一种触控显示面板、其测试方法及显示装置技术领域
本发明涉及触控技术领域，尤指一种触控显示面板、其测试方法及显示装置。
背景技术
触控与显示驱动器集成(Touch Display Driver Integration，TDDI)技术是把触
控芯片与显示芯片整合进单一芯片中，TDDI技术出现之前，系统架构因为显示芯片与触控
芯片是分离的，这可能会导致一些显示噪声的存在，而TDDI技术由于实现了统一的控制，在
噪声的管理方面会有更好的效果，因而TDDI技术具有很强的技术优势和市场竞争力。
现有技术中使用TDDI技术的触控显示面板中，将公共电极层划分为多个触控单
元，通过分时复用，即在显示时间段用作公共电极，提供公共(Vcom)电压，以及在触控时间
段用于触控电极，提供触控电容信号，以达到触控与显示集成的效果。在触控显示面板的制
作过程中，通常是先制作基板再进行驱动IC和印刷电路板压合，在制作基板的过程中会对
该阶段的显示效果进行测试，与此同时，也需要对触控电极以及与触控单元连接的触控
(Tx)走线进行测试，否则如果在下一个制作阶段才检测出触控不良，已绑定的芯片和电路
板等物料则被浪费掉，增加不必要的生产成本。
现有技术对触控显示面板进行测试时，由于触控单元数量较多，与各触控单元连
接的接线端子(Bonding pin)细密集中，在未进行模组工艺之前，无法使用电信号检测(ET)
设备对每个pin进行分别测试其电学特性。通常将所有的触控单元的Tx走线通过开关
(Switch)连接在一起，在检查画面时，统一供给Vcom信号，若存在Tx走线断路(Open)时，触
控显示面板就会出现方格显示不良。但是，该方法只能检测出Tx走线或触控单元发生断路
的情况，不能检测出Tx走线或触控单元发生短路(short)的情况，若存在Tx走线或触控单元
发生短路(short)无法检测出来，同样会造成已绑定的芯片和电路板等物料则被浪费掉，增
加不必要的生产成本。
发明内容
本发明实施例提供了一种触控显示面板、其测试方法及显示装置，用以解决现有
技术中存在的无法检测触控电极或触控走线是否存在短路的问题。
本发明实施例提供了一种触控显示面板，包括：衬底基板，位于所述衬底基板的触
控区域的多个呈阵列排布的触控电极，位于所述衬底基板的非触控区域的至少四条测试信
号线，以及连接所述触控电极与对应的所述测试信号线的多条触控走线；其中，
所述触控电极与周围的各所述触控电极对应不同的所述测试信号线；
所述周围的各所述触控电极为所述触控电极沿行方向、列方向以及对角线方向上
相邻的各所述触控电极。
在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述触控显示面板中，所述测
试信号线为四条；
在行方向、列方向以及对角线方向上，与所述触控电极相邻的两个所述触控电极
对应相同的所述测试信号线。
在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述触控显示面板中，还包括：
位于所述非触控区域的分别与各所述测试信号线连接的多个金属测试垫；
所述金属测试垫，用于在测试时间段与电阻检测装置的输入端相连，以及向对应
的所述测试信号线输入测试信号。
在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述触控显示面板中，还包括：
位于所述非触控区域的多个开关晶体管；
各所述触控走线分别通过所述开关晶体管连接至对应的所述测试信号线。
在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述触控显示面板中，还包括：
位于所述非触控区域的与各所述开关晶体管的栅极相连的开关信号线。
在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述触控显示面板中，还包括：
位于所述非触控区域的分别与各所述触控走线连接的金属衬垫；
所述金属衬垫位于所述开关晶体管与对应的触控电极之间，用于连接触控检测芯
片。
在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述触控显示面板中，所述触
控电极和所述触控走线位于不同的膜层；
各所述触控电极通过通孔与对应的所述触控走线相连。
在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述触控显示面板中，各所述
触控电极复用为公共电极。
本发明实施例还提供了一种上述触控显示面板的测试方法，包括：
检测任意两条测试信号线之间的电阻；
判断检测到的电阻是否小于预设阈值；若是，则与电阻小于预设阈值的两条所述
测试信号线相连的两个触控电极之间或两条触控走线之间存在短路。
在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述测试方法中，在所述检测
任意两条测试信号线之间的电阻之前或之后，还包括：
向各所述测试信号线输入相同的测试信号；
检测各所述触控电极所在位置的显示亮度是否存在显示异常；若是，则确定显示
异常所在位置对应的所述触控走线存在断路。
在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述测试方法中，所述触控显
示面板还包括位于所述非触控区域的多个开关晶体管，且各所述触控走线分别通过所述开
关晶体管连接至对应的所述测试信号线；
在所述检测任意两条测试信号线之间的电阻，以及所述向各所述测试信号线输入
相同的测试信号之前，还包括：
开启各所述开关晶体管，以使各所述触控走线与对应的测试信号线导通。
在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述测试方法中，所述触控显
示面板还包括：位于所述非触控区域的与各所述开关晶体管的栅极相连的开关信号线。
所述开启所述开关晶体管，具体包括：
向所述开关信号线输入开启信号。
本发明实施例还提供了另一种上述触控显示面板的测试方法，包括：
向各所述测试信号线输入相同的测试信号；
检测各所述触控电极所在位置的显示亮度是否存在显示异常；若是，则确定显示
异常所在位置对应的所述触控走线存在断路。
本发明实施例还提供了一种显示装置，包括：上述触控显示面板。
本发明有益效果如下：
本发明实施例提供了一种触控显示面板、其测试方法及显示装置，该触控显示面
板，包括：衬底基板，位于衬底基板的触控区域的多个呈阵列排布的触控电极，位于衬底基
板的非触控区域的至少四条测试信号线，以及连接触控电极与对应的测试信号线的多条触
控走线；其中，触控电极与周围的各触控电极对应不同的测试信号线；周围的各触控电极为
触控电极沿行方向、列方向以及对角线方向上相邻的各触控电极。本发明实施例提供的触
控显示面板中，通过在非触控区域设置至少四条测试信号线，且触控电极与周围的各触控
电极对应不同的测试信号线，因而后续可以通过检测任意两个测试信号线之间的电阻，来
判断触控电极或触控走线是否发生短路。
附图说明
图1a为本发明实施例提供的触控显示面板的结构示意图之一；
图1b为本发明实施例提供的触控显示面板的结构示意图之二；
图2a和图2b为本发明实施例中的触控电极的分布示意图；
图3为本发明实施例提供的触控显示面板的结构示意图之三；
图4为本发明实施例提供的上述触控显示面板的测试方法的流程图之一；
图5为本发明实施例提供的上述触控显示面板的测试方法的流程图之二；
其中，100、触控区域；101、触控电极；102、触控走线；103、通孔；200、非触控区域；
201、测试信号线；202、开关晶体管；203、开关信号线；204、金属测试垫；205、金属衬垫；206、
过孔；300、电阻检测装置。
具体实施方式
针对现有技术中存在的无法检测触控电极或触控走线是否存在短路的问题，本发
明实施例提供了一种触控显示面板、其测试方法及显示装置。
下面结合附图，对本发明实施例提供的触控显示面板、其测试方法及显示装置的
具体实施方式进行详细地说明。附图中各部件的大小和形状不反映真实比例，目的只是示
意说明本发明内容。
本发明实施例提供了一种触控显示面板，如图1a和图1b所示，包括：衬底基板，位
于衬底基板的触控区域100的多个呈阵列排布的触控电极101，位于衬底基板的非触控区域
200的至少四条测试信号线201，以及连接触控电极101与对应的测试信号线201的多条触控
走线102；其中，
触控电极101与周围的各触控电极101对应不同的测试信号线201；
周围的各触控电极101为触控电极101沿行方向、列方向以及对角线方向上相邻的
各触控电极101。
本发明实施例提供的触控显示面板中，通过在非触控区域200设置至少四条测试
信号线201，且触控电极101与周围的各触控电极101对应不同的测试信号线201，因而后续
可以通过检测任意两个测试信号线201之间的电阻，来判断触控电极101或触控走线102是
否发生短路。
在具体实施时，上述触控显示面板可以是液晶显示面板，也可以是有机电致发光
显示面板，也可以是其他显示面板。在该触控显示面板的上述触控区域100中，呈阵列排布
的触控电极101可以位于触控显示面板中的任何一个膜层中，也可以部分或者全部利用触
控显示面板中的电极，例如，当触控显示面板为液晶显示面板时，可以使公共电极复用为触
控电极101，即将公共电极分割为多个子电极与各像素单元相对应，并对各子电极进行分时
驱动，在显示时间段作为公共电极，在触控时间段作为触控电极101，在具体实施时，也可以
将触控电极101单独作为一层，此处不做限定。
参照图1a，图中以包含四行四列触控电极，且设置四条测试信号线(T1、T2、T3和T4)
为例进行说明，在实际应用中，还可以包含更多的触控电极以及更多条测试信号线，此处不
对触控电极和测试信号线的数量进行限定。例如，如图1b所示，还可以设置五条测试信号线
(T1、T2、T3、T4和T5)，图1b中只是包含五条测试信号线201的一种连接方式，在具体实施时，包
含五条测试信号线201时还可以采用其他连接方式，此处不一一列举。各触控电极101通过
触控走线102与对应的测试信号线201连接，且触控电极101与周围的各触控电极101对应不
同的测试信号线201，其中周围的各触控电极101为该触控电极101沿行方向、列方向以及对
角线方向上相邻的各触控电极101，从图1a和图1b中可以看出，每一个触控电极101与周围
的各触控电极101对应的测试信号线201都不同。在对该触控显示面板进行电信号检测时，
通过电阻检测装置检测任意两条测试信号线201之间的电阻，在正常情况下，测试信号线
201之间没有电信号连接，即任意两条测试信号线201之间的电阻为无穷大，如果与某两条
测试信号线201相连的触控电极101之间或触控走线102之间存在短路，则这两条测试信号
线201之间的电阻不再是无穷大，因此，可以通过设定预设阈值，例如100kΩ，当检测到两条
测试信号线201之间的电阻小于预设阈值，则与这两条测试信号线201相连的触控电极101
之间或触控走线102之间存在短路，因而可以拦截存在短路情况的触控显示面板，使该触控
显示面板不再进行下面的工艺，避免资源浪费。
在实际应用中，在对该触控显示面板进行电信号检测时，也可以检测出该触控显
示面板中的触控走线102是否存在断路，具体地，可以向各测试信号线201输入相同的测试
信号，例如输入相同的公共电压(Vcom)信号，，由于向各测试信号线201输入的测试信号相
同，各触控电极101所在位置的显示亮度应该大致相同，若某个触控电极101对应的触控走
线102存在断路，则该触控电极101所在位置的显示亮度会出现异常，因此，可以通过检测各
触控电极101所在位置的显示亮度是否存在异常来检测触控走线102是否存在断路，因而可
以拦截存在断路情况的触控显示面板，使该触控显示面板不再进行下面的工艺，避免资源
浪费。
参照图2a和图2b，为了更明了的示意触控电极101与测试信号线201之间的对应关
系，图中仅示出了触控电极101，以不同的填充图案表示对应不同的测试信号线201，例如触
控电极A1与触控电极A2的填充图案不同，则二者连接的测试信号线201不同。图2a为该触控
显示面板包含四条测试信号线201，从图中可以看出，图中各触控电极101与周围的触控电
极101的填充图案均不同，以第二行第二列的触控电极A4为例，该触控电极101在行方向上
相邻的触控电极101为A2，在列方向上相邻的触控电极101为A3，在对角线方向上相邻的触控
电极101为A1，因此，如果触控电极A4与周围的触控电极101相连(即短路)时，则可以通过检
测与这两个触控电极101相连的测试信号线201的电阻检测出来。图2b为该触控显示面板仅
包含三条测试信号线201，则不能保证触控电极101与周围的触控电极101对应的测试信号
线201均不同，从图2b中可以看出，每一个触控电极101与对角线方向上相邻的触控电极101
对应的测试信号线201相同，则当处于对角线方向上相邻的两个触控电极101短路时，对应
的测试信号线201为同一条，任何两个测试信号线201之间的电阻都没有变化，因此，仅包含
三条测试信号线201时，不能将所有短路的情况都检测出来，存在漏检的情况。因此，上述触
控显示面板最少包含四条测试信号线201。
具体地，本发明实施例提供的上述触控显示面板中，参照图2a，上述测试信号线
201优选为四条；
在行方向、列方向以及对角线方向上，与触控电极101相邻的两个触控电极101对
应相同的测试信号线201，例如图2a中第二行第二列的触控电极A4，行方向上相邻的触控电
极101均为A2，列方向上相邻的触控电极101均为A3，对角线方向上相邻的触控电极101均为
A1。
根据上述分析，上述测试信号线201至少为四条，将测试信号线201设置为四条时，
一方面，可以保证所有的短路的情况均可以被检测到，从而避免存在短路情况的漏检，另一
方面，在能够检测所有的短路的情况下使用的测试信号线201最少，在电信号检测时，需要
检测任意两条测试信号线201之间的电阻，将测试信号线201设置为四条，在电信号检测时，
仅需检测六次就能得到任意两个测试信号线201之间的电阻，检测时间最短，从而可以节约
成本。
进一步地，本发明实施例提供的上述触控显示面板中，如图3所示，还可以包括：位
于非触控区域200的分别与各测试信号线201连接的多个金属测试垫204；
金属测试垫204，用于在测试时间段与电阻检测装置300的输入端相连，以及向对
应的测试信号线201输入测试信号。
通过设置与各测试信号线201连接的金属测试垫204，由于金属测试垫204的宽度
一般比测试信号线201的宽度大很多，在测试时间段，通过金属测试垫204使电阻检测装置
300与测试信号线201电连接，相比于电阻检测装置300直接与测试信号线201连接，操作更
加方便，也可以避免由于电阻检测装置300与测试信号线201之间的连接不良，导致误测，同
理，在检测断路时，通过金属测试垫204对测试信号线201输入测试信号，也比较容易操作。
如图1a、图1b和图3所示，本发明实施例提供的上述触控显示面板中，还可以包括：
位于非触控区域200的多个开关晶体管202；
各触控走线102分别通过开关晶体管202连接至对应的测试信号线201。
具体地，可以将各开关晶体管202的源极(或漏极)与触控走线102相连，漏极(或源
极)与对应的测试信号线201相连，在测试时间段，在进行短路或断路检测之前，向各开关晶
体管202施加高电平，使各触控走线102与对应的测试信号线201导通，在短路或断路检测之
后，再向各开关晶体管202施加低电平，使各触控走线102与对应的测试信号线201断开，这
样可以避免各测试信号线201影响该触控显示面板在显示时间段或触控时间段的显示或者
触控检测效果。
进一步地，本发明实施例提供的上述触控显示面板中，还可以包括：位于非触控区
域200的与各开关晶体管202的栅极相连的开关信号线203。
由于各开关晶体管202可以同时导通和断开，因此，可以设置开关信号线203与各
开关晶体管202相连，这样在测试时间段，在进行短路或断路检测之前，通过向开关信号线
203施加高电平，使各触控走线102与对应的测试信号线201导通，在短路或断路检测之后，
再向各开关信号线203施加低电平，使各触控走线102与对应的测试信号线201断开，从而避
免逐个操作各开关晶体管202，使操作更加方便。
进一步地，本发明实施例提供的上述触控显示面板中，如图3所示，还可以包括：位
于非触控区域200的分别与各触控走线102连接的金属衬垫205；
金属衬垫205位于开关晶体管202与对应的触控电极101之间，用于连接触控检测
芯片。
只有在测试时间段没有检测出短路或断路的触控显示面板，后续才绑定触控检测
芯片，需要预留出与触控检测芯片进行绑定的金属衬垫205，如图3所示，在实际工艺过程
中，金属衬垫205也有可能与触控走线102不在同一膜层，此时，可以设置连接金属衬垫205
与对应触控走线102的多个过孔206，且一个金属衬垫205优选为对应多个过孔206，防止由
于接触不良导致断路。上述触控检测芯片可以是仅具有触控检测功能的芯片，也可以是具
有触控检测和显示驱动集成在一起的芯片，此处不做限定。
在实际应用中，本发明实施例提供的上述触控显示面板中，如图1a、图1b和图3所
示，触控电极101和触控走线102位于不同的膜层；
各触控电极101通过通孔103与对应的触控走线102相连。
图中，触控走线102上的圆圈表示通孔103，一般一个触控电极101对应多个通孔
103与触控走线102相连，避免由于接触不良，导致触控电极101与对应的触控走线102断路。
在实际应用中，本发明实施例提供的上述触控显示面板中，各触控电极101复用为
公共电极，即公共电极层分割为多个子电极与各像素单元相对应，通过对各子电极进行分
时驱动，在显示时间段作为公共电极，在触控时间段作为触控电极101，从而实现触控电极
101复用为公共电极，该触控电极101优选为自电容电极，也可以是互电容电极中的触控感
测电极或触控驱动电极，此处不做限定。
基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种上述触控显示面板的测试方法，
由于该测试方法解决问题的原理与上述触控显示面板相似，因此该测试方法的实施可以参
见上述触控显示面板的实施，重复之处不再赘述。
本发明实施例提供的上述触控显示面板的测试方法，如图4所示，包括：
S401、检测任意两条测试信号线之间的电阻；
S402、判断检测到的电阻是否小于预设阈值；若是，则与电阻小于预设阈值的两条
所述测试信号线相连的两个触控电极之间或两条触控走线之间存在短路。
如图3所示，上述步骤S401中，可以通过电阻检测装置300来检测任意两条测试信
号线201之间的电阻，具体地，电阻检测装置300可以检测任意两条测试信号线201之间的电
阻，可以将金属测试垫204与电阻检测装置300的输入端相连。参照图3，在正常情况下，测试
信号线201之间没有电信号连接，即任意两条测试信号线201之间的电阻为无穷大，如果与
某两条测试信号线201相连的触控电极101之间或触控走线102之间存在短路，则这两条测
试信号线201之间的电阻不再是无穷大，因此，上述步骤S402中，可以通过设定预设阈值，例
如100kΩ，判断检测到的电阻是否小于预设阈值，若是，则与对应的两条测试信号线201相
连的触控电极101之间或触控走线102之间存在短路，该触控显示面板不合格；若否，该触控
显示面板上不存在短路。在具体实施时，可以将步骤S402的功能也集成于上述电阻检测装
置300中，当检测到的电阻小于预设阈值时，该电阻检测装置300可以通过报警的方式提示
操作员该触控显示面板不合格。当然也可以通过控制器(例如计算机等具有数据处理功能
的设备)采集电阻检测装置300测量的电阻，并将得到的电阻与预设阈值比较。因而可以拦
截存在短路情况的触控显示面板，使该触控显示面板不再进行下面的工艺，避免资源浪费。
进一步地，本发明实施例提供的上述测试方法中，如图5所示，在上述步骤S401之
前或之后，还可以包括：
S501、向各所述测试信号线输入相同的测试信号；
S502、检测各所述触控电极所在位置的显示亮度是否存在显示异常；若是，则确定
显示异常所在位置对应的所述触控走线存在断路。
参照图3，上述步骤S501中，可以通过各金属测试垫204向对应的各测试信号线201
输入相同的测试信号。由于向各测试信号线201输入的测试信号相同，例如输入相同的公共
电压(Vcom)信号，在正常情况下，由于向各测试信号线201输入的测试信号相同，各触控电
极101所在位置的显示亮度应该大致相同，若某个触控电极101对应的触控走线102存在断
路，则该触控电极101所在位置的显示亮度会出现异常，因此，在步骤S502中，可以通过检测
各触控电极101所在位置的显示亮度是否存在显示异常，来判断各触控走线102是否存在断
路。因而可以拦截存在断路情况的触控显示面板，使该触控显示面板不再进行下面的工艺，
避免资源浪费。
本发明实施例提供的上述测试方法，可以判断触控电极或触控走线是否发生短
路，也可以判断出各触控走线是否存在短路，上述步骤S501可以在上述步骤S401之前，也可
以在上述步骤S401之后，此处不对检测短路和断路的顺序进行限定。
如图1a、图1b和图3所示，在实际应用中，上述触控显示面板还可以包括位于非触
控区域100的多个开关晶体管202，且各触控走线102分别通过开关晶体管202连接至对应的
测试信号线201；
在上述步骤S401以及上述步骤S501之前，还可以包括：
开启各所述开关晶体管，以使各所述触控走线与对应的测试信号线导通。
具体地，可以向各开关晶体管202的栅极施加高电平，使各触控走线102与对应的
测试信号线201导通，在上述步骤S402以及上述步骤S502之后，再向各开关晶体管202施加
低电平，使各触控走线102与对应的测试信号线201断开，这样可以避免各测试信号线201影
响该触控显示面板在显示时间段或触控时间段的显示或者触控检测效果。
同样参照图1a、图1b和图3，在具体实施时，上述触控显示面板还可以包括：位于非
触控区域200的与各开关晶体管202的栅极相连的开关信号线203。
所述开启所述开关晶体管，具体包括：
向所述开关信号线输入开启信号。
具体地，可以通过向开关信号线203施加高电平，使各触控走线102与对应的测试
信号线201导通，在短路或断路检测之后，再向各开关信号线203施加低电平，使各触控走线
102与对应的测试信号线201断开，从而避免逐个操作各开关晶体管202，使操作更加方便。
基于同一发明构思，本发明实施例还提供了另一种上述触控显示面板的测试方
法，由于该测试方法解决问题的原理与上述触控显示面板相似，因此该测试方法的实施可
以参见上述触控显示面板的实施，重复之处不再赘述。
本发明实施例提供的另一种上述触控显示面板的测试方法，包括：
向各测试信号线输入相同的测试信号；
检测各触控电极所在位置的显示亮度是否存在显示异常；若是，则确定显示异常
所在位置对应的触控走线存在断路。
本实施例提供的测试方法与图5所示的测试方法类似，不同之处在于，本实施例提
供的测试方法可以利用上述触控显示面板单独检测是否发生短路，与图5所示的实施例的
重复之处不再赘述。
基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括上述触控显示面
板，该显示装置可以应用于手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪
等任何具有显示功能的产品或部件。由于该显示装置解决问题的原理与上述触控显示面板
相似，因此该显示装置的实施可以参见上述触控显示面板的实施，重复之处不再赘述。
本发明实施例提供的触控显示面板、其测试方法及显示装置中，通过在非触控区
域设置至少四条测试信号线，且触控电极与周围的各触控电极对应不同的测试信号线，因
而后续可以通过检测任意两个测试信号线之间的电阻，来判断触控电极或触控走线是否发
生短路。此外，通过向各测试信号线输入相同的测试信号，并检测各触控电极所在位置的显
示亮度是否存在显示异常，也可以判断出各触控走线是否存在断路。因而可以拦截存在短
路和断路情况的触控显示面板，使该触控显示面板不再进行下面的工艺，提升模组段制程
良率，避免资源浪费。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精
神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围
之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。