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1、(10)申请公布号 CN 101967678 A(43)申请公布日 2011.02.09CN101967678A*CN101967678A*(21)申请号 200910060112.5(22)申请日 2009.07.27C30B 23/02(2006.01)C30B 29/12(2006.01)(71)申请人电子科技大学地址 610054 四川省成都市建设北路二段四号(72)发明人刘爽 张佳宁 钟智勇(54) 发明名称掺铊碘化铯(CsI:T1)薄膜的一种制备方法(57) 摘要本发明涉及功能薄膜材料制备技术,提供了掺铊碘化铯(CsI:Tl)薄膜的制备方法。提供了一种制备掺铊碘化铯(CsI:Tl)。
2、薄膜的方法,采用热蒸发方式实现对50100m掺铊碘化铯(CsI:Tl)薄膜的制备,在衬底上制备出均匀、致密、与衬底粘附良好、与CMOS工艺兼容、性能优良的掺铊碘化铯(CsI:Tl)薄膜,可被广泛应用于X射线探测器。(51)Int.Cl.(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请权利要求书 1 页 说明书 2 页 附图 2 页CN 101967678 A 1/1页21.掺铊碘化铯(CsI:Tl)薄膜的制备方法,包括(1)原材料的选取、(2)衬底的选取、(3)蒸发舟的制作、(4)通过热蒸发法制备(CsI:Tl)薄膜;其中热蒸发法制备薄膜的过程包括(5)固定衬底和蒸发舟,添加蒸发材料、。
3、(6)抽真空、(7)蒸发、(8)取件。2.按权利要求1所述的掺铊碘化铯(CsI:Tl)薄膜的制备方法,其特征在于原材料是纯度均为99.99的CsI和TlI晶体,其混和晶体中二者摩尔比大致为1000/(0.55.0)。3.按权利要求1所述的掺铊碘化铯(CsI:Tl)薄膜的制备方法,其特征在于所选取的硅三种不同的材料作为衬底分别为:p型单晶Si、n型单晶Si、玻璃材料和镀有二氧化硅薄膜的P型单晶硅。4.按权利要求1所述的掺铊碘化铯(CsI:Tl)薄膜的制备方法,其特征在于蒸发舟以金属钼为材料,制成图2所示的舟状容器(1),夹在蒸发电极(2)之间,用以盛放蒸发材料(3)。5.按权利要求1所述的掺铊碘。
4、化铯(CsI:Tl)薄膜的制备方法,其特征在于通过热蒸发制备掺铊碘化铯(CsI:Tl)薄膜的条件包括:采用钨作为螺旋状的电阻蒸发源,对基片进行电阻加热。低真空抽至1.3Pa,调整充气针阀使气压维持在6.7Pa,进行离子轰击15分钟以上,且轰击电流维持在100mA以上;蒸发时旋转基片架附(图4中(4),电流小于500mA,大于100mA。权 利 要 求 书CN 101967678 A 1/2页3掺铊碘化铯 (CsI:Tl) 薄膜的一种制备方法技术领域0001 本发明涉及功能薄膜材料制备技术,提供了掺铊碘化铯(CsI:Tl)薄膜的一种制备方法。背景技术0002 自从X光被伦琴发现以来,它在人类面前。
5、展示了越来越广泛的用途,从最初的X光感光底片照片到后来的X光光电探测器件,从航空航天到高能物理,从军事到医疗再到安检设备,从生产到生活再到科学研究、宇宙探寻,这种可怕的射线显示出它独有的魅力。而其中,X射线用于的探测技术更是当中最为重要的发展方向。0003 CsI:Tl是一种性能优异的闪烁体材料,不但光产额高而且辐照强度好,易于同硅光电管进行光谱匹配,且机械性能优良,生产成本相对较低,同时能像光导纤维一样被激发。利用CCD作为图像记录的X光探测系统中,所用CsI:Tl的作用是将X光转换为可记录的可见光,其各项性能直接影响后面的图像处理结果。现阶段,我国在X光的探测方面所用到的闪烁体材料,无论是。
6、CsI:Tl还是NaI:Tl都还停留在块材的阶段,在中国专利94112210.7“下降法生长大尺寸碘化铯(CsI)晶体新技术”、中国专利97112901.0“基于碘化铯的闪烁材料及其制备方法”、中国专利200310109480.7“以单质粉末为脱氧剂的掺铊碘化铯晶体生长技术”和中国专利96116387.9“非真空下降法生长掺铊碘化铯晶体的工艺技术”中都是制备碘化铯晶体的新技术和新工艺,碘化铯晶体的制备技术已经非常成熟,但是国内还未见制备掺铊碘化铯(CsI:Tl)薄膜的报道。由于掺铊碘化铯晶体做为块状材料在应用上存在缺陷,即:体积较大、不轻便、不易集成化、与探测器相连需要额外的连接设备(如光导纤。
7、维)等。所以用于X射线探测以及其他领域应用的CsI:Tl晶体,体积较大,各方面性能也有待提高,特别是在集成化方面有着很大的不足。0004 因此,将CsI:Tl晶体薄膜化,使它在薄膜级别的性能保持优异,对此后它与X射线探测器件的结合有重要的意义。发明内容0005 本发明为了克服上述的不足,提出了热蒸发的方法来实现对掺铊碘化铯(CsI:Tl)薄膜的制备,在衬底上制备出均匀、致密、与衬底粘附良好、与CMOS工艺兼容、性能优良的掺铊碘化铯(CsI:Tl)薄膜。附图说明0006 附图1为热蒸发法制备CsI:Tl薄膜的工艺流程图0007 附图2为蒸发舟结构示意图1:钼舟;2:蒸发电极;3:CsI(Tl)粉。
8、末。0008 附图3为蒸发舟示意图(1)蒸发舟侧面图;1为57cm;(2)蒸发舟俯视图L为812cm;D为36cm0009 附图4为真空蒸发室结构示意图1:钼舟;2:蒸发电极;3:CsI(Tl)粉末;4:衬底说 明 书CN 101967678 A 2/2页4基片;5:蒸发室具体实施方案0010 (1)原材料的选取0011 本发明选用的原材料是纯度均为99.99的CsI和TlI晶体,镀膜前将两种晶体混和在一起,混和晶体中二者摩尔比大致为1000/(0.55.0)0012 (2)衬底的选取0013 选用了P型单晶Si、n型单晶Si、玻璃材料和镀有二氧化硅薄膜的P型单晶硅三种基片作为衬底。0014 。
9、(3)蒸发舟的制作0015 选用了金属钼为材料,制成舟状容器,固定在蒸发电极上。0016 (4)热蒸发0017 热蒸发系统采用钨作为螺旋状的电阻加热源,对基片进行电阻加热。将需要镀膜的衬底上架,同时采用钼舟为蒸发源,钼舟固定在电阻丝上,把CsI(Tl)粉末均匀的撒在舟上。降下钟罩使其完全密合,低真空抽至1.3Pa,调整充气针阀使气压维持在6.7Pa,进行离子轰击15分钟以上,且轰击电流维持在100mA以上;蒸发时旋转基片架;蒸发电流小于500mA,大于100mA,此时,蒸镀室的真空度被抽到5.610-3pa左右,蒸镀完毕之后,保持系统原有的大气压约10小时,再取出基片。0018 本发明的优点:薄膜制备过程简单、费用低廉,制备的薄膜均匀和连续性好、易于集成化,克服了传统掺铊碘化铯晶体做为块状材料在应用上存在的体积较大、不轻便、不易集成化、与探测器相连需要额外的连接设备(如光导纤维)的缺点,可以有力的推动X射线探测器集成化的发展。说 明 书CN 101967678 A 1/2页5图1图2说 明 书 附 图CN 101967678 A 2/2页6图3图4说 明 书 附 图。