一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法.pdf

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摘要
申请专利号:

CN201410492738.4

申请日:

2014.09.24

公开号:

CN104213197A

公开日:

2014.12.17

当前法律状态:

授权

有效性:

有权

法律详情:

授权|||实质审查的生效IPC(主分类):C30B 31/02申请日:20140924|||公开

IPC分类号:

C30B31/02; C30B29/50

主分类号:

C30B31/02

申请人:

中国电子科技集团公司第四十六研究所

发明人:

张颖武; 程红娟; 练小正; 张志鹏; 李璐杰; 司华青; 徐永宽

地址:

300220 天津市河西区洞庭路26号

优先权:

专利代理机构:

天津中环专利商标代理有限公司 12105

代理人:

胡京生

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内容摘要

本发明涉及一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法,步骤如下:1)采用两温区PVT晶体生长炉,将原料、掺杂物进行工艺处理后混合一起放入原料区、衬底放入衬底位置;2)调置PVT晶体生长炉一温区、二温区温度,其温度范围根据原材料物理性能特点决定;3)待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺杂元素的单晶。有益效果是利于掺杂元素的均匀分布,使单晶材料实现均一的电学性能;减少了晶体结构损失,从而有效改善晶体质量;简化了单晶材料制备工艺,有利于单晶材料的规模化生产。

权利要求书

1.  一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法,采用两温区PVT晶体生长炉,步骤如下:
1)、将原料、掺杂物进行工艺处理后混合一起放入两温区PVT晶体生长炉原料区(1)、衬底放入炉内衬底(5)位置;
2)、调置PVT晶体生长炉一温区、二温区温度,其温度范围根据原材料物理性能特点决定;
 3)、待生长工艺结束后取出生长管(4),即可得到掺杂元素的单晶。

说明书

一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法
技术领域
本发明涉及一种PVT法制备半导体单晶材料的掺杂方法,特别涉及一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法。
背景技术
物理气相传输法(PVT法)制备半导体单晶材料的工艺过程是一个升华凝华过程,也是热量、质量和动力的输运过程,通过调节单晶炉温场分布、生长气压、载气流量等参数,降低内部缺陷和杂质元素,最终制备出高质量的半导体单晶材料。
一般情况下,本征的半导体材料电学性能无法满足器件使用要求,为了调节、控制半导体的电学性质,在半导体单晶材料的PVT法制备工艺完成以后,常常通过扩散或离子注入工艺,将特定元素掺入半导体材料体内,得到所需的电学性能的半导体单晶材料,其中采用扩散工艺制备的半导体材料,扩散浓度随深度变化明显,其电学均匀性不好,对工艺的控制精度要求较高,而离子注入工艺设备昂贵而复杂,注入过程中由于入射离子的碰撞易导致晶体结构的损伤,因此必须增加退火工艺进行晶体结构修复。
总之,传统的PVT法制备半导体单晶材料,把半导体单晶材料的生长工艺和掺杂工艺分别独立实现,增加了工艺复杂性,同时,掺杂工艺存在掺杂均匀性差、易引起晶体结构损伤等问题。
发明内容
 鉴于传统的掺杂技术带来的诸多问题,本发明提出一种PVT法单晶生长原位掺杂方法,即在PVT法晶体生长过程中,同时加入特殊物质的气氛,特殊物质为需要掺杂的物质的单质元素或化合物,使掺杂元素伴随晶体生长的过程进入到晶体内部格点位置,保证了掺杂均匀性和晶体结构完整性,从而实现理想掺杂效果,具体技术方案是,一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法,采用两温区PVT晶体生长炉,步骤如下:1)、将原料、掺杂物进行工艺处理后混合一起放入两温区PVT晶体生长炉原料区、衬底放入炉内衬底位置;2)、调置PVT晶体生长炉一温区、二温区温度,其温度范围根据原材料物理性能特点决定;3)、待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺杂元素的单晶。
本发明的有益效果是利于掺杂元素的均匀分布,使单晶材料实现均一的电学性能;减少了晶体结构损失,从而有效改善晶体质量;简化了单晶材料制备工艺,有利于单晶材料的规模化生产。
附图说明
图1是本发明的流程图。
图2是传统PVT法制备半导体单晶材料掺杂工艺的流程图。
  图3是本发明生长温度梯度的温度曲线。
具体实施方式
如图1、2、3所示,两温区PVT晶体生长炉,炉中分为原料区1 、传输区2  、生长区3、生长管4、衬底5、T(L)为原料区温度、T(0)为生长区温度。
实例1
PVT法制备掺铟元素的N型低阻硫化镉单晶。
硫化镉单晶生长采用两温区PVT晶体生长炉,从原料端到衬底端的温区分别为一温区、二温区,以石英单晶材料为衬底,以铟单质为掺杂源,铟单质以粉末态与硫化镉源粉混合放置于原料区1,晶体生长中的温区设置为1000℃、960℃,待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺铟元素的N型低阻硫化镉单晶。
实例2
PVT法制备掺氯元素的N型低阻硫化镉单晶。
硫化镉单晶生长采用两温区PVT晶体生长炉,从原料端到衬底端的温区分别为一温区、二温区,以石英单晶材料为衬底,以氯化镉为掺杂源,氯化镉以粉末态与硫化镉源粉混合放置于原料区1,晶体生长中的温区设置为1010℃、980℃,待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺氯元素的N型低阻硫化镉单晶。
实例3
PVT法制备掺铝元素的N型低阻硒化镉单晶。
硒化镉单晶生长采用两温区PVT晶体生长炉,从原料端到衬底端的温区分别为一温区、二温区,以石英单晶材料为衬底,以铝单质为掺杂源,铝单质以粉末态与硒化镉源粉混合放置于原料区1,晶体生长中的温区设置为950℃、900℃,待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺铝元素的N型低阻硒化镉单晶。

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资源描述

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1、10申请公布号CN104213197A43申请公布日20141217CN104213197A21申请号201410492738422申请日20140924C30B31/02200601C30B29/5020060171申请人中国电子科技集团公司第四十六研究所地址300220天津市河西区洞庭路26号72发明人张颖武程红娟练小正张志鹏李璐杰司华青徐永宽74专利代理机构天津中环专利商标代理有限公司12105代理人胡京生54发明名称一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法57摘要本发明涉及一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法,步骤如下1)采用两温区PVT晶体生长炉,将原料、掺杂物进。

2、行工艺处理后混合一起放入原料区、衬底放入衬底位置;2)调置PVT晶体生长炉一温区、二温区温度,其温度范围根据原材料物理性能特点决定;3)待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺杂元素的单晶。有益效果是利于掺杂元素的均匀分布,使单晶材料实现均一的电学性能;减少了晶体结构损失,从而有效改善晶体质量;简化了单晶材料制备工艺,有利于单晶材料的规模化生产。51INTCL权利要求书1页说明书2页附图2页19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书1页说明书2页附图2页10申请公布号CN104213197ACN104213197A1/1页21一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法,采用。

3、两温区PVT晶体生长炉,步骤如下1)、将原料、掺杂物进行工艺处理后混合一起放入两温区PVT晶体生长炉原料区(1)、衬底放入炉内衬底(5)位置;2)、调置PVT晶体生长炉一温区、二温区温度,其温度范围根据原材料物理性能特点决定;3)、待生长工艺结束后取出生长管(4),即可得到掺杂元素的单晶。权利要求书CN104213197A1/2页3一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法技术领域0001本发明涉及一种PVT法制备半导体单晶材料的掺杂方法,特别涉及一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法。背景技术0002物理气相传输法(PVT法)制备半导体单晶材料的工艺过程是一个升华凝华过程,也。

4、是热量、质量和动力的输运过程,通过调节单晶炉温场分布、生长气压、载气流量等参数,降低内部缺陷和杂质元素,最终制备出高质量的半导体单晶材料。0003一般情况下,本征的半导体材料电学性能无法满足器件使用要求,为了调节、控制半导体的电学性质,在半导体单晶材料的PVT法制备工艺完成以后,常常通过扩散或离子注入工艺,将特定元素掺入半导体材料体内,得到所需的电学性能的半导体单晶材料,其中采用扩散工艺制备的半导体材料,扩散浓度随深度变化明显,其电学均匀性不好,对工艺的控制精度要求较高,而离子注入工艺设备昂贵而复杂,注入过程中由于入射离子的碰撞易导致晶体结构的损伤,因此必须增加退火工艺进行晶体结构修复。000。

5、4总之,传统的PVT法制备半导体单晶材料,把半导体单晶材料的生长工艺和掺杂工艺分别独立实现,增加了工艺复杂性,同时,掺杂工艺存在掺杂均匀性差、易引起晶体结构损伤等问题。发明内容0005鉴于传统的掺杂技术带来的诸多问题,本发明提出一种PVT法单晶生长原位掺杂方法,即在PVT法晶体生长过程中,同时加入特殊物质的气氛,特殊物质为需要掺杂的物质的单质元素或化合物,使掺杂元素伴随晶体生长的过程进入到晶体内部格点位置,保证了掺杂均匀性和晶体结构完整性,从而实现理想掺杂效果,具体技术方案是,一种用于PVT法制备半导体单晶材料的原位掺杂方法,采用两温区PVT晶体生长炉,步骤如下1)、将原料、掺杂物进行工艺处理。

6、后混合一起放入两温区PVT晶体生长炉原料区、衬底放入炉内衬底位置;2)、调置PVT晶体生长炉一温区、二温区温度,其温度范围根据原材料物理性能特点决定;3)、待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺杂元素的单晶。0006本发明的有益效果是利于掺杂元素的均匀分布,使单晶材料实现均一的电学性能;减少了晶体结构损失,从而有效改善晶体质量;简化了单晶材料制备工艺,有利于单晶材料的规模化生产。附图说明0007图1是本发明的流程图。0008图2是传统PVT法制备半导体单晶材料掺杂工艺的流程图。0009图3是本发明生长温度梯度的温度曲线。说明书CN104213197A2/2页4具体实施方式0010如图1、2、3。

7、所示,两温区PVT晶体生长炉,炉中分为原料区1、传输区2、生长区3、生长管4、衬底5、T(L)为原料区温度、T(0)为生长区温度。0011实例1PVT法制备掺铟元素的N型低阻硫化镉单晶。0012硫化镉单晶生长采用两温区PVT晶体生长炉,从原料端到衬底端的温区分别为一温区、二温区,以石英单晶材料为衬底,以铟单质为掺杂源,铟单质以粉末态与硫化镉源粉混合放置于原料区1,晶体生长中的温区设置为1000、960,待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺铟元素的N型低阻硫化镉单晶。0013实例2PVT法制备掺氯元素的N型低阻硫化镉单晶。0014硫化镉单晶生长采用两温区PVT晶体生长炉,从原料端到衬底端的温区。

8、分别为一温区、二温区,以石英单晶材料为衬底,以氯化镉为掺杂源,氯化镉以粉末态与硫化镉源粉混合放置于原料区1,晶体生长中的温区设置为1010、980,待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺氯元素的N型低阻硫化镉单晶。0015实例3PVT法制备掺铝元素的N型低阻硒化镉单晶。0016硒化镉单晶生长采用两温区PVT晶体生长炉,从原料端到衬底端的温区分别为一温区、二温区,以石英单晶材料为衬底,以铝单质为掺杂源,铝单质以粉末态与硒化镉源粉混合放置于原料区1,晶体生长中的温区设置为950、900,待生长工艺结束后取出生长管,即可得到掺铝元素的N型低阻硒化镉单晶。说明书CN104213197A1/2页5图1图2说明书附图CN104213197A2/2页6图3说明书附图CN104213197A。

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