分类机及分类测试方法 【技术领域】
本发明关于一种分类机及其测试方法，并且特别地，本发明关于一种能自动分类集成电路(integrated circuit，IC)的分类机及其自动化测试方法。
背景技术
IC测试分类机主要被应用于半导体测试流程后段，其为一种可将IC进行测试分类的自动化机械结构。请参阅图1，图1是绘示现有IC测试分类机1的示意图。现有IC测试分类机1包括分类器10、测试机12以及多个缆线(cable)14。现有IC测试分类机1由分类器10与测试机12通过缆线14电连接组成。其中，分类器10可进一步包括载盘(tray)或载管(tube)。分类器10执行分类动作时，是将待测的集成电路分类放置于分类器10的标准容器载盘或载管。
测试机12主要依放置于载盘或载管中的集成电路进行测试，并传递测试结果回分类器10进行分类。举例来说，分类器10包括3个置放区(第一区、第二区及第三区)，分别对应最佳、可通过及失败的三种品质类别。当测试机12测试某一集成电路后，测得品质为可通过，分类器10就可根据测试结果，将该集成电路置放于第二区。
由于不同的集成电路产生不同电性功能，因此测试机12与分类器10的连接，需使用多条缆线14以传递测试信号。
由上所述，目前针对集成电路的分类器10并无自我测试分类的功能。测试机12与分类器10的通信以缆线14相互连接，才能执行分类功能。除此之外，并需进一步确认测试机12以及所有连接的缆线14均为良品，分类器10与测试机12才能正常动作，且分类结果是否正确，仍需依靠人员进行判断。
换言之，现有IC测试分类机执行分类动作前，必须重复确认测试机以及缆线均为良品，并靠人员判断该分类结果正确与否。以现今的科技发展此分类技术不仅耗时、耗费人力更缺乏效率。综合上述，通过整合分类器以及测试机，借以节省测试机与缆线的设置成本，将为本发明当务之急欲改善的目标。
【发明内容】
因此，本发明的一范畴在于提供一种分类机。特别地，根据本发明的分类机可通过分类信号的比较，达到自我分类以及测试的目的，也可节省测试机以及缆线的设置成本，并减少人为的错误判断。
根据一具体实施例，本发明的分类机包括一分类器以及一测试模块。该测试模块可拆卸地连接于该分类器。测试模块进一步包括一信号产生器、一感应器以及一信号比较器。该信号产生器产生并送出一第一分类信号，该分类器接收该第一分类信号，并根据该第一分类信号将一第一电子元件对应地分类置放于一第一区域。该感应器感应置放于该第一区域的该第一电子元件，以对应地产生及送出一第二分类信号。该信号比较器电连接该感应器及该信号产生器，接收该第一分类信号及该第二分类信号，该信号比较器判断该第一分类信号是否相同于该第二分类信号，并对应地送出一比较信号。
若该信号比较器判断该第一分类信号相同于该第二分类信号，则送出的该比较信号为一肯定信号。相反地，若该信号比较器判断该第一分类信号异于该第二分类信号，则送出的该比较信号为一否定信号。若信号产生器接收到肯定信号，则继续送出一第三分类信号给分类器，若该第三分类信号异于该第一分类信号，则该分类器根据该第三分类信号，将一第二电子元件对应地分类置放于一第二区域，若该第三分类信号相同于该第一分类信号，则该分类器根据该第三分类信号，将一第二电子元件对应地分类置放于该第一区域，即让分类器继续运作。反之，若信号产生器接收到否定信号，则停止送出分类信号或产生一停止信号给分类器，让分类器停止运作。借此，当本发明的分类机侦测到分类错误时能自我停止，毋需人工检测，以达到自我测试的功能。
本发明所述的分类机，进一步包括一通知单元，电连接至该信号产生器，该信号产生器送出该停止信号给该通知单元，该通知单元根据该停止信号，对应地产生一停止信息。
本发明所述的分类机，进一步包括一通知单元，电连接至该信号产生器及该感应器，该通知单元根据该第一分类信号及该第二分类信号，对应地产生一第一分类信息及一第二分类信息。
本发明所述的分类机，进一步包括一通知单元，电连接至该信号比较器，该通知单元根据该比较信号，对应地产生一比较信息。
本发明所述的分类机，该通知单元为一显示器、一扩音器或一指示灯号。
本发明所述的分类机，进一步包括一信号接收器，电连接至该分类器及该信号产生器，该信号接收器接收由该分类器所送出的一开始信号，并根据该开始信号，触发该信号产生器开始产生该第一分类信号。
本发明所述的分类机，进一步包括一通知单元，电连接至该分类器，该通知单元接收由该分类器所送出的该开始信号，并根据该开始信号对应地产生一开始信息。
本发明所述的分类机，该第一分类信号及该第二分类信号皆为二进制码。
本发明所述的分类机，该感应器进一步包括一编码单元及电连接至该编码单元的一感应单元，该感应单元感应该第一电子元件而产生一感应信号，该编码单元接收该感应信号，并将该感应信号转换为形式为二进制码的该第二分类信号。
本发明所述的分类机，该信号产生器存有一时间间隔参数及一信号产生参数，该信号产生器根据该时间间隔参数及该信号产生参数，于不同时间产生不同分类信号。
本发明所述的分类机，该第一电子元件为一集成电路。
本发明的另一范畴在于提供一种分类测试方法。特别地，根据本发明的分类测试方法可通过分类信号的比较，达到自我分类以及测试的目的，也可节省测试机以及缆线的设置成本，并减少人为的错误判断。
根据一具体实施例，本发明分类测试方法包括下列步骤：首先，产生并送出一第一分类信号。随后，根据该第一分类信号，将一电子元件对应地分类置放于一第一区域。接着，感应置放于该第一区域的该第一电子元件，而产生并送出一第二分类信号。进一步，接收该第一分类信号及该第二分类信号。最后，判断该第一分类信号是否相同于该第二分类信号，并对应地送出一比较信号。
本发明所述的分类测试方法，若该第一分类信号相同于该第二分类信号，则送出的该比较信号为一肯定信号。
本发明所述的分类测试方法，进一步包括下列步骤：接收该肯定信号，产生并送出异于该第一分类信号的一第三分类信号；以及根据该第三分类信号，将一第二电子元件对应地分类置放于一第二区域。
本发明所述的分类测试方法，进一步包括下列步骤：接收该肯定信号，产生并送出相同于该第一分类信号的一第三分类信号；以及根据该第三分类信号，将一第二电子元件对应地分类置放于该第一区域。
本发明所述的分类测试方法，若该第一分类信号异于该第二分类信号，则送出的该比较信号为一否定信号。
本发明所述的分类测试方法，进一步包括下列步骤：接收该否定信号后，停止送出分类信号。
本发明所述的分类测试方法，进一步包括下列步骤：接收该否定信号后，送出一停止信号；以及根据该停止信号，停止分类动作。
本发明所述的分类测试方法，进一步包括下列步骤：根据该停止信号，对应地产生一停止信息。
本发明所述的分类测试方法，进一步包括下列步骤：根据该第一分类信号及该第二分类信号，对应地产生一第一分类信息及一第二分类信息。
本发明所述的分类测试方法，进一步包括下列步骤：根据该比较信号，对应地产生一比较信息。
本发明所述的分类测试方法，于产生该第一分类信号之前，包括下列步骤：接收一开始信号；以及根据该开始信号，开始产生该第一分类信号。
本发明所述的分类测试方法，进一步包括下列步骤：根据该开始信号，对应地产生一开始信息。
本发明所述的分类测试方法，感应该第一电子元件而产生该第二分类信号的步骤，包括下列步骤：感应该第一电子元件而产生一感应信号；以及接收该感应信号，并将该感应信号转换为形式为二进制码的该第二分类信号。
本发明所述的分类测试方法，该第一电子元件为一集成电路。
综上所述，本发明的分类机及分类测试方法通过信号产生器产生第一分类信号，并且通过感测器感测电子元件而产生第二分类信号，继而通过第一分类信号以及第二分类信号的比较，达到自我分类以及测试的目的。相较于先前技术，本发明的分类机及分类测试方法不再需要测试机以及多条缆线，因而节省测试机以及缆线的设置成本，更能减少人为的错误判断。
【附图说明】
图1是现有IC测试分类机的示意图
图2是根据本发明的一具体实施例的分类机的功能方块图。
图3是根据本发明的一具体实施例的分类测试方法的流程图。
图4是图3的步骤S60的后续流程图。
图5是图3中步骤S62的后续流程图。
【具体实施方式】
关于本发明的优点与精神可以通过以下的发明详述及所附附图得到进一步的了解。
请参阅图2，图2是根据本发明的一具体实施例的分类机3的功能方块图。根据本具体实施例，本发明分类机3包括分类器30以及测试模块32，而测试模块32可拆卸地连接于分类器30。换言之，测试模块32可内建于分类器30内；或者，测试模块32为一卡闸(cartridge)，分类器30具有对应卡闸的插槽，测试模块32与分类器30之间就能方便地进行插拔。然而，分类器30的结构如现有技术所述，于此不再赘述。此外，如图2所示，本发明的测试模块32包括信号产生器320、感应器322与信号比较器324，信号比较器324电连接至信号产生器320及感应器322。
此外，本发明的分类机3所进行的自我测试分类过程，请同时参阅图3。图3是根据本发明的一具体实施例的分类测试方法的流程图。本发明的自我测试分类方法大致依序为：产生分类信号、检测分类后的电子元件、比较分类信号与检测结果，详细的步骤流程请见下述说明。
如图3所示，首先，执行步骤S50，信号产生器320开始产生第一分类信号S01。举例来说，第一分类信号S01可为代表不同元件类别的代号(依据封装形式或接脚形式区分)或者为代表不同元件品质的代号(品质从好到坏分成不同品质代号)。
本发明分类机3的测试模块32可进一步包括信号接收器326，电连接至分类器30及信号产生器320。分类器30可具有一启动按钮，使用者按下启动按钮后，分类器30就会送出开始信号S00给信号接收器326。信号接收器326接收开始信号S00后，根据开始信号S00触发信号产生器320开始产生第一分类信号S01。借此，本发明的测试分类流程的开始是可以被控制的。
接着，执行步骤S52，分类器30接收第一分类信号S01，并根据第一分类信号S01将第一电子元件(例如集成电路)对应地分类置放于第一区域300。举例来说，第一分类信号S01为品质代号，从好至坏分为16个等级，从1到16，置放电子元件的分类区域也对应有第1区域到第16区域。当分类器30接收到品质代号为3的第一分类信号S01时，将第一电子元件置放于第3区域。
其中，信号产生器320存有时间间隔参数及信号产生参数，信号产生器320可根据时间间隔参数及信号产生参数，于不同时间产生不同分类信号。换言之，信号产生器320发送不同分类信号，并不受时间限制，可依实际应用做适度的调整，以符合使用需求。举例来说，信号产生器320可以每隔一秒送出同样的分类信号，也可以每隔一秒送出不同于前一秒的分类信号，或者于同一时间送出两个相异的分类信号。
随后，执行步骤S54，感应器322可感应置放于第一区域300的第一电子元件，以对应地产生及送出第二分类信号S02。感应电子元件的方式有很多种，举例来说，第一区域300具有多个针脚孔洞，分类器30将第一电子元件的多个针脚插入针脚孔洞后，感应器322将第一电子元件的特定针脚通予电流，并通过量测输入与输出电压的方式来判断第一电子元件的品质以产生品质代号(第二分类信号)。
接着，执行步骤S56，信号比较器324从信号产生器320接收第一分类信号S01及从感应器322接收第二分类信号S02。最后，执行步骤S58，信号比较器324判断第一分类信号S01是否相同于第二分类信号S02，并对应地送出比较信号Sr。于另一实施例中，第一分类信号S01及第二分类信号S02皆为二进制码(binarycode)。感应器322包括编码单元3220及电连接至编码单元3220的感应单元3222，感应单元3222感应第一电子元件而产生感应信号(例如电压、电流或电阻)，编码单元3220接收感应信号，并将感应信号转换为形式为二进制码的第二分类信号S02。借此，具有相同编码形式的第一分类信号S01及第二分类信号S02才能被信号比较器324正确地处理(例如相加或相减)以获得比较结果。
从步骤S50～S58可知，本发明的分类机及其所使用的测试分类方法是将自订的分类信号及分类后的电子元件的检测结果作比较，检测结果若与自订的分类信号相异，代表分类机并未正确运作。因此，检视比较结果之后就可知道分类机是否有遵照自订分类信号作正确的分类。
于步骤S58之后，若信号比较器324判断第一分类信号S01相同于第二分类信号S02，则执行步骤S60，信号比较器324送出的比较信号Sr为肯定信号。若信号比较器324判断第一分类信号S01异于第二分类信号S02，则执行步骤S62，信号比较器324送出的比较信号Sr为否定信号。
于步骤S60之后，如图4所示，执行步骤S600，信号产生器320接收肯定信号，且产生并送出第三分类信号S03给分类器30，亦即进入另一次的分类测试流程。接着，若第三分类信号S03异于第一分类信号S01，则执行步骤S602，分类器30将第二电子元件对应地分类置放于异于第一区域300的第二区域302。反之，若第三分类信号S03相同于第一分类信号S01时，则执行步骤S604，分类器30将第二电子元件对应地分类置放于第一区域300。换句话说，相同的分类信号对应相同的分类区域，分类器30根据分类信号，将电子元件置放在对应的分类区域。当然，分类器30所包括的区域数，并不以本实施例所指的第一区域300以及第二区域302为限，且第一区域不一定相邻于第二区域，视实际情况而定。
另一方面，如图5所示，于步骤S62之后，执行步骤S620，信号产生器320接收否定信号，停止送出分类信号，亦即不再送出分类信号给分类器30。分类器30未接收到下一个分类信号时，停止分类动作。或者，信号产生器320于接收否定信号后，产生并送出停止信号给分类器30。分类器30根据该停止信号，停止分类动作。因此，使用者可依据实际情况设定分类器停止分类的前提条件为“未接收到分类信号”或是“接收到停止信号”。本发明的分类机于自我测试流程中发生了分类异常或状态异常的情况时，会停止分类，因此使用者就可知道分类机产生异常，于此时进行维修即可，因而节省人力及避免人工检视的失误。
此外，为了让使用者便于观察及监控分类机的测试分类流程，本发明的分类机3进一步包括通知单元328，电连接至信号产生器320、感应器322、信号比较器324以及分类器30。通知单元328用以通知各种状态信息或分类信息以提醒线上作业人员。通知单元328可以是显示器(显示图画及文字)、扩音器(发出提示声音)或指示灯号(以闪烁方式或以不同颜色指示不同信息)。
通知单元328以显示器为例，通知单元328可根据开始信号S00对应地产生开始信息(显示“开始”文字)；根据停止信号对应地产生停止信息(显示“停止”文字)；根据第一分类信号S01及第二分类信号S02，对应地产生第一分类信息(显示“自订品质等级3”文字)及第二分类信息(显示“检测品质等级3”文字)；根据比较信号Sr，对应地产生比较信息(显示“测试正常”)。
综合上述，本发明分类机及分类测试方法通过信号产生器产生第一分类信号，并且通过感测器感测电子元件而产生的第二分类信号，继而通过第一分类信号以及第二分类信号的比较，达到自我分类以及测试的目的。相较于现有技术，本发明分类机及分类测试方法不再需要测试机以及多条缆线，因而节省测试机以及缆线的设置成本，更能减少人为的错误判断。
通过以上较佳具体实施例的详述，希望能更加清楚描述本发明的特征与精神，而并非以上述所揭露的较佳具体实施例来对本发明的范畴加以限制。相反地，其目的是希望能涵盖各种改变及具相等性的安排于本发明权利要求书内。因此，本发明权利要求书应该根据上述的说明作最宽广的解释，以致使其涵盖所有可能的改变以及具相等性的安排。
附图中符号的简单说明如下：
1、3：分类机 10、30：分类器
12：测试机 14：缆线
32：测试模块 320：信号产生器
322：感应器 3220：编码单元
3222：感应单元 324：信号比较器
326：信号接收器 328：通知单元
S00：开始信号 S01：第一分类信号
S02：第二分类信号 S03：第三分类信号
Sr：比较信号
S50～S62、S600～S604、S620～S622：流程步骤。