测试装置的测试单元定位机构及其应用的测试设备技术领域
本发明涉及一种可自动化定位或卸除具测试座的测试单元，而节省更换测
试座的作业时间，以提升使用便利性及生产效能的定位机构。
背景技术
在现今，电子元件于制作完成后，系运送至测试设备进行测试作业，以淘
汰出不良品，请参阅第1、2、3图，该测试设备设有具开口111的机台11，并
在机台11的上方设有具出入口121的外罩12，另于机台11的下方配置有测试
电子元件的测试装置13，该测试装置13设有一连接中央控制装置(图未示出)
的测试器131，该测试器131由移送结构(图未示出)带动作第一、二方向(如
X、Y方向)位移，以及由二移送臂132带动作第三方向(如Z方向)位移，
又该测试器131上系装设有测试电路板133及测试单元，该测试电路板133系
电性连接测试器131，该测试单元是在一基板134上装配复数个具探针的测试座
135，测试座135的探针系电性连接测试电路板133，该测试装置13系以移送结
构带动测试器131作第一、二方向位移，令测试单元的测试座135对应于机台
11的开口111，再以移送臂132带动测试器131及其上的测试电路板133、测试
单元作第三方向向上位移，令测试单元的基板134顶置于机台11的底面，并使
复数个测试座135穿置于机台11的开口111中，由于移载待测电子元件15的
压取机构14，为了使待测电子元件15的电性接点与测试座135的探针确实接触，
是在将待测电子元件15放置在测试座135内时，并对待测电子元件15施以一
下压力，而压抵电子元件15执行测试作业，工作人员为避免测试单元的测试座
135因承受此一下压力而向下位移以影响测试品质，工作人员系利用复数个栓具
136将测试单元的基板134锁固定位于机台11的底面，使测试座135不会作第
三方向位移，因此，当压取机构14压抵电子元件15于测试座135内执行测试
作业时，由于测试单元的基板134已固定于机台11的底面，进而可使测试座135
稳固执行测试作业；请参阅图4，欲测试另一批次不同类型的电子元件，而更换
测试座135时，工作人员必须将复数个栓具136拆卸，令测试单元的基板134
与机台11分离，方可使测试器131带动具测试座135及基板134的测试单元作
第三方向向下位移而离开机台11，以供工作人员更换具测试座135的测试单元；
然而，此一测试单元的定位方式于使用上具有如下缺失：
1.由于测试单元的基板134系锁固于测试器131上，而测试器131又装配
于机台11下方，导致机台11的下方已无空间可供工作人员进行锁固基板134
作业，以致工作人员必须由外罩12的出入口121处进行锁固基板134作业，但
外罩12的内部也因配置有其他装置，以致空间有限，使得工作人员于狭小空间
处进行锁固基板134作业上相当不便。
2.于更换测试单元的测试座135时，工作人员必须将测试设备停机，再一
一拆卸机台11上的复数个栓具136，方可卸除测试单元的基板134，于固定新
测试单元的基板时，再利用复数个栓具134将新的基板锁固定位于机台11，使
得整台测试设备必须等待反复装拆复数个栓具136作业后，才可开机执行测试
作业，不仅耗费作业时间，也无法提升生产效能。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明的目的在于：提供一种测试装置的测试单元
定位机构及其应用的测试设备，可自动化定位或卸除具测试座的测试单元，而
节省更换测试座的作业时间。
为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：
一种测试装置的测试单元定位机构，包含：
机台：具有至少一开口；
测试单元：设有具至少一基板的承载器，并在该至少一基板装配至少一具
探针的测试座，该测试座测试电子元件；
定位机构：装配于该机台，并设有至少一动力源，该动力源驱动至少一顶
抵件作至少一方向位移，该顶抵件的至少一端设有顶掣部件，用以定位或卸除
该测试单元的承载器。
所述的测试装置的测试单元定位机构，该定位机构设有具有容置空间的固
定板，该固定板固设于该机台的底面，并装配有该动力源。
所述的测试装置的测试单元定位机构，该定位机构是在该固定板开设有滑
槽，以供放置该顶抵件。
所述的测试装置的测试单元定位机构，该定位机构的固定板是在该顶抵件
的移动路径设有支撑部件，以支撑该顶抵件。
所述的测试装置的测试单元定位机构，该定位机构设有至少一启闭开关，
用以启闭该动力源。
所述的测试装置的测试单元定位机构，该测试单元的承载器设有第一基板
及第二基板，该第一基板开设有至少一装配该测试座的承置部，该第二基板开
设有通口，并装配于该第一基板的上方，且供该测试座置入于该通口处。
所述的测试装置的测试单元定位机构，该测试单元的承载器是在该第二基
板上设有至少一承顶部件，以供该定位机构的顶抵件卡掣或脱离。
所述的测试装置的测试单元定位机构，该测试装置设有测试机构、测试电
路板及导引结构，该测试机构设有具有台座的测试器，该测试电路板装配于该
测试器的台座上，并电性连接该测试器及该测试单元的测试座，该导引结构是
在该定位机构的固定板与该测试机构的测试器间设有相互配合的导接件及接合
件。
所述的测试装置的测试单元定位机构，该导引结构是在该机台与该测试单
元的承载器间设有相互配合的嵌接件及插合部件。
为实现上述目的，本发明采用的技术方案还包括：
一种应用测试装置的测试设备，包含：
机台；
供料装置：装配于该机台，并设有至少一供料机构，用以容置待测的电子
元件；
收料装置：装配于该机台，并设有至少一收料机构，用以容置已测的电子
元件；
至少一前述测试装置的测试单元定位机构：装配于该机台，并设有该测试
单元及该定位机构，该测试单元用以测试电子元件，该定位机构用以定位或卸
除该测试单元；
输送装置：装配于该机台，并设有至少一移料机构，用以移载电子元件；
中央控制装置：用以控制及整合各装置作动，以执行自动化作业。
本发明的优点之一，系提供一种测试装置的测试单元定位机构，该测试装
置是在机台的底面装配定位机构，该定位机构设有具有容置空间的固定板，并
在固定板上设有至少一动力源，该动力源系驱动至少一顶抵件作至少一方向位
移，该测试单元设有装配测试座的承载器，并由测试装置的测试机构带动位移
至固定板的容置空间内，该定位机构系以动力源驱动顶抵件位移而卡掣顶撑承
载器确实贴合机台，以定位具测试座的测试单元，于更换测试座时，定位机构
系以动力源驱动顶抵件脱离承载器，而卸除具测试座的测试单元，使测试机构
带动测试单元离开机台；如此，可利用定位机构自动化定位或卸除具测试座的
测试单元，而节省更换作业时间，达到提升使用便利性及生产效能的实用效益。
本发明的优点之二，系提供一种测试装置的测试单元定位机构，其中，该
定位机构系自动化控制动力源驱动顶抵件位移而定位或卸除测试单元，使得工
作人员毋须于狭小空间处装拆栓具，达到提升作业便利性的实用效益。
本发明的优点之三，系提供一种测试装置的测试单元定位机构，其中，该
定位机构与测试机构间设有导引结构，该导引结构是在定位机构的固定板与测
试机构的测试器间设有相互配合的导接件及接合件，使得测试器可带动具测试
座的测试单元准确装配于定位机构上，以利定位机构的顶抵件将测试单元的承
载器卡掣定位，达到提升作业便利性的实用效益。
本发明的优点之四，系提供一种测试装置的测试单元定位机构，其中，该
定位机构是在顶抵件的移动路径设有支撑部件，以支撑顶抵件稳固卡掣测试单
元的承载器，使承载器稳固贴合于机台的底面，达到提升定位效能的实用效益。
本发明的优点之五，系提供一种应用测试装置的测试设备，其是在机台上
配置有供料装置、收料装置、测试装置、输送装置及中央控制装置，该供料装
置系用以容纳至少一待测的电子元件，该收料装置系用以容纳至少一已测的电
子元件，该测试装置设有定位机构，用以定位或卸除具测试座及承载器的测试
单元，该测试座系用以测试电子元件，该输送装置设有至少一具取放器的移料
机构，用以移载物件，该中央控制装置系用以控制及整合各装置作动，而执行
自动化作业，达到提升作业生产效能的实用效益。
附图说明
图1是现有测试装置的测试单元与机台的组装使用示意图(一)；
图2是现有测试装置的测试单元与机台的组装使用示意图(二)；
图3是现有测试装置与压取机构的使用示意图；
图4是现有测试装置卸除测试单元的使用示意图；
图5是本发明测试装置的定位机构的外观图；
图6是本发明测试装置的定位机构的剖视图；
图7是本发明测试装置的定位机构与机台的组装剖视图；
图8是本发明测试装置的测试机构、测试电路板及测试单元的示意图；
图9是本发明定位机构定位测试单元的使用示意图(一)；
图10是本发明定位机构定位测试单元的使用示意图(二)；
图11是本发明测试座承置电子元件测试的使用示意图；
图12是本发明定位机构卸除测试单元的使用示意图(一)；
图13是本发明定位机构卸除测试单元的使用示意图(二)；
图14是本发明测试装置应用于测试设备的示意图。
附图标记说明：[现有技术]机台11；开口111；外罩12；出入口121；
测试装置13；测试机构131；移送臂132；测试电路板133；基板134；测试座
135；栓具136；压取机构14；电子元件15；[本发明]定位机构20；固定板
21；容置空间211；滑槽212；滑座213；支撑部件214；压缸22；顶抵件23；
顶掣部件231；滚轮232；启闭开关24；第一导接件25；第二导接件26；卡槽
261；机台30；开口301；插合部件302；；测试机构40；测试器41；台座411；
移送臂42；；第一接合件43；第二接合件44；；卡扣件441；测试电路板50；
测试单元60；第一基板61；承置部611；第二基板62；通口621；承顶部件622；
嵌接件623；测试座63；压取机构70；电子元件80；供料装置90；收料装置
100；输送装置110；输入端移料机构1101；第一供料载台1102；第二供料载台
1103；第一压取机构1104；第二压取机构1105；第一收料载台1106；第二收料
载台1107；输出端移料机构1108。
具体实施方式
为使贵审查委员对本发明作更进一步的了解，兹举一较佳实施例并配合图
式，详述如后：
请参阅图5、图6，本发明测试装置的定位机构20包含至少一动力源及至
少一顶抵件，该至少一动力源系用以驱动至少一顶抵件作至少一方向位移，该
动力源可装配于机台的底面或独立板体，于本实施例中，定位机构20设有一具
有容置空间211的固定板21，该固定板21上系装配复数个可为压缸22的动力
源，复数个压缸22分别呈第一、二方向配置；至少一顶抵件23设有至少一顶
掣部件231，该顶掣部件231可为楔形块或滚轮，用以顶抵定位或脱离卸除该具
测试座及承载器的测试单元，该顶抵件23连接至少一动力源，由动力源驱动作
至少一方向位移，于本实施例中，是在固定板21上设有复数个滑槽212，以供
放置复数个顶抵件23，顶抵件23的一端系连结压缸22的活塞杆，而由压缸22
驱动作伸缩位移，顶抵件23的另一端设有为楔形块的顶掣部件231，顶掣部件
231的两侧则设有滚轮232，以滚置于固定板21凹设的滑座213上，另于顶抵
件23的移动路径设有支撑部件214，以支撑顶抵件23，该定位机构20更包含
至少一电性连接动力源的启闭开关24，用以启闭动力源，于本实施例中，该启
闭开关24系装配于固定板21的外周面，以控制启闭各压缸22。
请参阅图7、图8，本发明的测试装置更包含有机台30、测试机构40、测
试电路板50、测试单元60及导引结构，该机台30设有至少一开口301，并在
底面装配有定位机构20，该定位机构20的固定板21系固设于机台30的底面，
并令容置空间211对位于机台30的开口301；该测试机构40设有具有台座411
的测试器41，测试器41并电性连接中央控制装置(图未示出)，而由移送结构
(图未示出)带动作第一、二方向(如X、Y方向)位移，以及由移送臂42带
动作第三方向(如Z方向)位移，由于测试机构40是现有技术，故不再赘述；
该测试电路板50系电性连接测试器41，并装配于测试器41的台座411上；该
测试单元60设有具至少一基板的承载器，并在至少一基板开设有承置部，该承
置部系装配具探针的测试座，测试座的探针系电性连接测试电路板50，用以测
试电子元件，于本实施例中，该测试单元60的承载器设有第一基板61及第二
基板62，该第一基板61系开设有复数个承置部611，并锁固于第二基板62的
下方，该第二基板62则开设有通口621，更进一步，该第二基板62的外部尺寸
系配合定位机构20的固定板21的容置空间211尺寸，而可利用第二基板62搭
配不同尺寸的第一基板61使用，又该第一基板61的复数个承置部611系装配
具探针的测试座63，测试座63系供承置待测的电子元件，另该承载器是在至少
一基板上设有至少一承顶部件，以供定位机构20的顶抵件23卡掣，于本实施
例中，是在第二基板62的周侧设有复数个承顶部件622，该承顶部件622可为
楔形块或滚轮，于本实施例中，该承顶部件622是滚轮，该承载器系以第一基
板61锁固于测试电路板50上，使测试座63的探针电性连接测试电路板50；该
导引结构是在定位机构20的固定板21与测试机构40的测试器41间设有相互
配合的导接件及接合件，使定位机构20与测试器41作初步定位，于本实施例
中，是在定位机构20的固定板21底面设有第一导接件25及第二导接件26，该
第一导接件25是导杆，第二导接件26则设有卡槽261，另于测试器41上相对
应第一导接件25及第二导接件26的位置设有第一接合件43及第二接合件44，
第一接合件43是中空导管，第二接合件44则具有至少一卡扣件441，该卡扣件
441是可伸缩作动的钢珠，更进一步，该导引结构是在机台30与测试单元60的
承载器间设有相互配合的嵌接件及插合部件，使测试单元60与机台30间作细
定位，于本实施例中，是在机台30的底面开设有为套孔的插合部件302，另于
测试单元60的第二基板62相对应插合部件302的位置设有嵌接件623。
请参阅图8、图9，本发明的测试机构40的测试器41由移送结构(图未示
出)带动作第一、二方向位移，使测试器41带动测试单元60位于定位机构20
的下方，该测试机构40再以移送臂42带动测试器41作第三方向向上位移，测
试器41系利用第一接合件43及第二接合件44分别对位于定位机构20的第一
导接件25及第二导接件26，令第一接合件43套合于第一导接件25的外部，使
测试器41与定位机构20作初步定位，接着移送臂42继续带动测试器41及测
试单元60作第三方向向上位移，测试器41系利用第二接合件44的卡扣件441
扣合于定位机构20的第二导接件26的卡槽261，而测试单元60则利用第二基
板的62的嵌接件623插入于机台30的插合部件302，令测试单元60与机台30
作细定位，使测试单元60置入于定位机构20的固定板21的容置空间211内，
并令承载器的第二基板62贴置于机台30的底面，而第二基板62的承顶部件622
则对应于定位机构20的顶抵件23，进而使测试单元60的测试座63位于机台
30的开口301下方。
请参阅图5、图10，为避免测试单元60于执行测试作业作第三方向向下位
移而影响测试品质，工作人员不需于狭小空间处组装栓具，可利用定位机构20
的启闭开关24电控启动压缸22，由于第二基板62的承顶部件622对应于定位
机构20的顶抵件23，压缸22系带动顶抵件23作向外凸伸位移，顶抵件23系
沿固定板21的滑槽212位移，并受支撑部件214支撑而平稳位移，顶抵件23
的顶掣部件231则可利用两侧的滚轮232沿固定板21的滑座213平稳滑移，使
得顶抵件23的顶掣部件231卡掣于第二基板62的承顶部件622下方，并利用
顶掣部件231的楔形面顶撑第二基板62作第三方向位移而确实贴置于机台30
的底面，以迅速定位具测试座63的测试单元60，进而缩短作业时间及提高生产
效能。
请参阅图11，该测试单元60的测试座63位于机台30的开口301，一压取
机构70系将待测的电子元件80放置于测试座63内，并压抵待测的电子元件80
执行测试作业，由于定位机构20的顶抵件23系定位及顶撑测试单元60的第二
基板62稳固装配于机台30的底面，该第二基板62则固设具测试座63的第一
基板61，测试座63可利用第一、二基板61、62稳固定位，使得测试座63承受
压取机构70的下压力时，并不会作第三方向位移，进而使待测电子元件80的
电性接点与测试座63的探针确实接触而执行测试作业。
请参阅图5、图8、图12、图13，于更换不同型式的测试座时，工作人员
不需于狭小空间处装拆栓具，可利用定位机构20的启闭开关24电控启动压缸
22，令压缸22带动顶抵件23作向内收缩位移，顶抵件23系沿固定板21的滑
槽212反向位移，使顶抵件23的顶掣部件231脱离第二基板62的承顶部件622，
进而迅速卸除具测试座63的测试单元60，接着测试机构40系利用移送臂42带
动测试器41作第三方向向下位移，测试器41则带动测试电路板50及测试单元
60作第三方向向下位移，令测试单元60的嵌接件623脱离机台30的插合部件
302，于移送臂42继续带动测试器41及测试单元60作第三方向向下位移时，
测试器41上的第一接合件43及第二接合件44分别脱离定位机构20的第一导
接件25及第二导接件26，使测试器41带动具测试座63的测试单元60离开机
台30，以便利进行更换测试座作业，进而缩短作业时间及提高生产效能。
请参阅图14，本发明测试装置可应用于测试设备，该测试设备是在机台30
上配置有供料装置90、收料装置100、测试装置、输送装置110及中央控制装
置(图未示出)，该供料装置90系装配于机台30，并设有至少一供料机构，用
以容纳至少一待测的电子元件；该收料装置100系装配于机台30，并设有至少
一收料机构，用以容纳至少一已测的电子元件；该测试装置系装配于机台30，
并设有测试机构40、测试电路板50、测试单元60及定位机构20，用以测试电
子元件；该输送装置110设有输入端移料机构1101，用以将供料装置90处的待
测电子元件分别输送至第一供料载台1102及第二供料载台1103，第一供料载台
1102及第二供料载台1103分别将待测电子元件载送至测试装置，以供第一压取
机构1104及第二压取机构1105取出待测电子元件，并载送至测试装置而执行
测试作业，另该输送装置110设有第一收料载台1106及第二收料载台1107，可
位移至测试装置，以分别承载第一压取机构1104及第二压取机构1105置入的
已测电子元件，并载出测试装置，该输送装置110设有输出端移料机构1108，
用以于第一收料载台1106或第二收料载台1107上取出已测电子元件，并依据
测试结果，将已测电子元件输送至收料装置100分类放置，该中央控制装置系
用以控制及整合各装置作动，以执行自动化作业，达到提升作业效能的实用效
益。