铜类电极的表面抛光技术领域
本发明属于机电加工技术领域，具体涉及一种铜类电极的表面抛光。
背景技术
铜类电极在加工完毕，表面粗糙度无法达到下级工序的使用要求，一般都是采用抛光检验来保证下级工序的加工质量；传统的表面加工方法中采用的都是产品直接加工到需要的尺寸，进入下一道工序，但是这样的加工方法中，由于直接加工到需要的尺寸，导致表面粗糙度无法达到使用要求，进而直接影响加工完成，产品的重量。所以，技术员在对电极进行初级加工时都会留余量，由抛光工序去除多余的加工余量。
发明内容
本发明提供的是一种铜类电极的表面抛光，通过此方法，有效提高了电极在加工过程的加工质量，进一步提高产品最终完成质量。
本发明公开了铜类电极在机械加工运用中的应用；
一种铜类电极的表面抛光，主要是通过以下方法实现的；
(1).将已经备料好的电极数控加工留余量0.2mm备用；
(2).将已经加工完毕的电极送检，测量，做好测量记录；
(3).将测量完毕的电极随测量数据一起送抛光室，使用2号锉刀手动进行初级去除留0.1～0.15mm余量；
(4).使用3号锉刀进行第二次抛光，留0.05～0.08mm余量；
(5).使用5号锉刀进行第三次精密抛光，余量保证在0.001，表面粗糙度保证在0.1～0.3；
(6).送检。
本发明铜类电极的表面抛光，有效保证铜类电极在加工过程的表面粗糙度。进一步有效提高最终完成产品质量。
具体实施方式
下面将结合具体实施例对本发明的技术方案进行清楚、完整的描述；
电极在机械加工中普遍常见，常用的都是采用数控机床进行初步加工，然后经过测量、抛光、再测量，最后进入下一道工序，进行电火花加工出最终产品的质量。
本发明公开了铜类电极在机械加工运用中的应用；
一种铜类电极的表面抛光，主要是通过以下方法实现的；
(1).将已经备料好的电极数控加工留余量0.2mm备用；
(2).将已经加工完毕的电极送检，测量，做好测量记录；
(3).将测量完毕的电极随测量数据一起送抛光室，使用2号锉刀手动进行初级去除留0.1～0.15mm余量；
(4).使用3号锉刀进行第二次抛光，留0.05～0.08mm余量；
(5).使用5号锉刀进行第三次精密抛光，余量保证在0.001，表面粗糙度保证在0.1～0.3；
(6).送检。
本发明铜类电极的表面抛光，有效保证铜类电极在加工过程的表面粗糙度。进一步有效提高最终完成产品质量。