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1、10申请公布号CN101937720A43申请公布日20110105CN101937720ACN101937720A21申请号201010165054522申请日20100507G11C29/0820060171申请人深圳市忆嘉电子科技有限公司地址518000广东省深圳市南山区高新科技园科苑南路留学生创业大厦1312室72发明人张宇晖74专利代理机构深圳市科吉华烽知识产权事务所44248代理人胡吉科54发明名称一种高速动态随机存储器测试系统57摘要本发明公开了一种高速动态随机存储器测试系统，其包括测试设备，所述测试设备包括主板、与主板连接的驱动板和与驱动板连接的适配板，所述驱动板和适配板之间通。
2、过同轴电缆连接，所述主板输出高频信号到驱动板后通过同轴电缆输出到所述适配板。本发明具有高频测试信号衰减小，制造和维护成本低，性能优良的特点。51INTCL19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书1页说明书3页附图3页CN101937721A1/1页21一种高速动态随机存储器测试系统，其特征在于包括测试设备，所述测试设备包括主板、与主板连接的驱动板和与驱动板连接的适配板，所述驱动板和适配板之间通过同轴电缆连接，所述主板输出高频信号到驱动板后通过同轴电缆输出到所述适配板。2根据权利要求1所述的高速动态随机存储器测试系统，其特征在于所述测试设备数量至少为一个，所述测试设备通过通用串。
3、行总线连接到计算机。3根据权利要求2所述的高速动态随机存储器测试系统，其特征在于所述主板包括用于产生高频测试信号的可编程处理器，所述可编程处理器与驱动板连接。4根据权利要求3所述的高速动态随机存储器测试系统，其特征在于所述主板进一步包括延迟校准电路，所述可编程处理器经由所述延迟校准电路连接所述驱动板，所述延迟校准电路用于对可编程处理器输出的高频信号进行延迟处理。5根据权利要求4所述的高速动态随机存储器测试系统，其特征在于所述可编程处理器包括多个信号发生单元和与所述多个信号发生单元连接的并串/串并转换器，所述可编程处理器采用并行编程。6根据权利要求5所述的高速动态随机存储器测试系统，其特征在于所。
4、述主板进一步包括时钟发生器和用于对时钟发生器输出的时钟信号进行处理的时钟处理电路。7根据权利要求6所述的高速动态随机存储器测试系统，其特征在于所述驱动板包括驱动器/比较器，所述同轴电缆一端连接到驱动器/比较器，另一端连接所述适配板。8根据权利要求7所述的高速动态随机存储器测试系统，其特征在于所述适配板包括插槽，所述同轴电缆通过RF连接器连接到插槽，待测试器件在测试时也连接到插槽，测试信号通过同轴电缆输出到待测试器件。9根据权利要求8所述的高速动态随机存储器测试系统，其特征在于所述插槽位置可根据待测试器件尺寸规格不同进行调整。10根据权利要求8所述的高速动态随机存储器测试系统，其特征在于所述驱动。
5、板个数为至少为二个，所述至少二驱动板竖立设置在所述主板上，所述适配板两侧分别通过连接器连接至少二驱动板。权利要求书CN101937720ACN101937721A1/3页3一种高速动态随机存储器测试系统【技术领域】0001本发明属于高频数字测试领域，特别是一种高速动态随机存储器测试系统。【背景技术】0002计算机技术的发展对随机动态存储器的运行速度及存储量提出更高的要求，而对存储器的各项电气性能指标进行精确的测试是保证计算机系统可靠有效地运行的先决条件。随着动态随机存储器工作频率的不断提高，对于存储器及存储器模组的测试难度和测试成本也随之增加。事实上，随着高速动态随机存储器的工作频率越来越高，。
6、对于测试设备的架构及其电气性能的要求也更为严苛。【发明内容】0003为了解决现有技术的上述技术问题，有必要提供一种低成本且高性能的高速动态随机存储器测试系统。0004本发明解决现有的技术问题所采用的技术方案为一种高速动态随机存储器测试系统，包括测试设备，所述测试设备包括主板、与主板连接的驱动板和与驱动板连接的适配板，所述驱动板和适配板之间通过同轴电缆连接，所述主板输出高频信号到驱动板后通过同轴电缆输出到所述适配板。0005本发明一种高速动态随机存储器测试系统中，所述测试设备数量至少为一个，所述测试设备通过通用串行总线连接到计算机。0006本发明一种高速动态随机存储器测试系统中，所述主板包括用于。
7、产生高频测试信号的可编程处理器，所述可编程处理器与驱动板连接。0007本发明一种高速动态随机存储器测试系统中，所述主板还包括延迟校准电路，所述可编程处理器经由所述延迟校准电路连接所述驱动板，所述延迟校准电路用于对可编程处理器输出的高频信号进行延迟处理。0008本发明一种高速动态随机存储器测试系统中，所述可编程处理器包括多个信号发生单元和与所述多个信号发生单元连接的并串/串并转换器，所述可编程处理器采用并行编程0009本发明一种高速动态随机存储器测试系统中，所述主板还包括时钟发生器和用于对时钟发生器输出的时钟信号进行处理的时钟处理电路。0010本发明一种高速动态随机存储器测试系统中，所述驱动板包。
8、括驱动器和比较器，所述同轴电缆一端连接到驱动器，另一端连接所述适配板。0011本发明一种高速动态随机存储器测试系统中，所述适配板包括插槽，所述同轴电缆通过RF连接器连接到插槽，待测试器件在测试时也连接到插槽，测试信号通过同轴电缆输出到待测试器件。0012本发明一种高速动态随机存储器测试系统中，所述插槽位置可根据待测试器件尺寸规格不同进行调整。说明书CN101937720ACN101937721A2/3页40013所述驱动板个数为至少为二个，所述至少二个驱动板竖立设置在所述主板上，所述适配板两侧分别通过连接器连接至少二个驱动板。0014相较于现有技术，本发明一种高速动态随机存储器测试系统采用同轴。
9、电缆进线高频信号传输，有效避免了现有技术中电路板过孔、走线及电磁干扰的不良影响导致的高频信号衰减。并且采用同轴电缆，可以自由调整插槽的位置，从而满足不同规格尺寸的待测试器件测试需求。另外，本发明采用主板、驱动板和适配板的分体设计，可以有效的提高本发明实用性且降低维护成本。比如，在需要测试不同器件时，如存储器芯片和存储器模组，由于待测试器件的规格不同，只需要更换适配板即可。另外，采用分体设计，如果主板、驱动板和适配板某一部分发生故障，只需要更换对应的电路板即可，而不需要像现有技术中需要更换整个测试设备。此外，采用驱动器和比较器的结构，可以很方便测试信号电压和时序。因此，本发明一种高速动态随机存储。
10、器测试系统具有较低成本和较高性能。本发明从架构及测试电路上解决了高频数字测试所面临的难题。【附图说明】0015图1是本发明一种高速动态随机存储器测试系统一较佳实施方式的方框示意图。0016图2是图1所示测试设备的立体示意图。0017图3是图1所示高速动态随机存储器测试系统的时序调整方框示意图。0018图4是图1所示可编程处理器的方框示意图。【具体实施方式】0019下面结合附图和本发明的实施方式作进一步详细说明。0020请参阅图1，是本发明一种高速动态随机存储器测试系统一较佳实施方式的方框示意图。所述高速动态随机存储器测试系统10包括计算机11和与计算机11通过通用串行总线接口USB连接的多个测。
11、试设备20。所述计算机11包括专用测试界面，测试人员可通过所述计算机11获取测试结果。0021请参阅图2，是图1所示测试设备20的立体示意图。所述测试设备20包括主板21、驱动板22、适配板23和多条连接驱动板22和适配板23的电缆200。本实施方式中，所述驱动板22个数为二个，且分别竖立在主板21两侧。所述适配板23两侧分别通过连接器24与所述驱动板22连接。所述主板21通过USB连接到计算机11。本发明的变更实施方式中，驱动板22的个数为1个或多个，0022所述主板21包括可编程处理器30、时钟发生器40、时钟处理电路50和延时校准电路60。所述驱动板22包括驱动器/比较器221。所述适配。
12、板23包括插槽25。所述电缆200一端连接到驱动器/比较器221，另一端通过RF连接器连接到插槽25。在本实施方式中，所述适配板23包括两条插槽25，待测试器件DEVICEUNDERTESTING，DUT如内存芯片或模组连接到插槽25上。所述电缆200是同轴电缆。在其他变更实施方式中，插槽25的数量并不局限，可以是一个或者多个。0023由于采用了电缆200连接DUT和驱动板22，在进行测试时，适配板23的插槽25可以根据DUT尺寸宽度自由调节位置。由于电缆200采用同轴电缆，可以承受大于12GHZ的高频率信号传输且几乎没有信号衰减。另外，在做测试设备校正时，是需要将同轴电缆联接说明书CN101。
13、937720ACN101937721A3/3页5入RF连接器射频同轴连接器和示波器之间即可进行精确校准，而无需示波器探针。在本实施方式中，所述驱动板22还包括驱动器/比较器221，可以对每一测试回路进行驱动电压、参考电压及时序设置，从而可以很方便的测试信号电压。0024由于高频信号在线路传输过程中极易发生衰减和时序不一致，例如对于大于2GHZ的高频信号测试来说，需要保证信号的时序一致显得尤为重要。请同时参阅图3，是图1所示高速动态随机存储器测试系统的时序调整电路示意图。所述可编程处理器30产生的高频信号输出到延时校准电路60，延时校准电路60对各个通道的高频信号进行延时处理后输出到驱动器221。
14、并进而输送到DUT。通过延时校准电路60对信号时序进行校准，使得输送到DUT的高频信号具有较好的一致性。对于DUT送到可编程处理器30的信号可做同样处理，使其具有较好的时序一致性。0025请同时参阅图4，是图1所示可编程处理器30的方框示意图。所述可编程处理器30包括多个信号发生单元31和并串/串并转换器32。所述多个信号发生单元31分别产生一定频率的信号并输出到并串转换器32，所述并串转换器32将接收的多个信号作为并行输入，并输出一串行的高频信号到延迟校准电路。所述可编程处理器30采用这种结构，有效的利用多个较低频率信号生成测试所需高频信号，例如对于16GHZ工作频率的DUT的测试，可编程处。
15、理器产生的测试信号频率只需要800MHZ或400MHZ采用4个400MHZ信号发生单元31等即可。同理可得从DUT到可编程处理器30的反向工作原理，高频信号从DUT返回到可编程处理器30后进行串并转换并输出多路较低频率信号。0026所述时钟发生器40和所述时钟处理电路50连接，由时钟处理电路50直接提供高精度的DQS信号。相较于现有技术通过可编程处理器输出DQS信号，所述时钟处理电路50FANOUT电路可以提供低抖动JITTER的DQS信号。0027相较于现有技术，本发明一种高速动态随机存储器测试系统10采用同轴电缆进线高频信号传输，有效避免了现有技术中电路板过孔、走线及电磁干扰的不良影响导致。
16、的高频信号衰减。并且由于电缆200是同轴电缆，可以自由调整插槽25的位置，从而满足不同规格尺寸的DUT测试需求。另外，本发明采用主板21、驱动板22和适配板23的分体设计，可以有效的提高本发明实用性且降低维护成本。比如，在需要测试不同器件时，如内存芯片和内存模组，由于DUT的规格不同，只需要更换适配板23即可。另外，采用分体设计，如果主板21、驱动板22和适配板23某一部分发生故障，只需要更换对应的电路板即可，而不需要像现有技术中需要更换整个测试设备。此外，采用驱动器和比较器的结构，可以很方便得到信号电压和时序的状态。因此，本发明一种高速动态随机存储器测试系统具有较低成本和较高性能。本发明从架构及测试电路上解决了高频数字测试所面临的难题。0028以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。说明书CN101937720ACN101937721A1/3页6图1说明书附图CN101937720ACN101937721A2/3页7图2说明书附图CN101937720ACN101937721A3/3页8图3图4说明书附图CN101937720A。