本发明提供一种检测｛100｝面织构占率的定量检测方法。 高压电子铝箔要求｛100｝晶面尽可能多地平行于箔面，因此，测量和计算｛100｝晶面平行于箔面的晶粒体积占铝箔体积的百分数（简称｛100｝面织构的占有率）是生产高压电子铝箔过程中的必要检测手段。80年代初，Lücke.K等人用ODF方法计算织构的体积占有率（Lücke.K et al Acta Met.Vol 29（1981）P.167），这种方法所要求的测量工作量和计算工作量很大，不宜用于生产现场在线检测。
目前，我国高压电子铝箔基本依靠进口，现正积极研制和开发生产，这相应地要求提供一种简便的检测高压电子铝箔｛100｝面织构占有率的方法。
本发明的目的在于解决高压电子铝箔生产中的有关问题，提供一种检测计算｛100｝面织构占有率的简便方法。
本发明的构成如下：
①选取用X线测得的、并经去背底和修正过的衍射强度分布数据Shoo（α，β）、Shho（α，β）或Shhh（α，β），其中α是探测方向与箔面法线的夹角，β是以轧制方向为起始位置，绕箔面法线转动的角度。hoo、hho、hhh表示参加衍射的晶面指数，h为任意整数。
②确定峰值方向和附近方向（α，β）间的夹角θ：
θ=Cos-1h′SinaCosβ+k′Sinβ+1′Cosah′2+k′2+1′2---(1)]]>
其中h′k′和l′是对应所选择的参加衍射的晶面指数｛hoo｝、｛hho｝或｛hhh｝。用（1）式把S（α，β）表示为S（θ）。
③根据研究分析，构想衍射强度峰分布S（θ）符合如下关系：
其中So和b是常数，K是归一化因子。
K＝ (2π)/(Σ S（α，β）Sinα△α△β) （3）
α＝0～ (π)/2
β＝0～2π
△α和△β分别是α与β角的实测步长。根据θ和S（θ）的数据及（2）式，用最小二乘法计算出So和b。
④｛100｝面织构的占有率为：
对应｛hoo｝，｛hho｝和｛hhh｝N分别是3，6和4。衍射强度峰地散布宽度θh为：
θh=2b]]>（5）
⑤若计算的衍射强度峰有其它织构组分重叠，应扣除这些组分的衍射强度。
本发明的优点在于：
①所需测试的数据少，计算简单，便于现场生产在线检验。
②同时给出｛100｝面织构占有率V%和衍射强度峰的散布宽度θh。
实施例子
对经两种不同退火工艺退火的高压电子铝箔按本方法检测其｛100｝面织构占有率的结果列于下表。
检测方法工艺 Ⅰ工艺 ⅡV %θh（度）V %θh（度）本方法｛111｝检测45.91%9.160.39%8.6