液晶显示装置母基板.pdf

本发明提供一种液晶显示装置母基板，包括：交叉排列的第一金属线和第二金属线；还包括在第一、第二金属线之间的第一交叠区域将第一、第二金属线隔离的第一绝缘层；第一金属线具有侧向凸出的第一凸出部，第二金属线具有侧向凸出的第二凸出部；第一凸出部和第二凸出部的自由端部相互交叠，且第一凸出部和第二凸出部之间的第二交叠区域具有第二绝缘层和半导体层。本发明的液晶显示装置母基板通过分别自两金属线两侧设置侧向凸出的凸出部，并在两凸出部第二交叠区域之间设置具有静电荷感应特性的半导体层，使得积累在母玻璃基板上的静电转移至两金属线突出部的第二交叠区域，从而有效地降低了两金属线在第一交叠区域发生短路的现象。

1、  一种液晶显示装置母基板，包括：
用于检测的交叉排列的第一金属线和第二金属线；
其特征在于：
液晶显示装置母基板还包括在第一、第二金属线之间的第一交叠区域将第一、第二金属线隔离的第一绝缘层；
临近第一交叠区域，第一金属线具有至少一个侧向凸出的第一凸出部，第二金属线具有至少一个侧向凸出的第二凸出部；
第一凸出部和第二凸出部的自由端部相互交叠，且第一凸出部和第二凸出部之间的第二交叠区域具有第二绝缘层和半导体层。

2、  如权利要求1所述的液晶显示装置母基板，其特征在于，
第一凸出部平行于第二金属线延伸方向；
第二凸出部平行于第一金属线延伸方向。

3、  如权利要求2所述的液晶显示装置母基板，其特征在于，
第二凸出部到第一金属线的距离大于第一凸出部的长度，
第一凸出部平行于第二金属线延伸方向；
第二凸出部平行于第一金属线延伸方向，其自由端朝第一凸出部折弯且形成第二交叠区域。

4、  如权利要求1、2或3所述的液晶显示装置母基板，其特征在于，半导体层的面积大于第二交叠区域的面积。

5、  如权利要求1、2或3所述的液晶显示装置母基板，其特征在于，第一凸出部的宽度大于第二凸出部的宽度。

6、  如权利要求1、2或3所述的液晶显示装置母基板，其特征在于，第一凸出部分别从第一金属线的相对两侧延伸出。

7、  如权利要求6所述的液晶显示装置母基板，其特征在于，第二凸出部分别从第二金属线的相对两侧延伸出。

8、  如权利要求7所述的液晶显示装置母基板，其特征在于，第一凸出部和第二凸出部相对于第一、第二金属线之间的第一交叠区域对称排列。

9、  如权利要求4所述的液晶显示装置母基板，其特征在于，半导体层为非晶硅层。

液晶显示装置母基板
技术领域
本发明涉及液晶显示器领域，特别涉及一种具有静电防护功能的液晶显示装置母基板。
背景技术
液晶显示器(LCD)因其分辨率高、没有闪烁、体小量轻等优势，已经逐步取代了阴极射线管(CRT)显示器的垄断地位，并被广泛应用于手机、笔记本电脑、个人数字助理等显示应用领域。
随着液晶显示器被广泛的应用，对显示质量的要求逐步提高，要求该液晶显示器因像素不好而造成的点缺陷要尽可能的少、或者甚至没有。液晶显示器主要包括阵列基板、对置基板和夹在阵列基板和对置基板之间的液晶层。阵列基板通常是从一块大的液晶显示装置母基板中切割而形成。在制造阵列基板的过程中，液晶显示装置母基板会由于摩擦、移动、加压、冷热环境变化等因素而持续产生静电，液晶显示装置母基板表面上将累积不少静电荷的存在，除非有适当的放电通道，否则静电荷会一直停留在液晶显示装置母基板表面上，进而可能导致阵列基板内部的元件以及电路遭受到静电放电的破坏。因此在制造过程中需要对液晶显示装置母基板中的每个阵列基板进行信号电路和像素的检测，以确保液晶显示器的质量符合要求。
如图1所示，在液晶显示装置母基板100上等间距地分布着多个阵列基板101，每个阵列基板101之间存在一定的间隔，在阵列基板101之间的间隔处分布着用于检测的交叉排列的第一金属线11和第二金属线12。
图2为图1所示液晶显示装置母基板中的部分金属线排列示意图，其中省略了阵列基板。如图2所示，第一金属线11与第二金属线12交叉排列，在第一金属线11和第二金属线12的第一交叠区域13，第一金属线11和第二金属线12之间具有绝缘层和半导体层。图3为图2沿A-A线的剖视图，如图3所示，在第一金属线11上覆盖绝缘层14，在绝缘层上方设置半导体层15，半导体层15上方设置第二金属线12。
在阵列基板的制造过程中，如图1所示，由于液晶显示装置母基板静电积累的结果，第一金属线11会由于感应静电荷而使得第一金属线11与第二金属线12之间的电压增大，而位于阵列基板之间的间隔处的第一金属线11和第二金属线12之间的半导体层15由于具有感应电荷的特性、从而使得在第一交叠区域13第一金属线11与第二金属线12之间的电压急剧增大，当电压超过绝缘层的耐压极限时，会导致第一金属线11与第二金属线12之间由于电容较小而在第一交叠区域13被击穿，其发生击穿的位置如图1中圆点102的位置所示。
当第一交叠区域13处由于静电积累而发生击穿时，则用于检测的第一金属线11和第二金属线12将无法实现检测阵列基板的功能。
可见，现有液晶显示装置母基板制造过程中中由于未设有具有静电防护功能的结构，因而易导致第一金属线11与第二金属线12的短路，第一金属线11与第二金属线12用于检测的功能失效，进而易导致对阵列基板的测试失灵，影响产品良率。
发明内容
为了避免上述问题，本发明提供一种在不影响液晶显示装置母基板中阵列基板显示区域的情况下，能够有效转移用于测试的金属线在交叠区域被静电击穿而破坏金属线检测功能的液晶显示装置母基板。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：
一种液晶显示装置母基板，包括：用于检测的交叉排列的第一金属线和第二金属线；
位于第一、第二金属线之间第一交叠区域并将第一、第二金属线隔离的第一绝缘层；
临近第一交叠区域，第一金属线具有侧向凸出的第一凸出部，第二金属线具有侧向凸出的第二凸出部；
第一凸出部和第二凸出部的自由端部交叠于第二交叠区域，且第一凸出部和第二凸出部之间的第二交叠区域具有第二绝缘层和半导体层。
本发明的液晶显示装置母基板通过在临近两金属线第一交叠区域的金属线两侧设置侧向凸出的凸出部，并在凸出部之间设置具有静电荷感应特性的半导体层，使得在两金属线的凸出部的第二交叠区域的半导体层产生对应的感应电荷，从而有效地降低了两金属线在第一交叠区域由于静电积累效应而被击穿发生短路的现象，预防了用于测试的金属线被静电破坏，提高了测试的可靠性。
附图说明
图1为现有液晶显示装置母基板中阵列基板的排布及发生静电击穿的位置示意图。
图2为图1所示液晶显示装置母基板上的部分金属线排列示意图。
图3为图2沿A-A线的剖视图。
图4是本发明的液晶显示装置母基板中局部金属线交叠结构示意图。
图5为图4沿B-B线的剖视图。
图6为图4沿C-C线的剖视图。
具体实施方式
本发明的目的在于提供一种在不影响阵列基板显示区域的情况下，能够有效转移用于测试的金属线被静电击穿位置的液晶显示装置母基板。
为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下参照附图并根据具体实施例，对本发明进一步详细说明。
图4是本发明的液晶显示装置母基板局部检测金属线交叠结构示意图。如图4所示，本发明的液晶显示装置母基板包括用于阵列基板检测的交叉排列的第一金属线41和第二金属线42，位于第一金属线41和第二金属线42第一交叠区域43之间的第一绝缘层。也就是说，在本发明的液晶显示装置母基板中，在第一交叠区域43仅利用第一绝缘层将第一金属线41和第二金属线42隔离，而非利用绝缘层和半导体层的组合。
在临近第一金属线41和第二金属线42的第一交叠区域43，第一金属线41具有侧向凸出的第一凸出部411，第二金属线42具有侧向凸出的第二凸出部421，第一凸出部411和第二凸出部421的自由端部交叠于第二交叠区域431，第一凸出部411与第二凸出部421在第二交叠区域431之间具有第二绝缘层和半导体层。
优选地，第一凸出部411自第一金属线41相对两个侧部的边缘，沿第二金属线42的延伸方向侧向凸出。第二凸出部421自第二金属线42相对两个侧部的边缘沿第一金属线41的延伸方向侧向凸出。
当第二凸出部421到第一金属线41的距离大于第一凸出部的长度时，则第二凸出部421的自由端部朝第一凸出部折弯且与第一凸出部形成第二交叠区域431。
图5为图4沿B-B线的剖视图。如图5所示，在第一金属线41和第二金属线42的第一交叠区域43，第一金属线41和第二金属线42之间具有第一绝缘层44，且第一绝缘层44覆盖第一金属线41。
图6为图4沿C-C线的剖视图。如图6所示，在第一凸出部411和第二凸出部421的第二交叠区域431，第一凸出部411和第二凸出部421之间具有第二绝缘层441和半导体层451，其中，第二绝缘层441覆盖在第一凸出部411之上，半导体层451覆盖在绝缘层441之上。
优选地，如图6所示，第二绝缘层441覆盖在第一凸出部411之上，半导体层451覆盖在第二绝缘层441的上表面，且半导体层451的面积应大于第二交叠区域431的面积。这样，半导体层451可以吸附分布在第二交叠区域431内的全部静电电荷，以保证第二交叠区域431以外的其他区域的安全。
另外，如图4至图6所示，第一凸出部411的宽度大于第二凸出部421的宽度。第一凸出部411宽度越宽，则积聚的静电荷越多，导致第一凸出部411和第二凸出部421之间的电势差越大，则越容易在第二交叠区域431内发生击穿放电。
参见图4至图6，液晶显示装置母基板的测试过程中，在用于检测阵列基板的第一金属线41和第二金属线42会产生高电势静电，但是由于第一凸出部411与第二凸出部421之间的第二交叠区域431处具有感应静电荷特性的半导体层451存在、且第一金属线41和第二金属线42之间在第一交叠区域43不具有半导体层，因而使得原本可能积累在两金属线第一交叠区域43的静电感应电荷转移至第一凸出部411和第二凸出部421之间的第二交叠区域431处的半导体层451。这样则不会在第一金属线41和第二金属线42的第一交叠区域43放电而使得两金属线间第一绝缘层在第一交叠区域43被击穿而短路。当位于两金属线凸出部交叠的第二交叠区域被击穿的时候，可以把击穿区域切去，从而不会影响两金属线的检测功能。
本发明通过在用于检测阵列基板的交叉排列的金属线上设置凸出部，可以转移静电释放的位置。这样，发生静电击穿的位置在用于检测的金属线本体之外，不会影响用于测试的金属线的性能，因此即使发生击穿也不会影响阵列基板的正常检测。此外，由于用于检测的金属线凸出部位于液晶显示装置中阵列基板以外，所以在消除液晶显示装置母基板上用于检测的两金属线间累积的静电的同时，不会影响阵列基板。
本发明的第一凸出部411和第二凸出部421可设置在第一金属线41和第二金属线42的第一交叠区域43以外的任意位置，例如，设置在第一交叠区域43的左上方、右上方、左下方或右下方。
另外，本发明还可设置多个第一凸出部411和第二凸出部421，以进一步确保实现转移静电的效果。例如可如图4所示的四个第一凸出部411和四个第二凸出部421，其在阵列基板所在的平面内、分别设置在第一交叠区域43的左上方、右上方、左下方和右下方(此处所述的方向为图4中的方向)。或者，可关于第一交叠区域43对称地分别设置两个第一凸出部411和第二凸出部421，或者，可关于第一交叠区域43非对称地分别设置两个第一凸出部411和第二凸出部421。
本发明中所使用的半导体层451可以为非晶硅层，也可根据实际的使用环境进行选择。
本发明的液晶显示装置母基板通过设置分别自两金属线侧向凸出的凸出部，并在凸出部之间设置具有静电荷感应特性的半导体层，使原本积累在用于检测的两金属线之间的静电转移至两金属线的交叠区域以外的位置，从而有效地降低了用于检测阵列基板的两金属线在第一交叠区域中由于静电积累而被击穿发生短路的现象。由于两金属线凸出部位的第二交叠区域具有更大的半导体层面积，所以半导体层可以吸附分布在第二交叠区域内的全部静电电荷，使得静电击穿只发生在第二交叠区域，以保证第二交叠区域以外的其他区域的安全，同时即使第二交叠区域的某一凸出部位被击穿，在把被击穿的凸出部位切割去除后，仍然不影响两金属线的检测功能。综上，该发明预防了用于测试的金属线被静电破坏，提高了测试的可靠性。
以上所述，只是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明做任何形式上的限制，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围。