低蚀刻性光刻胶清洗剂及其清洗方法.pdf

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摘要
申请专利号:

CN200780037477.5

申请日:

2007.11.12

公开号:

CN101529339A

公开日:

2009.09.09

当前法律状态:

授权

有效性:

有权

法律详情:

授权|||实质审查的生效IPC(主分类):G03F 7/42申请日:20071112|||公开

IPC分类号:

G03F7/42

主分类号:

G03F7/42

申请人:

安集微电子(上海)有限公司

发明人:

刘 兵; 彭洪修; 史永涛

地址:

201203中国上海市浦东新区张江高科技园区龙东大道3000号5号楼613-618室

优先权:

2006.11.17 CN 200610118464.8

专利代理机构:

上海翰鸿律师事务所

代理人:

李佳铭

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内容摘要

提供了一种低蚀刻性光刻胶清洗剂及其清洗方法。这种低蚀刻性光刻胶清洗剂包含(a)季胺氢氧化物,(b)二甲基亚砜,(c)通式见上述的烷基二醇芳基醚及其衍生物,其中R1为C6-18芳基;R2为H、C1-18烷基或C6-18芳基,m=2-6,n=1-6,(d)乙醇胺,(e)水和(f)缓蚀剂。该清洗剂可以用于除去金属、金属合金或电介质基材上的光刻胶和其它残留物,同时能有效地抑制二氧化硅、Cu、Pb和Sn等金属以及低k材料等的腐蚀。

权利要求书

权利要求书

PCT国内申请,权利要求书已公开。

说明书

PCT国内申请,说明书已公开。

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资源描述

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提供了一种低蚀刻性光刻胶清洗剂及其清洗方法。这种低蚀刻性光刻胶清洗剂包含(a)季胺氢氧化物,(b)二甲基亚砜,(c)通式见上述的烷基二醇芳基醚及其衍生物,其中R1为C6-18芳基;R2为H、C1-18烷基或C6-18芳基,m2-6,n1-6,(d)乙醇胺,(e)水和(f)缓蚀剂。该清洗剂可以用于除去金属、金属合金或电介质基材上的光刻胶和其它残留物,同时能有效地抑制二氧化硅、Cu、Pb和Sn等金属以。

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