一种测试仪表,及其测试方法.pdf

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摘要
申请专利号:

CN201510011727.4

申请日:

2015.01.09

公开号:

CN104601227A

公开日:

2015.05.06

当前法律状态:

授权

有效性:

有权

法律详情:

授权|||实质审查的生效IPC(主分类):H04B 10/071申请日:20150109|||公开

IPC分类号:

H04B10/071(2013.01)I

主分类号:

H04B10/071

申请人:

北京奥普维尔科技有限公司

发明人:

朱天全; 鲍胜青; 赵军亮

地址:

100085北京市海淀区信息路7号四层415号

优先权:

专利代理机构:

北京爱普纳杰专利代理事务所(特殊普通合伙)11419

代理人:

何自刚

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内容摘要

本申请公开了一种测试仪表,及其测试方法,包括:控制测试单元、数据分析单元、数据存储单元、光缆测试单元、光纤测试单元和显示单元,所述测试方法包括:1:控制测试单元接收测试指令,将该测试指令转换成数据信息,并发送至数据分析单元;2:数据分析单元接收控制测试单元发送的数据信息并转换为操作指令,发送至光缆测试单元;3:光缆测试单元检测出光纤故障所在的光缆,并发送至数据分析单元;4:数据存储单元对光缆测试数据进行存储;5:数据分析单元接收光缆测试单元的测试结果并转换成测试数据发送至显示单元;本发明解决了现有技术无法实现的将光缆测试和光纤测试集为一体、结构简单、成本低、功耗小的技术问题。

权利要求书

权利要求书1.  一种测试仪表,其特征在于,包括:控制测试单元、数据分析单元、 数据存储单元、光缆测试单元、光纤测试单元和显示单元,其中, 所述控制测试单元,用于接收测试指令,将该测试指令转换成数据信息, 并将该数据信息发送至所述数据分析单元; 所述数据分析单元,用于接收所述控制测试单元发送的数据信息并将该 数据信息转换为操作指令,发送至所述光缆测试单元或所述光纤测试单元, 和/或用于接收所述光缆测试单元或所述光纤测试单元的测试结果并转换成 测试数据发送至所述数据存储单元和所述显示单元; 所述光缆测试单元,用于检测出光纤故障所在的光缆,并将光缆测试结 果发送至所述数据分析单元; 所述光纤测试单元,用于检测出光纤故障在光纤中的位置,并将光纤测 试结果发送至所述数据分析单元; 所述数据存储单元,用于对光缆测试数据和光纤测试数据进行存储; 所述显示单元,用于显示光纤测试数据和光缆测试数据。 2.  根据权利要求1所述的测试仪表,其特征在于,所述光缆测试单元, 包括:第一激光模块,第一脉冲发生模块,光干涉模块,第一光电转换模块, 第一模数转换模块,其中, 所述第一脉冲发生模块,用于与所述数据分析单元连接,使所述数据分 析单元控制第一脉冲发生模块发出设定脉宽的第一电信号和第二电信号; 所述第一激光模块,用于将所述第一电信号转换成第一光信号发送至光 纤后再传送至光干涉模块,将所述第二电信号转换成第二光信号发送至光干 涉模块; 所述光干涉模块,用于接收所述第一光信号和第二光信号,使所述第一 光信号和第二光信号发生光干涉并将光干涉信号发送至第一光电转换模块。 所述第一光电转换模块,用于将光干涉模块产生的光干涉信号转换成模 拟信号; 所述第一模数转换模块,用于将所述模拟信号转换成数字信号发送到数 据分析单元,以确定光纤故障所在的光缆。 3.  根据权利要求1所述的测试仪表,其特征在于,所述光纤测试单元, 包括:第二激光模块,第二脉冲发生模块,第二光电转换模块与第二模数转 换模块,其中, 所述第二脉冲发生模块,用于与所述数据分析单元连接,使所述数据分 析单元控制第二脉冲发生模块发出设定脉宽的电信号; 所述第二激光模块,用于将所述电信号转换成光信号发送到光纤中; 所述第二光电转换模块,用于将光纤中反射回来的信号转换成模拟信号; 所述第二模数转换模块,用于将所述模拟信号转换成数字信号发送到数 据分析单元,以获取光纤长度,动态范围,和盲区的测量数据。 4.  根据权利要求1所述的测试仪表,其特征在于,所述数据分析单元, 进一步为:单片机、CPU中央处理器或微处理器。 5.  根据权利要求1所述的测试仪表,其特征在于,所述数据存储单元, 进一步为:硬盘、ROM存储器、RAM存储器或光盘。 6.  根据权利要求1所述的测试仪表,其特征在于,所述光缆测试单元和 /或者光纤测试单元,还包括:按键操控模块。 7.  一种测试方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤1:控制测试单元接收测试指令,将该测试指令转换成数据信息, 并将该数据信息发送至数据分析单元; 步骤2:所述数据分析单元接收所述控制测试单元发送的数据信息并将 该数据信息转换为操作指令,发送至光缆测试单元; 步骤3:所述光缆测试单元检测出光纤故障所在的光缆,并将光缆测试 结果发送至所述数据分析单元; 步骤4:所述数据分析单元接收所述光缆测试单元的测试结果并转换成 测试数据发送至显示单元; 步骤5:数据存储单元,对光缆测试数据进行存储。 8.  根据权利要求7所述的测试方法,其特征在于,所述步骤3还包括: 步骤3.1:第一脉冲发生模块与所述数据分析单元建立连接,使所述数据 分析单元控制第一脉冲发生模块发出设定脉宽的电信号; 步骤3.2:第一激光模块将所述第一电信号转换成第一光信号发送至光纤 后再传送至光干涉模块,并将所述第二电信号转换成第二光信号发送至光干 涉模块; 步骤3.3:所述光干涉模块接收所述第一光信号和第二光信号,使所述第 一光信号和第二光信号发生光干涉并将光干涉信号发送至第一光电转换模 块; 步骤3.4:所述第一光电转换模块将光干涉信号转换成模拟信号; 步骤3.5:第一模数转换模块将所述模拟信号转换成数字信号发送到数据 分析单元,以确定光纤故障所在的光缆。 9.  一种测试方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤a:控制测试单元接收测试指令,将该测试指令转换成数据信息, 并将该数据信息发送至数据分析单元; 步骤b:所述数据分析单元接收所述控制测试单元发送的数据信息并将 该数据信息转换为操作指令,发送至所述光纤测试单元; 步骤c:所述光纤测试单元检测出光纤故障在光纤中的位置,并将光纤 测试结果发送至所述数据分析单元; 步骤e:所述数据分析单元接收所述光纤测试单元的测试结果并将测试 结果转换成测试数据发送至显示单元; 步骤d:数据存储单元对光纤测试数据进行存储。 10.  根据权利要求9所述的测试方法,其特征在于,所述步骤c还包括: 步骤c1:第二脉冲发生模块与所述数据分析单元建立连接,使所述数据 分析单元控制第二脉冲发生模块发出设定脉宽的电信号; 步骤c2:第二激光模块将所述电信号转换成光信号发送到光纤中; 步骤c3:第二光电转换模块将光纤中反射回来的信号转换成模拟信号; 步骤c4:第二模数转换模块将所述模拟信号转换成数字信号发送到数据 分析单元,以获取光纤长度,动态范围,和盲区的测量数据。

说明书

说明书一种测试仪表,及其测试方法
技术领域
本发明涉及通信测试领域,具体的说,是涉及一种无线测试仪表,及其 测试方法。
背景技术
目前,伴随着通信网络技术日新月异的发展,为了检查数据传输在程序 执行过程中是否完整和正确,各类数据传输测量仪器应运而生,光测试仪需 要具备以下要求,第一,灵敏度高,即表示测试器把光功率转变为电流的效 率高;第二,响应速度快,即指射入光信号后,马上就有电信号输出;光信 号一停,电信号也停止输出,不要延迟。这样才能重现入射信号;第三,噪 声小,即为了提高光纤传输系统的性能,要求系统的各个组成部分的噪声要 求足够小;第四,稳定可靠,即要求测试器的主要性能尽可能不受或者少受 外界温度变化和环境变化的影响,以提高系统的稳定性和可靠性。
现有技术中,光缆查找是线路工程施工、安装和维护前期准备工作中的 关键组成部分,因此光缆普查仪被广泛的用于割接、拼接、资源清查等应用 领域,但是光缆普查仪不能被用于光纤的传输衰减、接头衰减和故障定位的 测量,因此在对光纤做检测时,就要再用光纤测试仪表,这样工作人员在做 检测时需要随时更换仪表,应用麻烦,有时候还会出现检测错误。
专利文件201310527052.X公开了一种基于光纤干涉原理的光缆故障无 损检测装置及方法,属于光纤传感领域,为解决现有装置和方法无法快速、 无损地进行故障光纤测试的问题而设计。本发明基于光纤干涉原理的光缆故 障无损检测装置包括控制器、激光发射器、光纤干涉仪、反射镜、光电转换 器、模数信号转换器、显示器、至少两个探测器、以及至少两个耦合器。本 发明基于光纤干涉原理的光缆故障无损检测装置及方法采用光纤Sagnac干 涉技术和光时域反射测量原理,同时结合了ARM9与FPGA的液晶显示及微 弱信号处理的方法,这种方法虽然可以实现光缆的检测,但是不能同时实现 光纤的检测,因此在使用时很不方便。
因此,如何研发一种测试仪表,及其测试方法,解决上述问题,便成为 亟待解决的技术问题。
发明内容
本申请解决的主要问题是提供一种测试仪表,及其测试方法,以解决无 法实现的将光缆测试和光纤测试集为一体、结构简单、成本低、功耗小的技 术问题。
为了解决上述技术问题,本发明公开了一种测试仪表,包括:控制测试 单元、数据分析单元、数据存储单元、光缆测试单元、光纤测试单元和显示 单元,其中,
所述控制测试单元,用于接收测试指令,将该测试指令转换成数据信息, 并将该数据信息发送至所述数据分析单元;
所述数据分析单元,用于接收所述控制测试单元发送的数据信息并将该 数据信息转换为操作指令,发送至所述光缆测试单元或所述光纤测试单元, 和/或用于接收所述光缆测试单元或所述光纤测试单元的测试结果并转换成 测试数据发送至所述数据存储单元和所述显示单元;
所述光缆测试单元,用于检测出光纤故障所在的光缆,并将光缆测试结 果发送至所述数据分析单元;
所述光纤测试单元,用于检测出光纤故障在光纤中的位置,并将光纤测 试结果发送至所述数据分析单元;
所述数据存储单元,用于对光缆测试数据和光纤测试数据进行存储;
所述显示单元,用于显示光纤测试数据和光缆测试数据。
进一步地,其中,所述光缆测试单元,包括:第一激光模块,第一脉冲 发生模块,光干涉模块,第一光电转换模块,第一模数转换模块,其中,
所述第一脉冲发生模块,用于与所述数据分析单元连接,使所述数据分 析单元控制第一脉冲发生模块发出设定脉宽的第一电信号和第二电信号;
所述第一激光模块,用于将所述第一电信号转换成第一光信号发送至光 纤后再传送至光干涉模块,将所述第二电信号转换成第二光信号发送至光干 涉模块;
所述光干涉模块,用于接收所述第一光信号和第二光信号,使所述第一 光信号和第二光信号发生光干涉并将光干涉信号发送至第一光电转换模块。
所述第一光电转换模块,用于将光干涉模块产生的光干涉信号转换成模 拟信号;
所述第一模数转换模块,用于将所述模拟信号转换成数字信号发送到数 据分析单元,以确定光纤故障所在的光缆。
进一步地,其中,所述光纤测试单元,包括:第二激光模块,第二脉冲 发生模块,第二光电转换模块与第二模数转换模块,其中,
所述第二脉冲发生模块,用于与所述数据分析单元连接,使所述数据分 析单元控制第二脉冲发生模块发出设定脉宽的电信号;
所述第二激光模块,用于将所述电信号转换成光信号发送到光纤中;
所述第二光电转换模块,用于将光纤中反射回来的信号转换成模拟信号;
所述第二模数转换模块,用于将所述模拟信号转换成数字信号发送到数 据分析单元,以获取光纤长度,动态范围,和盲区的测量数据。
进一步地,其中,所述数据分析单元,进一步为:单片机、CPU中央处 理器或微处理器。
进一步地,其中,所述数据存储单元,进一步为:硬盘、ROM存储器、 RAM存储器或光盘。
进一步地,其中,所述光缆测试单元和/或者光纤测试单元,还包括:按 键操控模块。
本发明公开了一种测试方法,包括以下步骤:
步骤1:控制测试单元接收测试指令,将该测试指令转换成数据信息, 并将该数据信息发送至数据分析单元;
步骤2:所述数据分析单元接收所述控制测试单元发送的数据信息并将 该数据信息转换为操作指令,发送至光缆测试单元;
步骤3:所述光缆测试单元检测出光纤故障所在的光缆,并将光缆测试 结果发送至所述数据分析单元;
步骤4:数据存储单元,对光缆测试数据进行存储;
步骤5:所述数据分析单元接收所述光缆测试单元的测试结果并转换成 测试数据发送至显示单元;
进一步地,其中,所述步骤3还包括:
步骤3.1:第一脉冲发生模块,与所述数据分析单元建立连接,使所述数 据分析单元控制第一脉冲发生模块发出设定脉宽的电信号;
步骤3.2:第一激光模块将所述第一电信号转换成第一光信号发送至光纤 后再传送至光干涉模块,并将所述第二电信号转换成第二光信号发送至光干 涉模块;
步骤3.3:所述光干涉模块接收所述第一光信号和第二光信号,使所述第 一光信号和第二光信号发生光干涉并将光干涉信号发送至第一光电转换模 块;
步骤3.4:所述第一光电转换模块将光干涉信号转换成模拟信号;
步骤3.5:第一模数转换模块将所述模拟信号转换成数字信号发送到数据 分析单元,以确定光纤故障所在的光缆。
本发明还公开了一种测试方法,包括以下步骤:
步骤a:控制测试单元接收测试指令,将该测试指令转换成数据信息, 并将该数据信息发送至数据分析单元;
步骤b:所述数据分析单元接收所述控制测试单元发送的数据信息并将 该数据信息转换为操作指令,发送至所述光纤测试单元;
步骤c:所述光纤测试单元检测出光纤故障在光纤中的位置,并将光纤 测试结果发送至所述数据分析单元;
步骤d:数据存储单元对光纤测试数据进行存储;
步骤e:所述数据分析单元接收所述光纤测试单元的测试结果并将测试 结果转换成测试数据发送至显示单元。
进一步地,其中,所述步骤c还包括:
步骤c1:第二脉冲发生模块,与所述数据分析单元建立连接,使所述数 据分析单元控制第二脉冲发生模块发出设定脉宽的电信号;
步骤c2:第二激光模块将所述电信号转换成光信号发送到光纤中;
步骤c3:第二光电转换模块将光纤中反射回来的信号转换成模拟信号;
步骤c4:第二模数转换模块将所述模拟信号转换成数字信号发送到数据 分析单元,以获取光纤长度,动态范围,和盲区的测量数据。
与现有技术相比,本申请所述的一种测试仪表,及其测试方法,达到了 如下效果:
(1)本发明所述的测试仪表,具有光缆测试单元、光纤测试单元,不仅 可以单独的用于检测出光纤故障所在的光缆,还可以进一步再用光纤测试单 元检测出光纤故障在光纤中的位置,从而查找出故障,当然也可以单独的用 光缆测试单元检测出光纤故障所在的光缆或用光纤测试单元检测出光纤故障 在光纤中的位置;
(2)本发明所述的测试仪表,光缆测试单元的测试结构简单,包括第一 激光模块,第一脉冲发生模块,光干涉模块,第一光电转换模块,第一模数 转换模块,可以准确的检测出光纤故障所在的光缆;光纤测试单元的测试结 构包括:第二激光模块,第二脉冲发生模块,第二光电转换模块与第二模数 转换模块,可以准确的检测出光纤故障在光纤中的位置,且操作简单,便于 使用;
(3)本发明所述的测试方法,其测试方法简单易行,便于非专业人员进 行专业通信测试,只需要专业人员配置好设备,就可以由其他非专业人员操 作仪表,简化使用流程。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本发明的一部 分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的 不当限定。在附图中:
图1是本发明的测试仪表的结构原理示意图;
图2是图1所示测试仪表的光缆测试单元的结构示意图;
图3是图1所示测试仪表的光纤测试单元的结构示意图;
图4是图1所示测试仪表的外观实施例示意图;
图5是是本发明的测试仪表的测试方法流程图;
图6是本发明所示方法的另一实施方式的流程图。
具体实施方式
如在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定组件。本领域技 术人员应可理解,硬件制造商可能会用不同名词来称呼同一个组件。本说明 书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式,而是以组件在功能 上的差异来作为区分的准则。如在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包 含”为一开放式用语,故应解释成“包含但不限定于”。“大致”是指在可接收的 误差范围内,本领域技术人员能够在一定误差范围内解决所述技术问题,基 本达到所述技术效果。此外,“耦接”一词在此包含任何直接及间接的电性耦 接手段。因此,若文中描述一第一装置耦接于一第二装置,则代表所述第一 装置可直接电性耦接于所述第二装置,或通过其他装置或耦接手段间接地电 性耦接至所述第二装置。说明书后续描述为实施本申请的较佳实施方式,然 所述描述乃以说明本申请的一般原则为目的,并非用以限定本申请的范围。 本申请的保护范围当视所附权利要求所界定者为准。
以下结合附图对本申请作进一步详细说明,但不作为对本申请的限定。 实施例1
如图1所示,为本发明所述的一种测试仪表,包括:控制测试单元101、 数据分析单元102、数据存储单元105、光缆测试单元104、光纤测试单元103 和显示单元106,其中,
所述控制测试单元101,用于接收测试指令,将该测试指令转换成数据 信息,并将该数据信息发送至所述数据分析单元102;
所述数据分析单元102,用于接收所述控制测试单元101发送的数据信 息并将该数据信息转换为操作指令,发送至所述光缆测试单元104或所述光 纤测试单元103,和/或用于接收所述光缆测试单元104或所述光纤测试单元 103的测试结果并转换成测试数据发送至所述数据存储单元105和所述显示 单元106;
所述光缆测试单元104,用于检测出光纤故障所在的光缆,并将光缆测 试结果发送至所述数据分析单元102;
所述光纤测试单元103,用于检测出光纤故障在光纤中的位置,并将光 纤测试结果发送至所述数据分析单元102;
所述数据存储单元105,用于对光缆测试数据和光纤测试数据进行存储;
所述显示单元106,用于显示光纤测试数据和光缆测试数据。
优选地,如图2所示,所述光缆测试单元,包括:第一激光模块1103, 第一脉冲发生模块1102,光干涉模块1106,第一光电转换模块1104,第一 模数转换模块1101,其中,
所述第一脉冲发生模块1102,用于与所述数据分析单元102连接,使所 述数据分析单元102控制第一脉冲发生模块1102发出设定脉宽的第一电信号 和第二电信号;
所述第一激光模块1103,用于将所述第一电信号转换成第一光信号发送 至光纤后再传送至光干涉模块1106,将所述第二电信号转换成第二光信号发 送至光干涉模块1106;
所述光干涉模块1106,用于接收所述第一光信号和第二光信号,使所述 第一光信号和第二光信号发生光干涉并将光干涉信号发送至第一光电转换模 块1104;
所述第一光电转换模块1104,用于将光干涉模块1106产生的光干涉信 号转换成模拟信号;
所述第一模数转换模块1101,用于将所述模拟信号转换成数字信号发送 到数据分析单元102,以确定光纤故障所在的光缆。
优选地,如图3所示,所述光纤测试单元103,包括:第二激光模块1203, 第二脉冲发生模块1202,第二光电转换模块1204与第二模数转换模块1201, 其中,
所述第二脉冲发生模块1202,用于与所述数据分析单元102连接,使所 述数据分析单元102控制第二脉冲发生模块1202发出设定脉宽的电信号;
所述第二激光模块1203,用于将所述电信号转换成光信号发送到光纤 中;
所述第二光电转换模块1204,用于将光纤中反射回来的信号转换成模拟 信号;
所述第二模数转换模块1201,用于将所述模拟信号转换成数字信号发送 到数据分析单元102,以获取光纤长度,动态范围,和盲区的测量数据。
本发明所述的测试仪表,不仅可以在使用光缆测试单元104检测出光纤 故障所在的光缆的基础上,进一步再用光纤测试单元103检测出光纤故障在 光纤中的位置,从而查找出故障,当然也可以单独的用光缆测试单元104检 测出光纤故障所在的光缆或用光纤测试单元103检测出光纤故障在光纤中的 位置,根据需要选择测试的方法。
另外,本实施例1中的光纤测试单元103主要是用于对光纤的测试,采 用OTDR(光学时域反射技术)的方法,其基本原理是利用分析光纤中后向散 射光或前向散射光的方法测量因散射、吸收等原因产生的光纤传输损耗和各 种结构缺陷引起的结构性损耗,当光纤某一点受温度或应力作用时,该点的 散射特性将发生变化,因此通过显示损耗与光纤长度的对应关系来检测外界 信号分布于传感光纤上的扰动信息。
实际测试方法,发射光脉冲到光纤内,然后在OTDR端口接收返回的信 息来进行。当光脉冲在光纤内传输时,会由于光纤本身的性质,连接器,接 合点,弯曲或其它类似的事件而产生散射,反射。其中一部分的散射和反射 就会返回到OTDR中。返回的有用信息由OTDR的探测器来测量,它们就作 为光纤内不同位置上的时间或曲线片断。从发射信号到返回信号所用的时间, 再确定光在玻璃物质中的速度,就可以计算出距离。以下的公式就说明了 OTDR是如何测量距离的。
d=(c×t)/2(IOR)
在这个公式里,c是光在真空中的速度,而t是信号发射后到接收到信号 (双程)的总时间(两值相乘除以2后就是单程的距离)。因为光在玻璃中 要比在真空中的速度慢,所以为了精确地测量距离,被测的光纤必须要指明 折射率(IOR)。IOR是由光纤生产商来标明。
给定了光纤参数后,瑞利散射的功率就可以标明出来,如果波长已知, 它就与信号的脉冲宽度成比例:脉冲宽度越长,背向散射功率就越强。瑞利 散射的功率还与发射信号的波长有关,波长较短则功率较强。也就是说用 1310nm信号产生的轨迹会比1550nm信号所产生的轨迹的瑞利背向散射要 高。
菲涅尔反射是离散的反射,它是由整条光纤中的个别点而引起的,这些 点是由造成反向系数改变的因素组成,例如玻璃与空气的间隙。在这些点上, 会有很强的背向散射光被反射回来。因此,OTDR就是利用菲涅尔反射的信 息来定位连接点,光纤终端或断点。
数据分析单元控制脉冲发生单元发出制定脉宽的信号,激光把此电信号 转换成光信号发送到光纤中,在光纤中反射回来的信号通过光电转换模块把 光信号转换成模拟信号,再经模式转换单元把模拟信号转换成数字信号送到 数据分析单元中经过处理就能得出光纤长度,动态范围,盲区等技术指标, 以完成对关光纤链路的测量。
优选地,所述数据分析单元102,进一步为:单片机、CPU中央处理器 或微处理器;当然也不限于以上几种,还可以为其他具有数据分析功能的处 理器。
优选地,所述数据存储单元105,进一步为:硬盘、ROM存储器、RAM 存储器或光盘。当然也不限于以上几种,还可以为其他具有数据存储功能的 处理器。
优选地,所述光缆测试单元104和/或者光纤测试单元103,还包括:按 键操控模块。
实施例2
另外,本发明公开了一种测试方法,包括以下步骤:
步骤1:控制测试单元接收测试指令,将该测试指令转换成数据信息, 并将该数据信息发送至所述数据分析单元;
步骤2:所述数据分析单元接收所述控制测试单元发送的数据信息并将 该数据信息转换为操作指令发送至光缆测试单元;
步骤3:所述光缆测试单元检测出光纤故障所在的光缆,并将光缆测试 结果发送至所述数据分析单元;
优选地,所述步骤3还包括:
步骤3.1:第一脉冲发生模块与所述数据分析单元建立连接,使所述数据 分析单元控制所述第一脉冲发生模块发出设定脉宽的电信号;
步骤3.2:将所述第一电信号转换成第一光信号发送至光纤后再传送至光 干涉模块,将所述第二电信号转换成第二光信号发送至光干涉模块;
步骤3.3:所述光干涉模块接收所述第一光信号和第二光信号,使所述第 一光信号和第二光信号发生光干涉并将光干涉信号发送至第一光电转换模 块;
步骤3.4:第一光电转换模块将光干涉信号转换成模拟信号;
步骤3.5:第一模数转换模块将所述模拟信号转换成数字信号发送到数据 分析单元,以确定光纤故障所在的光缆。在测试光纤故障所在的光缆时,可 使光缆产生轻微的振动,例如可以轻轻的敲击光缆,使其产生相应的振动, 当然不限于这一种方法。
步骤4:数据分析单元接收所述光缆测试单元的测试结果并转换成测试 数据发送至所述显示单元;
步骤5:数据存储单元对光缆测试数据进行存储。
本发明还公开了一种测试方法,包括以下步骤:
步骤a:所述控制测试单元接收测试指令,将该测试指令转换成数据信 息,并将该数据信息发送至所述数据分析单元;
步骤b:所述数据分析单元接收所述控制测试单元发送的数据信息并将 该数据信息转换为操作指令,发送至光纤测试单元;
步骤c:所述光纤测试单元检测出光纤故障在光纤中的位置,并将光纤 测试结果发送至所述数据分析单元;
优选地,所述步骤c还包括:
步骤c1:第二脉冲发生模块与所述数据分析单元建立连接,使所述数据 分析单元控制第二脉冲发生模块发出设定脉宽的电信号;
步骤c2:第二激光模块将所述电信号转换成光信号发送到光纤中;
步骤c3:第二光电转换模块将光纤中反射回来的信号转换成模拟信号;
步骤c4:第二模数转换模块将所述模拟信号转换成数字信号发送到数据 分析单元,以获取光纤长度,动态范围,和盲区的测量数据;
步骤d:数据分析单元接收所述光纤测试单元的测试结果并将测试结果 转换成测试数据发送至所述显示单元;
步骤e:数据存储单元对光纤测试数据进行存储。
另外,本发明还公开了另外一种测试方法,包括以下步骤:
步骤一:第一控制测试单元接收测试指令,将该测试指令转换成数据信 息,并将该数据信息发送至第一数据分析单元;
步骤二:第一数据分析单元接收第一控制测试单元发送的数据信息并将 该数据信息转换为操作指令,发送至所述光缆测试单元;
步骤三:光缆测试单元检测出光纤故障所在的光缆,并将光缆测试结果 发送至所述第一数据分析单元;
步骤四:第一数据分析单元接收所述光缆测试单元的测试结果并转换成 测试数据发送至第一显示单元;
步骤五:第一数据存储单元对光缆测试数据进行存储;
步骤六:第二控制测试单元,接收测试指令,将该测试指令转换成数据 信息,并将该数据信息发送至所述第二数据分析单元;
步骤七:第二数据分析单元接收所述第二控制测试单元发送的数据信息 并将该数据信息转换为操作指令,发送至所述光纤测试单元;
步骤八:光纤测试单元检测出光纤故障在光纤中的位置,并将光纤测试 结果发送至所述第二数据分析单元;
步骤九:第二数据分析单元接收所述光纤测试单元的测试结果并将测试 结果转换成测试数据发送至所述第二显示单元;
步骤十:第二数据存储单元对光纤测试数据进行存储。
也就是说,在具体测试时,如果只需要知道光纤故障所在的光缆,这时, 只用使用控制测试单元控制开启光缆测试模块,实现光缆测试的结果,得知 光纤故障所在的光缆;若已经知道光纤故障所在的光缆,需要确定检测出光 纤故障在光纤中的位置,则只用使用控制测试单元控制开启光纤测试模块, 实现光纤测试的结果,得知光纤故障在光纤中的位置;若既不知道光纤故障 所在的光缆,也不知道光纤故障在光纤中的位置,则可以和选择先使用控制 测试单元控制开启光缆测试模块,得知故障所在的光缆后,再开启光纤测试 模块,测得光纤故障在光纤中的位置。多种测试方式可在一种测试仪表中实 现,方法简单易行,便于工作人员操作。
与现有技术相比,本申请所述的一种测试仪表,及其测试方法,达到了 如下效果:
(1)本发明所述的测试仪表,具有光缆测试单元、光纤测试单元,不仅 可以单独的用于检测出光纤故障所在的光缆,还可以进一步再用光纤测试单 元检测出光纤故障在光纤中的位置,从而查找出故障,当然也可以单独的用 光缆测试单元检测出光纤故障所在的光缆或用光纤测试单元检测出光纤故障 在光纤中的位置;
(2)本发明所述的测试仪表,光缆测试单元的测试结构简单,包括第一 激光模块,第一脉冲发生模块,光干涉模块,第一光电转换模块,第一模数 转换模块,可以准确的检测出光纤故障所在的光缆;光纤测试单元的测试结 构包括:第二激光模块,第二脉冲发生模块,第二光电转换模块与第二模数 转换模块,可以准确的检测出光纤故障在光纤中的位置,且操作简单,便于 使用;
(3)本发明所述的测试方法,其测试方法简单易行,便于非专业人员进 行专业通信测试,只需要专业人员配置好设备,就可以由其他非专业人员操 作仪表,简化使用流程。
由于方法部分已经对本申请实施例进行了详细描述,这里对实施例中涉 及的系统与方法对应部分的展开描述省略,不再赘述。对于系统中具体内容 的描述可参考方法实施例的内容,这里不再具体限定。
上述说明示出并描述了本申请的若干优选实施例,但如前所述,应当理 解本申请并非局限于本文所披露的形式,不应看作是对其他实施例的排除, 而可用于各种其他组合、修改和环境,并能够在本文所述申请构想范围内, 通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改 动和变化不脱离本申请的精神和范围,则都应在本申请所附权利要求的保护 范围内。

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本申请公开了一种测试仪表,及其测试方法,包括:控制测试单元、数据分析单元、数据存储单元、光缆测试单元、光纤测试单元和显示单元,所述测试方法包括:1:控制测试单元接收测试指令,将该测试指令转换成数据信息,并发送至数据分析单元;2:数据分析单元接收控制测试单元发送的数据信息并转换为操作指令,发送至光缆测试单元;3:光缆测试单元检测出光纤故障所在的光缆,并发送至数据分析单元;4:数据存储单元对光缆测试数。

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