能够测试出差分串行电路单端故障的功能测试方法 【技术领域】
本发明涉及差分串口电路的功能测试技术，具体是一种能够测试出差分串行电路单端故障的功能测试方法。背景技术
为保证批量生产时产品的质量，电子产品的生产工序中包括一个测试环节，功能测试(Function Test)就是其中的之一。
差分串口的电路形式一般如图1所示。对它的功能测试方式，一般会设计另外一个测试电路与之对接，测试电路的CPU会采用约定的串口通讯协议与被测测试电路进行通讯，如果通讯正常，则认为被测电路功能正常；反之，则认为被测电路故障。所采用的测试电路的形式一般是与被测电路相近，甚至完全相同，即用接收电路来与被测串口电路中的发送部分相接，用发送电路来与被测串口电路的接收相接。
如图1所示，如果被测电路是“发送电路”，功能测试时地测试电路将采用接收电路，将接收电路中的“RXD+”、“RXD-”分别接到被测电路的“TXD+”、“TXD-”上。
使用上述常规的测试电路，无法测试出一对差分信号的单端出现的短路、断线等故障。假设在图一中，U1的Pin2出现对地短路，测试电路采用的是图1中的接收电路。那么，在测试电路的收端，尽管差分接收出现了单端故障，但由于这一对差分线的相对电平关系没有改变，U2仍会产生变换出正常的TTL信号“RXD”，不会影响通讯，出现故障产品漏检，使故障品流入下一生产工序。发明内容
鉴于现有产品功能测试中存在的上述问题，本发明提出了一种能够测试出差分串行电路单端故障的功能测试方法，以满足差分串口电路类电子产品的功能测试要求。
本发明提出的能够测试出差分串行电路单端故障的功能测试方法，其特征在于包括如下步骤：
a、通过接口电路分别接入信号；
b、分别测试、判断被测差分电路相应的单端输出信号，当两端的信号均正常时，被测差分电路功能正常，否则不正常。
本发明测试时每次仅测试一对差分信号的一端，然后通过分别判断所测的两端信号确定被测电路正常与否，从而避免了常规的测试方法带来的漏测问题，能够可靠测试出差分信号单端出现的短路、断线等故障，较好地满足功能测试的要求，保证产品的质量。并且测试电路简单，器件成本低，占用的PCB体积小。附图说明
图1为传统差分串口电路的通用测试电路；
图2为本发明的差分接收电路的测试电路；
图3为本发明的差分发送电路的测试电路；
图4为本发明的差分发送电路的另一种测试电路；
图5为本发明的差分接收电路的另一种测试电路。具体实施方式
当被测电路为差分接收电路时，采用的测试电路如图2所示。图2中被测信号为RXD+、RXD-。发送信号TEST分别经U4、U5两个芯片26C31转换，且每个芯片各输出一路，作为一对差分信号提供给被测电路，两个芯片的使能控制线为反相关系，不是同时有效。发送信号(TEST)分别经两个接口电路(U4、U5)交替转换成两路TTL信号，作为一对差分信号输入被测差分接收电路；交替测试、判断被测差分接收电路单端输出信号，当两种情况下所述的输出信号均正常时，被测差分接收电路功能正常，否则不正常。
其中电阻R9及R10的作用是使RXD+在高阻态输出时为固定电平。当被测电路中有可选部分(图2的被测电路中，虚线框内的电路)时，应相应改变上、下拉电阻R9、R10的阻值，使RXD+的固定电平为2.5V左右。对于RXD-也需作类似的处理。
当被测电路为差分发送电路时，采用的测试电路如图3所示。图3中将被测差分发送电路的一对被测差分信号(TXD+、TXD-)通过接口电路(U3)转换成两路独立的TTL信号(TEST1、TEST2)；然后分别测试、判断两路TTL信号，当两路TTL信号均正常时，被测差分信号(TXD+、TXD-)正常，否则被测差分信号不正常。
图2、3所示测试电路可以测试出差分信号单端出现的短路、断线等故障，电路中的接口芯片(U3～U5)为26C31、26C32，属RS422接口规范；也可以选用RS485接口芯片，如：74172、74173、74185等。图3电容C1的作用是滤除干扰，使信号转换更稳定。电阻R7、R8将电平嵌位在2.5V。
另外，可在测试电路中，在常规电路的基础上，增加一级继电器，测试时用继电器分别将差分信号中的一端接通来进行。如图4、5所示，将继电器的控制端分别置高、置低进行两次通讯测试，当且仅当两次测试均正常时，判断测试通过，被测电路功能正常。