整合型计算机的自动测试系统及其方法 【技术领域】
本发明系为一种测试计算机不良率的机制，特别是一种应用于整合型计算机的自动测试系统及其方法。
技术背景
由于科技的快速发展及产业上的进步，由半导体产业及信息电子产业领军的市场不断地持续蓬勃成长，造成相当多的应用层面有显著的变化，所带来的不只是单单的科技成就，而是增进了人类生活品质、改变了生活的模式，所影响的科技产品如：个人计算机、鼠标、扫描仪、移动电话、个人数字助理器等千百种的电子消费产品，尤其此类产品已从专业用设备走向个人、家庭、一般生活中的消费性产品，换言的，人们对于这些设备的依赖性也日渐增强，所有的厂商都投身致力于生产更多的相关产品，也因此制造商，无不致力于提升产能。
一般而言，在生产的过程中，所有的产品，在出厂前都需经过检测，确保产品的品质，制造商会区分为良品与不良品区域，此外也通过跳线盒等设备来加以测试，此种跳线盒只是单纯的进行跳线的功能，不会产生任何从跳线盒本身对外信号控制作用，对于制造商而言，相对的不便利，光是人工将产品分类也相当地繁琐，产能也无法提升，此时如何能够自动检测生产线上的产品，如：计算机等等，实为一尚待解决的技术课题。
【发明内容】
有鉴于此，本发明提供一种整合型计算机的自动测试系统及其方法，其目的在于，当整合型计算机组装完成后，经由自动测试系统检测整合型计算机是否有问题，通过自动测试系统无线传输与控制端沟通，将结果传送，而进一步将整合型计算机配送至其所属的生产区域，更提供一存储功能将整合型计算机状态存入自动测试系统中，通过本发明将可增加测试机台的速率，并提高生产线的产能。
根据本发明所揭示的方法，至少包含下列步骤：连结单元检测是否与待测机台的视频图形接口(Video Graphics Array；VGA)卡数据管线连接，并通过微处理单元判读待测机台的状态，并将此状态储存于存储单元中，及最后通过传输单元通知控制端并将待测机台送至所属的区域。
【附图说明】
有关本发明的详细内容及技术，兹就配合对图说明如下：
图1为本发明整合型计算机的自动测试系统及其方法的示意图；
图2为本发明整合型计算机的自动测试系统及其方法的系统方块图；及
图3为本发明本发明整合型计算机的自动测试方法的流程图。
图中符号说明
10 待测机台
10a～n 待测机台
20 已测机台(不良品)
30 已测机台(良品)
40 生产线
100 自动测试系统
110 连结单元
120 微处理单元
130 存储单元
140 对外控制脚
150 传输单元
步骤200 一连结单元检测是否与一待测机台的VGA数据管线连接
步骤210 通过一微处理单元判读该待测机台的状态
步骤220 将该状态储存于一存储单元中
步骤230 通过一传输单元通知一控制端并将该待测机台送至所属的区域
【具体实施方式】
本发明为一种整合型计算机的自动测试系统及其方法，请参照图1，为本发明整合型计算机的自动测试系统及其方法的示意图。
如图1所示，在生产线40上陈列了复数个待测机台10等候自动测试系统100的测试，在图中，待测机台10a正通过自动测试系统100检测，判别是否有异常的现象，自动测试系统100并将有异常的待测机台10利用运输带，运送至不良品区(Fail Area)，在此称的为已测机台20，此外，在不良品区(Fail Area)中，也会根据当初自动测试系统100检验的结果加以分门别类，再重新加以组装、维修、更新等工作，然后在重新送至给自动测试系统加以检验；如果待测机台10经由自动测试系统判别100没有异常现象，则会利用运输带运送至良品区(PassArea)，在此称的为已测机台30，至此已测机台30便等待包装，准备出货加以销售。
接着在介绍本发明的方法前，先陈述本发明的基本系统，请参阅图2，为本发明整合型计算机的自动测试系统及其方法的系统方块图。
就本发明系统而言，包含下列几种单元：
一连结单元110，与一待测机台10连接，用以检测待测机台10的状况，当连接时，便发出一状态(Status)信号，本单元110为一15pin视频图形接口(Video Graphics Array；VGA)卡标准插头，并搭配待测机台10的插座。
一微处理单元120，用以分析判断待测机台10是否有异常，并分配待测机台10至指定的生产线40，当接收连结单元110所发出的状态信号，经处理后，便发出一指令信号，本单元120为一Atmel MPU89C4051可编程的微处理器。
一存储单元130，用以储存微处理单元120分析待测机台10的状态结果，当接收到微处理单元120所发出的指令信号后便开始储存。
一对外控制脚140，当得知待测机台10的结果，便将待测机台10转到控制端外围设备。
一传输单元150，作为一数据传输的接口，为控制端与待测机台10进行数据交换，当接收到微处理单元120所发出的指令信号，便可进行数据交换，此外，本单元150则是通过红外线(IrDA)传送信息。
有了上述的系统后，便可进行测试生产线40中的待测机台10，接下来就针对其流程作更进一步的详细说明，请参照图3，为本发明本发明整合型计算机的自动测试方法的流程图。
首先通过一连结单元110检测是否与一待测机台10的VGA数据管线连接(步骤200)，若没有连接，则自动测试系统100便继续保持检测状态，而重复步骤200；若检测到连接，则便通过一微处理单元120判读该待测机台10的状态(步骤210)，此一状态，可分为待测机台10异常与待测机台10正常，接着便将该状态储存于一存储单元130中(步骤220)，储存完毕的后，则通过一传输单元150通知一控制端并将该待测机台10送至所属的区域(步骤230)，此步骤为控制端将待测机台10配送至一良品区(Pass Area)与一不良品区(Fail Area)，当配送完成后，便结束本流程。
其中不良品区的已测机台20，必须重新加以组装、维修、更新等工作，而再次送至自动测试系统100加以检验。
虽然本发明以前述的较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围视专利申请范围所界定者为准。