， 图1是本发明快速检测大容量NOR Flash的方法一实施例流程 示意图， 本发明快速检测大容量 NOR Flash 的方法包括 ： 0052 步骤 S01、 擦除 NOR Flash 的一个扇区， 写入测试数据 ； 0053 在检测时， 任何 Flash 器件的写入操作只能在空的或已擦。
23、除的单元内进行， 所以 大多数情况下， 在进行写入操作之前必须先执行擦除 ； 本发明采用的方法是只需要擦除NOR Flash 的一个扇区， 并向其中写入测试数据 ； 0054 步骤 S02、 判断数据线是否正常 ； 若是， 则执行步骤 S03 ； 若否， 则执行步骤 S04 ； 0055 通过回读校验并比较回读写入的测试数据与原始写入的测试数据是否相同来判 断数据线是否正常 ； 通常数据线不正常主要有两种情况 ： 数据线短路和数据线开路 ； 具体 地， 向测试的基地址 0 偏移处写入测试数据， 依次读取从基地址处开始的地址空间， 如果读 取的数据与所述写入的测试数据相同， 则证明数据线正常。 。
24、0056 步骤 S03、 判断地址线是否正常 ； 说 明 书 CN 103165194 A 6 4/7 页 7 0057 在 NOR Flash 检测过程中， 首先检测的是数据线， 若数据线不正常， 则无需再检测 地址线是否正常， 系统直接返回测试失败结果 ； 只有数据线正常的情况下， 检测地址线才有 意义 ； 0058 通常， 判断地址线是否正常主要包括 ： 0059 判断地址线是否短路 ： 向测试的基地址 0 偏移处写入测试数据， 将地址线依次左 移 ( 只将单独一根地址线拉高， 其余地址线全部为低 )， 回读所述写入的测试数据， 如果发 现读出数据存在与写入相同的数据， 则判断所述地址线。
25、至少与其它地址线中一根地址线短 路， 即地址线不正常 ； 0060 判断地址线是否开路 ： 若地址线开路， 则其状态一直为 0 或 1 ； 当所述地址线为 0 时， 向基地址中写入测试数据， 在回读时会错误读到基地址空间的数据 ； 即向基地址空间中 写入测试数据， 将地址线依次左移并回读， 若回读的数据包含所述基地址空间数据， 则可判 断所述地址线开路 ； 当所述地址线为 1 时， 在向基地址空间写入数据时会错误写到该地址 线为 1 时的地址空间中， 即向所述基地址空间写入测试数据， 将地址线依次左移并回读， 若 回读的数据包含所述基地址空间中的数据， 则可判断所述地址线开路， 即地址线不正常。
26、 ； 0061 在地址线不正常时， 执行步骤 S04， 系统返回测试失败结果。 0062 步骤 S04、 返回测试失败结果 ； 0063 若数据线不正常， 即在数据线存在短路或数据线存在开路的情况下， 无需再检测 地址线是否正常， 直接返回测试失败结果。 0064 本发明快速检测大容量NOR Flash的方法通过仅擦除NOR Flash的一个扇区并向 其中写入相应测试数据， 回读校验来判断是否存在数据线和地址线开路或短路的情况， 达 到了快速检测大容量 NOR Flash 的有益效果。 0065 参照图 2， 图 2 是本发明快速检测大容量 NOR Flash 的方法中， 判断数据线是否正 常。
27、一实施例流程示意图 ； 本发明快速检测大容量 NOR Flash 的方法中擦除 NOR Flash 的一 个扇区， 写入测试数据， 并判断数据线是否正常的步骤具体包括 ： 0066 步骤 S011、 擦除 NOR Flash 起始地址空间的任一扇区， 并在擦除的扇区写入测试 数据 ； 0067 将 NOR Flash 起始地址空间的任一扇区进行擦除后， 向所述擦除的扇区中写入测 试数据 ； 优选地， 本发明以 16bit( 位数 ) 模式构造所述如下数据实现对 NOR Flash 的数据 线进行检测 ： 0068 WORD32 WriteBuf10 0xaaaa， 0069 0x5555， 0。
28、070 0xcccc， 0071 0x3333， 0072 0xf0f0， 0073 0x0f0f， 0074 0xff00， 0075 0x00ff， 0076 0xffff， 0077 0x0000 ； 说 明 书 CN 103165194 A 7 5/7 页 8 0078 步骤 S012、 回读写入的测试数据 ； 0079 对数据线进行检测时， 向需要测试的数据线的起始地址空间写入步骤 S011 所述 的 WriteBuf10 数据 ； 数据线不正常通常有两种情况 ： 数据线短路或数据线开路 ； 0080 数据线短路的情况 ： 如果是两根数据线， 只需写入并回读 0b01. 即可判 断所。
29、述 两根数据线之间是否短路 ； 若相邻的两根数据线之间没有短路， 则再将两根地址线作为一 组， 写入并回读 0b1100.， 用所述相同的方法检测相邻两组之间是否短路 ； 依次类推， 以 四根数据线为一组， 写入并回读 0b11110000.， 依次进行检测 ； 0081 数据线开路的情况 ： 检测数据线是否开路， 只需将所述测试数据取反， 再进行写入 和回读， 即可检测出数据线是否开路 ； 0082 步骤 S013、 判断回读的测试数据与原始写入的测试数据是否相同 ； 若是， 则执行 步骤 S014 ； 若否， 则执行步骤 S015 ； 0083 依次回读从起始地址空间处开始的地址空间， 将。
30、回读的测试数据与原始写入的测 试数据进行比较， 判断回读的测试数据与原始写入的测试数据是否相同 ； 0084 步骤 S014、 判断数据线正常 ； 0085 若回读的数据与原始写入的测试数据相同， 则证明数据线正常 ； 0086 步骤 S015、 判断数据线不正常。 0087 若回读的数据与原始写入的测试数据不相同， 则证明数据线不正常。 0088 本发明快速检测大容量NOR Flash的方法通过仅擦除NOR Flash的一个扇区并向 其中写入相应测试数据， 回读校验来判断是否存在数据线和地址线开路或短路的情况， 节 省了大量的检测时间， 达到了快速检测大容量 NOR Flash 的有益效果。。
31、 0089 参照图 3， 图 3 是本发明快速检测大容量 NOR Flash 的方法中， 判断地址线是否正 常一实施例流程示意图 ； 本发明快速检测大容量 NOR Flash 的方法， 判断地址线是否正常 的步骤具体包括 ： 0090 步骤 S021、 设置一个初始值为 0 的变量， 并将所述变量设置为自增状态 ； 0091 在本发明中， 优选地， 设置所述变量为 MirrorCnt， 并将所述变量 MirrorCnt 的初 始值设置为 0， 同时将所述变量 MirrorCnt 置为自增状态， 即为 MirrorCnt+ ； 0092 步骤 S022、 判断地址线移位是否结束 ； 若是， 则执。
32、行步骤 S023 ； 若否， 则执行步骤 S024 ； 0093 判断所需检测的地址线是否全部检测完毕是通过判断地址线移位是否结束来实 现的， 若地址线移位全部结束， 则需判断步骤 S021 中所述的变量 MirrorCnt 的值 ； 根据变 量 MirrorCnt 的值来判断地址线是否正常 ； 0094 步骤S023、 判断步骤S021中所述的变量MirrorCnt的值是否为1 ； 若是， 则执行步 骤 S025 ； 若否， 则执行步骤 S026 ； 0095 判断变量 MirrorCnt 的值是否为 1， 若变量 MirrorCnt 的值为 1， 则说明所检测的 地址线没有短路， 一切正常。
33、 ； 若变量 MirrorCnt 的值为数字 1 以外的其他任意值， 则说明所 检测的地址线有短路情况， 地址线不正常 ； 0096 步骤 S024、 继续移位地址线， 判断回读写入的测试数据与原始写入的测试数据是 否相同 ； 若是， 则所述的变量 MirrorCnt 的值自增 ； 若否， 则继续移位地址线 ； 0097 若地址线的移位没有结束， 则继续移位地址线， 并依次回读所写入的测试数据， 同 说 明 书 CN 103165194 A 8 6/7 页 9 时将回读的测试数据与原始写入的测试数据进行比较， 判断二者是否相同 ； 若二者相同， 则 所述的变量 MirrorCnt 的值自动增加。
34、 1 ； 若二者不相同， 则继续移位地址线 ； 0098 步骤 S025、 返回测试成功结果 ； 0099 若地址线全部移位结束后， 即完成了整个地址线的检测后， 若变量 MirrorCnt 的 值为 1， 则说明所检测的地址线一切正常 ； 0100 步骤 S026、 显示出错的地址线位置， 返回地址线测试不正常的结果 ； 0101 若完成了整个地址线的检测后， 变量MirrorCnt的值为数字1以外的其他任意值， 则说明地址线存在短路的情况， 地址线检测失败， 系统显示出错的地址线位置， 并返回地址 线测试不正常的结果。 0102 本发明快速检测大容量NOR Flash的方法通过地址线移位的。
35、方法回读所需检测的 地址空间上的数据来判断数据线和地址线是否存在开路或短路的情况， 节省了大量的检测 时间， 达到了快速检测大容量 NOR Flash 的有益效果。 0103 参照图 4， 图 4 是本发明快速检测大容量 NOR Flash 的装置一实施例的结构示意 图 ； 本发明快速检测大容量 NOR Flash 的装置包括 ： 0104 数据线检测模块 01 ： 用于擦除 NOR Flash 的一个扇区， 写入测试数据， 并判断数据 线是否正常， 并在数据线不正常时， 返回测试失败结果 ； 0105 擦除 NOR Flash 起始地址空间的任一扇区， 并在擦除的扇区写入测试数据 ； 回读 。
36、写入的测试数据， 并将其与原始写入的测试数据进行比较 ； 若二者 相同， 则判断数据线正 常 ； 若二者不相同， 则判断数据线不正常。 0106 地址线检测模块 02 ： 用于在数据线正常时， 判断地址线是否正常， 并在地址线不 正常时返回测试失败结果 ； 0107 在 NOR Flash 检测过程中， 首先检测的是数据线， 若数据线不正常， 则无需再检测 地址线是否正常， 系统直接返回测试失败结果 ； 只有在数据线正常的情况下， 检测地址线是 否正常才有意义 ； 若地址线存在错误， 则地址空间中的两个不同位置将被映射到同一物理 存储位置， 即写一个位置却改变了另一个位置 ； 地址线不正常通常。
37、包括 ： 地址线短路和地 址线开路 ； 在地址线不正常时， 系统返回测试失败结果。 0108 参照图5， 图5是本发明快速检测大容量NOR Flash的装置中地址线检测模块一实 施例的结构示意图 ； 本发明快速检测大容量 NOR Flash 的装置中地址线检测模块 02 包括 ： 0109 地址线短路检测单元 021， 用于向测试的基地址 0 偏移处写入测试数据， 将地址线 依次左移并回读， 若读出数据存在与所述写入的测试数据相同的数据， 则判断所述地址线 短路， 即地址线不正常 ； 0110 检测地址线短路的具体方法是 ： 将地址线依次左移， 每次只将单独一根地址线 拉高， 其余地址线全部为。
38、低， 回读写入的所述 WriteBuf10 长度的测试数据， 并与原始写 入的所述 WriteBuf10 的测试数据进行比较， 若发现回读的测试数据中有与原始写入的 WriteBuf10 的测试数据相同的数据， 则表明所述地址线至少与其他地址线中的一根地址 线短路， 即地址线不正常， 系统返回地址线检测失败结果 ； 0111 地址线开路检测单元022， 若地址线开路， 则其状态一直为0或1 ； 用于当所述地址 线为 0 时， 向基地址空间中写入测试数据， 将地址线依次左移并回读， 若回读的数据中包含 所述基地址空间中的数据， 则判断所述地址线开路 ； 当所述地址线为 1 时， 向所述基地址空 。
39、说 明 书 CN 103165194 A 9 7/7 页 10 间写入测试数据， 将地址线依次左移并回读， 若回读的数据中包含所述基地址空间中的数 据， 则判断所述地址线开路， 即地址线不正常 ； 0112 检测地址线开路的具体方法是 ： 对于开路的地址线， 其状态一直为 0 或者一直为 1 ； 当地址线状态为 0 时， 向起始地址空间中写入测试数据在回读时， 读出的数据中会包含 起始地址空间的数据， 即向基地址空间中写入测试数据， 将地址线依次左移并回读， 若回读 的数据中包含所述基地址空间中的数据， 则可判断所述地址线为开路 ； 当地址线状态为 1 时， 向起始地址空间写入测试数据会错误的。
40、写到地址空间为 1 的地址空间中， 即向所述基 地址空间写入测试数据， 将地址线依次左移并回读， 若回读的数据中包含所示基地址空间 中的数据， 亦可判断所述地址线开路， 即地址线不正常， 系统返回地址线检测失败结果。 0113 参照图6， 图6是本发明快速检测大容量NOR Flash的装置中地址线短路检测单元 一实施例的结构示意图 ； 本发明快速检测大容量 NOR Flash 的装置中地址线短路检测单元 021 具体包括 ： 0114 变量设置子单元 021a， 用于设置一个初始值为 0 的变量， 并将所述变量设置为自 增状态 ； 0115 在本发明中， 优选地， 设置所述变量为 Mirror。
41、Cnt， 并将所述变量 MirrorCnt 的初 始值设置为 0， 同时将所述变量 MirrorCnt 置为自增状态， 即为 MirrorCnt+ ； 0116 移位检测子单元 021b， 用于在判断地址线移位不结束时， 移位地址线， 回读写入的 测试数据并与原始写入的测试数据进行比较， 若二者相同， 则所述的变量值自增 ； 0117 移位检测子单元 021b 具体用于 ： 将地址线依次左移， 每次移动一位， 每次移位后 均需回读写入的测试数据并与原始写入的测试数据进行比较， 并判断二者是否相同， 直至 检测完所需检测的所有地址线 ； 0118 检测结果子单元 021c， 用于在判断地址线移位。
42、结束且所述的变量值为 1 时， 返回 地址线正常 ； 在判断地址线移位结束且所述的变量不为 1 时， 显示出错的地址线位置， 返回 地址线不正常 ； 0119 在地址线移位结束时， 判断所述变量 MirrorCnt 的值是否为 1， 若变量 MirrorCnt 的值为 1， 则说明地址线不短路， 返回地址线正常结果 ； 若所述变量 MirrorCnt 的值为除 1 以外的其他任意值， 则说明地址线短路， 并显示出错的地址线位置， 返回地址线不正常结 果。 0120 本发明快速检测大容量NOR Flash的装置， 通过只向NOR Flash空间一次 性写入 一组构造的测试数据， 在回读校验时无须。
43、遍历整个地址空间， 只需通过地址线移位的方法 回读所需检测的地址空间上的数据来判断数据线和地址线是否存在开路或短路的情况， 节 省了大量的检测时间， 达到了快速检测大容量 NOR Flash 的有益效果。 0121 以上所述仅为本发明的优选实施例， 并非因此限制其专利范围， 凡是利用本发明 说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换， 直接或间接运用在其他相关的技术领 域， 均同理包括在本发明的专利保护范围内。 说 明 书 CN 103165194 A 10 1/4 页 11 图 1 说 明 书 附 图 CN 103165194 A 11 2/4 页 12 图 2 说 明 书 附 图 CN 103165194 A 12 3/4 页 13 图 3 图 4 图 5 说 明 书 附 图 CN 103165194 A 13 4/4 页 14 图 6 说 明 书 附 图 CN 103165194 A 14 。