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1、(10)申请公布号 CN 102305908 A (43)申请公布日 2012.01.04 CN 102305908 A *CN102305908A* (21)申请号 201110220284.1 (22)申请日 2011.08.03 G01R 31/28(2006.01) (71)申请人 华南理工大学 地址 510640 广东省广州市天河区五山路 381 号 (72)发明人 刘友举 黄雁彬 周俊生 李丽秀 修建国 何璞 (54) 发明名称 电子元器件参数测试平台 (57) 摘要 本发明公开了一种电子元器件参数测试平 台， 其特征在于包括电源模块、 电压显示模块以及 信号源模块， 还包括若干个。
2、并联的卡槽， 所述卡槽 至少包括 7 个连接端子， 所述电源模块包括电源 地端、 +15V 输出端以及 +30V 输出端， 分别连接至 卡槽的第一连接端子、 第二连接端子和第三连接 端子 ； 电压显示模块包括电压输入第一端和电压 输入第二端， 分别连接至卡槽的第四连接端子和 第五连接端子 ； 信号源模块包括信号输出端和信 号地端， 分别连接至卡槽的第六连接端子和第七 连接端子。本发明采用模块接合方式， 具有扩展 性， 可以测试多种较复杂的电子元器件， 非常适用 于电子工艺实习中。 (51)Int.Cl. (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书 2 页 说明书 4。
3、 页 附图 4 页 CN 102305915 A1/2 页 2 1. 电子元器件参数测试平台， 其特征在于包括电源模块、 电压显示模块以及信号源模 块， 还包括若干个并联的卡槽， 所述卡槽至少包括 7 个连接端子， 所述电源模块包括电源地 端、 +15V 输出端以及 +30V 输出端， 分别连接至卡槽的第一连接端子、 第二连接端子和第三 连接端子 ； 电压显示模块包括电压输入第一端和电压输入第二端， 分别连接至卡槽的第四 连接端子和第五连接端子 ； 信号源模块包括信号输出端和信号地端， 分别连接至卡槽的第 六连接端子和第七连接端子。 2.根据权利要求1所述的电子元器件参数测试平台， 其特征在于。
4、包括555测试模块， 所 述555测试模块包括第一插卡， 第一插卡能够可拆卸地装插到卡槽上 ； 所述555测试模块包 括 555 测试座、 第十一电阻、 第十二电阻、 第十三电阻、 第十四电阻、 第十一电容、 第十二电 容以及第十一发光二极管， 555 测试座的第一端口连接至第一插卡的的第一连接端子， 555 测试座的第二端口与 555 测试座的第六端口相连， 第十一电容为电解电容， 555 测试座的第 二端口与第十一电容的正极相连， 第十一电容的负极与测试座的第一端口相连， 第十一电 容的正极通过第十二电阻连接至测试座的第七端口， 测试座的第三端口通过第十四电阻连 接至测试座的第一端口， 测。
5、试座的第四端口与测试座的第八端口相连， 并连接至第一插卡 的第二连接端子， 测试座的第八端口通过第十一电阻连接至测试座的第七端口， 测试座的 第八端口通过第十一发光二极管以及第十三电阻连接至测试座的第三端口。 3. 根据权利要求 2 所述的电子元器件参数测试平台， 其特征在于包括单向可控硅测试 模块， 单向可控硅测试模块包括第二插卡， 第二插卡能够可拆卸地装插到卡槽上 ； 单向可控 硅测试模块包括第一三端测试座， 第一三端测试座的第三端口连接至第二插卡的第一连接 端子， 第一三端测试座的第一端口经过第二十二开关连接至第一三端测试座的第三端口， 第二插卡的第二连接端子经过第二十三电阻以及第二十一。
6、发光二极管连接至第一三端测 试座的第一端口， 第二插卡的第二连接端子经过第二十一电阻以及第二十二电阻连接至第 一三端测试座的第三端口， 第二十一电阻与第二十二电阻的连接点经过第二十一开关连接 至第一三端测试座的第二端口。 4. 根据权利要求 3 所述的电子元器件参数测试平台， 其特征在于第二十一开关和第 二十二开关均为轻触开关。 5.根据权利要求3所述的电子元器件参数测试平台， 其特征在于包括LM317测试模块， LM317 测试模块包括第三插卡， 第三插卡能够可拆卸地装插到卡槽上 ； LM317 测试模块包括 第二三端测试座， 第二三端测试座的第三端口连接至第三插卡的第二连接端子， 第二三端。
7、 测试座的第一端口通过第三十一电阻连接至第二三端测试座的第二端口， 第二三端测试座 的第一端口通过第三十二电阻连接至第三插卡的第一连接端子， 第三十一电容与第三十二 电阻并联， 第二三端测试座的第二端口通过第三十三电阻连接至第三插卡的第四连接端 子， 第三插卡的第四连接端子通过第三十四电阻连接至第三插卡的第一连接端子， 第三插 卡的第一连接端子与第三插卡的第五连接端子相连。 6. 根据权利要求 5 所述的电子元器件参数测试平台， 其特征在于包括 78 系列稳压块 测试模块， 78 系列稳压块测试模块包括第四插卡， 第四插卡能够可拆卸地装插到卡槽上 ； 78 系列稳压块测试模块包括第三三端测试座。
8、， 第三三端测试座的第一端口连接至第四插 卡的第三连接端子， 第三三端测试座的第一端口与第三三端测试座的第二端口之间设有第 三十二电容， 第三三端测试座的第三端口与第三三端测试座的第二端口之间设有第三十三 权 利 要 求 书 CN 102305908 A CN 102305915 A2/2 页 3 电容， 第三三端测试座的第二端口连接至第四插卡的第一连接端子， 第四插卡的第一连接 端子与第四插卡的第五连接端子相连， 第三三端测试器的第三端口与第四插卡的第四连接 端子相连。 权 利 要 求 书 CN 102305908 A CN 102305915 A1/4 页 4 电子元器件参数测试平台 技术。
9、领域 0001 本发明涉及电子元器件测试设备。 背景技术 0002 常用的电子元器件有电阻、 电容、 二极管、 三极管等， 采用万用表即可对这些电子 元器件进行测试， 还有一些常用的电子元器件， 如 555 集成块、 可控硅、 LM317、 7805 等， 单独 用万用表难以进行测试。 发明内容 0003 本发明提供一种可扩展的电子元器件参数测试平台。 0004 电子元器件参数测试平台， 其特征在于包括电源模块、 电压显示模块以及信号源 模块， 还包括若干个并联的卡槽， 所述卡槽至少包括 7 个连接端子， 所述电源模块包括电源 地端、 +15V 输出端以及 +30V 输出端， 分别连接至卡槽的。
10、第一连接端子、 第二连接端子和第 三连接端子 ； 电压显示模块包括电压输入第一端和电压输入第二端， 分别连接至卡槽的第 四连接端子和第五连接端子 ； 信号源模块包括信号输出端和信号地端， 分别连接至卡槽的 第六连接端子和第七连接端子。 0005 进一步的， 所述的电子元器件参数测试平台， 包括 555 测试模块， 所述 555 测试 模块包括第一插卡， 第一插卡能够可拆卸地装插到卡槽上 ； 所述 555 测试模块包括 555 测 试座、 第十一电阻、 第十二电阻、 第十三电阻、 第十四电阻、 第十一电容、 第十二电容以及第 十一发光二极管， 555 测试座的第一端口连接至第一插卡的的第一连接端。
11、子， 555 测试座的 第二端口与 555 测试座的第六端口相连， 第十一电容为电解电容， 555 测试座的第二端口与 第十一电容的正极相连， 第十一电容的负极与测试座的第一端口相连， 第十一电容的正极 通过第十二电阻连接至测试座的第七端口， 测试座的第三端口通过第十四电阻连接至测试 座的第一端口， 测试座的第四端口与测试座的第八端口相连， 并连接至第一插卡的第二连 接端子， 测试座的第八端口通过第十一电阻连接至测试座的第七端口， 测试座的第八端口 通过第十一发光二极管以及第十三电阻连接至测试座的第三端口。 0006 进一步的， 所述的电子元器件参数测试平台， 包括单向可控硅测试模块， 单向可。
12、控 硅测试模块包括第二插卡， 第二插卡能够可拆卸地装插到卡槽上 ； 单向可控硅测试模块包 括第一三端测试座， 第一三端测试座的第三端口连接至第二插卡的第一连接端子， 第一三 端测试座的第一端口经过第二十二开关连接至第一三端测试座的第三端口， 第二插卡的第 二连接端子经过第二十三电阻以及第二十一发光二极管连接至第一三端测试座的第一端 口， 第二插卡的第二连接端子经过第二十一电阻以及第二十二电阻连接至第一三端测试座 的第三端口， 第二十一电阻与第二十二电阻的连接点经过第二十一开关连接至第一三端测 试座的第二端口。进一步的， 第二十一开关和第二十二开关均为轻触开关。 0007 进一步的， 所述的电子。
13、元器件参数测试平台， 包括 LM317 测试模块， LM317 测试模 块包括第三插卡， 第三插卡能够可拆卸地装插到卡槽上 ； LM317 测试模块包括第二三端测 说 明 书 CN 102305908 A CN 102305915 A2/4 页 5 试座， 第二三端测试座的第三端口连接至第三插卡的第二连接端子， 第二三端测试座的第 一端口通过第三十一电阻连接至第二三端测试座的第二端口， 第二三端测试座的第一端口 通过第三十二电阻连接至第三插卡的第一连接端子， 第三十一电容与第三十二电阻并联， 第二三端测试座的第二端口通过第三十三电阻连接至第三插卡的第四连接端子， 第三插卡 的第四连接端子通过第。
14、三十四电阻连接至第三插卡的第一连接端子， 第三插卡的第一连接 端子与第三插卡的第五连接端子相连。 0008 进一步的， 所述的电子元器件参数测试平台， 包括 78 系列稳压块测试模块， 78 系 列稳压块测试模块包括第四插卡， 第四插卡能够可拆卸地装插到卡槽上 ； 78 系列稳压块测 试模块包括第三三端测试座， 第三三端测试座的第一端口连接至第四插卡的第三连接端 子， 第三三端测试座的第一端口与第三三端测试座的第二端口之间设有第三十二电容， 第 三三端测试座的第三端口与第三三端测试座的第二端口之间设有第三十三电容， 第三三端 测试座的第二端口连接至第四插卡的第一连接端子， 第四插卡的第一连接端。
15、子与第四插卡 的第五连接端子相连， 第三三端测试器的第三端口与第四插卡的第四连接端子相连。 0009 与现有技术相比， 本发明具有如下优点 ： 本发明采用模块接合方式， 具有扩展性， 如果需要测试其他电子元器件， 可以方便地进行扩展， 因此本发明的电子元器件参数测试 平台可以测试多种较复杂的电子元器件， 非常适用于电子工艺实习中。 附图说明 0010 图 1 是本发明的结构示意图 ； 图 2 是 555 测试模块的电路原理图 ； 图 3 是单向可控硅测试模块的电路原理图 ； 图 4 是 LM317 测试模块的电路原理图 ； 图 5 是 78 系列稳压块测试模块的电路原理图。 具体实施方式 00。
16、11 如图 1 所示， 电子元器件参数测试平台， 其特征在于包括电源模块、 电压显示模块 以及信号源模块， 还包括 4 个并联的卡槽， 卡槽可根据需要进行扩展， 所述卡槽包括 8 个连 接端子， 所述电源模块包括电源地端 GND、 +15V 输出端以及 +30V 输出端， 分别连接至卡槽 的第一连接端子 1、 第二连接端子 2 和第三连接端子 3 ； 电压显示模块包括电压输入第一端 “+” 端和电压输入第二端 “-” 端， 分别连接至卡槽的第四连接端子 4 和第五连接端子 5 ； 信 号源模块包括信号输出端 “+” 端和信号地端 “-” 端， 分别连接至卡槽的第六连接端子 6 和 第七连接端子。
17、 7。图中， 卡槽的第八连接端子 8 悬空， 其可以连接至卡槽的第一连接端子 1， 从而增强系统的可靠性， 也可以作为扩展端用于其它用途。 0012 如图 2 所示， 555 测试模块包括第一插卡 （图中未示出） ， 第一插卡能够可拆卸地装 插到卡槽上 ； 所述 555 测试模块包括 555 测试座 U11、 第十一电阻 R11、 第十二电阻 R12、 第 十三电阻 R13、 第十四电阻 R14、 第十一电容 C11、 第十二电容 C12 以及第十一发光二极管 LED11， 555 测试座 U11 的第一端口 1 连接至第一插卡的的第一连接端子， 555 测试座的第二 端口 2 与 555 测。
18、试座的第六端口 6 相连， 第十一电容 C11 为电解电容， 555 测试座的第二端 口 2 与第十一电容 C11 的正极相连， 第十一电容 C11 的负极与测试座的第一端口 1 相连， 第 说 明 书 CN 102305908 A CN 102305915 A3/4 页 6 十一电容 C11 的正极通过第十二电阻 R12 连接至测试座的第七端口 7， 测试座的第三端口 3 通过第十四电阻R14连接至测试座的第一端口1， 测试座的第四端口4与测试座的第八端口 8 相连， 并连接至第一插卡的第二连接端子， 测试座的第八端口 8 通过第十一电阻 R11 连接 至测试座的第七端口7， 测试座的第八端。
19、口8通过第十一发光二极管LED11以及第十三电阻 R13 连接至测试座的第三端口 3。将第一插卡插到卡 槽上 （第一插卡的第一连接端子与 卡槽的第一连接端子相连接， 第一插卡的第 i 连接端子与卡槽的第 i 连接端子相连接） ， 即 可对 555 进行测试， 将 555 插于 555 测试座时， 第十一发光二极管 LED11 闪烁即表示所测试 的 555 是正常的。 0013 如图 3 所示， 单向可控硅测试模块包括第二插卡 （图中未示出） ， 第二插卡能够可 拆卸地装插到卡槽上 ； 单向可控硅测试模块包括第一三端测试座 MCR21， 第一三端测试座 MCR21 的第三端口 3 连接至第二插卡。
20、的第一连接端子， 第一三端测试座 MCR21 的第一端口 1 经过第二十二开关K22连接至第一三端测试座MCR21的第三端口3， 第二插卡的第二连接端 子经过第二十三电阻 R23 以及第二十一发光二极管 LED21 连接至第一三端测试座 MCR21 的 第一端口1， 第二插卡的第二连接端子经过第二十一电阻R21以及第二十二电阻R22连接至 第一三端测试座MCR21的第三端口3， 第二十一电阻R21与第二十二电阻R22的连接点经过 第二十一开关 K21 连接至第一三端测试座 MCR21 的第二端口 2。第二十一开关和第二十二 开关均为轻触开关。将第二插卡插到卡槽上 （第二插卡的第 i 连接端子与。
21、卡槽的第 i 连接 端子相连接） ， 即可对单向可控硅进行测试。单向可控硅的管脚 A、 G、 K 分别对应第一三端 测试座 MCR21 的第一端口 1、 第二端口 2 以及第三端口 3， 按下第二十一开关 K21， 第二十一 发光二极管 LED21 亮， 松开第二十一开关 K21， 第二十一发光二极管 LED21 维持亮， 按下第 二十二开关K21并松开， 第二十一发光二极管LED21熄灭， 这即表示所测试的单向可控硅正 常。 0014 如图 4 所示， LM317 测试模块包括第三插卡 （图中未示出） ， 第三插卡能够可拆卸地 装插到卡槽上 ； LM317 测试模块包括第二三端测试座 JP3。
22、1， 第二三端测试座 JP31 的第三端 口 3 连接至第三插卡的第二连接端子， 第二三端测试座 JP31 的第一端口 1 通过第三十一电 阻 R31 连接至第二三端测试座 JP31 的第二端口 2， 第二三端测试座 JP31 的第一端口 1 通 过第三十二电阻 R32 连接至第三插卡的第一连接端子， 第三十一电容 C31 与第三十二电阻 R32 并联， 第二三端测试座 JP31 的第二端口 2 通过第三十三电阻 R33 连接至第三插卡的第 四连接端子， 第三插卡的第四连接端子通过第三十四电阻 R34 连接至第三插卡的第一连接 端子， 第三插卡的第一连接端子与第三插卡的第五连接端子相连。将第三。
23、插卡插到卡槽上 （第三插卡的第 i 连接端子与卡槽的第 i 连接端子相连接） ， 即可对 LM317 进行测试， LM317 的稳压值可显示在电压显示模块。 0015 如图 5 所示， 78 系列稳压块测试模块包括第四插卡 （图中未示出） ， 第四插卡能够 可拆卸地装插到卡槽上 ； 78 系列稳压块测试模块包括第三三端测试座 JP32， 第三三端测试 座 JP32 的第一端口 1 连接至第四插卡的第三连接端子 （+30V） ， 第三三端测试座 JP32 的第 一端口 1 与第三三端测试座 JP32 的第二端口 2 之间设有第三十二电容 C32， 第三三端测试 座 JP32 的第三端口 3 与第。
24、三三端测试座 JP32 的第二端口 2 之间设有第三十三电容 C33， 第三三端测试座JP32的第二端口2连接至第四插卡的第一连接端子， 第四插卡的第一连接 端子与第四插卡的第五连接端子相连， 第三三端测试器JP32的第三端口3与第四插卡的第 说 明 书 CN 102305908 A CN 102305915 A4/4 页 7 四连接端子相连。将第四插卡插到卡槽上 （第四插卡的第 i 连接端子与卡槽的第 i 连接端 子相连接） ， 则可对78系列稳压块进行测试， 可测试的78系列稳压块包括7805、 7806、 7809、 7812、 7815、 7824 等。 说 明 书 CN 102305908 A CN 102305915 A1/4 页 8 图 1 说 明 书 附 图 CN 102305908 A CN 102305915 A2/4 页 9 图 2 说 明 书 附 图 CN 102305908 A CN 102305915 A3/4 页 10 图 3 说 明 书 附 图 CN 102305908 A CN 102305915 A4/4 页 11 图 4 图 5 说 明 书 附 图 CN 102305908 A 。