信号处理装置、半导体装置以及信号处理方法 【技术领域】
本发明涉及一种信号处理装置、半导体装置和以及信号处理方法，尤其是涉及在光盘装置等盘系统中，通过进行脱轨信号的检测灵敏度测定，进行优化，以便能正确测定脱轨信号。
背景技术
在盘系统中，为了再现记录在光盘上的信息，通过向光盘照射激光束，检测其反射光，再现记录在光盘上的信息。在当前的光盘装置、尤其是DVD播放器等中，存在单层DVD、2层DVD、DVD-RAM、DVD-R、DVD+R、DVD-RW、DVD+RW、CD-DA、CD-ROM、CD-R、CD-RW等各种盘，有必要用1台装置来再现尽可能多的种类的光盘。因此，有必要在光盘系统起动时或交换盘时判断是哪种盘，并对应地优化系统设定，快速进行再现。
DVD或CD制定了标准，希望在其范围内制造盘载体，但实际上由于制造工序的差异等，标准范围外的盘也在流通。其中，由于轨迹单距的不同或反射率的不同等引起的再现信号的调制率不同，使脱轨信号的检测灵敏度受到极大影响，在固定脱轨灵敏度的现有系统中，出现不能对应的盘。
图6表示现有的这种光盘装置的框图。图中，1是作为数据记录媒体的光盘，在螺旋形或同心圆形的轨迹中记录信息信号。2是使光盘1旋转驱动的旋转驱动部，3是光拾取器，通过向光盘1的信息面聚集光束，形成光斑，检测其反射光，由此输出各种信息，4是使光拾取器3向光盘1的径向移动的跟踪调节器，5是对应于跟踪控制部7的输出来驱动跟踪调节器4地跟踪驱动部，6是基于光拾取器3的输出来生成表示光拾取器3的来自轨迹的偏离的跟踪误差信号的跟踪误差信号检测部，7是对应于跟踪误差信号检测部6或脱轨信号检测部11的输出来控制跟踪驱动部5的跟踪控制部，8是对应于跟踪误差信号检测部6的输出来控制线驱动部9的线控制部，9是对应于线控制部8的输出来驱动线电机10的线驱动部，10是对应于线驱动部9的输出来使光拾取器3移动的线电机，11是对应于光拾取器3的输出来检测表示光拾取器3脱离轨迹的状态的脱轨信号的脱轨信号检测部。
下面说明上述构成的现有光盘装置的动作。
在进行盘再现的情况下，基于从光拾取器3得到的输出，由跟踪误差信号检测部6得到跟踪误差信号。跟踪控制部7按照得到的跟踪误差信号，进行使跟踪伺服稳定的处理，由跟踪驱动部5驱动跟踪调节器4，施加跟踪伺服，追踪轨迹。
另外，光拾取器3对盘径向的可动范围小，为了弥补，进行线控制。即，基于从跟踪误差信号检测部6得到的输出，线控制部8求出对应于偏差、即向盘径向的错位的输出，据此，由线驱动部9来驱动线电机10，使偏差消失。
另外，在现有光盘装置中，对振动时的脱轨或拉入轨迹的判断、访问时的轨迹横断方向检测，使用脱离信号检测部11得到的脱轨信号。在该脱轨信号用于脱轨的恢复的情况下，输出到跟踪控制部7，跟踪控制部7将大小可补偿脱轨的控制信号输出到跟踪驱动部5，由此，跟踪调节器4驱动光拾取器3返回原来的轨迹上。
这里，用图7来说明脱轨信号检测部11的脱轨信号的生成方法。图7模式表示轨迹横断时的波形。图7(a)表示光拾取器3的光盘再现信号和由该再现信号生成的脱轨信号。脱轨信号的生成如下所示。即，如图7(a)所示，比较再现信号的下侧包络线信号e和用虚线表示的基准信号r，根据比较结果，生成图7(a)所示的脱轨信号。
通常，利用横断轨迹时产生的再现信号的[凹部]、即再现信号的下侧包络线信号e沿纸面的上方向变为凸形的部分，通过将该下侧包络线信号超过基准信号r的基准值的部分设为高、将基准值以下的部分设为低，生成脱轨信号。另外，如上所述，轨迹横断时的再现信号的状态取决于盘载体，并且，调制率也对应于轨迹横断速度变化。图7(b)表示轨迹横断时的再现信号的[凹部]小时的波形，表示图7(b)所示脱轨信号的输出灵敏度比图7(a)低。
尤其是，由于轨迹间距窄的盘或凹坑形成不佳引起的串扰、即与相邻轨迹的干扰，极大影响了脱轨灵敏度。如上所述，由于脱轨信号被用于脱轨检测或拉入轨迹判断等，所以在不能正常检测脱轨信号的情况下，对轨迹追踪进行误判断，丧失系统的稳定性。
为了改善些问题，已开发了各种脱轨信号检测部。
图8表示专利文献1(特开平9-219027号公报(第4页、第5页、第1图、第2图))中记载的现有脱轨信号检测部的结构，图9表示其动作波形。
图8中，在形成于光盘中的轨迹中心，轨迹错误信号104是零电平，在远离中心的同时，错误信号向正或负方向增大。
零交叉检测电路105检测轨迹错误信号104的零交叉，生成零交叉脉冲106。采样保持控制电路107使用零交叉脉冲106，控制峰值电平采样保持电路110和底部电平采样保持电路111的采样保持定时。
如图9所示，在光盘的轨迹中心的槽部，轨迹错误信号104变为零电平，光检测器和信号101变为低电平，在轨迹与同其相邻的轨迹的交界的脊部，轨迹错误信号变为零电平，光检测器和信号101变为高电平。因此，若检测轨迹错误信号104的零交叉，并在该定时采样保持光检测器和信号101，则可检测光检测器和信号101的峰值电平、底部电平。
在检测出轨迹错误信号104的零交叉的情况下，使用脱轨信号来进行采样保持峰值/底部哪个的判断。即，采样保持控制电路107检测轨迹错误信号104的零交叉脉冲106，此时，若脱轨信号103是作为低的在轨状态，则输出底部采样保待脉109，若脱轨信号103是作为高的脱轨状态，则输出峰值采样保持脉冲108。由此，峰值电平采样保持电路110检测光检测器和信号101的光检测和信号峰值电平112，底部电平采样保持电路111检测光检测器和信号101的光检测和信号底部电平113，中间电平生成电路114生成这些光检测和信号峰值电平112和光检测和信号保持电平113的中间电平。比较器102将该中间电平作为基准值，进行与光检测器和信号101的大小比较，对应于结果，输出脱轨信号103。
但是，即使专利文献1所示的脱轨检测电路也不能对全部的光盘正确进行脱轨信号的检测，不能避免对每个盘不同的灵敏度，作为系统，难以得到稳定的脱轨灵敏度。
这样，在现有盘系统中，难以对各种盘保持脱轨灵敏度恒定，随之而来，具有难以确保偏离轨迹检测和拉入轨迹判断等的稳定性的问题。
【发明内容】
本发明为了解决上述现有问题而作出，其目的在于提供一种信号处理装置、半导体装置和信号处理方法，可对每个盘都保持脱轨灵敏度一定，随之而来，即使尤其是对标准外的盘，也可确保偏离轨迹检测和拉入轨迹判断等的稳定性。
为了解决上述问题，本申请技术方案1提供一种信号处理装置，其特征在于包括：轨迹交叉周期测定部，基于表示再现来自记录了数据的记录媒体上所形成的轨迹的该记录媒体上所记录的数据的再现部的偏离程度的跟踪误差信号，测定作为该再现部横切上述轨迹的周期的轨迹交叉周期；脱轨信号检测部，检测表示上述再现部脱离上述轨迹的脱轨信号；和脱轨检测灵敏度测定部，基于上述脱轨信号，测定作为规定测定期间内脱轨信号发生频度的脱轨检测灵敏度。
本申请技术方案2的信号处理装置，且在根据技术方案1的信号处理装置中，其特征在于：上述脱轨检测灵敏度测定部以上述跟踪误差信号的轨迹横断周期为单位来测定脱轨检测灵敏度。
本申请技术方案3的信号处理装置，且在技术方案1或技术方案2的信号处理装置中，其特征在于：上述脱轨检测灵敏度测定部仅在上述跟踪误差信号的轨迹横断周期在规定周期范围内的情况下才进行测定。
本申请技术方案4的信号处理装置，且在根据技术方案3的信号处理装置中，其特征在于：上述规定的周期范围包含上述再现部向其它轨迹移动的轨迹跳动时的轨迹横断周期。
本申请技术方案5的信号处理装置，且在根据技术方案1-3之一的信号处理装置中，其特征在于包括：缺陷检测部检测上述记录媒体有无缺陷；上述脱轨检测灵敏度测定部废弃上述记录媒体的缺陷检测出时的测定值。
本申请技术方案6的信号处理装置，且在根据技术方案5的信号处理装置中，其特征在于：在上述记录媒体的缺陷检测出时，废弃包含该缺陷检测出时的轨迹横断周期内的测定值。
本申请技术方案7的信号处理装置，且在根据技术方案1-6之一的信号处理装置中，其特征在于：上述脱轨信号检测部的检测灵敏度可变，脱轨检测灵敏度控制部，对应于上述脱轨检测灵敏度测定部测定的脱轨检测灵敏度，进行上述脱轨信号检测部的检测灵敏度控制。
本申请技术方案8的信号处理装置，且在根据技术方案7的信号处理装置中，其特征在于：上述脱轨检测灵敏度控制部单独设定上述再现部向其它轨迹移动的轨迹跳动时的脱轨检测灵敏度、和上述再现部追踪轨迹的轨迹追踪时的脱轨检测灵敏度。
本申请技术方案9的信号处理装置，且在根据技术方案技术方案1-8之一的信号处理装置中，其特征在于包括：跟踪驱动部，使再现记录在记录媒体中的数据的再现部在该记录媒体的径向移动；线(thread)驱动部，使上述再现部移动；和系统控制器，对控制上述各部进行控制，上述系统控制部控制上述跟踪驱动部和上述线驱动部，一边使上述再现部向横断上述轨迹的方向移动或振动，一边进行脱轨检测灵敏度的测定。
本申请技术方案10的信号处理装置，且在根据技术方案9的信号处理装置中，其特征在于：上述系统控制部进行控制，使上述轨迹的横断周期为规定的范围。
本申请技术方案11的信号处理装置，且在根据技术方案9或技术方案10的信号处理装置中，其特征在于：上述轨迹交叉周期测定部对上述跟踪驱动部和上述线控制部提供测定的跟踪交叉周期。
本申请技术方案12提供一种半导体装置，其特征在于包括：轨迹交叉周期测定部，基于表示再现来自记录了数据的记录媒体上所形成的轨迹的该记录媒体上所记录的数据的再现部的偏离程度的跟踪误差信号，测定作为该再现部横切上述轨迹的周期的轨迹交叉周期；和脱轨检测灵敏度测定部，基于表示上述再现部脱离上述轨迹的脱轨信号，测定作为规定测定期间内脱轨信号发生频度的脱轨检测灵敏度，该脱轨检测灵敏度测定部以上述跟踪误差信号的轨迹迹横断周期为单位来测定脱轨检测灵敏度。
本申请技术方案13提供一种信号处理方法，其特征在于包括：轨迹交叉周期测定步骤，基于表示再现来自记录了数据的记录媒体上所形成的轨迹的该记录媒体上所记录的数据的再现部的偏离程度的跟踪误差信号，测定作为该再现部横切上述轨迹的周期的轨迹交叉周期；脱轨信号检测步骤，检测表示上述再现部脱离上述轨迹的脱轨信号；和脱轨检测灵敏度测定步骤，根据上述脱轨信号，测定作为规定测定期间内脱轨信号发生频度的脱轨检测灵敏度。
本申请技术方案14的信号处理方法，且在根据技术方案13的信号处理方法中，其特征在于：还包含检测上述记录媒体有无缺陷的缺陷检测步骤，上述脱轨检测灵敏度测定步骤废弃上述记录媒体的缺陷检测出时的测定值。
本申请技术方案15的信号处理方法，且在根据技术方案13或技术方案14的信号处理方法中，其特征在于：上述脱轨信号检测步骤的检测灵敏度可变，对应于上述脱轨检测灵敏度测定步骤测定的脱轨检测灵敏度，进行上述脱轨信号检测步骤的检测灵敏度控制。
发明效果
如上所述，根据本申请技术方案1的信号处理装置，由于具备轨迹交叉周期测定部，基于表示再生记录在该记录媒体中的数据的再现部距形成于记录数据的记录媒体中的轨迹的错位程度的跟踪误差信号，测定作为该再现部横切上述轨迹的周期的轨迹交叉周期；脱轨信号检测部，检测表示上述再现部脱离上述轨迹的脱轨信号；和脱轨检测灵敏度测定部，基于上述脱轨信号，测定作为规定测定期间内脱轨信号发生频度的脱轨检测灵敏度，所以可正确测定脱轨检测灵敏度。
另外，根据本申请技术方案2的信号处理装置，在技术方案1所述的信号处理装置中，由于上述脱轨检测灵敏度测定部通过上述跟踪误差信号的轨迹横断周期单位来测定脱轨检测灵敏度，所以可基于作为测定脱轨检测灵敏度的最小单位的轨迹横断周期单位的期间的数据，正确测定脱轨检测灵敏度。
另外，根据本申请技术方案3的信号处理装置，在技术方案1或2所述的信号处理装置中，由于上述脱轨检测灵敏度测定部仅在上述跟踪误差信号的轨迹横断周期在规定周期范围内的情况下才进行测定，所以可废弃轨迹横断速度慢的情况或快的情况下的数据，可较正确地进行脱轨检测灵敏度的测定。
另外，根据本申请技术方案4的信号处理装置，在技术方案3所述的信号处理装置中，由于上述规定的周期范围包含上述再现部向其它轨迹移动的轨迹跳动时的轨迹横断周期，所以可在进行脱轨检测灵敏度测定时必然包含轨迹横断所产生的轨迹跳动，可提高轨迹跳动时的脱轨检测灵敏度测定的可靠性。
另外，根据本申请技术方案5的信号处理装置，在技术方案1-3之一所述的信号处理装置中，由于具备检测上述记录媒体有无缺陷的缺陷检测部，上述脱轨检测灵敏度测定部废弃上述记录媒体的缺陷检测出时的测定值，所以可不使用由于盘表面的损伤或缺陷等可靠性低的测定数据来测定脱轨检测灵敏度，可进一步提高脱轨检测灵敏度测定的可靠性。
另外，根据本申请技术方案6的信号处理装置，在技术方案5所述的信号处理装置中，因为在上述记录媒体的缺陷检测时，废弃包含该缺陷检测出时的轨迹横断周期内的测定值，所以可不使用包含由于盘表面的损伤或缺陷等可靠性低的测定数据的区间的轨迹横断周期内的测定值来测定脱轨检测灵敏度，可进一步提高脱轨检测灵敏度测定的可靠性。
另外，根据本申请技术方案7的信号处理装置，在技术方案1-6之一所述的信号处理装置中，由于上述脱轨信号检测部的检测灵敏度可变，具备脱轨检测灵敏度控制部，对应于上述脱轨检测灵敏度测定部测定的脱轨检测灵敏度，进行上述脱轨信号检测部的检测灵敏度控制，所以可对应于测定的脱轨检测灵敏度来进行脱轨信号检测部的检测灵敏度控制，可进行更正确的脱轨检测灵敏度测定，可对各种记录媒体保持一定的脱轨灵敏度。
另外，根据本申请技术方案8的信号处理装置，在技术方案7所述的信号处理装置中，由于上述脱轨检测灵敏度控制部单独设定上述再现部向其它轨迹移动的轨迹跳动时的脱轨检测灵敏度、和上述再现部追踪轨迹的轨迹追踪时的脱轨检测灵敏度，所以可在轨迹跳动时与轨迹追踪时分别设定脱轨灵敏度。
另外，根据本申请技术方案9的信号处理装置，在技术方案1-8之一所述的信号处理装置中，因为具备跟踪驱动部，使再现记录在记录媒体中的数据的再现部向该记录媒体的径向移动；使上述再现部移动的线驱动部；和控制上述各部的系统控制部，上述系统控制部控制上述跟踪驱动部和上述线驱动部，一边使上述再现部向横断上述轨迹的方向移动或振动，一边进行脱轨检测灵敏度的测定，所以即使是基本不存在盘偏心的盘，也可通过使再现部移动或振动，产生轨迹的横断，测定脱轨检测灵敏度。
另外，根据本申请技术方案10的信号处理装置，在技术方案9所述的信号处理装置中，因为上述系统控制部进行控制，使上述轨迹的横断周期为规定的范围，所以对于未以高精度形成轨迹的记录媒体，以适当速度使再现部移动或振动，使产生轨迹横断，更正确地测定脱轨检测灵敏度。
另外，根据本申请技术方案11的信号处理装置，在技术方案9或10所述的信号处理装置中，因为上述轨迹交叉周期测定部对上述跟踪驱动部和上述线控制部提供测定的跟踪交叉周期，所以可进行移动再现部时的速度控制。
另外，根据本申请技术方案12的半导体装置，因为具备轨迹交叉周期测定部，基于表示再生记录在该记录媒体中的数据的再现部距形成于记录数据的记录媒体中的轨迹的错位程度的跟踪误差信号，测定作为该再现部横切上述轨迹的周期的轨迹交叉周期；和脱轨检测灵敏度测定部，基于表示上述再现部脱离上述轨迹的脱轨信号，测定作为规定测定期间内脱轨信号发生频度的脱轨检测灵敏度，该脱轨检测灵敏度测定部以上述跟踪误差信号的轨迹横断周期单位来测定脱轨检测灵敏度，可基于作为测定脱轨检测灵敏度的最小单位的轨迹横断周期单位的期间的数据，正确测定脱轨检测灵敏度。
另外，根据本申请技术方案13的信号处理方法，因为包含轨迹交叉周期测定步骤，基于表示再生记录在该记录媒体中的数据的再现部距形成于记录数据的记录媒体中的轨迹的错位程度的跟踪误差信号，测定作为该再现部横切上述轨迹的周期的轨迹交叉周期；脱轨信号检测步骤，基于表示上述再现部脱离上述轨迹的脱轨信号；和脱轨检测灵敏度测定步骤，根据上述脱轨信号，测定作为规定测定期间内脱轨信号发生频度的脱轨检测灵敏度，所以可正确测定脱轨检测灵敏度。
另外，根据本申请技术方案14的信号处理方法，在技术方案13所述的信号处理方法中，因为还包含检测上述记录媒体有无缺陷的缺陷检测步骤，上述脱轨检测灵敏度测定步骤废弃上述记录媒体的缺陷检测出时的测定值，所以可不使用由于盘表面的损伤或缺陷等可靠性低的测定数据来测定脱轨检测灵敏度，可进一步提高脱轨检测灵敏度测定的可靠性。
另外，根据本申请技术方案15的信号处理方法，在技术方案13或14所述的信号处理方法中，因为上述脱轨信号检测步骤的检测灵敏度可变，具备脱轨检测灵敏度控制步骤，对应于上述脱轨检测灵敏度测定步骤测定的脱轨检测灵敏度，进行上述脱轨信号检测步骤的检测灵敏度控制，所以可对应于测定的脱轨检测灵敏度来进行脱轨信号检测部的检测灵敏度控制，可进行更正确的脱轨检测灵敏度测定，可对各种记录媒体保持一定的脱轨灵敏度。
【附图说明】
图1(a)是表示具有本发明实施方式1的信号处理装置的光盘装置的结构框图。
图1(b)是表示图1(a)的轨迹交叉周期检测部的结构例框图。
图1(c)是表示图1(a)的脱轨工作状态测定部的结构例框图。
图1(d)是表示图1(a)的脱轨检测灵敏度控制部的结构例框图。
图1(e)是表示图1(a)中脱轨信号检测部的结构例框图。
图2(a)是表示具有本发明实施方式1的信号处理装置的光盘装置的动作的波形图，是表示在轨迹横断速度慢时的动作的波形图。
图2(b)是表示具有本发明实施方式1的信号处理装置的光盘装置的动作的波形图，是表示在轨迹横断速度快时的动作的波形图。
图2(c)是表示具有本发明实施方式1的信号处理装置的光盘装置的动作的波形图，是表示在轨迹横断方向反转时的动作的波形图。
图3(a)是表示具有本发明实施方式2的信号处理装置的光盘装置的结构框图。
图3(b)是表示图3(a)的缺陷检测部的结构例框图。
图3(c)是表示图3(a)的脱轨工作状态测定部的结构例框图。
图4(a)是表示具有本发明实施方式2的信号处理装置的光盘装置的动作的波形图，是表示脱轨检测灵敏度测定时的跟踪误差信号检测部6的输出信号的波形图。
图4(b)是表示脱轨信号检测部11的输出信号的波形图。
图4(c)是表示缺陷检测部15的输出信号波形图。
图5是表示具有本发明实施方式3的信号处理装置的光盘装置的结构框图。
图6是表示现有光盘装置的结构框图。
图7(a)是表示现有光盘装置的脱轨信号的生成方法的波形图。
图7(b)是表示在与图7(a)不同的条件下适用现有光盘装置的脱轨信号的生成方法的波形的波形图。
图8是表示现有脱轨检测电路的结构框图。
图9是表示现有脱轨检测电路的脱轨信号生成方法的波形图。
【具体实施方式】
本发明通过构成为不使脱轨信号检测部自身的检测精度提高，测定脱轨检测灵敏度，并根据测定结果来进行脱轨信号检测部的灵敏度控制，可更正确测定脱轨灵敏度，由此，可确保偏离轨迹检测和拉入轨迹判断等的系统稳定性。
即，通过构成为基于从脱轨信号处理部与轨迹交叉周期测定部的跟踪误差信号所得到的轨迹横断周期信息与从缺陷检测部得到的缺陷信号，由脱轨检测灵敏度测定部测定脱轨检测灵敏度，可更正确地测定脱轨检测灵敏度。
并且，通过构成为基于由跟踪误差信号检测部及轨迹横断周期检测部得到的信息，进行跟踪控制及线控制，测定脱轨检测灵敏度，从而，在可更正确测定脱轨检测灵敏度的同时，可实现速度控制。
通过构成为基于得到的脱轨检测灵敏度，由脱轨控制部变更脱轨信号检测部的灵敏度，可对各种盘保持脱轨灵敏度恒定，随之而来，可确保偏离轨迹检测和拉入轨迹判断等的系统稳定性。
下面，用图1-图5来说明本发明的实施方式。
实施方式1
本实施方式1通过检测脱轨工作状态，并基于其测定结果调整脱轨检测灵敏度，可测定对应于各种盘来调整脱轨检测灵敏度的脱轨检测灵敏度，并且用该测定结果可进行脱轨检测灵敏度的调整。
图1(a)表示具有本发明实施方式1的信号处理装置的光盘装置的框图。在图中，1是在螺旋状或同心圆状的轨迹上记录信息信号的作为记录媒体的光盘；2是使光盘1旋转驱动的旋转驱动部；3是作为再现部的光拾取器，通过在光盘1的信息面上聚光光束形成光点，并检测其反射光来输出各种信息；4是使光拾取器3沿光盘1的径向移动的跟踪调节器；5是驱动跟踪调节器4的跟踪驱动器；6是跟踪误差信号检测部，根据光拾取器3的输出，生成表示光拾取器3距轨迹的偏移的跟踪误差信号；7是基于跟踪误差信号检测部6的输出来控制跟踪驱动部5的跟踪控制部；8是基于跟踪误差信号检测部6的输出来控制线驱动部9的线控制部；9是对应于线控制部8的输出，驱动线马达10的线驱动部；10是对应于线驱动部9的输出，使光拾取器3移动的线马达；11是脱轨信号检测部，基于光拾取器3的输出，用对应于脱轨检测灵敏度控制部14的输出的灵敏度来检测表示光拾取器3从轨迹脱离的脱轨信号；12是轨迹交叉周期测定部，基于由跟踪误差信号检测部6测得的跟踪误差信号，测定轨迹横断周期(轨迹交叉周期)；13是脱轨工作状态测定部(脱轨检测灵敏度测定部)，基于由脱轨信号检测部11及轨迹交叉周期测定部12测得的信息，测定作为脱轨检测灵敏度的脱轨工作状态；14是脱轨检测灵敏度控制部，基于由脱轨工作状态测定部13测得的信息来控制脱轨检测灵敏度，进行脱轨信号检测部11的检测灵敏度控制。
另外，100是控制跟踪驱动部5、线驱动部9、轨迹交叉周期测定部12、脱轨工作状态测定部13的系统控制部。200是信号处理装置，由跟踪误差信号检测部6、跟踪控制部7、线控制部8、跟踪驱动部5、线驱动部9、脱轨信号检测部11、轨迹交叉周期测定部12、脱轨工作状态测定部13、脱轨检测灵敏度控制部14、系统控制部10构成。
本实施方式1的装置，相对于图6所示的现有例的结构，追加由轨迹交叉周期测定部12、脱轨工作状态测定部13构成的半导体装置及脱轨检测灵敏度控制部14，同时，向脱轨工作状态测定部13提供脱轨信号检测部11的输出信号。
其中，轨迹交叉周期测定部12将跟踪误信号与基准电平比较检测出高及低的区间，通过计数该高及低的区间的周期等来进行轨迹交叉周期的计数。图1(b)表示其结构例，122是产生基准电平的基准电平产生电路；120是比较电路，比较该基准电平与跟踪误差信号并检测高及低的区间；121是计数器，计数高及低的区间的周期并输出轨迹交叉周期信号。
另外，脱轨工作状态测定部13通过采样来自脱轨信号检测部11的脱轨信号的高、低电平，并由正倒计数器测定其比例等来检测脱轨工作状态。图1(c)表示其结构例，130及131分别是采样脱轨信号的高电平及低电平的高电平采样保持电路及低电平采样保持电路；132是正倒计数器，在高电平及低电平区间内进行正计数及倒计数；134是比较电路，将由上限值产生电路136及下限值产生电路135产生的上限值及下限值与轨迹交叉周期信号比较，并判定轨迹交叉周期信号的值是否在规定的范围内；133是数据取消电路，在轨迹交叉周期信号的值在规定的范围内时，设正倒计数器的输出有效，在轨迹交叉周期信号的值不在规定的范围内时取消正倒计数器132的输出；137是平均电路，平均数据取消电路133的输出信号并输出脱轨工作状态信号。
并且，脱轨检测灵敏度控制部14如图1(d)所示，构成为通过将由脱轨工作状态测定部13测定的值经D/A转换器140进行D/A转换等后发送到脱轨信号检测部11，使图7(a)的用虚线表示的基准信号r的电平升降等，来进行脱轨信号检测部11的脱轨检测灵敏度控制。
下面说明动作。另外，省略说明与图6所示现有例相同的动作。
首先，在通常动作时，经系统控制部100，跟踪控制部7和线控制部8变成动作状态，经该跟踪控制部7及线控制部8，跟踪伺服变成打开状态，即，跟踪控制变成启动状态。
相反，在脱轨工作状态测定时，除了使光拾取器3移动或振动的情况之外，跟踪控制部7及线控制部8同时变成非动作状态，测定脱轨工作状态。
这是因为在光盘螺旋状轨迹偏心充分存在时，仅通过固定光拾取器不变使光盘旋转，光拾取器横断轨迹并可测定脱轨工作状态，但在轨迹偏心基本上不存在时，产生轨迹横断，有意使光拾取器移动或振动是必要的。
而且，在用图1的装置进行脱轨检测灵敏度测定时，在光拾取器3横断轨迹的状态下，基于由轨迹交叉周期测定部12测得的轨迹横断信号及轨迹交叉周期信息两者，脱轨工作状态测定部13测定轨迹交叉周期，若其在一定周期内，则采用在该周期内测定的数据；若在一定周期之外取消在该周期内测定的数据，由此一边取舍选择测定数据一边积分脱轨信号，并对应于测定期间平均测定值来求得脱轨检测灵敏度，即，在测定期间中脱轨信号的产生频率。另外，用由该脱轨工作状态测定部13求得的脱轨检测灵敏度，经脱轨检测灵敏度控制部14变更脱轨信号检测部11的检测灵敏度，接近期望的脱轨检测灵敏度。
即，作为脱轨信号检测部11，例如在用与如图8所示结构相同的部件的情况下，如图1(e)所示，在中间电平生成电路114的输出与比较器102的逆相输入端子之间设置基准电平可变电路116，通过使作为该基准电平的中间电平对应于脱轨检测灵敏度控制信号变化，可变更脱轨信号检测部11的检测灵敏度。
进行这样的动作，对于用现有的脱轨检测电路来说是困难的。可对每个盘保持脱轨检测灵敏度恒定，对于各种盘，特别是标准外的光盘，将脱轨检测灵敏度保持在一定的灵敏度。另外，既便不完全地保持一定的灵敏度，脱轨检测灵敏度也在一定灵敏度附近，也可谋求系统的稳定。
下面用图2说明脱轨检测灵敏度测定时的动作。
图2是说明实施方式1的图，是表示在进行脱轨检测灵敏度测定时的各波形的波形图。在图2中，横坐标表示时间，纵坐标表示电压。
图2(a)是脱轨检测灵敏度测定时跟踪误差信号检测部6的输出信号及脱轨信号检测部11的输出信号。
在测定脱轨检测灵敏度时，系统控制部100若由跟踪控制部7关闭跟踪伺服并产生光拾取器3的轨迹横断，则跟踪误差信号表示图2(a)所示波形。另外，在图2(a)中，用黑圆表示的位置是由轨迹交叉周期测定部12测得的轨迹横断位置，根据其间隔测量轨迹交叉周期。实际上，因噪声等对脱轨误差信号存在影响，所以为了不误检测轨迹横断位置，通过实施使轨迹交叉周期测定部12具有滞后等对策，来正确地检测轨迹横断位置。
脱轨检测灵敏度因是表示光拾取器3是否在轨迹上的信号，所以基本上在如从时刻t1到时刻t2所示，在轨迹横断时，以50％的比例输出。因此，在脱轨灵敏度的测定中，若将测定开始点在任意时间内设定在存在于时刻t1与时刻t2之间的时刻t3，则因为时刻t1到时刻t3的期间不在测量值中，所以此时脱轨信号的产生频率被测量得高。另外相反地，可容易地理解也产生脱轨信号的产生频率被测量得低的情况。并且，也可容易地理解测定结束点变成相同的状态。因此，通过将测定开始点及测定结束点设定在与时刻t1或时刻t2的轨迹横断位置相同的位置上，可取得更正确地进行脱轨检测灵敏度测定的效果。当然，在测定开始点及测定结束点之间，即便最低也必须进行1个周期以上的轨迹横断，通过在多个轨迹交叉周期内设定测定期间，可进行更稳定的脱轨检测灵敏度测定。
另外，通过轨迹交叉周期测定部12进行控制，将测定开始点及测定结束点设定在与时刻t1或时刻t2的轨迹横断位置相同的位置上。即，因为轨迹交叉周期测定部12比较跟踪误差信号后求得轨迹交叉周期，所以可识别轨迹从何处开始。同样地，因为轨迹交叉周期测定部12也可识别轨迹横断的定时，所以基于这些识别出的轨迹交叉周期及轨迹横断定时，脱轨工作状态测定部13可进行测定。
另外，脱轨信号因由再现信号的调制级、即再现信号的凹部产生，所以灵敏度随轨迹横断速度变化。在图2(a)的时刻t6至时刻t7所示的轨迹横断速度慢的情况下，脱轨信号不是在时刻t4至时刻t5的期间被检测的，而是在图2(a)的从时刻t4附近的上升至时刻t5以后下降的长的期间内被检测的。相反，在图2(b)中所示的轨迹横断速度快的情况下，脱轨信号不是在时刻t4至时刻t5的期间被检测的，而是在图2(b)的时刻t8以后上升、时刻t9之前下降的短的期间内被检测的。因此，在测定脱轨检测灵敏度时，有必要考虑上述问题后再进行测定。
另外，在图2(c)中所示的轨迹横断方向反转的情况也有考虑的必要。这是盘载体偏心等的影响，产生在时刻t10至时刻t2的范围内所示的位相反转的波形。若在该期间内进行脱轨灵敏度测定，则测定的脱轨检测灵敏度高。同样地，因脱轨信号不产生的期间也有可能延迟，所以对脱轨灵敏度测定不产生误差。如上所述，在轨迹横断速度慢及快时，作为“数据取消”如图2(a)至图2(c)中所示，期望除去包含该区间的零横断点彼此之间的测定数据来测定。
在此，在轨迹横断方向反转时，如在图2(c)中所示，因轨迹交叉周期变长，利用该现象，可作为与轨迹横断速度慢时等价的情况进行处理。因此，在DVD唱机等具有盘判别功能以外的光盘装置中，对应于要再现的光盘的种类，预先设定光盘装置，以采用仅由轨迹交叉周期测定部12测得的轨迹交叉周期在规定范围内时测定的数据，提高脱轨检测灵敏度测定的可靠性。
另外，作为脱轨检测灵敏度测定时的轨迹横断速度的范围，决定为包含轨迹跳跃时的轨迹横断速度，用该测定结果，在脱轨检测灵敏度高时，由脱轨检测灵敏度控制部14降低脱轨检测灵敏度；在脱轨检测灵敏度低时，由脱轨检测灵敏度控制部14提高脱轨检测灵敏度，所以使轨迹跳跃时的脱轨检测灵敏度稳定，确保轨迹跳跃的稳定性。
另外，如上所述，脱轨信号具有在轨迹横断速度快时灵敏度减小，轨迹横断速度慢时灵敏度增加的趋势，在轨迹跳跃时和轨迹追踪时有时最好改变灵敏度。结果，通过轨迹检测灵敏度控制部14在脱轨信号检测部11中分别设定轨迹跳跃时的脱轨检测灵敏度和轨迹追踪时的脱轨检测灵敏度，可构成在轨迹跳跃时及轨迹追踪时两种状态下更稳定的系统。
如上所述，根据本实施方式1，基于由脱轨信号和轨迹交叉周期测定部的跟踪误差信号测得的轨迹交叉周期信息，测定脱轨工作状态，由此可更正确地测定脱轨检测灵敏度。同时，根据测得的脱轨检测灵敏度来改变脱轨信号检测部的灵敏度，所以可对各种盘保持在一定的脱轨灵敏度。
另外，在本实施方式1中，因由轨迹交叉周期测定部设为如图2的时刻t1或时刻t2的轨迹横断位置，可更正确地测定脱轨灵敏度，也可以在轨迹交叉周期测定部的前级设置轨迹横断检测部，由此来检测脱轨灵敏度测定的开始定时及结束定时，并向脱轨工作状态测定部输出其检测结果。
实施方式2
本实施方式2相对于实施方式1设置了检测来自光盘的再现信号的缺陷的缺陷检测部。
图3(a)表示作为基于本发明实施方式2的具有半导体装置的信号处理装置的光盘装置的框图。在图中，与图1(a)相同符号表示相同或相等的部分。200是信号处理装置，除图1(a)中信号处理装置具有的各块外，附加缺陷检测部。15是缺陷检测部，基于由光拾取器3测得的信息信号进行再现信号的缺陷检测。该缺陷检测部15通过将上侧包络线信号、即上下颠倒图7所示的下侧包络线信号波形的波形与基准信号比较，在成为上侧产生凹部的波形时，即，在再现信号的上侧包络线信号面向纸面下方变为凸状的部分产生时，输出缺陷检测信号等构成。图3(b)表示该缺陷检测部15的结构例。在图中，150是上下颠倒下侧包络线信号的波形的波形反转电路；152是产生基准值的基准值产生电路；151是比较电路，将该上下颠倒的下侧包络线信号与基准值产生电路152产生的基准值比较，在低于基准值区间内输出缺陷检测信号。
图3(c)表示在本实施方式2中脱轨工作状态测定部13的结构，除在数据取消电路133中重新增加作为其控制信号的缺陷检测信号之外，与图1(c)所示相同。
下面，说明本实施方式2的动作。本实施方式2的动作也具有与实施方式1同样的通常动作和脱轨工作状态测定2种方式，下面说明与实施方式1不同的脱轨工作状态测定时的动作。
如上所述，在脱轨灵敏度测定时，有必要正常地输出再现信号(包含脱轨信号)及跟踪误差信号。但是，在因盘表面损伤或污迹等导致再现信号脱落或变坏时，降低了测定数据的可靠性。
图4是用于说明实施方式2的动作原理的图，是表示在进行脱轨检测灵敏度测定时的各波形的波形图。在图4中，横坐标表示时间，纵坐标表示电压。
图4(a)是在脱轨检测灵敏度测定时的跟踪误差信号检测部6的输出信号，图4(b)是脱轨信号检测部11的输出信号，图4(c)是缺陷检测部15的输出信号。
在脱轨灵敏度测定时，时刻t12至时刻t13中产生作为缺陷检测部15的输出信号的缺陷检测信号时，取消缺陷检测信号产生中、即从时刻t12至时刻t13的部分的测定数据。这样，即便在脱轨灵敏度测定时通过缺陷区域，也不降低测定数据的可靠性，可进行脱轨灵敏度测定。
另外，在脱轨横断周期内检测出缺陷时，不仅取消检测中的测定数据，还取消时刻t14至时刻t15及时刻t15至时刻16所示的轨迹交叉周期的数据。因为这样也将时刻t14至时刻t12所示的期间内的测定数据及时刻t13至时刻t16所示的期间内的测定数据取消，所以如实施方式1例所述，也不测定轨迹交叉周期中的误差成分，可进一步提高脱轨检测灵敏度测定的可靠性。
如上所述，根据本实施方式2，设置检测再现信号缺陷的缺陷检测部，因为在由该缺陷检测部检测出缺陷时，限制脱轨工作状态测定部的测定结果的利用并取消测定数据，所以，可从测定结果中除去轨迹交叉周期中的误差成分，可进一步地提高脱轨检测灵敏度测定的可靠性。
实施方式3
本实施方式3具有与实施方式1相同的块结构，但不是对脱轨工作状态测定部，而是对跟踪控制部及线控制部提供来自轨迹交叉周期测定部的轨迹交叉周期。同时，向跟踪控制部提供来自脱轨信号检测部的脱轨信号。
图5表示具有基于本发明实施方式3的半导体装置的作为信号处理装置的光盘装置的结构框图。在图中，1是在螺旋状或同心圆状的轨迹是记录信息信号的光盘；2是使光盘1旋转驱动的旋转驱动部；3是作为再现部的光拾取器，通过在光盘1的信息面聚光光束形成光点并检测其反射光来输出各种信息；4是使光拾取器3沿光盘1的径向移动的跟踪调节器；5是驱动跟踪调节器4的跟踪驱动器；6是跟踪误差信号检测部，根据光拾取器3的输出，生成表示光拾取器3距轨迹的偏移的跟踪误差信号；7是跟踪控制部，基于跟踪误差信号检测部6、脱轨信号检测部11及轨迹交叉周期测定部12的输出，控制跟踪驱动部5；8是线控制部，基于跟踪误差信号检测部6及轨迹交叉周期测定部12的输出，控制线驱动部9；9是对应于线控制部8的输出，驱动线马达10的线驱动部；10是对应于线驱动部9的输出，使光拾取器3移动的线马达；11是脱轨信号检测部，对应于光拾取器3的输出，检测表示光拾取器3从轨迹偏离的脱轨信号；12是基于来自跟踪误差信号检测部6的跟踪误差信号，测定轨迹交叉周期的轨迹交叉周期测定部；13是基于由脱轨信号检测部11测得的信息，测定脱轨检测灵敏度的脱轨工作状态测定部；14是基于由脱轨工作状态测定部13测得的信息，控制脱轨灵敏度的脱轨检测灵敏度控制部，控制脱轨信号检测部11的检测灵敏度。
下面，说明本实施方式3的动作。本实施方式3的动作也与实施方式1一样，具有通常动作和脱轨工作状态测定的2种方式，下面说明与实施方式1不同的脱轨工作状态测定时的动作。
由于在脱轨灵敏度测定时监控轨迹横断时的脱轨信号，所以在轨迹偏心基本上不存在的状态下，轨迹横断难以产生；为了在脱轨灵敏度测定时得到正确的测定值，存在测定时间变长或测定值产生偏差等问题。因此，在进行脱轨检测灵敏度测定时，有必要用跟踪控制部7及线控制部8稳定地产生轨迹横断。
首先，系统控制部100经跟踪控制部7关闭跟踪伺服，进而经线控制部8使线马达10停止。接着，系统控制部100从跟踪控制部7向跟踪驱动部5提供干扰，以使光拾取器3沿盘的径向振动。作为此时的干扰波，可以考虑为正弦波、三角波等，但，不用说，只要是象光拾取器3横断轨迹的那种波形，即便哪种波形也可以。
如上所述，通过使光拾取器3沿盘径向振动，取得轨迹横断稳定地产生，正常地进行脱轨灵敏度测定、还可缩短测定时间的效果。
同样地，系统控制部100为使轨迹横断，即使不用跟踪控制部7，从线控制部8向线驱动部9提供干扰以使光拾取器3沿盘径向振动，也取得同样的效果。另外，即便一边由线控制部8向线驱动部9沿任一方向驱动(移动)，一边进行脱轨灵敏度测定，也可期望相同的效果。
并且，对应于轨迹交叉周期测定部12的输出，控制线控制部8的输出值来保持轨迹横断速度恒定，从而因为在脱轨灵敏度测定时测得的跟踪误差信号和脱轨信号的频率一定，所以取得可测定在特定的频率下的脱轨灵敏度，进一步可稳定进行脱轨检测灵敏度测定的效果。
另外，通过将脱轨信号检测部11及轨迹交叉周期测定部12的输出输入到跟踪控制部7，比较光拾取器3的轨迹交叉周期和预先设定在跟踪控制部7的周期，可控制跟踪驱动力。
并且，向线控制部8输入轨迹交叉周期测定部12的输出，比较光拾取器3的轨迹交叉周期与预先设定在线控制部8上的周期，可控制线的驱动力。
而且，由此可控制速度。即，因跟踪误差信号与脱轨信号交错90度相位，所以跟踪控制部7根据该相位可判别光拾取器3的移动方向。另外，跟踪控制部7及线控制部8基于跟踪误差信号和轨迹交叉周期(即便脱轨信号周期也可)可判别光拾取器3的移动速度。如上所述，因可判别光拾取器3的移动方向和移动速度，所以可通过加速或减速光拾取器3进行速度的控制，以达到方向及速度的目标。
如上所述，根据本实施方式3，通过从跟踪控制部7向跟踪驱动部5提供干扰以使光拾取器3移动或振动，可稳定地产生轨迹横断，即便是轨迹偏心基本上不存在的盘等也取得可进行脱轨检测灵敏度测定的效果。同时，通过将脱轨信号检测部11及轨迹交叉周期测定部12的输出输入到跟踪控制部7，向线控制部8中输入轨迹交叉周期测定部12的输出，可在移动光拾取器3时控制速度。
另外，在本实施方式3例中，作为脱轨信号的生成方法，由利用再现信号的“凹部”的方法来进行说明，但即便涉及例如相位差法等、由其他方法生成的脱轨信号，不用说也可用相同的方法测定及调整脱轨检测灵敏度。
另外，在本实施方式3中，如上所述，使光拾取器3或线移动或振动而提高测定精度，因实现时不必轨迹交叉周期信息，所以不将轨迹交叉周期测定部12的输出输入到脱轨工作状态测定部13，但若必须进行脱轨检测灵敏度测定，则与实施方式1相同，将作为轨迹交叉周期测定部12的输出测得的轨迹横断信号和轨迹交叉周期信息输入到脱轨工作状态测定部13。
另外，在实施方式1至3的例中表示由硬件构成的光盘装置，旋转驱动部2、光拾取器、跟踪调节器4、线马达10的主要部分等以外的电路块，即，在图1(a)、图3(a)、图5中的信号处理装置200可由1个或多个半导体装置实现，另外该信号处理装置也可通过软件来实现。
另外，在实施方式1至3的例中，在通常动作说明后记载脱轨工作状态测定的说明，但脱轨工作状态测定例如也可在向盘装置的安装盘的时刻等期望的时刻进行，不特别限制在通常动作之后进行的情况。
并且，在实施方式1至3的例中，作为用于将光盘用作记录载体的光盘装置来进行说明，但不用说，即便是使用磁光盘、磁盘等的盘装置也可取得同样的效果。
产业上的可利用性
如上所述，本发明用于通过进行脱轨信号的检测灵敏度测定，进行其灵敏度调整，所以可对每个盘保持一定的脱轨信号的检测灵敏度，稳定地进行标准外的各种盘的再现。