一种PLC型光分路器测试方法.pdf

上传人:a**** 文档编号:5875875 上传时间:2019-03-28 格式:PDF 页数:6 大小:368.60KB
返回 下载 相关 举报
摘要
申请专利号:

CN201010581746.8

申请日:

2010.12.10

公开号:

CN102192830A

公开日:

2011.09.21

当前法律状态:

授权

有效性:

有权

法律详情:

专利权的转移IPC(主分类):G01M11/02变更事项:专利权人变更前权利人:上海霍普光通信有限公司变更后权利人:上海乐通通信设备(集团)股份有限公司变更事项:地址变更前权利人:200135 上海市浦东新区崮山路951号蓝星大厦西楼变更后权利人:200233 上海市徐汇区钦江路99号2号楼变更事项:专利权人变更后权利人:上海霍普光通信有限公司 上海乐通通信技术有限公司 河南诚和通信科技有限公司登记生效日:20150330|||授权|||实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/02申请日:20101210|||公开

IPC分类号:

G01M11/02

主分类号:

G01M11/02

申请人:

上海霍普光通信有限公司

发明人:

李德红; 骆升; 王承波; 侯戟; 乐志强

地址:

200135 上海市浦东新区崮山路951号蓝星大厦西楼

优先权:

专利代理机构:

上海天翔知识产权代理有限公司 31224

代理人:

吕伴

PDF下载: PDF下载
内容摘要

一种PLC型光分路器测试方法,它的光源由一根光源线输出,输出的光源线进8通道功率计的8个探测口分别校准,测试初始值p0即可;后光源线与待测PLC的单纤连接起来,PLC的带纤通过带纤熔接机与带纤分支器连接起来,PLC成品测试则是选择匹配的8根连接器,每根连接器分别与8通道光功率计连接。然后选择PDL模式,由电脑自动控制3波长光源内光开关的切换和8通道功率计内偏振控制器的动作,可以一次性完成对8通道对应3个波长的插入损耗和偏振相关损耗的同时测试。本发明提供的PLC型光分路器测试方法操作步骤简单,测试效率,节约测试人员人工成本。同时又有利于对该类产品的生产管理,从而提高企业的生产效率和竞争力。

权利要求书

1.一种PLC型光分路器测试方法,其特征在于,将3波长光源经8通道功率计连起来,由一根光源线输出;将输出的上述光源线进上述8通道功率计的8个探测口分别校准,测试初始值即可;将后光源线与待测PLC的单纤连接起来,带纤通过带纤熔接机与带纤分支器连接起来,上述带纤分支器的8个连接器分别按顺序插入上述8通道光功率计中进行测试,上述PLC成品测试则是选择匹配的8根连接器,每根连接器分别与8通道光功率计连接;以及然后选择PDL模式,可以对8通道对应三个波长的插入损耗和偏振相关损耗一次测试完成。2.如权利要求所述的PLC型光分路器测试方法,其特征在于,所述3波长光源的三种波长为1310、1550、1490nm。

说明书

一种PLC型光分路器测试方法

技术领域:

本发明涉及一种PLC型光分路器的测试方法

背景技术

随着光纤到户(FTTH)的逐渐发展,市场对均分宽带型多分路分路器的需求在迅速地增长。与传统的拉锥型分路器相比,平面波导型(PLC)器件材料和封装技术不断提高,使得PLC分路器不仅在技术指标上,而且在生产成本和规模上,都越来越体现出它的优势。

在图1典型的E/GPON接入解决方案中,ODN处为光分路器1:N即PLC型光分路器。

传统的PLC型光分路器的测试方法参见图2,这是一种单通道单项指标单个波长逐次测量方法。测试步骤为先将3波长(例如,1310nm、1550nm、1490nm的光源通过光开关分别对这3个波长的光源校零,后将待测PLC型光分路器(DUT)接入如图所示光路中,对每通道的每个波长分别测试其插入损耗IL,偏振相关损耗PDL。这种测试方法的缺点就是测试时间长,测试效率极低。

发明内容

本发明的目的是提供一种操作步骤简单且测试效率高的PLC型光分路器测试方法,实现多通道多项指标多个波长一次完成测量。

为实现上述目的,本发明提供的一种PLC型光分路器测试方法:它包括以下步骤:

将光开关集成到3波长光源并经8通道功率计连起来,将偏振控制器集成到8通道功率计,由电脑统一控制。光源由一根光源线输出,输出的光源线进8通道功率计的8个探测口分别校准,测试初始值p0即可;后光源线与待测PLC的单纤连接起来,PLC的带纤通过带纤熔接机与带纤分支器连接起来,带纤分支器的8个连接器分别按顺序插入8通道光功率计中进行测试,PLC成品测试则是选择匹配的8根连接器,每根连接器分别与8通道光功率计连接。然后选择PDL模式,由电脑自动控制3波长光源内光开关的切换和8通道功率计内偏振控制器的动作,可以一次性完成对8通道对应3个波长的插入损耗和偏振相关损耗的同时测试。

本发明提供的PLC型光分路器测试方法操作步骤简单,测试效率,节约测试人员人工成本。同时又有利于对该类产品的生产管理,从而提高企业的生产效率和竞争力,可适用不同光分路数的光分路器:既适用于所有的PLC型光分路器,又适用于熔融拉锥型(FTB)光分路器的产品测试。另外,降低人为测试误差,使结果更具科学性,有效性。

附图说明

图1是本发明的PLC型光分路器的使用状态图。

图2是现有技术的PLC型光分路器的测试方法的原理框图。

图3是本发明的PLC型光分路器的测试方法的原理框图。

下面结合附图对本发明作详细说明。

具体实施方式

参见图3,本发明的实施例是8通道光功率计(8CH PM),此台设备整合了传统测试设备的3台光源,例如,波长为1310、1550、1490纳米(nm)、1台3向切换光开关和1台偏振控制器和8台单通道光功率计,而8通道光功率计与电脑(图中未示出)相连接,测试数据可以在测试结束后按实际需要选定。

本发明提供的方法是:将上述3向切换光开关集成到上述3波长光源上并经上述8通道功率计连起来,将偏振控制器集成到8通道功率计,由电脑统一控制。光源由一根光源线输出,输出的光源线经上述8通道功率计的8个探测口分别校准,并测试初始值p0即可;后光源线与待测PLC的单纤连接起来,PLC的带纤通过带纤熔接机与带纤分支器连接起来,带纤分支器的8个连接器分别按顺序插入到上述8通道光功率计中进行测试,PLC成品测试则是选择匹配的8根连接器,每根连接器分别与8通道光功率计连接。然后选择PDL模式,由电脑自动控制3波长光源内光开关的切换和8通道功率计内偏振控制器的动作,这样可以一次性完成对8通道对应3个波长的插入损耗和偏振相关损耗的同时测试。从而节约测试人员人工成本。同时又有利于对该类产品的生产管理,从而提高企业的生产效率和竞争力。

以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征和本发明的优点。本领域的技术人员应该了解,本发明不受上述具体实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。

一种PLC型光分路器测试方法.pdf_第1页
第1页 / 共6页
一种PLC型光分路器测试方法.pdf_第2页
第2页 / 共6页
一种PLC型光分路器测试方法.pdf_第3页
第3页 / 共6页
点击查看更多>>
资源描述

《一种PLC型光分路器测试方法.pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《一种PLC型光分路器测试方法.pdf(6页珍藏版)》请在专利查询网上搜索。

1、(10)申请公布号 CN 102192830 A (43)申请公布日 2011.09.21 CN 102192830 A *CN102192830A* (21)申请号 201010581746.8 (22)申请日 2010.12.10 G01M 11/02(2006.01) (71)申请人 上海霍普光通信有限公司 地址 200135 上海市浦东新区崮山路 951 号 蓝星大厦西楼 (72)发明人 李德红 骆升 王承波 侯戟 乐志强 (74)专利代理机构 上海天翔知识产权代理有限 公司 31224 代理人 吕伴 (54) 发明名称 一种 PLC 型光分路器测试方法 (57) 摘要 一种 PLC 。

2、型光分路器测试方法, 它的光源由 一根光源线输出, 输出的光源线进 8 通道功率计 的 8 个探测口分别校准, 测试初始值 p0 即可 ; 后 光源线与待测PLC的单纤连接起来, PLC的带纤通 过带纤熔接机与带纤分支器连接起来, PLC 成品 测试则是选择匹配的 8 根连接器, 每根连接器分 别与8通道光功率计连接。 然后选择PDL 模式, 由 电脑自动控制 3 波长光源内光开关的切换和 8 通 道功率计内偏振控制器的动作, 可以一次性完成 对 8 通道对应 3 个波长的插入损耗和偏振相关损 耗的同时测试。本发明提供的 PLC 型光分路器测 试方法操作步骤简单, 测试效率, 节约测试人员人 。

3、工成本。 同时又有利于对该类产品的生产管理, 从 而提高企业的生产效率和竞争力。 (51)Int.Cl. (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书 1 页 说明书 2 页 附图 2 页 CN 102192836 A1/1 页 2 1. 一种 PLC 型光分路器测试方法, 其特征在于, 将 3 波长光源经 8 通道功率计连起来, 由一根光源线输出 ; 将输出的上述光源线进上述 8 通道功率计的 8 个探测口分别校准, 测试初始值即可 ; 将后光源线与待测 PLC 的单纤连接起来, 带纤通过带纤熔接机与带纤分支器连接起 来, 上述带纤分支器的 8 个连接器分别按顺序插。

4、入上述 8 通道光功率计中进行测试, 上述 PLC 成品测试则是选择匹配的 8 根连接器, 每根连接器分别与 8 通道光功率计连接 ; 以及 然后选择 PDL 模式, 可以对 8 通道对应三个波长的插入损耗和偏振相关损耗一次测试 完成。 2.如权利要求所述的PLC型光分路器测试方法, 其特征在于, 所述3波长光源的三种波 长为 1310、 1550、 1490nm。 权 利 要 求 书 CN 102192830 A CN 102192836 A1/2 页 3 一种 PLC 型光分路器测试方法 技术领域 : 0001 本发明涉及一种 PLC 型光分路器的测试方法 背景技术 0002 随着光纤到户。

5、 (FTTH) 的逐渐发展, 市场对均分宽带型多分路分路器的需求在迅 速地增长。与传统的拉锥型分路器相比, 平面波导型 (PLC) 器件材料和封装技术不断提高, 使得 PLC 分路器不仅在技术指标上, 而且在生产成本和规模上, 都越来越体现出它的优势。 0003 在图1典型的E/GPON接入解决方案中, ODN处为光分路器1:N即PLC型光分路器。 0004 传统的 PLC 型光分路器的测试方法参见图 2, 这是一种单通道单项指标单个波长 逐次测量方法。测试步骤为先将 3 波长 ( 例如, 1310nm、 1550nm、 1490nm 的光源通过光开关 分别对这 3 个波长的光源校零, 后将待。

6、测 PLC 型光分路器 (DUT) 接入如图所示光路中, 对每 通道的每个波长分别测试其插入损耗 IL, 偏振相关损耗 PDL。这种测试方法的缺点就是测 试时间长, 测试效率极低。 发明内容 0005 本发明的目的是提供一种操作步骤简单且测试效率高的 PLC 型光分路器测试方 法, 实现多通道多项指标多个波长一次完成测量。 0006 为实现上述目的, 本发明提供的一种 PLC 型光分路器测试方法 : 它包括以下步骤 : 0007 将光开关集成到 3 波长光源并经 8 通道功率计连起来, 将偏振控制器集成到 8 通 道功率计, 由电脑统一控制。光源由一根光源线输出, 输出的光源线进 8 通道功率。

7、计的 8 个 探测口分别校准, 测试初始值 p0 即可 ; 后光源线与待测 PLC 的单纤连接起来, PLC 的带纤通 过带纤熔接机与带纤分支器连接起来, 带纤分支器的 8 个连接器分别按顺序插入 8 通道光 功率计中进行测试, PLC 成品测试则是选择匹配的 8 根连接器, 每根连接器分别与 8 通道光 功率计连接。然后选择 PDL 模式, 由电脑自动控制 3 波长光源内光开关的切换和 8 通道功 率计内偏振控制器的动作, 可以一次性完成对 8 通道对应 3 个波长的插入损耗和偏振相关 损耗的同时测试。 0008 本发明提供的 PLC 型光分路器测试方法操作步骤简单, 测试效率, 节约测试人。

8、员 人工成本。 同时又有利于对该类产品的生产管理, 从而提高企业的生产效率和竞争力, 可适 用不同光分路数的光分路器 : 既适用于所有的 PLC 型光分路器, 又适用于熔融拉锥型 (FTB) 光分路器的产品测试。另外, 降低人为测试误差, 使结果更具科学性, 有效性。 附图说明 0009 图 1 是本发明的 PLC 型光分路器的使用状态图。 0010 图 2 是现有技术的 PLC 型光分路器的测试方法的原理框图。 0011 图 3 是本发明的 PLC 型光分路器的测试方法的原理框图。 0012 下面结合附图对本发明作详细说明。 说 明 书 CN 102192830 A CN 102192836。

9、 A2/2 页 4 具体实施方式 0013 参见图3, 本发明的实施例是8通道光功率计(8CH PM), 此台设备整合了传统测试 设备的 3 台光源, 例如, 波长为 1310、 1550、 1490 纳米 (nm)、 1 台 3 向切换光开关和 1 台偏振 控制器和 8 台单通道光功率计, 而 8 通道光功率计与电脑 ( 图中未示出 ) 相连接, 测试数据 可以在测试结束后按实际需要选定。 0014 本发明提供的方法是 : 将上述 3 向切换光开关集成到上述 3 波长光源上并经上述 8 通道功率计连起来, 将偏振控制器集成到 8 通道功率计, 由电脑统一控制。光源由一根光 源线输出, 输出的。

10、光源线经上述 8 通道功率计的 8 个探测口分别校准, 并测试初始值 p0 即 可 ; 后光源线与待测 PLC 的单纤连接起来, PLC 的带纤通过带纤熔接机与带纤分支器连接起 来, 带纤分支器的 8 个连接器分别按顺序插入到上述 8 通道光功率计中进行测试, PLC 成品 测试则是选择匹配的 8 根连接器, 每根连接器分别与 8 通道光功率计连接。然后选择 PDL 模式, 由电脑自动控制3波长光源内光开关的切换和8通道功率计内偏振控制器的动作, 这 样可以一次性完成对 8 通道对应 3 个波长的插入损耗和偏振相关损耗的同时测试。从而节 约测试人员人工成本。同时又有利于对该类产品的生产管理, 从而提高企业的生产效率和 竞争力。 0015 以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征和本发明的优点。 本领域的技术 人员应该了解, 本发明不受上述具体实施例的限制, 上述实施例和说明书中描述的只是说 明本发明的原理, 在不脱离本发明精神和范围的前提下, 本发明还会有各种变化和改进, 这 些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。 说 明 书 CN 102192830 A CN 102192836 A1/2 页 5 图 1 说 明 书 附 图 CN 102192830 A CN 102192836 A2/2 页 6 图 2 图 3 说 明 书 附 图 CN 102192830 A 。

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
相关搜索

当前位置:首页 > 物理 > 测量;测试


copyright@ 2017-2020 zhuanlichaxun.net网站版权所有
经营许可证编号:粤ICP备2021068784号-1