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1、10申请公布号CN104182315A43申请公布日20141203CN104182315A21申请号201410437652122申请日20140829G06F11/2220060171申请人青岛海信电器股份有限公司地址266100山东省青岛市崂山区株洲路151号72发明人毕春光刘进孙学斌74专利代理机构北京中博世达专利商标代理有限公司11274代理人申健54发明名称一种控制调试功能的电路、电子设备及其对应的调试设备57摘要本发明提供一种控制调试功能的电路、电子设备及其对应的调试设备，涉及电子设备领域，用于在实现数据传输通路和调试通路共用一个端口的同时，保证了在电子设备的系统宕机时，电子设备。
2、的调试功能可正常打开。所述电路包括主控芯片单元，复用端口，还包括调试开关；调试开关包括控制端、第一端及第二端；其中，复用端口与调试开关的第一端相连接，主控芯片单元与调试开关的第二端相连接；调试开关的控制端，用于接收第一电平信号或第二电平信号；所述第一电平信号用于控制调试开关闭合，所述第二电平信号用于控制调试开关开启。51INTCL权利要求书2页说明书11页附图4页19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书2页说明书11页附图4页10申请公布号CN104182315ACN104182315A1/2页21一种控制调试功能的电路，包括主控芯片单元，复用端口，其特征在于，还包括调试开关。
3、；所述调试开关包括控制端、第一端及第二端；其中，所述复用端口与所述调试开关的第一端相连接，所述主控芯片单元与所述调试开关的第二端相连接；所述调试开关的控制端，用于接收第一电平信号或第二电平信号；所述第一电平信号用于控制调试开关闭合，所述第二电平信号用于控制调试开关开启；当所述调试开关闭合时，所述复用端口与所述主控芯片单元间的调试通路导通；当所述调试开关开启时，所述复用端口与所述主控芯片单元间的调试通路断开。2根据权利要求1所述的电路，其特征在于，还包括信号转换电路，所述信号转换电路与所述调试开关的控制端连接，用于接收控制信号，并根据所述控制信号输出第一电平信号或第二电平信号至所述调试开关的控制。
4、端。3根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述信号转换电路包括耳机插孔，第一滤波单元、第二滤波单元及第一检测单元；所述耳机插孔包括左声道端子及右声道端子；所述第一检测单元的第一输入端通过所述第一滤波单元与所述左声道端子连接；所述第一检测单元的第二输入端通过所述第二滤波单元与所述右声道端子连接；所述第一检测单元的输出端与所述调试开关的控制端连接；所述第一检测单元，用于接收由所述左声道端子和所述右声道端子输入的控制信号，并将所述控制信号转变为第一电平信号或第二电平信号。4根据权利要求3所述的电路，其特征在于，所述信号转换电路还包括第二检测单元，所述耳机插孔还包括插入检测脚；所述第二检测单元的第一。
5、输入端与所述插入检测脚连接；所述第二检测单元的第二输入端与所述第一检测单元的输出端连接；所述第二检测单元的输出端与所述主控芯片单元连接；所述第二检测单元，用于接收所述检测脚处的插入检测信号和所述第一检测单元的输出端输出的电平信号，并根据所述插入检测信号和所述第一检测单元的输出端输出的电平信号输出耳机检测电信号至所述主控芯片单元；其中，所述第一检测单元的输出端输出的电平信号包括第一电平信号或第二电平信号。5根据权利要求3或4所述的电路，其特征在于，所述第一滤波单元包括第一电阻、第一电容，其中，所述第一电阻的一端与所述左声道端子连接，所述第一电阻的另一端与所述第一检测单元的第一输入端连接，并且所述。
6、第一电阻的另一端通过所述第一电容接地；所述第二滤波单元包括第二电阻、第二电容，其中，所述第二电阻的一端与所述右声道端子连接，所述第二电阻的另一端与所述第一检测单元的第二输入端连接，并且所述第二电阻的另一端通过所述第二电容接地。6根据权利要求5所述的电路，其特征在于，所述调试开关为金属氧化物半导体MOS管。7根据权利要求6所述的电路，其特征在于，所述第二检测单元为异或门。权利要求书CN104182315A2/2页38根据权利要求7所述的电路，其特征在于，所述第一检测单元为异或门。9一种控制调试功能的电子设备，其特征在于，包括权利要求18任一项所述的控制调试功能的电路。10一种调试设备，其特征在于。
7、，包括信号输出单元，调试单元；所述信号输出单元与控制调试功能的电路的调试开关的控制端连接，用于控制所述调试开关的闭合；所述调试单元与所述控制调试功能的电路的复用端口连接，用于对所述控制调试功能的电路的主控芯片单元进行调试；其中，所述控制调试功能的电路为权利要求18任一项所述的控制调试功能的电路。11根据权利要求10所述的调试设备，其特征在于，在所述控制调试功能的电路包括信号转换电路时，所述信号输出单元通过所述信号转换电路与所述调试开关的控制端连接，用于向所述信号转换电路输出电压不同的两路电平信号，以使得所述信号转换电路输出第一电平信号至所述调试开关的控制端。12根据权利要求11所述的调试设备，。
8、其特征在于，所述信号输出单元包括电压输出模块，左声道连接端，右声道连接端及接地端；其中，所述左声道连接端与所述电压输出模块连接，用于输出高电平信号；所述右声道连接端与所述接地端连接，用于输出低电平信号。权利要求书CN104182315A1/11页4一种控制调试功能的电路、电子设备及其对应的调试设备技术领域0001本发明涉及电子设备领域，尤其涉及一种控制调试功能的电路、电子设备及其对应的调试设备。背景技术0002为实现对电子设备的软件功能的调试，电子设备上需设置调试用的端口，现有技术中为了节省电子设备成本和端口资源，电子设备调试端口多复用在其他数据通信端口上，形成复用端口。通过软件的控制，复用端。
9、口可以实现数据通信的功能，也可以实现调试功能。比如，移动终端的USBUNIVERSALSERIALBUS，通用串行总线端口可以实现对移动终端的调试和USB数据的传输；电视机的VGAVIDEOGRAPHICSARRAY，视频图形阵列端口，可以实现视频信号的传输和对电视的调试。0003但是在复用端口中，在数据传输通路和调试通路共用一个端口时，如图1所示，可能会产生电子设备的系统不稳定的现象。这是因为电子设备的调试功能一致处于开启状态，且在复用端口通过数据传输通路进行数据传输的过程，由于传输的数据信号的状态不稳定，可能会触发调试通路，对电子设备的运行状态产生影响，导致电子设备的系统不稳定。0004为。
10、了实现数据传输通路和调试通路共用一个端口，电子设备会通过软件设定开启或关闭电子设备的调试功能。在需要对电子设备进行调试时，通过软件设定开启调试功能，即开启调试通路，此时复用端口用作调试端口，可以通过复用端口对电子设备进行调试；在不需要对电子设备进行调试时，通过软件设定关闭调试功能，此时调试通路关闭，即为复用端口仅能进行数据传输，并不能通过此数据通信端口对电子设备进行调试。0005发明人在实施现有技术时发现，在电子设备的调试功能关闭时，若电子设备正处于死机或者其它无法通过系统控制的故障状态，此时无法通过软件设定开启调试功能，即无法开启调试通路，因而不能通过复用端口对电子设备的故障原因进行及时定位。
11、。现有的技术方案虽然实现了数据传输通路和调试通路共用一个端口，但是却无法保证在电子设备的系统宕机时，电子设备的调试功能的正常打开。发明内容0006本发明的实施例提供一种控制调试功能的电路、电子设备及其对应的调试设备，在实现数据传输通路和调试通路共用一个端口的同时，保证了在电子设备的系统宕机时，电子设备的调试功能可正常打开。0007为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案0008第一方面，本发明实施例提供了一种控制调试功能的电路，包括主控芯片单元，复用端口，还包括调试开关；所述调试开关包括控制端、第一端及第二端；其中，所述复用端口与所述调试开关的第一端相连接，所述主控芯片单元与所述调试开关。
12、的第二端相连接；所述调试开关的控制端，用于接收第一电平信号或第二电平信号；所述第一电平信号说明书CN104182315A2/11页5用于控制调试开关闭合，所述第二电平信号用于控制调试开关开启；当所述调试开关闭合时，所述复用端口与所述主控芯片单元间的调试通路导通；当所述调试开关开启时，所述复用端口与所述主控芯片单元间的调试通路断开。0009第二方面，本发明实施例提供了一种控制调试功能的电子设备，包括上述实施例所述的控制调试功能的电路。0010第三方面，本发明实施例提供了一种调试设备，包括信号输出单元，调试单元；所述信号输出单元与控制调试功能的电路的调试开关的控制端连接，用于控制所述调试开关的闭合。
13、；所述调试单元与所述控制调试功能的电路的复用端口连接，用于对所述控制调试功能的电路的主控芯片单元进行调试；其中，所述控制调试功能的电路为上述实施例所述的控制调试功能的电路。0011本发明实施例提供一种控制调试功能的电路、电子设备及其对应的调试设备，包括主控芯片单元，调试开关，复用端口；复用端口与所述调试开关的第一端相连接，主控芯片单元与调试开关的第二端相连接，调试开关的控制端用于接收第一电平信号或第二电平信号，其中第一电平信号用于控制调试开关闭合，第二电平信号用于控制调试开关开启。这样，可以根据调试开关的控制端接收的电平信号控制调试开关开启与闭合，在调试开关的控制端接收到第一电平信号时，控制调。
14、试开关闭合，并且当调试开关闭合时，复用端口与主控芯片单元间的调试通路导通，即为主控芯片单元的调试功能打开，从而可以对主控芯片单元进行调试。在调试开关的控制端接收到第二电平信号时，控制调试开关开启，并且当调试开关闭合时，复用端口与主控芯片单元间的调试通路断开即为主控芯片单元的调试功能关闭，从而可以不能对主控芯片单元进行调试。因此本发明可以通过上述电路控制主控芯片单元的调试功能的开启与关闭，而无需通过软件设定的方式开启主控芯片单元的调试功能，实现了数据传输通路和调试通路共用一个端口的同时，保证了在电子设备的系统宕机时，电子设备的调试功能可正常打开。附图说明0012图1为现有技术中数据传输通路和调试。
15、通路共用一个端口的结构示意图；0013图2本发明实施例提供的一种控制调试功能的电路的结构示意图；0014图3为本发明实施例提供的另一种控制调试功能的电路的结构示意图；0015图4为本发明实施例提供的另一种控制调试功能的电路的结构示意图；0016图5为本发明实施例提供的另一种控制调试功能的电路的结构示意图；0017图6为本发明实施例提供的一种调试设备的结构示意图；0018图7为图6所示的调试设备的信号输出单元的结构示意图；0019图8为本发明实施例提供的一种控制调试功能的电路及调试设备的结构示例图。0020附图标记0021101主控芯片单元，102调试开关，103复用端口，104信号转换电路，1。
16、041耳机插孔，1042第一滤波单元，1043第二滤波单元，1044第一检测单元，10411左声道端子，10412右声道端子，1045第二检测单元，10413插入检测脚，501信号输出单元，502调试单元，5011电压输出模块，5012左声道连接端，5013右声道连接端，5014接地端。说明书CN104182315A3/11页6具体实施方式0022下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保。
17、护的范围。0023本发明实施例提供了一种控制调试功能的电路，如图2所示，包括主控芯片单元101，调试开关102，复用端口103。所述调试开关102包括控制端、第一端及第二端。0024其中，所述复用端口103与所述调试开关102的第一端相连接，所述主控芯片单元101与所述调试开关102的第二端相连接。0025所述调试开关102的控制端，用于接收第一电平信号或第二电平信号。0026其中，所述第一电平信号用于控制调试开关102闭合，所述第二电平信号用于控制调试开关开启。当所述调试开关102闭合时，所述复用端口103与所述主控芯片单元101间的调试通路导通。当所述调试开关102开启时，所述复用端口10。
18、3与所述主控芯片单元101间的调试通路断开。0027具体的，在主控芯片单元101需要打开其调试功能时，此时调试开关102的控制端接收到第一电平信号，调试开关102闭合，在将调试开关102闭合后，主控芯片单元101与复用端口103连接，即为将主控芯片单元101与复用端口103间的调试通路导通，此时调试设备可以对主控芯片单元101进行调试。也就是说此时主控芯片单元101的调试功能打开。0028在主控芯片单元101不需要打开其调试功能时，此时调试开关102的控制端接收到第二电平信号，调试开关102开启，在将调试开关102开启后，复用端口103与主控芯片单元101之间的调试通路断开，并没有导通，即为主。
19、控芯片单元101与复用端口103没有连接，所以调试设备不能通过复用端口103对主控芯片单元101进行调试，也就是说此时主控芯片单元101的调试功能没有打开。0029需要说明的是，在本发明实施例中，可以在第二电平信号为低电平信号时控制调试开关开启，在第一电平信号为高电平信号时控制调试开关闭合。当然，可以在第一电平信号为低电平信号时控制调试开关闭合，在第二电平信号为高电平信号时控制调试开关开启，本发明对此不做限制。在本发明实施例中，以第二电平信号为低电平信号时控制调试开关开启，第一电平信号为高电平信号时控制调试开关闭合为例进行说明。0030需要说明的是，在第二电平信号为低电平信号时控制调试开关开启。
20、，第一电平信号为高电平信号时控制调试开关闭合时，第二电平信号可以是电压为零的电平信号，当然还可以是其他电压小于第一电平信号的电压的电平信号，本发明对此不做限制。0031这样，通过上述电路实现了通过硬件电路控制主控芯片单元的调试功能的打开与关闭，这样由于在主控芯片单元不需要调试时，关闭其调试功能，在复用端口数据信号状态不稳定时，也不会影响设备正常运行。在主控芯片单元需要调试时，可以及时的打开其调试功能，避免了由于无法及时开启其调试功能而不能定位异常的问题。0032进一步的，上述控制调试功能的电路，如图3所示，还包括信号转换电路104。0033其中，所述信号转换电路104与所述调试开关103的控制。
21、端连接，用于接收控制信号，并根据所述控制信号输出第一电平信号或第二电平信号至所述调试开关103的控制说明书CN104182315A4/11页7端。0034具体的，信号转换电路104与调试开关103的控制端连接，可以在接收到控制信号后，可以将此控制信号转换为相应的第一电平信号或第二电平信号，进而将可以控制调试开关103闭合或开启的第一电平信号或第二电平信号输出至调试开关103的控制端。0035即为，在主控芯片单元101不需要打开其调试功能时，信号转换电路104根据其接收的控制信号输出的电平信号为第电平信号，从而将此第二电平信号输出至调试开关102的控制端，进而控制调试开关102开启。0036在主。
22、控芯片单元101需要打开其调试功能时，信号转换电路104根据接收的控制信号输出的电平信号为第一电平信号，从而将此第一电平信号输出至调试开关102的控制端，进而控制调试开关102闭合。0037可选的，所述信号转换电路104，如图4所示，包括耳机插孔1041、第一滤波单元1042、第二滤波单元1043及第一检测单元1044。所述耳机插孔1041包括左声道端子10411及右声道端子10412。0038其中，所述第一检测单元1044的第一输入端通过所述第一滤波单元1042与所述左声道端子10411连接；所述第一检测单元1044的第二输入端通过所述第二滤波单元1043与所述右声道端子10412连接；所述。
23、第一检测单元1044的输出端与所述调试开关102的控制端连接。0039所述第一检测单元1044，用于接收由所述左声道端子10411和所述右声道端子10412输入的控制信号，并将所述控制信号转变为第一电平信号或第二电平信号。0040具体的，信号转换电路104可以利用现有的耳机插孔的电路实现。在现有的耳机插孔上，增加第一滤波单元1042，第二滤波单元1043，及第一检测单元1044。第一滤波单元1042，用于滤除交流电信号，向所述第一检测单元1044的第一输入端传输直流电信号。第二滤波单元1043，用于滤除交流电信号，向所述第一检测单元1044的第二输入端传输直流电信号。0041需要说明的是，在耳。
24、机插孔1041中还包括左声道输出单元及右声道输出单元在图4中未表示出，且左声道输出单元与左声道端子10411连接，以便于左声道输出单元输出的电信号通过左声道端子10411输出。右声道输出单元与右声道端子10412连接，以便于右声道输出单元输出的电信号通过右声道端子10412输出。0042由于左声道输出单元与右声道输出单元会输出交流电信号，此时，第一滤波单元1042可以将左声道输出单元输出的交流电信号滤除掉，第二滤波单元1043第二声道输出单元10412可以将右声道输出单元输出的交流电信号滤除掉，避免了左声道输出单元与右声道输出单元输出的电信号传输至第一检测单元1043。0043需要说明的是，在。
25、主控芯片单元101需要打开其调试功能时，第一检测单元1044接收的由左声道端子10411和右声道端子10412输入的控制信号为电压不同的两路电平信号。第一检测单元1044可以通过左声道端子10411接收到高电平信号，通过右声道端子10412接收到低电平信号。当然，也可以通过左声道端子10411接收到低电平信号，通过右声道端子10412接收到高电平信号，本发明对具体接收到的控制信号不做限制，只需在主控芯片单元101需要打开其调试功能时，第一检测单元1044接收的由所述左声道端子10411和所述右声道端子10412输入的控制信号为两路电压不同的电平信号即可。说明书CN104182315A5/11页。
26、80044示例性的，在主控芯片单元101需要打开其调试功能时，第一检测单元1044可以通过左声道端子10411接收到10V伏的电平信号，通过右声道端子10412接收到低于10V的电平信号，例如接收到0V的电平信号，此时第一检测单元1044通过左声道端子10411及右声道端子10412接收的两路电压不同的电平信号，可以输出高电平信号即为第一电平信号至调试开关102的控制端，以控制调试开关102闭合。0045或者，第一检测单元1044可以通过左声道端子10411接收到10V伏的电平信号，通过右声道端子10412接收到高于10V的电平信号，例如接收到20V的电平信号，此时第一检测单元1044通过左声。
27、道端子10411及右声道端子10412接收的两路电压不同的电平信号，可以输出高电平信号即为第一电平信号至调试开关102的控制端，以控制调试开关102闭合。0046也就是说，在需要调试开关102闭合时，第一检测单元1044可以接收由左声道端子10411输入的高电平信号，接收由右声道端子10412输入的低电平信号，即为第一检测单元1044的第一输入端及第二输入端接收到电压不同的电平信号，此时第一检测单元1044可以将接收到的高电平信号及低电平信号转变为控制调试开关102闭合的第一电平信号，并将此第一电平信号输出至调试开关102的控制端，以控制调试开关102闭合。0047或者，第一检测单元1044可。
28、以接收由右声道端子10412输入的高电平信号，接收由左声道端子10411输入的低电平信号，即为第一检测单元1044的第一输入端及第二输入端接收到电压不同的电平信号，此时第一检测单元1044可以将接收到的高电平信号及低电平信号转变为控制调试开关102闭合的第一电平信号，并将此第一电平信号输出至调试开关102的控制端，以控制调试开关102闭合。0048在主控芯片单元101需要关闭其调试功能时，第一检测单元1044接收的由所述左声道端子10411和所述右声道端子10412输入的控制信号为电压相同的两路电平信号。可以接收由所述左声道端子10411和所述右声道端子10412输入的相同的高电平信号，或低电。
29、平信号，本发明对此不做限制。0049即为，第一检测单元1044可以接收由左声道端子10411和右声道端子10412输入的高电平信号或低电平信号，即为第一检测单元1044的第一输入端及第二输入端接收到电压相同的电平信号，此时第一检测单元1044可以将接收到的高电平信号或低电平信号转变为控制调试开关102开启的第二电平信号，并将此第二电平信号输出至调试开关102的控制端，以控制调试开关102开启。0050示例性的，在主控芯片单元101需要关闭其调试功能时，第一检测单元1044可以通过左声道端子10411接收到10V伏的电平信号，通过右声道端子10412接收到与左声道端子10411接收的电平信号的电。
30、压相等的电平信号，即为右声道端子10412也接收到10V的电平信号，此时第一检测单元1044通过左声道端子10411及右声道端子10412接收的两路电压相等的电平信号，可以输出低电平信号即为第二电平信号至调试开关102的控制端，以控制调试开关102开启。0051可选的，第一检测单元1044的两个输入端均没有控制信号输入时，即为向第一检测单元1044的两个输入端输入了电压为零的电平信号，此时第一检测单元1044输出第二电平信号，并且第二电平信号的电压值为零。0052需要说明的是，在需要输出声音，不需要开启主控芯片单元101单元的调试功能说明书CN104182315A6/11页9时，耳机插孔的左声。
31、道端子10411和右声道端子输出的是电压相同的两路电平信号，所以第一检测单元1044的第一输入端及第二输入端接收的为两路电压相同的电平信号，第一检测单元1044根据其第一输入端及第二输入端接收的电平信号，输出的为第二电平信号，从而不会触发调试开关102的闭合。也就说说，第一检测单元1044不容易被误触发。0053进一步的，如图5所示，所述信号转换电路104还包括第二检测单元1045，所述耳机插孔1041还包括插入检测脚10413。0054所述第二检测单元1045的第一输入端与所述插入检测脚10413连接；所述第二检测单元1045的第二输入端与所述第一检测单元1044的输出端连接；所述第二检测单。
32、元1045的输出端与所述主控芯片单元101连接。0055所述第二检测单元1045，用于接收所述检测脚10413处的插入检测信号和所述第一检测单元1044的输出端输出的电平信号，并根据所述插入检测信号和所述第一检测单元1044的输出端输出的电平信号输出耳机检测电信号至所述主控芯片单元101。0056其中，所述第一检测单元1044的输出端输出的电平信号包括第一电平信号或第二电平信号。0057此时，所述主控芯片单元101可以根据所述耳机检测电信号确定是否有耳机设备接入。0058具体的，在现有的耳机插孔中添加了第一滤波单元1042，第二滤波单元1043，及第一检测单元1044，实现控制调试开关102的。
33、闭合与开启后，为了保证耳机插孔的正常的工作，增加了第二检测单元1045。0059需要说明的是，第二检测单元1045在其两个输入端接收到电压不同的两路电平信号时，将主控芯片单元101能够确定出有耳机设备插入耳机插孔所依据的电信号确定为耳机检测电信号。在本发明实施例中，以主控芯片单元101能够确定出有耳机设备插入耳机插孔所依据的电信号为高电平信号为例进行说明，此时在第二检测单元1045在其两个输入端接收到电压不同的两路电平信号时，将高电平信号作为耳机检测电信号发送至主控芯片单元101。第二检测单元1045在其两个输入端接收到电压相同的两路电平信号时，则将主控芯片单元101能够确定出没有耳机设备插入。
34、耳机插孔所依据的电信号确定为耳机检测电信号。在本发明实施例中，以主控芯片单元101能够确定出没有耳机设备插入耳机插孔所依据的电信号为低电平信号为例进行说明。0060由于插入检测脚10413与所述左声道端子10411的接触连接，所以在有耳机设备插入耳机插孔1041时，耳机设备会断开插入检测脚10413与所述左声道端子10411的连接，插入检测脚10413向第二检测单元1045的第一输入端发送高电平信号。在耳机设备插入耳机插孔1041时，耳机设备通过左声道端子10411及右声道端子10412向第一检测单元1044的第一输入端及第二输入端发送的电平信号相同。由于第一检测单元1044只有在两个输入端接。
35、收到电压不同的两路电平信号时，才会输出控制调试开关102闭合的高电平信号即为第一电平信号，此时第一检测单元1044的两个输入端的电平信号相同，所以第一检测单元1044输出控制调试开关102开启的低电平信号即为第二电平信号。由于第一检测单元1044的输出端与第二检测单元1045的第二输入端连接，所以，第一检测单元1044将其输出的低电平信号输入至第二检测单元1045。此时第二检测单元1045的第一输入端接收到高电平信号，第二输入端接收到低电平信号，第二检测单元1045输出高电平信号作为说明书CN104182315A7/11页10耳机检测电信号传输至主控芯片单元101。主控芯片单元101接收到耳机。
36、检测电信号后，检测出耳机检测电信号为高电平信号，从而确定出有耳机设备插入耳机插孔1041。0061这样，上述电路在利用耳机插孔实现控制调试开关闭合与开启，控制主控芯片单元101的调试功能的开启与闭合的同时，又能保证耳机插孔的正常工作。0062需要说明的是，耳机检测电信号还可是其他电信号，本发明对此不做限制。0063可选的，所述第一滤波单元1042包括第一电阻，及第一电容。0064其中，所述第一电阻的一端与所述左声道端子10411连接，所述第一电阻另一端与所述第一检测单元1044的第一输入端连接，并且所述第一电阻的另一端通过所述第一电容接地。0065所述第二滤波单元1043包括第二电阻，及第二电。
37、容。0066其中，所述第二电阻的一端与所述右声道端子10412的连接，所述第二电阻的另一端与所述第一检测单元1044的第二输入端连接，并且所述第二电阻的另一端通过所述第二电容接地。0067可选的，调试开关102为MOSMETALOXIDESEMICONDUCTOR，金属氧化物半导体管。0068需要说明的是，调试开关为MOS管是指调试开关可以是N型MOS管，也可以是P型MOS管。当然，调试开关还可以用是其他具有开关功能的器件，比如继电器，开关芯片等，本发明对此不做限制。0069可选的，第二检测单元1045为异或门。0070可选的，第一检测单元1044为异或门。0071可选的，主控芯片单元为MCU。
38、MICROCONTROLUNIT，微控制单元。0072需要说明的是，在本发明实施例中，第一电阻、第一电容、第二电阻及第二电容可以为一个或多个器件的组合实现，即上述第一电阻及第二电阻可以包括至少一个电阻，当上述第一电阻及第二电阻中包含至少两个电阻时，所述第一电阻及第二电阻内的电阻可以并联的，也可以是串联的，且所述电阻的大小可以是固定的，也可以是变化的；上述第一电容及第二电容可以包括至少一个电容，当上述第一电容及第二电容中包含至少两个电容时，所述第一电容及第二电容内的电容可以是并联的，也可以是串联的，且所述电容的大小可以是固定的，也可以是变化的。0073本发明实施例提供一种控制调试功能的电路，包括。
39、主控芯片单元，调试开关，复用端口；复用端口与所述调试开关的第一端相连接，主控芯片单元与调试开关的第二端相连接，调试开关的控制端用于接收第一电平信号或第二电平信号，其中第一电平信号用于控制调试开关闭合，第二电平信号用于控制调试开关开启。这样，可以根据调试开关的控制端接收的电平信号控制调试开关开启与闭合，在调试开关的控制端接收到第一电平信号时，控制调试开关闭合，并且当调试开关闭合时，复用端口与主控芯片单元间的调试通路导通，即为主控芯片单元的调试功能打开，从而可以对主控芯片单元进行调试。在调试开关的控制端接收到第二电平信号时，控制调试开关开启，并且当调试开关闭合时，复用端口与主控芯片单元间的调试通路。
40、断开即为主控芯片单元的调试功能关闭，从而可以不能对主控芯片单元进行调试。因此本发明可以通过上述电路控制主控芯片单元的调试功能的开启与关闭，而无需通过软件设定的方式开启主控芯片单元的调试功能，实现了数据传输通路和调说明书CN104182315A108/11页11试通路共用一个端口的同时，保证了在电子设备的系统宕机时，电子设备的调试功能可正常打开。0074本发明实施例提供了一种控制调试功能的电子设备，包括上述实施例所述的控制调试功能的电路。0075本发明实施例提供了一种调试设备，如图6所示，包括信号输出单元501，调试单元502。0076所述信号输出单元501，与控制调试功能的电路的调试开关的控制。
41、端连接，用于控制所述调试开关的闭合。0077所述调试单元502与所述控制调试功能的电路的复用端口连接，用于对所述控制调试功能的电路的主控芯片单元进行调试。0078其中，所述控制调试功能的电路为上述实施例所述的控制调试功能的电路。0079可选的，在所述控制调试功能的电路不包括信号转换电路时，所述信号输出单元501输出第一电平信号至所述调试开关的控制端。0080进一步的，在所述控制调试功能的电路包括信号转换电路时，所述信号输出单元501通过所述信号转换电路与所述调试开关的控制端连接，用于向所述信号转换电路输出电压不同的两路电平信号，以使得所述信号转换电路输出第一电平信号至所述调试开关的控制端。00。
42、81进一步的，所述控制调试功能的电路，如图7所示，所述信号输出单元501包括电压输出模块5011，左声道连接端5012，右声道连接端5013及接地端5014。0082其中，所述左声道连接端5012与所述电压输出模块5011连接，用于输出高电平信号。所述右声道连接端5013与所述接地端连接5014，用于输出低电平信号。0083此时，信号输出单元501发送的控制信号为电平信号。0084这样，信号输出单元501的左声道连接端5012可以向左声道端子输入高电平信号，信号输出单元501的右声道连接端5012可以向右声道端子输入低电平信号，保证了信号输出单元501向左声道端子及右声道端子输入电压不同的电平。
43、信号，使得第一检测单元的两个输入端通过第一滤波单元及第二滤波单元接收到电压不同的电平信号，从而可以输出控制调试开关102闭合的第一电平信号。0085可选的，信号输出单元501的电压输出模块5011可以与调试单元502设置在同一个器件中。0086示例的，图8为本发明实施例提供的控制调试功能的电路及调试设备的结构示例图。假设第一电平信号为高电平信号，第二电平信号为低电平信号，且主控芯片单元101为MCU，调试开关102为N型MOS管，所述第一检测单元1044为异或门，所述第二检测单元1045为异或门，所述第一滤波单元1042中的第一电阻包含一电阻R4，第一电容包含一电容C3，所述第二滤波单元104。
44、23中的第二电阻包含一电阻R5，第二电容包含一电容C4。耳机插孔1041包括左声道输出单元和一电容C2，右声道输出单元和一电容C1。其中，电容C2用于滤出左声道输出单元输出的直流噪声信号，电容C1用于滤出右声道输出单元输出的直流噪声信号。所述耳机插孔1041中还包括电阻R1，电阻R2，电阻R3，且电阻R1远大于电阻R3。其中，插入检测脚10413的一端与左声道端子10411的一端接触连接，电阻R1的第一端与插入检测脚10413的另一端连接，电阻R1的第二端连接电源。电阻R1用于保说明书CN104182315A119/11页12护电路。电阻R2的第一端与右声道端子10412连接，电阻R2的第二端。
45、接地，电阻R3的第一端与左声道端子10411的另一端连接，电阻R3的第二端接地。电阻R2及电阻R3用于平衡左声道输出单元与所述右声道输出单元输出的电流值，以便左声道输出单元与所述右声道输出单元输出的声音信号一致。所述信号输出单元501还包括电阻R6，R7，其中，左声道连接端5012通过电阻R6与电压输出模块5011连接。所述右声道连接端5013通过电阻R7与接地端5014连接。0087在主控芯片单元101不需要进行调试，其调试功能需要关闭，且没有耳机设备插入耳机插孔时，此时插入检测脚10413的一端与左声道端子10411的一端连接，由于插入检测脚10413的另一端通过电阻R1与电源连接，左声道。
46、端子10411的另一端与电阻R3连接，且R3的另一端接地，这样，插入检测脚10413与左声道端子10411之间形成回路，由于电阻R1远大于电阻R3，经过分压后，插入检测脚10413上的电压较小，为低电平信号，则插入检测脚10413向第二检测单元1045的第一输入端传输低电平信号。由于没有设备插入耳机插孔，所以左声道端子10411及右声道端子10412没有接收到电信号，此时可以认为左声道端子10411及右声道端子10412向第一检测单元1044的第一输入端及第二输入端输入相同的低电平信号，所以第一检测单元1044将第一输入端及第二输入端接收的相同的控制信号转变为第二电平信号即为低电平信号，由其输。
47、出端输出至第二检测单元1045的第二输入端及调试开关102的控制端。第一检测单元1044输出第二电平信号即为低电平信号至调试开关102的控制端控制调试开关102开启，进而断开了复用端口103与主控芯片单元101的间的调试通路，使得主控芯片单元101的调试功能关闭，此时调试单元502不能通过复用端口103对主控芯片单元101进行调试。并且，第二检测单元1045的第一输入端及第二输入端均接收到低电平信号，没有接收到不同的电平信号，则第二检测单元1045通过其输出端输出低电平信号至主控芯片单元101，主控芯片单元101在接收到低电平信号时，确定没有耳机设备插入耳机插孔。0088在主控芯片单元101不。
48、需要进行调试，其调试功能关闭，且有耳机设备插入耳机插孔时，由于耳机设备的插入，使得插入检测脚10413的一端与左声道端子10411的一端断开连接，则插入检测脚10413与左声道端子10411之间的回路断开，由于插入检测脚10413的另一端通过电阻R1与电源连接，所以，插入检测脚10413的电压较大，为高电平信号，则插入检测脚10413向第二检测单元1045的第一输入端传输高电平信号。耳机设备插入耳机插孔时，向左声道端子10411及右声道端子10412输入电压相同的电平信号，此时第一检测单元1044接收的由左声道端子10411及右声道端子10412输入的控制信号相同，第一检测单元1044将第一输。
49、入端及第二输入端接收的相同的控制信号转变为低电平信号即为第二电平信号，由其输出端输出至第二检测单元1045的第二输入端及调试开关102的控制端。第一检测单元1044输出低电平信号即为第二电平信号至调试开关102的控制端控制调试开关102开启，进而断开了复用端口103与主控芯片单元101的间的调试通路，使得主控芯片单元101的调试功能关闭，此时调试单元502不能通过复用端口103对主控芯片单元101进行调试。然而，第二检测单元1045的第一输入端接收到高电平信号，第二输入端接收到低电平信号，接收到电压不同的电平信号，所以第二检测单元1045通过其输出端输出高电平信号至主控芯片单元101，主控芯片。
50、单元101在接收到高电平信号时，确定有耳机设备插入耳机插孔。说明书CN104182315A1210/11页130089在主控芯片单元需要打开调试功能时，此时调试设备插入耳机插孔，由于调试调试设备插入耳机插孔，使得信号输出单元501的左声道连接端5012与左声道端子10411连接，右声道连接端5013与右声道端子10412连接。并且调试设备插入耳机插孔时，使得插入检测脚10413的一端与左声道端子10411的一端断开连接，则插入检测脚10413与左声道端子10411之间的回路断开，由于插入检测脚10413的另一端通过电阻R1与电源连接，所以，插入检测脚10413的电压较大，为高电平信号，则插入检。