信息记录方法及信息记录装置.pdf

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摘要
申请专利号:

CN200410039341.6

申请日:

2004.01.19

公开号:

CN1612233A

公开日:

2005.05.04

当前法律状态:

撤回

有效性:

无权

法律详情:

发明专利申请公布后的视为撤回|||实质审查的生效|||公开

IPC分类号:

G11B7/0045; G11B7/125; G11B7/24

主分类号:

G11B7/0045; G11B7/125; G11B7/24

申请人:

株式会社日立制作所;

发明人:

黑川贵弘; 宫本治一

地址:

日本东京都

优先权:

2003.10.28 JP 2003-367782

专利代理机构:

北京银龙知识产权代理有限公司

代理人:

徐川

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内容摘要

信息记录方法及信息记录装置,对于具有两个信息记录层的光记录介质,不受靠近光射入侧一边的记录层的记录状态影响,在里层的记录层上进行可靠性高的记录。第一光检测器(115),在从光射入侧看为里层的记录层(103)上聚焦之后,检测来自里层的记录层的反射光,在所述第一光检测器(115)的外缘部设置检测来自近侧的记录层(105)的反射光的第二光检测器(116),在里层的记录层上进行记录时,根据第二光检测器的输出电平来控制记录功率。

权利要求书

1.  一种信息记录装置,其特征在于,包括:
记录介质,所述记录介质层叠了两层信息记录层,所述信息记录层利用由光照射而发生状态变化来记录信息;
光源;
光学系统,选择性地将来自上述光源的光,聚焦在靠近光射入侧的第一信息记录层和距光射入侧远的第二信息记录层上;
第一光检测器,在上述第一或第二信息记录层上聚焦来自上述光源的光并照射之后,检测来自该正在聚焦的信息记录层的反射光,
第二光检测器,在上述第二信息记录层上聚焦来自上述光源的光并照射之后,检测从上述第一信息记录层反射的光;
控制电路,基于来自上述第二光检测器的检测信号,控制对上述第二信息记录层照射的光的功率。

2.
  根据权利要求1所述的信息记录装置,其特征在于,具有存储了来自上述第二光检测器的检测信号与对上述第二信息记录层照射的光的功率的关系的表。

3.
  根据权利要求2所述的信息记录装置,其特征在于,上述表存储着上述第一信息记录层是记录状态时的、对上述第二信息记录层照射的光的功率与上述第二光检测器的检测信号的关系,以及,上述第一信息记录层是未记录状态时的、对上述第二信息记录层照射的光的功率与上述第二光检测器的检测信号的关系。

4.
  根据权利要求1所述的信息记录装置,其特征在于,具有判定电路,判定上述第二光检测器的输出是否在规定的阈值以上,上述控制电路根据上述判定电路的判定结果,切换对上述第二信息记录层照射的光的功率。

5.
  根据权利要求1所述的信息记录装置,其特征在于,上述第二光检测器配置在上述第一光检测器的外缘部。

6.
  一种信息记录方法,对层叠了两层信息记录层的记录介质记录信息,所述信息记录层利用由光照射而状态变化来记录信息,其特征在于,包括下述步骤:取得步骤、检测步骤、控制步骤,所述取得步骤为,根据试写,取得透过靠近光入射侧的第一信息记录层的已记录区域而在与光入射侧远的第二信息记录层上记录的第一最佳功率值和此时的来自上述第一信息记录层的第一反射光强度、以及透过第一信息记录层的未记录区域而对第二信息记录层记录的第二最佳功率值和此时的来自上述第一信息记录层的第二反射光强度;所述检测步骤,在上述第二信息记录层上聚焦并照射了光之后,检测来自上述第一信息记录层的反射光强度;所述控制步骤,基于上述检测信号,控制对第二信息记录层照射的光的功率。

7.
  根据权利要求6所述的信息记录方法,其特征在于,上述对第二信息记录层的照射的光的功率为,把对上述第一反射光强度的第一最佳功率值和对第二反射光强度的第二功率值用上述检测的反射光强度进行线性内插而得到的功率值。

8.
  根据权利要求6所述的信息记录方法,其特征在于,具有根据上述第一反射光强度和上述第二反射光强度计算判定阈值的步骤,根据上述检测到的信号是否在上述判定阈值以上,切换对上述第二信息记录层照射的光的功率。

9.
  根据权利要求6所述的信息记录方法,其特征在于,利用测定跳动,来决定上述第一最佳功率值和上述第二最佳功率值。

10.
  根据权利要求6所述的信息记录方法,其特征在于,利用测定不对称值,来决定上述第一最佳功率值和上述第二最佳功率值。

11.
  根据权利要求6所述的信息记录方法,其特征在于,利用测定调制度,来决定上述第一最佳功率值和上述第二最佳功率值。

12.
  一种信息记录方法,对层叠了两层信息记录层的记录介质记录信息,所述信息记录层利用由光照射而状态变化来记录信息,其特征在于,具有根据试写,取得透过靠近光入射侧的第一信息记录层的已记录区域而在与光入射侧远的第二信息记录层上记录的第一最佳功率值P0以及透过第一信息记录层的未记录区域而对上述第二信息记录层记录的第二最佳功率值P1的取得步骤;在上述第二信息记录层上聚焦,使用记录功率P记录信息的步骤,所述记录功率P满足P0<P<P1或P0>P>P1

说明书

信息记录方法及信息记录装置
技术领域
本发明涉及具有两个由光照射而发生状态变化的信息记录层的光记录介质的信息记录方法及信息记录装置。
背景技术
作为音像内容记录介质,以DVD为代表的光盘的大容量化不断进步,能够在直径120mm的盘上记录2小时以上的高清晰度电视(HDTV)音像的光盘的开发不断进步。最近,制定出了一种称作Blu-ray Disc(蓝色盘)的光盘的规格,通过使用波长405nm的半导体激光和数值孔径0.85的物镜,将记录密度提高到约为DVD的5倍,来实现单面25GB级的记录容量、与之对应的录像机也开始上市了。关于Blu-ray Disc的规格,在“System Description Blu-ray Disc Rewritable Format Part 1 Basic FormatSpecifications Version 1.0”中记载。
作为扩大光盘容量的一种方法,可例举提高记录密度方式,但由于激光波长和物镜的限制,缩小光斑大小已接近于极限,已很难期待大幅提高记录密度。
另一方面,作为不同于提高记录密度以扩大容量的方法,有记录层的多层化方式。多层光盘已经有具有单面两层或两面两层(共4层)记录层的DVD-ROM盘作为再生专用光盘产品化。记录型的多层光盘作为产品以前不存在,但最近,作为Blu-ray Disc的两层重写型光盘,第一次被规格化。
图2是说明现有的Blu-ray Disc的两层记录型光盘系统的结构的图。通过对两层光盘介质101照射从激光二极管107射出的激光108,进行信息的记录和再生。激光的波长是405nm,用数值孔径(NA)0.85的物镜112将激光聚焦在记录层上,形成直径约400nm的光斑,用它进行信息的记录再生。在记录信息时,通过照射高功率的激光,给予记录层材料物理性变化,形成长、短的记录标记。最短的记录标记长度是160nm,可以每一层记录层上记录约23.3GB的信息,即每一片两层光盘可记录约46.6GB的信息。
两层光盘介质101是直径120mm,厚度1.2mm的圆板,通过将基板102、第一记录层(L0层)103、中间层104、第二记录层(L1层)105和覆盖层106依次层叠而构成。基板102是厚度为1.1mm的圆板,使用聚碳酸酯树脂等作为材料。在基板表面形成0.32μm间距的螺旋形的导向沟(轨道),用于使光斑追随一定的半径位置(跟踪),在该导向沟中形成记录标记。在基板的上面形成着第一记录层(L0层)103。记录层通常是用保护层夹记录膜的结构,使用锗锑碲(GeSbTe)合金或银铟锑碲(AgInSbTe)合金等的相变化材料作为记录膜材料。在使用了任意一种记录膜材料时,分别用高反射率的结晶部分和低反射率的非结晶部分来记录二进制数据的“0”和“1”,利用它们的反射率差,判别二进制数据的“0”和“1”,依此再生数据。在L0层103的上面,隔着中间层104形成第二记录层(L1层)105。中间层104是为了隔开第一记录层103和第二记录层105而设的,其厚度为约25μm,材料是紫外线硬化树脂。L1层105的结构与L0层103大致相同。最后,为了保护盘的表面,形成有厚度75μm的紫外线硬化树脂制的覆盖层106。
但是,在两层光盘中,在从光射入侧看位于里层的L0层上进行记录时,透过外层的L1层上未记录区域在L0层上进行记录和透过L1层上的已记录区域进行记录的两种情况,由于L1层的实际透射率不同,因此,到达L0层的激光功率会产生差异。
对于该问题,在特开2003-109217号公报(专利文献1)中,通过限制L1层中的未记录部分和已记录部分的透射率差,就可以用一定的记录功率对L0层进行记录而不受L1层的记录状态影响。作为另外的方法,在特开2002-279634号公报(专利文献2)中,提出了根据L0层的再生RF信号电平来控制对L0层的记录功率的方法。
【专利文献1】特开2003-109217号公报
【专利文献2】特开2002-279634号公报
【非专利文献1】“System Description Blu-ray Disc Rewritable FormatPart 1 Basic Format Specifications Version 1.0”
发明内容
在L0层上进行记录时,激光透射靠近光射入侧一方的L1层,一般如图3所示,在L1层上混合有未记录区域303和已记录区域304。在进行L1层的光学设计时,最好设计成在未记录区域和已记录区域中透射率不发生变化。但是,很多情况下难于做到这点,有时在未记录区域303和已记录区域304中之间会产生几%~10%左右地透射率差。
若在未记录区域和已记录区域中之间有几%~10%左右的透射率差,在专利文献1的方法中,由于记录功率余裕减小,因此,难以使用一定的记录功率对整个L0层进行高可靠性的记录。此外,专利文献2的方法存在以下的问题,为了决定对L0层的记录功率而必须要使用L0层的再生RF信号,因此,对将要记录的未记录区域不能决定其记录功率。
若在未记录区域303和已记录区域304之间有透射率差,在透过L1层上的未记录区域303在L0层上进行记录和透过已记录区域304进行记录这两种情况中,由于L1层的实际的透射率不同,因此,到达L0层的激光功率不同。更确切地说,作为光斑301聚焦在L0层时的L1层的实际的透射率,不是根据L1层是未记录还是已记录而以二进制方式变化,而是根据L1层上的光斑302的未记录部分和已记录部分的面积比而连续地进行变化的。
下面,示出该现象对记录学习带来的影响的一例。图4示出在两层追记型光盘中,将在L0层上进行记录再生后的记录功率与跳动的关系按L1层是未记录的情况和L1层是已记录的情况分别表示。作为二进制化再生信号之前的波形等化处理,适用了限制等化(Limit Equalizer)。关于限制等化的详细内容,例如,在“S.Miyanabe et al.:Jpn.J.Phys.Vol.38pp.1715”中进行了记载。
在该测定中,在L1层的整个区域是未记录区域的情况下,最佳记录功率即跳动最小的记录功率是7.1mW,此时的跳动是6.7%。另一方面,在L1层的整个区域是已记录区域的情况下,最佳记录功率是7.5mW。即,L1层是已记录的情况下的最佳记录功率与L1层是未记录时相比较,大约向高功率侧移动了7%。假设在L1层是已记录的情况下,使用L1层是未记录时的最佳记录功率7.1mW进行记录,跳动就为7.0%,比使用其最佳记录功率时增加0.3%。
该结果意味着如下的情况。在对L0层进行记录学习时,设L1层上的激光透过的部分未记录,设使用按该状态决定的最佳记录功率,在整个L0层上进行记录。这样,在L1层上的激光透过的部分是未记录的情况下是可以没有问题地进行记录的,在其透过部分已记录的情况下,记录在L0层上的数据的再生信号的跳动就会增加。因此,在现有的两层光盘系统中,难以对整个L0层进行可靠性高的数据记录。
本发明的目的在于提供一种方法和装置,该方法和装置对具有两层的信息记录层的光记录介质,不受靠近光射入侧一方的记录层的记录状态影响,而可以在里层的记录层上进行可靠性高的记录。
在本发明中,在常用于数据信号再生和伺服信号取得的第一光检测器之外,另外设置了用于检测L1层的记录状态的第二光检测器。在L1层上进行记录时,通过该第二光检测器来检测L1层的记录状态,通过使用与此记录状态对应的记录功率,可以不受L1层的记录状态影响,而进行可靠性高的记录。
本发明涉及的信息记录装置,具有:记录介质、光源、光学系统、第一光检测器,所述记录介质,层叠了两层信息记录层,所述信息记录层利用由光照射而产生状态变化来记录信息;所述光学系统,选择性地将来自光源的光聚焦在靠近光射入侧的第一信息记录层和距光射入侧远的第二信息记录层上;所述第一光检测器,在来自光源的光聚焦在第一或第二信息记录层上并照射之后,检测从该聚焦的信息记录层的反射光,其特征是,另外,还具有下述装置:第二光检测器、控制回路,所述第二光检测器,在来自光源的光聚焦在第二信息记录层上并照射之后,检测从第一信息记录层反射的光;所述控制电路,基于来自第二光检测器的检测信号,控制对第二信息记录层照射的光的功率。第二光检测器配置在第一光检测器的外缘部。根据试写导出来自第二光检测器的检测信号与对第二信息记录层照射的光的功率的关系,按表的形式存储起来。
一种信息记录方法,对层叠了两层信息记录层的记录介质记录信息,所述信息记录层利用由光照射而发生状态变化来记录信息,本发明的信息记录方法包括下述步骤:取得步骤、检测步骤、控制步骤,所述取得步骤为,根据试写,取得透过靠近光入射侧的第一信息记录层的已记录区域而在与光入射侧远的第二信息记录层上记录的第一最佳功率值和此时的来自第一信息记录层的第一反射光强度;透过第一信息记录层的未记录区域而对第二信息记录层记录的第二最佳功率值和此时的来自第一信息记录层的第二反射光强度,所述检测步骤,在第二信息记录层上聚焦并照射了光之后,检测来自第一信息记录层的反射光强度;所述控制步骤,基于来自第二光检测器的检测信号,控制对第二信息记录层照射的光的功率。
根据本发明,对于两层盘,由于不受靠近光射入侧一边的记录层的记录状态影响,而可以对从光射入侧看为里层的记录层,总是用最佳记录功率进行记录,因此,可以提供可靠性高的两层光盘。
附图说明
图1是示出本发明涉及的信息记录装置的基本结构的模式图。
图2是示出现有的两层光盘系统的结构的图。
图3是示出把激光聚焦在L0层上时的、在L0层和L1层上的光斑的状态图。
图4是示出在L0层上记录后的记录功率与跳动的关系的图。
图5是示出本发明的光检测器的配置和在L0层上聚焦后的光检测器面上的光斑的模式图。
图6是示出记录学习区域的例子的图。
图7是说明记录学习的程序的图。
图8是示出记录功率与跳动的关系的模式图。
图9是示出记录功率与不对称的关系的模式图。
图10是示出记录功率与调制度的关系的模式图。
图11是示出第二光检测器的输出与最佳记录功率的关系的图。
图12是示出记录功率的控制方法的一例的电路框图。
图13是示出存储了第二光检测器的输出电平与记录功率的关系的表的例子的图。
图14是示出记录功率的控制方法的其它例子的电路框图
101...两层光盘媒体
102...基板
103...L0层
104...中间层
105...L1层
106...覆盖层
107...激光二极管
108...激光
109...瞄准透镜
110…偏向分光镜
111…1/4波长板
112…物镜
113…传动装置
114…孔径透镜(原文:絞り込みレンズ)
115…第一光检测器
116…第二光检测器
301…L0层上的光斑
302…L1层上的光斑
303…未记录区域
304…记录完区域
501…由L0层反射的激光形成在光检测器面上的光斑
502…由L1层反射的激光形成在光检测器面上的光斑
601…记录学习区域
903…模拟—数字转换器
904…激光功率控制器
905…表
906…激光激励器(laser driver)
908…判定电路
具体实施方式
以下,参照附图说明本发明的实施方式。
图1是示出本发明涉及的信息记录装置的基本结构的模式图。从激光二极管107射出的线偏振光的激光108,通过瞄准透镜109,而变为平行的光束,射入偏光分光镜110。偏光分光镜110是使某个方向的线偏振光基本上无损失地透射,与其正好偏转90°偏光的线偏振光基本上无损失地反射的光学元件。在此设置为,从激光二极管107射出的激光的偏振光方向的情况下透射。透射过偏光分光镜的线偏振光的激光,通过1/4波阻片111,变为圆偏振光。由用传动装置113进行位置控制后的物镜112,将该激光聚焦在L0层103上后反射。与此同时,在L1层105中,激光的一部分也反射。在L0层103和L1层105中反射的激光,再次透过1/4波阻片111,恢复成线偏振光,但偏光方向与原来的从激光二极管107射出的原激光正好偏转90°。因此,被偏光分光镜110反射,前进方向改变为直角方向。改变了前进方向的激光,由孔径透镜(原文:絞り込みレンズ)114聚光在光检测器面上。这时,由L0层103反射的激光聚焦在第一光检测器115上。
在此,激光二极管107的激光波长λ、物镜112数值孔径NA0,孔径透镜114的数值孔径NA1、覆盖层106的折射率n和中间层104的厚度d的各参数如下。
λ=405nm
NA0=0.85
NA1=0.1
n=1.6
d=25μm
若在从光射入侧看里层的L0层103上聚焦激光,就在L0层上形成直径约400nm的微小的光斑301(参照图3)。与此同时,在靠近光射入侧这边的L1层105上形成的光斑302(参照图3)的直径,用下式(1)以几何光学计算,在本例中约等于31μm。这就是说,若轨道间距是0.32μm,就相当于100个轨道部分的宽度。
2 d tan ( sin - 1 ( N A 0 n ) ) - - - - - - - ( 1 ) ]]>
下面,考虑在光检测器115面上的光斑。图5是示出光检测器的配置和聚焦在L0层上时的光检测器面上的光斑的模式图。激光聚焦在L0层103上时,由L0层103反射的激光如图5所示,聚焦在第一光检测器115的面上成为光斑501。但是,由L1层105反射的激光不聚焦在光检测器的面上,因此,光斑扩大。其斑点的直径用几何光学的下式(2)计算,在该例子中约等于450μm。
4 d n · ( N A 0 N A 1 ) 2 · tan ( sin - 1 ( N A 1 ) ) - - - - - - - - - - ( 2 ) ]]>
通常,第一光检测器115的大小是数十μm角。从而,如图5所示,由L1层105反射的激光形成在光检测器面上形成的光斑502超出第一光检测器115的外侧很大的范围。在本发明中,为了积极地利用该现象取得数据再生信号和伺服信号,在第一光检测器115之外,另在第一光检测器115的外缘部设置了第二光检测器116。
在激光聚焦在了L0层103上时,由L0层103反射的激光射入第一光检测器115。另一方面,由L1层105反射的激光不聚焦在检测器面上,而成为大光斑,射入第一光检测器115和第二光检测器116双方。由于第二光检测器116仅接收来自L1层105的反射光,故其输出信号仅反映L1层105的反射率。因此,通过使用该第二光检测器116,即使聚焦在了L0层103上,也可以将来自L1层105的反射光与来自L0层103的反射光分离检测,因此,就可以准确地知道L1层105的记录状态。
第一光检测器115的结构如图12所示,对应于盘的半径方向和圆周切线方向,分别分割成两部分,共计四部分。分成四部分后的各光检测器A、B、C、D的输出信号IA、IB、IC、ID,通过(IA+IB+IC+ID)和{(IA+ID)-(IB+IC)}运算之后,分别作为再生RF信号和跟踪误差信号来使用。
但是,影响到达L0层103的激光功率的是L1层105的实际的透射率,但在本发明中,通过检测实际的反射率来代替它。如前所述,在通常的记录层构造中,未记录区域和已记录区域之间的透射率差在几%到10%以内的范围内。对此,反射率的变化达到几十%。从而,如本发明所述,通过间接地由反射率的变化检测出透射率的变化,可以准确地检测L1层105的记录状态。在此,记录在记录区域中的数据模式可以是任意模式。这是因为,在标记边缘记录的光盘中,进行了根据行程长度受限码的DSV(Digital Sun Value即,数字总值)控制,不受记录数据模式影响,平均标记长和平均间隔长大致相等。因此,L1层上的光斑中记录部分(标记部分)所占的比例不受记录数据模式影响。
再有,在本发明的记录方法中,在决定对L0层103的记录功率时,直接检测L1层105的有效的反射率,与L0层103的记录状态无关。因此,不需要如专利文献2所述,事先在L0层103上有记录。另外,即使L0层103中正在记录,也可以判定L1层105的记录状态,因此,可以进行实时的记录功率校正。
下面说明记录学习的方法。如图6所示,将用虚线围起来的记录学习区域601的全部或一部分分为区域A、区域B、区域C三个部分。各区域的使用目的如下。
区域A:用于求对L1层的最佳记录功率的区域。
区域B:用于求L1层上的光斑中的整个区域是未记录时的、对L0层的最佳记录功率的区域。
区域C:用于求L1层上的光斑中的整个区域是已记录时的、对L0层的最佳记录功率的区域。
区域A、区域B、区域C的任一个区域都必须在盘的半径方向和圆周切线方向上具有足够的宽度以把L1层上的整个光斑包含进去。再有,在图6的例子中,将记录学习区域分成三个区域时,分割为环形,但分割方法是任意的。例如,也可以在盘的圆周切线方向上分成三部分。
图7是说明本发明中的记录学习的程序的图,是从记录层的截面方向看两层光盘介质的模式图。使用图6中示出的记录学习区域601,按下述的(1)~(5)的过程进行记录学习。
(1)在区域A中,使激光聚焦在L1层上的状态下,一边改变记录功率一边进行记录,求对L1层的最佳记录功率PL1
(2)设区域B为未记录,求L1层上的光斑中的整个区域是未记录时的、对L0层的最佳记录功率的区域。
(3)在整个区域C中,通过用在(1)中求得的对L1层的最佳记录功率PL1进行记录,而生成用于求L1层上的光斑中的整个区域是已记录时、对L0层的最佳记录功率的区域。
(4)在激光聚焦在L0层上的状态下,测定区域B中的第二光检测器116的输出电平IL0、unrec和最佳记录功率PL0、unrec
(5)在激光聚焦在了L0层上的状态下,测定区域C中的第二光检测器116的输出电平IL0、rec和最佳记录功率。
在此,在(3)中,作为记录的数据模式,也可以使用任意模式。再有,在上述(1)、(4)和(5)中,最佳记录功率PL1、PL0、unrec、PL0、rec由下面三种方法中的某一种来决定。
(i)测定跳动的方法
在该方法中,一边使记录功率变化一边进行记录,测定跳动。所谓跳动,是使用二进制化后的再生信号和再生信号,将用PLL(Phase LockedLoop即,锁相环路)生成的时钟信号之间的时间差的标准偏差,用数据检测窗宽度(在此是时钟周期)标准化后得到的。数据的再生是与用PLL生成的时钟同步进行的,因此为了无误差地再生记录的数据,最好减小跳动,图8是示出记录功率与跳动的关系的模式图。设最佳记录功率为跳动为最小时的记录功率。
(ii)测定不对称值的方法
在该方法中,一边使记录功率变化一边进行记录,测定不对称值。在此,如下定义不对称。其中:
(不对称)=(((I2H+I2L)-(I8H+I8L))/2)/(I8H-I8L)
其中,
I2H=最短间隔的再生信号电平。
I2L=最短标记的再生信号电平。
I8H=最长间隔的再生信号电平。
I8L=最长标记的再生信号电平。
图9是示出记录功率与不对称的关系的模式图。设最佳记录功率为不对称等于规定值A时的记录功率。
(iii)测定调制度的方法。
在该方法中,一边使记录功率变化一边进行记录,测定调制度。在此,如下定义调制度。
(调制度)=(I8H-I8L)/I8H
其中,
I8H=8T间隔的再生信号电平
I8L=8T标记的再生信号电平
图10是示出记录功率与调制度的关系的模式图。在调制度等于规定值M时的记录功率是Pmod时,设最佳记录功率为Pmod乘以规定常数K后的数值。
在进行完上述(1)~(5)的程序,在对用户数据区域进行记录的情况下,对在L1层上进行记录时的记录功率使用PL1。下面,关于对在L0层上进行记录时的记录功率的控制进行说明。在此,作为对L0层的记录功率的控制方法,对下面三种方法进行说明。
(控制方法1)
L0层上的任意位置上的最佳记录功率PL0,当在此处的第二光检测器的输出电平是IL0时,作为(4)和(5)中的第二光检测器的输出电平和最佳记录功率的线性内插,可用下式(3)来决定(参照图11)。因此,在第二光检测器的输出电平是IL0时,设定L0层的记录功率PL0满足式子(3)。
P L 0 = P L 0 , unrec - P L 0 , rec I L 0 , unrec - I L 0 , rec · I L 0 - P L 0 , unrec I L 0 , rec - P L 0 , rec I L 0 , unrec I L 0 , unrec - I L 0 , rec - - - - - - ( 3 ) ]]>
使用图12的电路框图来说明具体的控制方法。使用由记录学习求得的第二光检测器116的输出值和最佳记录功率值IL0、unrec、PL0、unrec、IL0、 rec、PL0、rec,按照上式(3),将由第二光检测器的输出电平的各种值而求得的最佳记录功率,用例如图13的形式,预先存储在表905中。
在L0层中进行记录时,在磁盘上的要记录的位置中,第二光检测器116输出与接收到的激光的功率成比例的信号IE。由模拟数字转换器903将信号IE变换成数字信号,激光功率控制器904通过参照表90而算出与第二光检测器输出对应的记录功率。将与已算出的与最佳记录功率PL0对应的记录功率设定值,设定在激光激励器906中,通过使供给激光二极管107的电流值变化,来控制激光二极管107的输出功率。
(控制方法2)
就用两个阶段来切换的方式来切换L0层的记录功率这种方法进行说明,按照上述(1)~(5)的程序进行记录学习,根据求得的IL0、unrec和IL0、rec,按照下式,算出判定阀值Ithr
Ithr=(IL0、unrec+IL0、rec)/2在L0层上进行记录时,在磁盘上的要记录的位置上,测定第二光检测器的输出电平,在其大于判定阀值Ithr的情况下,设记录功率为PL0、unrec,在小于判定阀值的情况下,设记录功率为PL0、rec
使用图14的电路框图来说明具体的控制方法。第二光检测器116输出与接收到的激光的功率成比例的信号IE。由模拟数字转换器903将信号IE变换成数字信号。在判定电路908中,与预先求得的判定阀值Ithr比较大小,将判定结果送给激光功率控制器904。激光功率控制器904根据判定结果是IE<Ithr,还是IE>Ithr,切换激光激励器906的设定值,使得各自的记录功率成为PL0、unrec或PL0、rec
在该方式中,仅切换对应于L1层是未记录和已记录的两种情况的记录功率。因此,不总是用最佳记录功率进行记录,从记录标记的质量方面来看不如控制方法1。但是,由于不需要生成控制方法1那样的表,而可以简化激光功率控制器电路的结构,因此,可以降低记录再生装置的制造成本。
(控制方法3)
在上面的两种方式中,在L0层上进行记录时,是根据盘上的要记录的位置中的第二光检测器的输出,来变化记录功率的,在此说明的方式,是根据由上述(1)~(5)的程序的记录学习而求得的最佳记录功率值PL0、unrec、PL0、rec,使用根据下式(4)或(5)来决定一定的记录功率PL0的。
PL0、unrec<PL0<PL0、rec         (4)
PL0、unrec>PL0>PL0、rec         (5)
例如,设PL0=(PL0、rec+PL0、unrec)/2
在该方式中,对L0层的记录功率为一定值,记录标记质量方面大致与控制方法2同等。但是,由于不需要记录功率控制电路,因此,即使与控制方法2相比,可以进一步简化装置的结构,可以降低记录再生装置的制造成本。

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信息记录方法及信息记录装置,对于具有两个信息记录层的光记录介质,不受靠近光射入侧一边的记录层的记录状态影响,在里层的记录层上进行可靠性高的记录。第一光检测器(115),在从光射入侧看为里层的记录层(103)上聚焦之后,检测来自里层的记录层的反射光,在所述第一光检测器(115)的外缘部设置检测来自近侧的记录层(105)的反射光的第二光检测器(116),在里层的记录层上进行记录时,根据第二光检测器的输。

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