一种BIN文件转换为ATP文件的方法.pdf

本发明公开了一种将可执行的BIN文件转换为测试仪器可识别的ATP文件的方法。所述方法包括以下步骤：首先，分析BIN文件组成结构，区分BIN文件中的头信息、同步字、器件ID；其次，对JTAG中的TDI数据输入口进行数据分配；第三，添加测试头，其中包括测试的TSB(Time Set Basic)，JTAG的管脚以及其余测试管脚，将生成的测试码流置于其后；最后，添加验证功能的测试码并生成ATP文件。该方法可用在集成电路芯片级和成品级测试过程中，对带有JTAG接口的可编程逻辑器件实施测试。该方法的优点是：无需添加用于产生测试代码的专门的存储和控制器件，便于测试码生成，降低测试难度与测试时间，可方便地应用于ATE的测试工程开发。

权利要求书
1.  一种BIN文件转换为ATP文件的方法，可用在集成电路芯片级和成品级测试过程中，对带有JTAG接口的可编程逻辑器件实施测试，其特征在于：首先，分析BIN文件组成结构，区分BIN文件中的头信息、同步字、器件ID；其次，对JTAG中的TDI数据输入口进行数据分配；第三，添加测试头，其中包括测试的TSB(TimeSetBasic)，JTAG的管脚以及其余测试管脚，将生成的测试码流置于其后；最后，添加验证功能的测试码并生成ATP文件。

2.  根据权利要求1所述的一种BIN文件转换为ATP文件的方法，其特征在于：所述方法的实施步骤包括，使用应用软件开发工具生成具有既定功能的BIN文件；其次，通过转换软件将BIN文件转换为ATP文件；再次，为ATP文件添加用于功能验证的测试码；最后将ATP文件内容转换为ATE可识别的测试码并进行测试。

3.  根据权利要求2所述的一种BIN文件转换为ATP文件的方法，其特征在于：所述转换软件是对所述转换方法的自动化实现，包括分析BIN文件格式、对JTAG中的TDI数据输入口进行数据分配、添加测试头和生成ATP文件功能。

说明书一种BIN文件转换为ATP文件的方法
所属技术领域
本发明属于集成电路测试领域，应用于带JTAG接口的集成电路，特别是FPGA(FieldProgrammableGateArray现场可编程门阵列)、CPLD(ComplexProgrammableLogicDevice复杂可编程逻辑器件)等可编程逻辑器件的测试，将可执行的BIN文件转换为测试仪器可识别的ATP文件，便于测试码的生成。
背景技术
JTAG(JointTestActionGroup，联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试，JTAG技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP(TestAccessPort，测试访问口)，通过专用的JTAG测试设备ATE（AutomaticTestEquipment）对内部节点进行测试。
由于ATE能够识别的测试代码是保存在ATP格式的文件中，这种文件具有特殊的格式，所以通常需要为测试设备配置专门的存储和控制器件，用于编写测试用代码，并保存在ATP文件之中。这样就增加了测试代码生成的难度，延缓了测试工作进度。
发明内容
为了解决带JTAG接口的可编程逻辑器件测试过程中的测试码生成困难的问题，本发明提供一种将可执行的BIN文件转换成测试仪器可识别的ATP文件的方法，便于测试码的生成。运用该方法，可以通过应用软件开发工具来编写测试代码，生成BIN文件，然后将BIN文件转换成ATP文件，这样不但避免了配备外加存储器件与控制器件的需求，而且降低测试代码生成难度，提高测试效率。
本发明为解决其技术难题而采取的技术思路是：首先，使用应用软件开发工具生成具有既定功能的BIN文件；其次，通过转换软件将BIN文件转换为ATP文件；再次，为ATP文件添加用于功能验证的测试码；最后将ATP文件内容转换为ATE可识别的测试码并进行测试。其中，所述的转换软件是对本发明提供的BIN文件转换为ATP文件转换方法的自动化实现。
本发明提供的一种BIN文件转换为ATP文件的转换方法包括以下步骤：
（1）分析BIN文件组成结构，区分BIN文件中的头信息、同步字、器件ID；
（2）对JTAG中的TDI数据输入口进行数据分配；
（3）添加测试头，其中包括测试的TSB(TimeSetBasic)，JTAG的管脚以及其余测试管脚，将生成的测试码流置于其后；
（4）添加验证功能的测试码；
（5）生成ATP文件。
本发明的有益效果是：与传统的针对带JTAG接口的集成电路测试方法相比，本发明提供的BIN文件转换为ATP文件的方法避免了配备外加存储器件与控制器件的需求，而且降低测试代码生成难度，提高测试效率，可方便的应用于ATE的测试工程开发。
附图说明
图1为文件转换方法流程图；
图2为集成电路测试流程图；
图3为应用软件产生的BIN文件格式图；
图4为本发明的转换软件界面图；
图5为生成的ATP文件格式图。
具体实施方式
依据本发明所述的一种BIN文件转换为ATP文件的方法，针对带JTAG接口的集成电路的测试过程，包括以下步骤：
1）在应用软件开发工具中编写代码，该代码包含的是芯片测试的内容，例如由FPGA编程实现加法器，即使用应用软件开发工具编写加法器代码。在该过程中需指定实现既定功能的集成电路的管脚；
2）通过应用软件开发工具生成可用于JTAG下载的BIN文件；
3）将生成的BIN文件通过转换软件转换成ATP文件；
4）在ATP文件中添加测试的管脚信息，添加测试验证信息，确保集成电路实现既定的功能；
5）将ATP文件转换成ATE可识别的测试码，进行集成电路测试。
最后应说明的是：显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引申出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之中。