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1、(10)申请公布号 CN 103842157 A (43)申请公布日 2014.06.04 CN 103842157 A (21)申请号 201280049005.2 (22)申请日 2012.08.01 1113612.4 2011.08.05 GB B29C 67/00(2006.01) B22F 3/105(2006.01) B29C 35/08(2006.01) B29B 13/08(2006.01) (71)申请人 拉夫伯勒大学 地址 英国莱斯特郡 (72)发明人 尼尔霍普金森 海伦里安农托马斯 (74)专利代理机构 北京安信方达知识产权代理 有限公司 11262 代理人 张华卿 郑。
2、霞 (54) 发明名称 用于选择性结合微粒材料的方法和装置 (57) 摘要 一种选择性地结合微粒材料的方法和装置, 包括 :(i) 对部分床提供微粒材料的层 (10) ;(ii) 提供辐射以烧结该层的材料的一部分 ;(iii) 提 供覆盖微粒材料的在先层 (包括材料的先前被烧 结的部分) 的微粒材料的另外的层 ;(iv) 提供辐 射以烧结覆盖的另外的层中的材料的另外的部分 并且以烧结所述另外的部分与在先层中的材料的 先前被烧结的部分 ;(v)连续地重复框 (iii)和 (iv) 以形成三维物体 ; 且其中微粒材料的各层中 的至少一些在烧结相应层的材料的一部分之前用 加热器 (51) 预热, 该。
3、加热器被配置为相对于微粒 材料并且接近微粒材料移动。 (30)优先权数据 (85)PCT国际申请进入国家阶段日 2014.04.04 (86)PCT国际申请的申请数据 PCT/GB2012/051866 2012.08.01 (87)PCT国际申请的公布数据 WO2013/021173 EN 2013.02.14 (51)Int.Cl. 权利要求书 5 页 说明书 19 页 附图 8 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书5页 说明书19页 附图8页 (10)申请公布号 CN 103842157 A CN 103842157 A 1/5 页 2 1. 一种选。
4、择性地结合微粒材料的方法, 包括 : (i) 对部分床提供微粒材料的层 ; (ii) 提供辐射以烧结所述层的所述材料的一部分 ; (iii) 提供覆盖微粒材料的在先层的微粒材料的另外的层, 所述微粒材料的在先层包 括材料的先前被烧结的部分 ; (iv) 提供辐射以烧结覆盖的另外的层中的所述材料的另外的部分并且以烧结所述另 外的部分与所述在先层中的材料的所述先前被烧结的部分 ; (v) 连续地重复框 (iii) 和 (iv) 以形成三维物体 ; 且 其中微粒材料的所述层中的至少一些在烧结相应层的所述材料的一部分之前用加热 器预热, 所述加热器被配置为相对于所述微粒材料并且接近所述微粒材料移动。 。
5、2. 如权利要求 1 所述的方法, 其中所述加热器被配置为在所述微粒材料的 100mm 之内 移动。 3. 如权利要求 1 或 2 所述的方法, 其中所述加热器被布置为加热微粒材料的所述层中 的至少一些以阻止微粒材料的至少一个下面层冷却至其卷曲的温度。 4. 如前述权利要求中任一项所述的方法, 其中用于提供辐射的辐射源包括反射设备, 所述反射设备界定椭圆构型。 5. 如前述权利要求中任一项所述的方法, 还包括测量所述微粒材料的温度 ; 以及利用 所测得的温度控制微粒材料的所述层的预热。 6. 如前述权利要求中任一项所述的方法, 其中所述加热器发射一系列波长, 所述一系 列波长具有不同于用于提供。
6、引起烧结的辐射的辐射源的峰值波长的峰值波长。 7. 如前述权利要求中任一项所述的方法, 其中微粒材料的所述层基本上仅仅通过所述 加热器来预热。 8. 如前述权利要求中任一项所述的方法, 还包括确定所述材料的被烧结的部分的温度 以及利用所确定的温度来控制提供到所述被烧结的部分的能量。 9. 如权利要求 8 所述的方法, 其中如果所确定的温度小于阈值温度, 则增加提供到所 述被烧结的部分的能量。 10. 如权利要求 8 或 9 所述的方法, 其中如果所确定的温度大于阈值温度, 则减少提供 到所述被烧结的部分的能量。 11. 如权利要求 8 至 10 中任一项所述的方法, 其中传感器被用于确定所述被。
7、烧结的部 分的温度。 12. 如权利要求 11 所述的方法, 其中所述传感器是红外照相机、 单个高温计或高温计 阵列。 13. 如前述权利要求中任一项所述的方法, 还包括确定来自用于提供辐射的辐射源的 输出能量并且响应于所确定的输出能量而控制所述辐射源的能量的输出。 14. 如前述权利要求中任一项所述的方法, 其中用于提供辐射的辐射源与所述加热器 不同。 15. 如前述权利要求中任一项所述的方法, 其中预热微粒材料的所述层的所述加热器 包括用于提供辐射的辐射源。 16. 如前述权利要求中任一项所述的方法, 其中多个辐射源被配置为提供辐射。 权 利 要 求 书 CN 103842157 A 2 。
8、2/5 页 3 17. 如权利要求 16 所述的方法, 其中所述多个辐射源中的至少一些提供具有不同的峰 值波长的辐射。 18.如权利要求16或17所述的方法, 其中一个或多个滤波器被配置为过滤由所述多个 辐射源中的至少一些提供的辐射。 19.如权利要求16至18中任一项所述的方法, 其中所述多个辐射源中的至少一些是独 立可控制的以对所述微粒材料提供辐射。 20.如权利要求16至19中任一项所述的方法, 其中所述多个辐射源中的至少一些形成 所述加热器。 21. 如前述权利要求中任一项所述的方法, 其中支撑物被配置为接收所述微粒材料, 所 述支撑物包括相对于所述支撑物可移动的多个壁。 22. 如权。
9、利要求 21 所述的方法, 其中所述多个壁中的至少一些包括用于加热所述微粒 材料的加热器。 23. 如前述权利要求中任一项所述的方法, 还包括对待烧结的所述微粒材料提供材料 以改变待烧结的所述微粒材料的性能。 24. 如前述权利要求中任一项所述的方法, 还包括 : 改变框 (ii) 中所提供的辐射穿过所述层的选定的表面部分的吸收以烧结所述层的所 述材料的一部分 ; 以及 改变框 (iv) 中所提供的辐射穿过所述另外的层的选定的表面部分的吸收以烧结所述 覆盖的另外的层中的所述材料的另外的部分并且以烧结所述另外的部分与所述在先层中 的材料的所述先前被烧结的部分。 25. 如权利要求 24 所述的方。
10、法, 其中辐射吸收的变化通过分别在所述层和所述另外的 层的所述选定的表面部分之上提供一定量的辐射吸收剂材料而获得。 26. 如权利要求 25 所述的方法, 其中微粒材料的所述层大体紧接在微粒材料的所述层 被提供之后并且大体在所述辐射吸收剂材料被提供在所述层的所述选定的表面部分之上 之前被预热。 27. 如权利要求 25 所述的方法, 其中微粒材料的所述层在所述辐射吸收剂材料被提供 在所述层的所述选定的表面部分之上之前通过所述加热器预热至少两次。 28. 如权利要求 25 至 28 中任一项所述的方法, 其中所述辐射吸收材料由印刷头提供, 所述印刷头包括用于控制所述辐射吸收剂材料的温度的相关联的。
11、热控制设备。 29.如权利要求25至28中任一项所述的方法, 其中红外吸收颜料或染料被提供有所述 辐射吸收剂材料。 30.如权利要求25至29中任一项所述的方法, 其中所述辐射吸收剂材料具有不同于黑 色的颜色。 31. 如权利要求 25 至 30 中任一项所述的方法, 其中设备包括壳体、 用于提供第一辐射 吸收剂材料的第一印刷头、 辊和第一辐射源。 32. 如权利要求 31 所述的方法, 其中所述第一印刷头被定位于所述辊和所述第一辐射 源之间。 33. 如权利要求 31 或 32 所述的方法, 其中所述设备还包括第二辐射源, 所述第二辐射 源定位为邻近所述辊。 权 利 要 求 书 CN 103。
12、842157 A 3 3/5 页 4 34. 如权利要求 31 至 33 中任一项所述的方法, 其中所述设备还包括第二印刷头, 所述 第二印刷头用于提供第二辐射吸收剂材料。 35.如权利要求25至34中任一项所述的方法, 还包括测量预定区域的辐射吸收剂材料 的输出以及确定所测量的输出是否落入预定范围之内。 36. 如前述权利要求中任一项所述的方法, 其中所述微粒材料包括聚合物、 陶瓷和金属 中的至少一种。 37. 一种非暂时性的计算机可读的存储介质, 其编码有在由处理器执行时引起如权利 要求 1 至 36 中任一项所述的方法的执行的指令。 38.一种计算机程序, 当在计算机上运行时, 所述计算。
13、机程序执行如权利要求1至36中 任一项所述的方法。 39. 一种用于选择性地结合微粒材料的装置, 包括控制器, 所述控制器被配置为 : (i) 控制对部分床提供微粒材料的层 ; (ii) 控制辐射的提供以烧结所述层的所述材料的一部分 ; (iii) 控制覆盖微粒材料的在先层的微粒材料的另外的层的提供, 所述微粒材料的在 先层包括材料的先前被烧结的部分 ; (iv) 控制辐射的提供以烧结覆盖的另外的层中的所述材料的另外的部分并且以烧结 所述另外的部分与所述在先层中的材料的所述先前被烧结的部分 ; (v) 控制连续重复框 (iii) 和 (iv) 以形成三维物体 ; 且 其中微粒材料的所述层中的至。
14、少一些在烧结相应层的所述材料的一部分之前用加热 器预热, 所述加热器被配置为相对于所述微粒材料并且接近所述微粒材料移动。 40. 如权利要求 39 所述的装置, 其中所述加热器被配置为在所述微粒材料的 100mm 之 内移动。 41.如权利要求39或40所述的装置, 其中所述加热器被布置为加热微粒材料的所述层 中的至少一些以阻止微粒材料的至少一个下面层冷却至其卷曲的温度。 42. 如权利要求 39 至 41 中任一项所述的装置, 还包括辐射源, 所述辐射源用于提供辐 射, 所述辐射源包括反射设备, 所述反射设备界定椭圆构型。 43. 如权利要求 39 至 42 中任一项所述的装置, 还包括传感。
15、器, 所述传感器被配置为测 量所述微粒材料的温度 ; 并且所述控制器被配置为利用所测得的温度控制微粒材料的所述 层的预热。 44.如权利要求39至43中任一项所述的装置, 其中所述加热器被配置为发射一系列波 长, 所述一系列波长具有不同于用于提供辐射的辐射源的峰值波长的峰值波长。 45.如权利要求39至44中任一项所述的装置, 其中微粒材料的所述层基本上仅仅通过 所述加热器来预热。 46. 如权利要求 39 至 45 中任一项所述的装置, 还包括传感器, 所述传感器被配置为确 定所述材料的被烧结的部分的温度, 并且所述控制器被配置为利用所确定的温度来控制提 供到所述被烧结的部分的能量。 47.。
16、 如权利要求 46 所述的装置, 其中如果所确定的温度小于阈值温度, 则增加提供到 所述被烧结的部分的能量。 48. 如权利要求 46 或 47 所述的装置, 其中如果所确定的温度大于阈值温度, 则减少提 权 利 要 求 书 CN 103842157 A 4 4/5 页 5 供到所述被烧结的部分的能量。 49. 如权利要求 46 至 48 中任一项所述的装置, 其中所述传感器是红外照相机、 单个高 温计或高温计阵列。 50. 如权利要求 39 至 49 中任一项所述的装置, 还包括传感器, 所述传感器被配置为确 定来自用于提供辐射的辐射源的输出能量, 并且所述控制器被配置为响应于所确定的输出 。
17、能量而控制所述辐射源的能量的输出。 51. 如权利要求 39 至 50 中任一项所述的装置, 还包括辐射源, 所述辐射源被配置为提 供辐射, 所述辐射源不同于所述加热器。 52.如权利要求39至51中任一项所述的装置, 其中预热微粒材料的所述层的所述加热 器包括用于提供辐射的辐射源。 53. 如权利要求 39 至 52 中任一项所述的装置, 还包括多个辐射源, 所述多个辐射源被 配置为提供辐射。 54. 如权利要求 53 所述的装置, 其中所述多个辐射源中的至少一些提供具有不同的峰 值波长的辐射。 55. 如权利要求 53 或 54 所述的装置, 还包括一个或多个滤波器, 所述一个或多个滤波 。
18、器被配置为过滤由所述多个辐射源中的至少一些提供的辐射。 56.如权利要求53至55中任一项所述的装置, 其中所述多个辐射源中的至少一些是独 立可控制的以对所述微粒材料提供辐射。 57.如权利要求53至56中任一项所述的装置, 其中所述多个辐射源中的至少一些形成 所述加热器。 58. 如权利要求 39 至 57 中任一项所述的装置, 还包括支撑物, 所述支撑物被配置为接 收所述微粒材料, 所述支撑物包括相对于所述支撑物可移动的多个壁。 59. 如权利要求 58 所述的装置, 其中所述多个壁中的至少一些包括用于加热所述微粒 材料的加热器。 60.如权利要求39至59中任一项所述的装置, 其中所述控。
19、制器被配置为控制对待烧结 的所述微粒材料提供材料以改变待烧结的所述微粒材料的性能。 61. 如权利要求 39 至 60 中任一项所述的装置, 其中所述控制器被配置为控制 : 改变框 (ii) 中所提供的辐射穿过所述层的选定的表面部分的吸收以烧结所述层的所 述材料的一部分 ; 以及 改变框 (iv) 中所提供的辐射穿过所述另外的层的选定的表面部分的吸收以烧结所述 覆盖的另外的层中的所述材料的另外的部分并且以烧结所述另外的部分与所述在先层中 的材料的所述先前被烧结的部分。 62. 如权利要求 61 所述的装置, 其中辐射吸收的变化通过分别在所述层和所述另外的 层的所述选定的表面部分之上提供一定量的。
20、辐射吸收剂材料而获得。 63. 如权利要求 62 所述的装置, 其中微粒材料的所述层大体紧接在微粒材料的所述层 被提供之后并且大体在所述辐射吸收剂材料被提供在所述层的所述选定的表面部分之上 之前被预热。 64. 如权利要求 62 所述的装置, 其中微粒材料的所述层在所述辐射吸收剂材料被提供 在所述层的所述选定的表面部分之上之前通过所述加热器预热至少两次。 权 利 要 求 书 CN 103842157 A 5 5/5 页 6 65. 如权利要求 62 至 64 中任一项所述的装置, 还包括印刷头, 所述印刷头被配置为提 供所述辐射吸收剂材料, 所述印刷头包括用于控制所述辐射吸收剂材料的温度的相关。
21、联的 热控制设备。 66.如权利要求62至65中任一项所述的装置, 其中红外吸收颜料或染料被提供有所述 辐射吸收剂材料。 67.如权利要求62至66中任一项所述的装置, 其中所述辐射吸收剂材料具有不同于黑 色的颜色。 68.如权利要求62至67中任一项所述的装置, 还包括一种设备, 所述设备包括壳体、 用 于提供第一辐射吸收剂材料的第一印刷头、 辊和第一辐射源。 69. 如权利要求 68 所述的装置, 其中所述第一印刷头被定位于所述辊和所述第一辐射 源之间。 70. 如权利要求 68 或 69 所述的装置, 其中所述设备还包括第二辐射源, 所述第二辐射 源定位为邻近所述辊。 71. 如权利要求。
22、 68 至 70 中任一项所述的装置, 其中所述设备还包括第二印刷头, 所述 第二印刷头用于提供第二辐射吸收剂材料。 72. 如权利要求 62 至 71 中任一项所述的装置, 还包括传感器, 所述传感器被配置为测 量预定区域的辐射吸收剂材料的输出, 并且所述控制器被配置为确定所测量的输出是否落 入预定范围之内。 73. 如权利要求 39 至 72 中任一项所述的装置, 其中所述微粒材料包括聚合物、 陶瓷和 金属中的至少一种。 74. 一种大体上如以上参照附图所描述的和 / 或如附图中所示的方法。 75. 一种大体上如以上参照附图所描述的和 / 或如附图中所示的装置。 76. 本文所公开的任何新。
23、颖的主题或包括新颖的主题的组合, 不论是否在如前述权利 要求中任一项所述的相同发明的范围内或涉及如前述权利要求中任一项所述的相同发明。 权 利 要 求 书 CN 103842157 A 6 1/19 页 7 用于选择性结合微粒材料的方法和装置 技术领域 0001 本发明的实施方案涉及用于选择性结合微粒材料的方法和装置。 0002 背景 0003 快速原型被广泛用于形成原型部件 (component) , 并且许多装置和方法当前可用 于进行快速原型。在一种方法中, 计算机产生的部件的三维模型最初利用计算机辅助绘图 (CAD) 软件产生。 然后将三维模型切成许多虚拟的层, 且然后设备被用于由微粒材。
24、料形成层 并且使层烧结以产生三维物体。 0004 当形成三维物体时, 微粒材料通常需要是相对凉的, 以便流畅地流动并且可靠地 且均匀地沉积在构造表面上。如果微粒材料在被沉积时过热, 则其将不充分地流动并且可 引起构造故障或不良的零件品质 (part quality) 。然而, 当被沉积时, 如果粉末过凉, 则其 可引起先前层中的下面的烧结材料冷却至一个温度以下, 在所述温度下其将向上卷曲且因 此阻止构造的进展。 0005 因此, 提供用于选择性结合微粒材料的可选的方法和装置将是期望的。 0006 简要概述 0007 根据本发明的不同的、 但不必是全部的实施方案, 提供了选择性结合微粒材料的 方。
25、法, 该方法包括 :(i) 对部分床提供微粒材料的层 ;(ii) 提供辐射以烧结该层的材料的一 部分 ;(iii) 提供覆盖微粒材料的在先层的微粒材料的另外的层, 该微粒材料的在先层包 括材料的先前被烧结的部分 ;(iv) 提供辐射以烧结覆盖的另外的层中的材料的另外的部 分并且以烧结所述另外的部分与在先层中的材料的先前被烧结的部分 ;(v) 连续地重复框 (block) (iii) 和 (iv) 以形成三维物体 ; 且其中微粒材料的各层中的至少一些在烧结相应 层的材料的一部分之前用加热器预热, 该加热器被配置为相对于微粒材料并且接近微粒材 料移动。 0008 加热器可被配置为在 100mm 的。
26、微粒材料中移动。 0009 加热器可被布置为加热微粒材料的各层中的至少一些以阻止微粒材料的至少一 个下面层冷却至其卷曲的温度。 0010 用于提供辐射的辐射源可包括界定椭圆构型的反射设备。 0011 该方法还可包括测量微粒材料的温度 ; 以及利用所测得的温度控制微粒材料的各 层的预热。 0012 加热器可发射一系列波长, 所述一系列波长具有不同于用于提供引起烧结的辐射 的辐射源的峰值波长的峰值波长。 0013 微粒材料的各层可基本上仅仅通过加热器来预热。 0014 方法还可包括确定材料的被烧结的部分的温度以及利用所确定的温度来控制提 供到被烧结的部分的能量。 0015 如果所确定的温度小于阈值。
27、温度, 则可以增加提供到被烧结的部分的能量。 0016 如果所确定的温度大于阈值温度, 则可以减少提供到被烧结的部分的能量。 0017 传感器可被用于确定被烧结的部分的温度。 说 明 书 CN 103842157 A 7 2/19 页 8 0018 传感器可以是红外照相机、 单个高温计或高温计阵列。 0019 方法还可包括确定来自用于提供辐射的辐射源的输出能量并且响应于所确定的 输出能量而控制辐射源的能量的输出。 0020 用于提供辐射的辐射源可以与加热器不同。 0021 预热微粒材料的各层的加热器可包括用于提供辐射的辐射源。 0022 多个辐射源可被配置为提供辐射。 0023 该多个辐射源中。
28、的至少一些可提供具有不同峰值波长的辐射。 0024 一个或多个滤波器可被配置为过滤由该多个辐射源中的至少一些提供的辐射。 0025 多个辐射源中的至少一些可以是单独可控制的以对微粒材料提供辐射。 0026 多个辐射源中的至少一些可形成加热器。 0027 支撑物可被配置为接收微粒材料, 该支撑物包括相对于支撑物可移动的多个壁。 0028 多个壁中的至少一些可包括用于加热微粒材料的加热器。 0029 方法还可包括对待烧结的微粒材料提供材料以改变待烧结的微粒材料的性能。 0030 方法还包括 : 改变框 (ii) 中所提供的辐射穿过层的选定的表面部分的吸收以烧 结层的材料的一部分 ; 以及改变框 (。
29、iv) 中所提供的辐射穿过另外的层的选定的表面部分 的吸收以烧结覆盖的另外的层中的材料的另外的部分并且以烧结所述另外的部分与在先 层中的材料的先前被烧结的部分。 0031 辐射吸收的变化可通过分别在该层和该另外的层的选定的表面部分之上提供一 定量的辐射吸收剂材料而获得。 0032 微粒材料的各层可大体紧接在微粒材料的层被提供之后并且大体在辐射吸收剂 材料被提供在层的选定的表面部分之上之前被预热。 0033 微粒材料的各层可在辐射吸收剂材料被提供在层的选定的表面部分之上之前通 过加热器预热至少两次。 0034 辐射吸收剂材料可由印刷头 (print head) 提供, 该印刷头包括用于控制辐射吸。
30、收 剂材料的温度的相关联的热控制设备。 0035 红外吸收颜料或染料被提供有辐射吸收剂材料。 0036 辐射吸收剂材料可具有不同于黑色的颜色。 0037 设备可包括壳体、 用于提供第一辐射吸收剂材料的第一印刷头、 辊和第一辐射源。 0038 第一印刷头可定位于辊和第一辐射源之间。 0039 设备还可包括第二辐射源, 其定位为邻近辊。 0040 设备还可包括第二印刷头, 其用于提供第二辐射吸收剂材料。 0041 方法还可包括测量预定区域的辐射吸收剂材料的输出以及确定所测量的输出是 否落入预定范围之内。 0042 微粒材料可包括聚合物、 陶瓷和金属中的至少一种。 0043 根据本发明的不同的、 但。
31、不必是全部的实施方案, 提供了非暂时性的、 计算机可读 的存储介质, 其编码有在由处理器执行时引起如前述段落的任一段中描述的方法的执行的 指令。 0044 根据本发明的不同的、 但不必是全部的实施方案, 提供了计算机程序, 其在计算机 上运行时执行前述段落的任一段的方法。 说 明 书 CN 103842157 A 8 3/19 页 9 0045 根据本发明的不同的、 但不必是全部的实施方案, 提供了用于选择性结合微粒材 料的装置, 该装置包括控制器, 所述控制器被配置为 :(i) 控制对部分床提供微粒材料的 层 ;(ii) 控制辐射的提供以烧结该层的材料的一部分 ;(iii) 控制覆盖微粒材料。
32、的在先层 的微粒材料的另外的层的提供, 该微粒材料的在先层包括材料的先前被烧结的部分 ;(iv) 控制辐射的提供以烧结覆盖的另外的层中的材料的另外的部分并且以烧结所述另外的部 分与在先层中的材料的先前被烧结的部分 ;(v) 控制连续重复框 (iii) 和 (iv) 以形成三维 物体 ; 且其中微粒材料的各层中的至少一些在烧结相应层的材料的一部分之前用加热器预 热, 该加热器被配置为相对于微粒材料并且接近微粒材料移动。 0046 加热器可被配置为在 100mm 的微粒材料中移动。 0047 加热器可被布置为加热微粒材料的各层中的至少一些以阻止微粒材料的至少一 个下面层冷却至其卷曲的温度。 004。
33、8 装置还可包括用于提供辐射的辐射源, 辐射源包括界定椭圆构型的反射设备。 0049 该装置还可包括传感器, 其被配置为测量微粒材料的温度 ; 且控制器可被配置为 利用所测得的温度控制微粒材料的各层的预热。 0050 加热器可被配置为发射一系列波长, 所述一系列波长具有不同于用于提供辐射的 辐射源的峰值波长的峰值波长。 0051 微粒材料的各层可基本上仅仅通过加热器来预热。 0052 装置还可包括被配置为确定材料的被烧结的部分的温度的传感器, 并且控制器可 被配置为利用所确定的温度来控制提供到被烧结的部分的能量。 0053 如果所确定的温度小于阈值温度, 则可以增加提供到被烧结的部分的能量。 。
34、0054 如果所确定的温度大于阈值温度, 则可以减少提供到被烧结的部分的能量。 0055 传感器可以是红外照相机、 单个高温计或高温计阵列。 0056 装置还可包括被配置为确定来自用于提供辐射的辐射源的输出能量的传感器, 并 且控制器可被配置为响应于所确定的输出能量而控制辐射源的能量的输出。 0057 装置还可包括被配置为提供辐射的辐射源, 该辐射源不同于加热器。 0058 预热微粒材料的各层的加热器可包括用于提供辐射的辐射源。 0059 装置还可包括被配置为提供辐射的多个辐射源。 0060 该多个辐射源中的至少一些可提供具有不同峰值波长的辐射。 0061 装置还可包括一个或多个滤波器, 其被。
35、配置为过滤由该多个辐射源中的至少一些 提供的辐射。 0062 多个辐射源中的至少一些可以是单独可控制的以对微粒材料提供辐射。 0063 多个辐射源中的至少一些可形成加热器。 0064 装置还可包括支撑物, 其被配置为接收微粒材料, 该支撑物包括相对于支撑物可 移动的多个壁。 0065 多个壁中的至少一些可包括用于加热微粒材料的加热器。 0066 控制器可被配置为控制对待烧结的微粒材料提供材料以改变待烧结的微粒材料 的性能。 0067 控制器可被配置为控制 : 改变框 (ii) 中所提供的辐射穿过层的选定的表面部分 的吸收以烧结层的材料的一部分 ; 以及改变框 (iv) 中所提供的辐射穿过另外的。
36、层的选定 说 明 书 CN 103842157 A 9 4/19 页 10 的表面部分的吸收以烧结覆盖的另外的层中的材料的另外的部分并且以烧结所述另外的 部分与在先层中的材料的先前被烧结的部分。 0068 辐射吸收的变化可通过分别在该层和该另外的层的选定的表面部分之上提供一 定量的辐射吸收剂材料而获得。 0069 微粒材料的各层可大体紧接在微粒材料的层被提供之后并且大体在辐射吸收剂 材料被提供在层的选定的表面部分之上之前被预热。 0070 微粒材料的层可在辐射吸收剂材料被提供在层的选定的表面部分之上之前通过 加热器预热至少两次。 0071 装置还可包括印刷头, 其被配置为提供辐射吸收剂材料, 。
37、该印刷头包括用于控制 辐射吸收剂材料的温度的相关联的热控制设备。 0072 红外吸收颜料或染料被提供有辐射吸收剂材料。 0073 辐射吸收剂材料可具有不同于黑色的颜色。 0074 装置还可包括如下设备, 所述设备包括壳体、 用于提供第一辐射吸收剂材料的第 一印刷头、 辊和第一辐射源。 0075 第一印刷头可定位于辊和第一辐射源之间。 0076 设备还可包括第二辐射源, 其定位为邻近辊。 0077 设备还可包括第二印刷头, 其用于提供第二辐射吸收剂材料。 0078 装置还可包括被配置为测量预定区域的辐射吸收剂材料的输出的传感器, 并且控 制器可被配置为确定所测量的输出是否落入预定范围之内。 00。
38、79 微粒材料可包括聚合物、 陶瓷和金属中的至少一种。 0080 简要描述 0081 为了更好地理解本发明的实施方案的不同的实例, 现将仅通过实例对附图做出参 考, 在附图中 : 0082 图 1 图示了根据本发明的不同的实施方案的装置的示意图 ; 0083 图 2 图示了微粒材料的层的表面部分的平面图 ; 0084 图 3 图示了根据本发明的不同的实施方案的另一种装置的示意图 ; 0085 图 4 图示了根据本发明的不同的实施方案的另一种装置的示意图 ; 0086 图 5 图示了根据本发明的不同的实施方案的另一种装置的示意图 ; 0087 图 6a 图示了微粒材料的层的表面部分的平面图 ; 。
39、0088 图 6b 是图 6a 的微粒材料的层的侧视图 ; 0089 图 7 图示了用于将被用于形成三维物体的微粒材料结合的装置的示意图 ; 以及 0090 图 8 图示了图 1 的被用于结合不同类型的微粒材料的装置 ; 0091 图 9 图示了根据本发明的不同的实施方案的选择性结合微粒材料的方法的流程 图 ; 0092 图 10 图示了根据本发明的不同的实施方案的控制微粒材料的温度的方法的流程 图 ; 0093 图 11 图示了根据本发明的不同的实施方案的控制微粒材料的被烧结的部分的温 度的方法的流程图 ; 0094 图 12 图示了根据本发明的不同的实施方案的控制来自辐射源的输出能量的方法。
40、 说 明 书 CN 103842157 A 10 5/19 页 11 的流程图 ; 0095 图 13 图示了根据本发明的不同的实施方案的测量辐射吸收剂材料的输出的方法 的流程图 ; 0096 图 14 图示了根据本发明的不同的实施方案的用于接收微粒材料的支撑物的示意 图 ; 0097 图15A、 15B、 15C和15D图示了根据本发明的不同的实施方案的用于提供辐射吸收 剂材料的设备的示意性侧视图 ; 0098 图 16A、 16B、 16C 图示了根据本发明的不同的实施方案的用于提供辐射吸收剂材 料的设备的示意性平面图 ; 0099 图 17A 和 17B 图示了根据本发明的不同的实施方案。
41、的辐射源的示意性平面图。 0100 详细描述 0101 参照各图, 大体显示了例如通过烧结来结合微粒材料的装置11。 装置11包括控制 器 13, 所述控制器 13 被配置为能够将微粒材料的层 10 的表面部分暴露于辐射, 例如, 通过 辐射源 12 提供的红外辐射。控制器 13 还被布置为控制穿过表面部分的辐射吸收的变化。 0102 控制器 13 的实施可单独以硬件 (例如, 电路、 处理器等) 进行, 以单独的软件 (包括 固件) 进行某些方面或者可以是硬件和软件 (包括固件) 的结合。控制器 13 可利用实现硬 件功能的指令来实施, 例如, 通过利用通用或专用处理器 131中的可执行的计。
42、算机程序指令 133来实施, 所述可执行的计算机程序指令 133可存储于将由这样的处理器 131执行的计算 机可读存储介质 132(磁盘、 存储器等) 上。 0103 处理器 131被配置为从存储器 132读取和写入存储器 132。处理器 131还可包括输 出界面和输入界面, 数据和 / 或命令经所述输出界面由处理器 131输出, 数据和 / 或命令经 所述输入界面被输入至处理器 131。 0104 存储器132存储计算机程序133, 所述计算机程序133包括当被载入处理器131中时 控制装置11的操作的计算机程序指令。 计算机程序指令133提供使装置11能够执行以下段 落中所描述的方法以及图。
43、9、 10、 11、 12和13中所图示的那些方法的逻辑和例程 (routine) 。 处理器 131通过读取存储器 132能够载入和执行计算机程序 133。 0105 计算机程序 133可经任何合适的传送机构 15 达到装置 11。传送机构 15 可以是, 例如, 非暂时性的、 计算机可读的存储介质、 计算机程序产品、 存储设备、 记录介质诸如光盘 只读存储器 (CD-ROM) 或数字通用磁盘 (DVD) 、 可触摸地体现计算机程序133的制造制品。 传 送机构可以是被配置为可靠地传递计算机程序 133的信号。装置 11 可将计算机程序 133作 为计算机数据信号传播或传输。 0106 虽然。
44、存储器 132被图示为单个部件, 但是其可作为一个或多个单独的部件实施, 其 中的一些或全部可以是集成的 / 可移除的和 / 或可提供永久的 / 半永久的 / 动态的 / 缓存 的存储。 0107 对 计算机可读存储介质 、计算机程序产品 、可触摸地体现计算机程序 等或 控制器 、计算机 、处理器 等的提及应被理解为不仅包括具有不同的构造诸如单处理 器 / 多处理器构造和连续 (Von Neumann) / 平行构造的计算机, 而且包括专门电路诸如现场 可编程门阵列 (FPGA) 、 专用电路 (ASIC) 、 信号处理设备和其它处理线路。对计算机程序、 指 令、 代码等的提及应被理解为包括用。
45、于可编程处理器或固件的软件, 诸如, 例如, 用于处理 说 明 书 CN 103842157 A 11 6/19 页 12 器的硬件设备是否指令的可编程内容, 或用于固定函数设备、 门阵列或可编程逻辑设备等 的配置设置 (configuration setting) 。 0108 如在本申请中所用的, 术语 线路 指以下方面的全部 : 0109 (a) 仅硬件的电路实施 (诸如仅模拟线路和 / 或数字线路的实施) , 以及 0110 (b) 电路和软件 (和 / 或固件) 的组合, 诸如 (如果适用) :(i) 处理器的组合或 (ii) 一起运行以使装置诸如移动电话或服务器执行不同功能的处理器。
46、 / 软件 (包括数字信号处 理器) 、 软件和存储器的部分, 以及 0111 (c) 电路, 诸如需要软件或固件来操作的微处理器或微处理器的一部分, 即使软件 或固件并不物理地存在。 0112 线路 的这一定义在本申请中 (包括在任何权利要求中) 适用于该术语的全部使 用。作为另一个实例, 如在本申请中所用的, 术语 “线路” 还将覆盖仅一个处理器 (或多个处 理器) 或处理器的部分以及它的 (它们的) 附属软件和 / 固件的实施。术语 “线路” 还将覆 盖, 例如并且如果适用于特定的要求的元件, 基带集成电路或用于移动电话的应用处理器 集成电路或服务器、 蜂窝网络设备或其它网络设备中的类似。
47、的集成电路。 0113 图 1 图示了用于烧结微粒材料的装置的第一实施方案, 其中掩盖物 (obscurer) 14 (即, 掩蔽物) 被提供用于选择性地掩盖由源 12 提供的在层 10 的表面部分上的辐射, 以由此 改变入射到层 10 的表面部分上的辐射的强度。掩盖物 14 包括辐射传输基材 16, 诸如玻璃 板, 其含有变化量的辐射反射材料 18, 诸如氧化铝。被沉积在基材上的材料 18 的量和图案 (pattern) 可以改变以选择性地改变入射到层 10 的表面部分上的辐射的强度, 如在下文中 将描述的。 0114 还参照图 2, 层 10 的表面部分被掩盖物 14 合乎逻辑地分成许多区。
48、域, 包括结合部 分 20, 其被暴露于辐射以结合微粒材料, 以及非结合部分 22, 其屏蔽辐射或至少部分地屏 蔽辐射以防止微粒材料通过烧结而结合。非结合部分 22 的完全屏蔽不是必要的, 条件是, 传输到非结合部分 22 的辐射的强度是使得微粒材料不被加热至其烧结温度。在一些情况 下, 低强度辐射传输到非结合部分 22 上以加热材料可能是期望的并且可导致最终部件的 改进的精度。这是因为非结合部分 22 中的加热材料降低结合部分 20 和非结合部分 22 中 的材料之间的热梯度。 0115 结合部分20被掩盖物14合乎逻辑地分成中心部分24和边缘部分26, 并且反射材 料 18 被沉积在基材 。
49、16 上, 使得在中心部分 24 上提供比在边缘部分 26 上 (在其之上可以不 提供反射材料 18) 大的量的材料 18。因此, 穿过结合部分 20 的表面提供的辐射的强度从中 心部分 24 处的最小值增加至边缘部分 26 处 (其中微粒材料的层 10 的表面完全被暴露于由 辐射源 12 提供的辐射) 的最大值。 0116 反射材料的层示意性地图示于图 1 中。该图中的层的厚度的变化实际上没有图示 层的厚度的变化, 而是图示材料的量的变化。 如果图中的层是厚的, 则实际上将存在大量的 材料。 0117 虽然结合部分 20 已被显示为具有仅仅一个边缘部分 26, 使得中心部分 24 位于结 合部分 20 的中心处, 但是应该认识到, 结合部分 20 可以例如具有环形构型, 使得中心部分。