在金属化可变形衬底上的低力电触头.pdf

一种用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统包括测试条，所述测试条用于接纳生物流体的样本，在测试条上形成有多个触头。测试装置包括具有多个导电条的电路板。连接器组件固定至所述电路板并且在所述测试条在插入方向上移动至测试位置时接纳所述测试条。所述连接器组件包括连接器组件主体和多个导体。每个导体包括固定地连接至所述连接器组件主体的导体接触主体以及一体地连接至所述导体接触主体且完全在所述插入方向上自由延伸的触头臂。当由所述测试条的所述多个触头中的一个触头直接地接触时，所述触头臂偏转。

1.  一种用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其包括：
连接器组件，所述连接器组件接纳在插入方向上移动至测试位置的测试条，所述连接器组件包括：
　　连接器组件主体；以及
　　导体，所述导体具有：
　　　　导体接触主体，所述导体接触主体固定地连接至所述连接器组件主体；以及
　　　　触头臂，所述触头臂一体地连接至所述导体接触主体并且完全在所述插入方向上自由延伸。

2.  根据权利要求1所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，所述连接器组件安装至电路板，从而限定电路板组件，所述电路板组件保持在测试装置中。

3.  根据权利要求1或2所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其还包括：
所述导体接触主体的延伸部分；以及
所述电路板的导电条，其由所述导体接触主体的所述延伸部分直接地接触。

4.  根据前述权利要求中任一项所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其还包括金属板，使用多个扣合连接器将所述金属板连接至所述连接器组件主体，以将所述金属板紧固至所述连接器组件主体。

5.  根据权利要求4所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，所述金属板包括成形的端部，所述端部相对于所述金属板有角度地定向以使测试条与所述槽对准。

6.  根据前述权利要求中任一项所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其还包括：
所述导体接触主体的延伸部分；以及
所述连接器组件主体包括长形槽，所述延伸部分自由延伸通过所述长形槽。

7.  根据前述权利要求中任一项所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其还包括：
测试条，所述测试条用于接纳生物流体的样本，在所述测试条上形成有触头；以及
所述触头臂，所述触头臂对准以直接地接触所述测试条的所述触头。

8.  根据权利要求7所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，所述触头臂限定在所述测试条在所述插入方向上移动时沿着所述触头拖过的梁。

9.  根据前述权利要求中任一项所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，所述导体包括压印边缘，所述压印边缘限定使所述导体的与所述测试条接触的表面面积最小化的双向弯曲表面。

10.  一种用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其包括：
测试条，所述测试条用于接纳生物流体的样本，在所述测试条上形成有多个触头；以及
测试装置，所述测试装置具有：
　　电路板，所述电路板具有多个导电条；以及
　　连接器组件，所述连接器组件固定至所述电路板并且在所述测试条在插入方向上移动至测试位置时接纳所述测试条，所述连接器组件包括：
　　　　连接器组件主体；以及
　　　　多个导体，所述多个导体的每个具有：
　　　　　　导体接触主体，所述导体接触主体固定地连接至所述连接器组件主体；以及
　　　　　　触头臂，所述触头臂一体连接至所述导体接触主体并且完全在所述插入方向上自由延伸，所述触头臂首先在所述测试条的插入期间偏转然后在测试条安装位置与所述测试条的所述触头中的一个直接地接触。

11.  根据权利要求10所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，所述多个导体中的每个的所述导体接触主体包括延伸部分，所述延伸部分在所述导体组件外自由延伸并且直接接触所述电路板的所述导电条中的一个。

12.  根据权利要求10或11所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，所述导体中的每个还包括接合主体，所述接合主体一体地连接至所述导体接触主体并且相对于所述延伸部分的端面相反地引导。

13.  根据权利要求12所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，所述接合主体固定在所述连接器组件主体中形成的接纳腔中。

14.  根据权利要求11或者12所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，所述接合主体包括至少一个接合肋，所述至少一个接合肋从所述接合主体向外延伸离开从而为所述接合主体的摩擦接触和保持提供附加表面面积。

15.  根据权利要求10至14中任一项所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，所述连接器组件主体包括多个长形槽，每个所述长形槽接纳所述多个导体中的一个，从而以与在所述测试条触头中的连续触头之间的间距相等的间距来使所述导体相继地彼此隔开。

16.  一种用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其包括：
测试条，所述测试条用于接纳生物流体的样本并且在其上形成有触头；以及
流体分析测试装置，所述流体分析测试装置具有用于在所述测试条在插入方向上移动时接纳所述测试条的连接器，所述连接器包括：
　　梁，所述梁由对准以直接地接触所述触头的表面的平板形成，所述梁在所述测试条在所述插入方向上移动时沿着所述触头拖过；以及
　　所述梁的压印边缘，所述压印边缘的每个限定使所述导体的与所述测试条接触的部分的压力面积最小化的双向弯曲表面。

17.  根据权利要求16所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，所述流体分析测试装置还包括：具有多个导电条的电路板。

18.  根据权利要求17所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其还包括连接器组件，所述连接器组件具有安装至所述电路板的连接器组件主体，所述梁位于所述连接器组件主体中。

19.  根据权利要求16至18中任一项所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，所述梁包括固定地连接至所述连接器组件主体的导体接触主体。

20.  根据权利要求16至19中任一项所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，所述梁一体地连接至所述导体接触主体，并且所述梁完全在所述插入方向上延伸，当与所述测试条触头直接地接触时，所述梁偏转。

21.  根据权利要求16至18中任一项所述的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，所述连接器组件主体包括槽，所述槽在所述测试条在插入方向上移动至测试位置时接纳所述测试条，所述测试位置是当所述测试条部分地位于所述连接器组件主体内时限定的。

在金属化可变形衬底上的低力电触头
技术领域
本公开涉及一种用于测试在生物流体中的一种或者多种物质的存在或者浓度的测试设备，并且更加具体地，涉及包括在测试条（承载有生物流体的样本）与测试仪之间的一个或者多个电连接的这样的装置。
背景技术
测量物质的浓度，特别是在存在其它物质的情况下，对于许多领域来说都十分重要。在医学测试和诊断中更是如此。例如，测量诸如血液的体液中的葡萄糖对于糖尿病的有效治疗至关重要。血糖仪用作测量患有糖尿病的患者的血糖水平的诊断装置。血糖仪使用接纳患者血液样本的测试条。测试条在条上具有电触头，当将测试条插入仪表中时，电触头电接触。仪表通过测量通过条的电触头的电流来确定血糖水平，并且提供血糖水平的读数。
测试设备的样本接纳部分通常控制血液样本的几何形状。在血糖测试仪的情况下，例如，通常将血糖样本放置在插入到测试仪中的一次性测试条上或者一次性测试条中。在电化学测试仪的情况下，必须在仪表与测试条之间传递电信号，反之亦然。已知的仪表在插入方向上接纳测试条，其还使测试条的电条形导体与仪表的电触头接合。当用户加载测试条时，插入动作用于驱动测试条的电触头与仪表的触头接合。
测试系统设计者希望使准确测量所需的样本大小最小化，以便改善用户体验。由此产生的测试传感器和测试条微型化已经导致了薄膜测试条模式的使用，该薄膜测试条模式包括贵金属，该贵金属诸如通过电镀和随后的激光烧蚀沉积于塑料衬底上从而形成测试条的电极和相关联的连接器接触垫（contactpad）。测试条可以包括，例如，诸如聚酯等聚合物材料的薄膜，该聚酯诸如通过溅射50nm厚度的纯金来涂覆。因为金薄膜太薄并且未很好地附着至塑料薄膜，因此金薄膜涂层易于被当前市售的连接器刮坏。因此，在生物传感器的设计中，减少在测试条接触垫与仪表连接器接触线之间的磨损尤为重要。重复插入测试条（两次到四次）可以使这些涂覆有膜的生物传感器变得无效。即使是将测试条第一次插入测试仪中也可能通过测试仪连接器导致在一定程度上移除这些薄膜涂层。结果，在测试条上的接触垫与在测试仪中的连接器接触线之间的连接变得不太可靠。
目前用于血糖仪的连接器可以同时包括用于提供柔性的长延伸的第一梁部分和在测试条的接触端处的第二相对引导弯曲线形式。弯曲线形式在连接器中给予残余应力。弯曲线形式还在测试条接触连接器的间隙点处提供不良的尺寸控制。因此，弯曲线形式一般比所需的更加靠近测试条地定位，这需要更大的力进行移位，从而还导致更大的金层移除的可能。
本文所提供的背景技术说明以对本公开的上下文作一般性说明为目的。发明人的某些工作（即已在此背景技术部分中做出描述的工作）以及说明书中关于某些尚未成为申请日之前的现有技术的内容，无论是以明确或隐含的方式均不被视为抵触本公开的现有技术。
发明内容
在本公开的一个实施例中，一种用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统包括测试装置，该测试装置具有连接器组件，该连接器组件接纳在插入方向上移动至测试位置的测试条。连接器组件包括连接器组件主体。导体包括固定地连接至连接器组件主体的导体接触主体以及一体连接至导体接触主体并且完全在插入方向上延伸的触头臂。
在另一实施例中，一种用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统包括测试条，该测试条用于接纳生物流体的样本，在该测试条上形成有多个触头。测试装置包括具有多个导电条的电路板。连接器组件固定至电路板并且在测试条在插入方向上移动至测试位置时接纳测试条。连接器组件包括连接器组件主体和多个导体。每个导体包括固定地连接至连接器组件主体的导体接触主体。触头臂一体地连接至导体接触主体并且完全在插入方向上自由延伸。当由测试条的多个触头中的一个触头直接接触时，触头臂被偏转。
在本公开的另一实施例中，一种用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统包括测试条，该测试条用于接纳生物流体的样本，在该测试条上形成有多个触头。测试装置包括具有多个导电条的电路板。连接器组件固定至电路板并且在测试条在插入方向上移动至测试位置时接纳测试条。连接器组件包括连接器组件主体和板，该板定位为可滑动地在板与连接器组件主体之间接纳测试条。多个导体中的每个包括固定地连接至连接器组件主体的导体接触主体、以及一体地连接至导体接触主体且完全在插入方向上自由延伸的触头臂。当由测试条的多个触头中的一个直接接触时，触头臂偏转。触头臂具有接触部分，该接触部分位于形成在板的向内表面与连接器组件主体的内壁之间的腔中。
在另外的实施例中，血糖测量系统包括用于接纳生物流体的样本、在其上形成有多个触头的测试条。测试装置包括具有多个导电条的电路板。连接器组件固定至电路板并且在测试条在插入方向上移动至测试位置时接纳测试条。连接器组件包括连接器组件主体和多个导体。每个导体包括固定地连接至连接器组件主体的导体接触主体以及一体地连接至导体接触主体且完全在插入方向上自由延伸的触头臂。触头臂通过所插入的测试条的边缘偏转，并且当测试条完全插入时条的接触垫滑动到触头之下。触头臂具有可偏转梁部分，该可偏转梁部分可分为两个主要部分，其包括：具有凸形弯曲接触部分并且延伸至弯头（bend）的第一可偏转梁部分和从弯头延伸至刚性梁部分的第二可偏转梁部分。
在其它实施例中，一种用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统包括测试条，该测试条用于接纳生物流体的样本并且在其上形成有触头。流体分析测试装置包括用于在测试条在插入方向上移动时接纳测试条的连接器。连接器包括梁，该梁由对准以直接地接触触头的表面的平板形成。梁在测试条在插入方向上移动时沿着触头拖过。梁的压印边缘限定使导体的与测试条接触的部分的压力面积最小化的双向弯曲表面。
在另一实施例中，提供了一种用于使在测试条与生物流体分析物测量装置的导体之间的接触最小化的方法。
本部分提供了对本公开的综述，并不是对本公开的所有范围或者其所有特征的全面公开。另外地，适用领域将通过本文所提供的描述而变得明显。在本综述中的说明和具体示例仅旨在示出的目的而不旨在限制本公开的范围。
附图说明
图1示出了本公开的具有低力电触头的流体分析装置的俯视图；
图2示出了图1的装置的端视图；
图3示出了本公开的电路板组件的左上透视图；
图4示出了本公开的连接器组件的左上透视图；
图5示出了图4的连接器组件的仰视图；
图6示出了在图5的截面6处截开的截面侧视图；
图7示出了与图6相似的截面侧视图，还示出了在安装测试位置的测试条；以及
图8示出了图6的在截面8处截开的前截面图。
贯穿附图的若干个图，对应的附图标记表示对应的部件。本文所描述的附图仅仅出于对所选实施例而非所有可能的实施方式进行示出的目的，并且不旨在限制本公开的范围。
具体实施方式
现将参照附图对示例性实施例进行更充分地描述。
现参照图1，示例性生物测试系统10包括可重复使用的测试仪或者流体分析测试装置12，流体分析测试装置12具有主体14，主体14具有数据输入/观察窗16，数据输入/观察窗16可以显示分析测试结果和提示用户进行操作选择或者弹出测试条18的图标。一次性测试条18通过槽20在插入方向“A”上插入，该槽20穿过主体14开设。测试条18包括至少一个触头，并且，根据若干方面，包括示出为靠近测试条18的插入端24的接触垫22的多个触头（仅通过示例的方式在图1中示出了多个此触头）。接触垫22经由导体26连接至靠近测试条18的第二端30的电极28。当测试操作完成时，在数据输入/观察窗16上提供测试结果，并且在弹出方向“B”上从主体14弹出测试条18。
现参照图2并且再次参照图1，测试条18可滑动地接纳在槽20中，根据若干方面，槽20设置在主体14的第一端32中。根据若干方面，槽20可以延伸通过第一主体部分34，诸如主体14的上主体部分。在其它方面（未示出）中，槽20可以延伸通过第二主体部分36，诸如主体14的下主体部分。在加载测试装置12的内部部件之后，将第一主体部分和第二主体部分34、36组装并且连接在一起。
现参照图3并且再次参照图1至图2，为了清楚地示出示例性电路板组件40，移除第一主体部分和第二主体部分34、36。电路板组件包括至少电路板42，诸如印刷电路板等。连接器组件44安装至电路板42的面46。槽20随连接器组件44而设置。在本发明的一个方面中，连接器组件44通过测试条18在安装方向“A”上的滑动来接纳通过槽20插入到测试装置12中的测试条18。在所示出的构型中，测试条18示出为处于在连接器组件44内的完全安装位置或者测试位置。连接器组件44包括连接器组件主体48，该连接器组件主体48通过使用多个扣合连接器50来接纳金属板52，将参照图4对所述多个扣合连接器50进行更详细地描述。板52可以包括帮助使测试条18和槽20对准的弯曲的或者成形的端部54。
现参照图4并且再次参照图1至图3，槽20由板52的端部54限定并且还由相对的第一侧壁和第二侧壁56、58限定，该第一侧壁和第二侧壁56、58由连接器组件主体48的部分形成。根据若干方面，连接器组件主体48是在例如注射成型工艺中模塑的聚合物材料。跨过第一侧壁与第二侧壁56、58之间的入口纵壁60与端部54平行并且定位为与端部54相对，从而限定槽20的封闭矩形形状。第一侧壁和第二侧壁56、58中的每个侧壁可以包括向外弯曲的凸表面62、64，该凸表面62、64还在进入槽20期间帮助对准并且减少测试条18的横摆运动。
示出了四个大体上相同的扣合连接器50、50'、50"、50"'，然而，对于扣合连接器50的数量不做限制。每个扣合连接器50包括叶片部分66，该叶片部分66是板52的一体延伸部分并且大体上垂直于板52定向。每个叶片部分66包括长形槽68，该长形槽68接纳从连接器组件主体48一体向外延伸的齿70。通过将扣合连接器50、50'、50"、50"'插入在连接器组件主体48中形成的腔72中并且在安装方向“C”上压入板52，来将板52联接至连接器组件主体48。随着每个扣合连接器50、50'、50"、50"'遇到齿70，扣合连接器50、50'、50"、50"'在示例性偏转方向“D”上向外偏转，直到齿70被接纳在每个长形槽68中。扣合连接器50、50'、50"、50"'恢复到其预偏转状态，齿70锁定在对应的长形槽68中，从而保持板52和连接器组件主体48。当完成连接器组件44时，提供多个导体74，其接触测试条18的单独的接触垫22。在图4中，通过板52中的长形开口76，仅可见导体74中的一个导体。
现参照图5，并且再次参照图1至图4，当从连接器组件44的相对于图4的视图的相对侧观察时，底壁78设置有多个长形槽80。根据若干方面，存在八个长形槽80，每个提供用于八个导体74中的单独一个的一部分延伸出底壁78。连接器组件主体48提供多个长形槽80以分别接纳多个导体74中的一个，从而以与在测试条触头或者接触垫22中的连续触头或者接触垫之间的间距相等的间距“S”相继地使导体74彼此隔开。八个导体包括导体74a、74b、74c、74d、74e、74f、74g、74h。导体74中的每个导体固定至连接器组件主体48的内部，如将参照图6更详细地描述的。不限制导体74的数量，并且导体74的数量由设置有测试条18的接触垫22的相对应数量来确定。如所示出的，导体74的阶梯式纵向构型可以根据接触垫22的位置和当与接触垫22接触时将导体隔开以维持在单独的导体74之间的电接触间隙的期望而改变。所有的导体74彼此平行。所有导体74的取向（以导体74c的纵向轴线81为例）贯穿每个导体74的长度平行于插入方向“A”。还提供导体74的交错或者阶梯式纵向构型，以允许接触垫22宽于连接器的节距（pitch）（在单独的触头之间的间距），从而使到测试条18的触点可以接触更宽的目标面积。
现参照图6并且再次参照图1至图5，将导体74c作为示例性装置。其余的导体74的设计和功能相似，因此不对其作进一步的论述。导体74c包括导体接触主体82，该导体接触主体82具有接纳导体74c的长形槽80外侧的自由延伸的延伸部分84。延伸部分84的端面86与沉积在电路板42的面90上的导电条88直接接触（例如，通过使用焊接或者按压连接）。电路板42包括至少与导体74的数量相等的导电条88的数量。接合主体92一体连接至导体接触主体82并且相对于端面86相反地引导。按压接合主体92或者在其它方面将其固定在连接器组件主体48的聚合物材料中形成的接纳腔94中。接合主体92包括至少一个接合肋，并且根据若干方面，该第一接合肋和第二接合肋96、98分别从接合主体92离开向外延伸而为接合主体92的摩擦接触和保持提供附加表面面积。
柔性梁或者触头臂100延伸离开接合主体92，并且作为整体定向在与测试条安装方向“A”相同的方向上。根据若干方面，触头臂由平板材料形成。触头臂100提供位于形成在板52的向内表面106与连接器组件主体48的内壁108之间的腔104中的凸形弯曲部分102。在向内表面106与内壁108之间的间隔“E”提供滑动配合以便接纳测试条18。根据若干方面，凸形弯曲部分102包括凸形弯曲表面110，从而提供了触点112，在该触点112处，在触头臂100与测试条18之间发生电接触。标称间隙“F”设置在触点112与板52的向内表面106之间。标称间隙小于间隔“E”，并且根据若干方面，在大约0.1mm到大约0.15mm。触头臂100通过从金属片冲压出轮廓而形成，因此，与在已知的导体设计中提供的多个弯头或者双弯头相比，提供没有任何弯头的轮廓。在成形期间没有任何弯曲消除了来自使触头臂100中的线形成触头弯曲的残余应力，从而提供了对触点112的位置的更大尺寸的控制。过渡部分114延伸离开触点112。另外，导体接触主体82的肩部116与连接器组件主体48的表面118设置了可重复直接接触位置，这进一步提高了对触点112的位置的尺寸控制。
所有导体74的每个触头臂100或者柔性梁一体连接至其导体接触主体82。所有触头臂100完全在插入方向“A”上单独自由地延伸离开导体接触主体82，从而使触头臂限定在测试条在插入方向“A”上移位时在测试条18上拖拉或者牵拉的“拖梁（trailingbeam）”。触头臂100的该取向使确保保持与测试条18的触头电接触所需的力最小化。触头臂100的任何部分都没有在其上折回或者相对于插入方向“A”引导或者偏离插入方向“A”。
现参照图7并且再次参照图6，为了清楚起见移除电路板42，在安装方向“A”上插入之后，测试条18示出为位于完全安装测试位置。测试条18可以接触限定出正向的且可重复的止挡和测试位置的腔104的端壁120，从而正向地定位测试条18的接触垫22，所述接触垫22位于在多个导体74中的每个的触点112的单独位置处的测试条表面122上。触头臂100的可偏转梁可分为两个主要部分。在触点112处的接触壁部分大体上不可偏转。因此，第一可偏转梁部分124包括延伸离开凸形弯曲部分102的过渡区114。第二可偏转梁部分126从过渡区114延伸至梁部分127。梁部分127与连接器组件主体48的材料直接接触并且形成导体接触主体82的一部分，并且因此可以大体上以小于触头臂100的过渡部分114地偏转。第一梁部分和第二梁部分124、126的弹性弯曲发生在测试条18的插入期间。可以通过增加第二梁部分126的长度和/或减少触头臂100的厚度来提供使触头臂100的弯曲减小的阻力。因此，可以按照期望调整触头臂100的弯曲。由于插入测试条18时的摩擦所导致的力和作用在触头臂100与测试条金属化区域（接触垫22）之间的剪切力与由作用在测试条18上的触头臂100提供的向下力“H”成正比。通过减少该向下力“H”，与已知的导体相比，减小了摩擦力和剪切力。
现参照图8并且再次参照图6至图7，还通过使用“针眼”压印工艺来控制触头臂100的几何形状。该工艺提供减小了表面不规则性的倒圆或者压印边缘128、以及与倒圆表面132相对的平整表面130。
由此使触头臂100的牵拉特征最小化，从而使在周向表面134上的微观特征小于一般呈现在测试条18上的微粒（诸如硫酸钡）的大小。梁或者触头臂100的压印边缘128分别限定使导体74与测试条18接触的部分的压力面积最小化的双向弯曲表面。通过仅在安装方向“A”上引导触头臂100离开其在接合主体92处的安装位置，提供了若干益处。这些益处包括：1）因为触头臂100在偏转方向“G”上的所有偏转仅发生在由触头臂100限定出的单个梁中，因此，与在已知导体设计中的多个梁相比，减小了在接触部分102与测试条18之间的摩擦；2）当必须保持测试条18的电触头的完整性以确保测试接触时，触头臂100面向安装方向“A”的取向还减少了在安装期间在测试条18中发生颤动的机会；3）用于形成触头臂100的“针眼”压印工艺完全压印触头臂100的边缘，从而形成平滑的双向弯曲表面，从而使得微粒（诸如，在测试条18的聚合物材料中的硫酸钡微粒）不由在触头臂100中的微观特征拾取并且不在测试条18的表面上牵拉；以及4）因为触头臂100的单个梁设计具有比已知双梁设计或者弯曲梁设计更大的尺寸控制，因此，与已知导体设计相比，增加了标称间隙“F”，从而允许对触点112的位置的更大控制，从而减少了使触头臂100移位所需的偏转量，这减少了在测试条18的安装期间的摩擦。
本公开的生物测试系统10提供了多个附加优势。这些优势包括低接触力，该低接触力是通过使用刚度减小的触头臂100以及通过使用压印工艺来增加梁柔性所实现的触头臂100的截面减小而实现的。代替绝对力的施加至触头臂100的压力取决于增强的电接触，从而形成分布式接触负载或者压力负载。这允许减小压力接触面积（触点112的面积）以在减小的面积中实现所需的接触压力，并且允许减小滑动摩擦面积，这降低了刨削测试条18的可能性。另外地，触头臂100的方形形状允许垂直于导体74的弯曲平面的成角度地移位，从而使触头臂100可以“四处滑动”或者绕着在测试条18中存在的较大部分杂质移位。另外地，触头臂100定向为在进入时牵拉测试条表面122，从而允许仅在测试条18抽出时关于硫酸钡微粒的突突地响（stuttering）或者颤动，从而改善整体接触路径。
具有个人测试仪的单独用户可以在仪表中使用本公开的生物测试系统10。本公开的生物测试系统10还可以并入商用装置中，诸如，医用仪表（例如，通过安装在基本单元中而再次充电的可再充电测试仪和/或血糖仪，诸如由RocheDiagnostics制造的ACCU-CHEK?通知系统血糖仪）。虽然由这种医用仪表和血糖测试仪使用的测试条可以与本文所确定的测试条不同地构造以符合测试和/或测试仪的要求，但本公开的生物测试系统10将相似地构造并且以相似的方式发挥作用。
另外，本公开的生物测试系统10还可以并入单独的或者商用的装置中，诸如血凝测试仪，例如凝血时间测试仪，诸如由RocheDiagnostics制造的CoaguChek?XS系统混凝剂测试仪。虽然由这种血凝测试仪使用的测试条可以与本文所确定的测试条不同地构造以符合测试和/或测试仪的要求，但本公开的测试系统10将相似地构造并且以相似的方式发挥作用。
本文所描述的设备和方法可以通过由一个或者多个处理器执行的一个或者多个计算机程序来实施。计算机程序包括存储在非暂时性有形计算机可读介质上的处理器可执行指令。计算机程序还可以包括存储的数据。非暂时性有形计算机可读介质的非限制示例为非易失性存储器、磁存储装置以及光学存储装置。下文将对编号的实施例进行描述。
1.一种用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其包括：
连接器组件，该连接器组件接纳在插入方向上移动至测试位置的测试条，该连接器组件包括：
连接器组件主体；以及
导体，该导体具有：
导体接触主体，其固定地连接至连接器组件主体；以及
触头臂，其一体连接至导体接触主体并且完全在插入方向上自由延伸。
2.实施例1的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，连接器组件安装至电路板，从而限定电路板组件，电路板组件保持在测试装置中。
3.实施例2的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其还包括：
导体接触主体的延伸部分；以及
电路板的导电条，其由导体接触主体的延伸部分直接地接触。
4.实施例1的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其还包括金属板，使用多个扣合连接器将金属板连接至连接器组件主体，以将金属板紧固至连接器组件主体。
5.实施例4的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，金属板包括成形的端部，其相对于金属板有角度地定向以使测试条与槽对准。
6.实施例4的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其还包括：
导体接触主体的延伸部分；以及
连接器组件主体包括长形槽，所述延伸部分自由延伸通过长形槽。
7.实施例1的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其还包括：
测试条，该测试条用于接纳生物流体的样本，在该测试条上形成有触头；以及
触头臂，该触头臂对准以直接地接触测试条的触头。
8.实施例7的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，触头臂限定在测试条在插入方向上移动时沿着触头拖过的梁。
9.实施例1的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，导体包括压印边缘，该压印边缘限定使导体的与测试条接触的表面面积最小化的双向弯曲表面。
10.一种用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其包括：
测试条，该测试条用于接纳生物流体的样本，在该测试条上形成有多个触头；以及
测试装置，该测试装置具有：
电路板，该电路板具有多个导电条；以及
连接器组件，该连接器组件固定至电路板并且在测试条在插入方向上移动至测试位置时接纳测试条，连接器组件包括：
连接器组件主体；以及
多个导体，其每个具有：
导体接触主体，该导体接触主体固定地连接至连接器组件主体；以及
触头臂，该触头臂一体连接至导体接触主体并且完全在插入方向上自由延伸，触头臂首先在测试条的插入期间偏转然后在测试条安装位置与测试条的触头中的一个直接地接触。
11.实施例10的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，多个导体中的每个的导体接触主体包括延伸部分，该延伸部分在导体组件外自由延伸并且直接地接触电路板的导电条中的一个。
12.实施例11的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，导体中的每个还包括接合主体，该接合主体一体地连接至导体接触主体且相对于延伸部分的端面相反地引导。
13.实施例12的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，接合主体固定在连接器组件主体中形成的接纳腔中。
14.实施例12的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，接合主体包括至少一个接合肋，该至少一个接合肋从接合主体向外延伸离开从而为接合主体的摩擦接触和保持提供附加表面面积。
15.实施例10的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，连接器组件主体包括多个长形槽，每个长形槽接纳多个导体中的一个，从而以与在测试条触头中的连续触头之间的间距相等的间距来使导体相继地彼此隔开。
16.一种用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其包括：
测试条，该测试条用于接纳生物流体的样本并且在其上形成有触头；以及
流体分析测试装置，该流体分析测试装置具有用于在测试条在插入方向上移动时接纳测试条的连接器，该连接器包括：
梁，该梁由对准以直接地接触触头的表面的平板形成，梁在测试条在插入方向上移动时沿着触头拖过；以及
梁的压印边缘，该压印边缘的每个限定使导体的与测试条接触的部分的压力面积最小化的双向弯曲表面。
17.实施例16的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，流体分析测试装置还包括：具有多个导电条的电路板。
18.实施例17的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其还包括连接器组件，该连接器组件具有安装至电路板的连接器组件主体，所述梁位于连接器组件主体中。
19.实施例18的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，梁包括固定地连接至连接器组件主体的导体接触主体。
20.实施例19的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，梁一体地连接至导体接触主体，并且梁完全在插入方向上延伸，当与测试条触头直接地接触时，梁偏转。
21.实施例18的用于测量在生物流体中所关注的分析物的系统，其中，连接器组件主体包括槽，该槽在测试条在插入方向上移动至测试位置时接纳测试条，该测试位置是当测试条部分地位于连接器组件主体内时限定的。