氰化提金液中游离氰的离子选择电极分析法.pdf

本发明涉及一种化学分析测定方法，具体地说是提供一种用于测定氰化提金液中游离氰浓度的离子选择电极分析方法。
    氰化法是目前从矿石中提取黄金的主要方法。而采用该工艺时，测定氰化提金液中游离氰浓度是一项重要的工艺指标。现行较为普遍采用的分析方法是银量法。但该方法操作较烦，并且要求溶液无色，当溶液中存在Zn2+，Cu+离子时测量结果系统偏高，准确性差。可用于测定游离氰的另一种方法与本发明相似也是采用离子选择电极分析法。这种方法通常使用的“氰离子选择电极”敏感膜的有效成份为AgI，其使用上限为游离氰化钠0.05g/l，超出此上限，敏感膜成份，将加速溶解而失效。也有采用Ag2S为膜材料的银离子选择电极测痕量氰，测定时加入微量（＜10-5M）KAg（CN）2作为指示剂，其浓度上限仅为3PPm，浓度更高时膜电位不稳定。

    由于目前应用的离子选择电极分析法只适用于低浓度（游离氰化钠浓度小于0.05g/l）含氰溶液中氰浓度的测定。而普通的氰化提金液中游离氰化钠的浓度范围为0.1～6.0g/l，因此，用上述离子选择电极法是无法准确测定其浓度的。此外，目前采用的离子选择电极分析法中，通常的流通测量池使用甘汞电极或Ag/AgCl电极作为参比电极，其缺点是要定期补加内充液，氰化物反渗时会使参比电极中毒而失效。同时，常常使用装配式固膜电极传感器，采用整个膜片与密封胶圈接触，接触缝隙处的溶液死角难以流通，造成电极响应迟缓。

    本发明的目的是提供一种测定氰化提金液中游离氰浓度的离子选择电极分析方法。该方法操作简便，测量准确、快速，同时测量电极结构简单、响应快、寿命长。

    本发明的用于测定氰化提金液中游离氰浓度的离子选择电极分析方法，其电极仍然可用Ag2S、Ag2Se或Ag2Te作为敏感膜材料的银离子选择电极，其特征在于测定时加入Ag（CN）2为膜电位稳定剂，分析溶液中稳定剂的浓度范围为10-4～10-1M，最好为10-3～10-2M，稳定剂地作用原理如下：

    以Ag2S为膜材料的银离子选择电极，其定位离子为Ag+，即膜电位E与膜表面处的银离子活度aAg之间有对应关系：

    E＝E0+slgaAg（1）

    式中，E0，S在一定条件下为常数。

    膜表面处的银离子活度aAg由两部分组成;即溶液本体中的银离子活度aAg及膜溶解新增的银离子活度a′Ag，而aAg＝aAg+a′Ag，代入（1）

    E＝E0+Slg（a0Ag+a′Ag） （2）

    a′Ag的数值与游离氰的浓度，膜的表面形态、扩散层厚度、溶液含氧量等因素有关，很不稳定，其数值波动是膜电位不稳的主要原因。

    据式（2）可见，增大a0Ag可使a′Ag的影响减小。实验表明，当游离氰化钠浓度为0.1～6.0g/l时，预先向溶液中加入10-4～10-1M的Ag（CN）-2，即可得到稳定的膜电位，Ag（CN）-2加入浓度越大，膜电位越稳定，但分析成本也增高。实践表明稳定剂的浓度取10-3～10-2M时，可兼顾分析成本及稳定效果，更为适于实际采用。此外，本发明的离子选择电极分析方法中，为了方便测量及节省试剂，测量时最好使用流通式测量池，其特征在于所使用的流通测量池上安装有两根相同的银离子选择电极，分别作为敏感电极和参比电极。这样可有效地避免通常使用的甘汞电极或Ag/AgCl电极作为参比电极需要定期补加内充液及电极易中毒而失效的缺点。同时，为方便电极的更换及膜表面的定期清理，本发明的离子选择电极分析法所采用的电极，其特征在于它做成长度为5～10mm的芯式结构的短棒电极，附图1为这种电极结构示意图，图中，1、电极内芯;2、电极外绝缘层;3、电极引出端子。电极内芯1为敏感膜材料，电极外绝缘层2固定电极内芯1，可由有机玻璃、聚四氟乙烯等绝缘材料制成。电极引出端子3为电极引出线接头，可由石墨或金属棒制成。这种电极安装时密封胶圈与电极绝缘层2接触，并使其固定敏感膜制成的内芯1完全暴露在液流中，不存在敏感膜与密封胶圈接触的溶液死角，从而保证了电极响应的速度。另一方面这种电极结构简单、安装使用方便，且电极寿命长。

    利用本发明提供的技术，只要在待测溶液中加入10-4～10-1M的Ag（CN）-2，按常规测量方法即可方便地测定氰化提金液中游离氰的浓度。当采用本发明设计的电极时，测量将更为方便、迅速、准确。