液晶显示面板及其测试方法.pdf

一种液晶显示面板及其测试方法，其中液晶显示面板包括一显示区以及一外部接脚压合区，该外部接脚压合区位于显示区周边，且具有一第一测试垫片、一第二测试垫片、一第三测试垫片、以及一测试像素，而第一测试垫片、第二测试垫片、和第三测试垫片分别与测试像素电连接。

1.  一种液晶显示面板，包括：
一显示区；以及
一外部接脚压合区，该外部接脚压合区位于该显示区周边，且具有一第一测试垫片、一第二测试垫片、一第三测试垫片、以及一测试像素，其中该第一测试垫片、该第二测试垫片、和该第三测试垫片分别与该测试像素连接。

2.  如权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于：该第一测试垫片是为该测试像素的控制极，而该第二测试垫片是为该测试像素的第一极，且该第三测试垫片是为该测试像素的第二极。

3.  如权利要求2所述的液晶显示面板，其特征在于：该第一测试垫片是为该测试像素的栅极，而该第二测试垫片是为该测试像素的源极，且该第三测试垫片是为该测试像素的源极。

4.  如权利要求2所述的液晶显示面板，其特征在于：该第一测试垫片是为该测试像素的栅极，而该第二测试垫片是为该测试像素的源极，且该第三测试垫片是为该测试像素的源极。

5.  如权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于：该显示区具有多个显示像素，而该第一测试垫片和该第二测试垫片是为这些显示像素的测试垫片。

6.  一种液晶显示面板的测试方法，包括：
提供一液晶显示面板以及多个测试探针，其中该液晶显示面板具有一第一测试垫片、一第二测试垫片、一第三测试垫片、以及一测试像素，且该第一测试垫片、该第二测试垫片、和该第三测试垫片分别与该测试像素电连接；以及
将这些测试探针分别与该第一测试垫片、该第二测试垫片、和该第三测试垫片接触，且将一测试讯号传导至该测试像素，以得到该测试像素的电流电压曲线。

7.  如权利要求6所述的液晶显示面板的测试方法，其特征在于：还包括：
提供一电流电压曲线测量机台，其分别与这些测试探针电连接，以经由这些测试探针、该第一测试垫片、该第二测试垫片、和该第三测试垫片提供该测试讯号至该测试像素。

8.  如权利要求7所述的液晶显示面板的测试方法，其特征在于：还包括：
该测试像素将一讯号经由该第一测试垫片、该第二测试垫片、该第三测试垫片、和这些测试探针传导至该电流电压曲线测量机台，该电流电压曲线测量机台将来自该测试像素的讯号进行运算分析，以得到该测试像素的电流电压曲线。

液晶显示面板及其测试方法
技术领域
本发明涉及一种液晶显示面板及其测试方法，特别是涉及一种可利用液晶盒测试垫片(cell test pad)作为薄膜晶体管电流电压曲线测试垫片(TFT I-Vcurve test pad)的液晶显示面板。
背景技术
参考图1a、1b，公知地中小尺寸的液晶显示面板10大部份的面板配置(panel layout)的空间都很紧，由于面板内有可能没有空间置放电性测试组件群(TEG mark)11，所以电性测试组件群11置放在面板外缘，供数组测试(arraytest)使用，但在切成小片时，电性测试组件群11会被一并去除，假若发生电性方面的问题，需测量电流电压曲线时，由于面板内没有置放电性测试组件群，测试探针需直接测量面板内部的像素(pixel)，但因为像素的线路很细，会增加测量困难度及降低准确性。
另外，在液晶盒测试之后，位于面板左方的短路金属条(shorting bar)12可通过磨边或雷射方式去除，这将使得液晶盒测试垫片13失去作用。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种液晶显示面板，其可利用液晶盒测试垫片作为薄膜晶体管电流电压曲线测试垫片。
根据本发明，提供一种液晶显示面板，其包括一显示区以及一外部接脚压合区，其中外部接脚压合区位于显示区周边，且具有一第一测试垫片、一第二测试垫片、一第三测试垫片、以及一测试像素，而第一测试垫片、第二测试垫片、和第三测试垫片分别与测试像素电连接。
在一较佳实施例中，第一测试垫片是为测试像素的控制极，而第二测试垫片是为测试像素的第一极，且第三测试垫片是为测试像素的第二极。
应了解的是第一测试垫片可为测试像素的栅极，而第二测试垫片和第三测试垫片可分别为测试像素的源极或源极。
在另一较佳实施例中，显示区具有多个显示像素，而第一测试垫片和第二测试垫片是为显示像素的测试垫片。
又在本发明中，提供一种液晶显示面板的测试方法，包括下列步骤：首先，提供一液晶显示面板以及多个测试探针，其中液晶显示面板具有一第一测试垫片、一第二测试垫片、一第三测试垫片、以及一测试像素，且第一测试垫片、第二测试垫片、和第三测试垫片分别与测试像素电连接；接着，将测试探针分别与第一测试垫片、第二测试垫片、和第三测试垫片接触，且将一测试讯号传导至测试像素，以得到测试像素的电流电压曲线。
在一较佳实施例中，测试方法还包括提供一电流电压曲线测量机台，其分别与测试探针电连接，以经由测试探针、第一测试垫片、第二测试垫片、和第三测试垫片提供测试讯号至测试像素。
又，测试像素将一讯号经由第一测试垫片、第二测试垫片、第三测试垫片、和测试探针传导至电流电压曲线测量机台，电流电压曲线测量机台将来自测试像素的讯号进行运算分析，以得到测试像素的电流电压曲线
为了使本发明的上述和其它目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举一较佳实施例，并结合附图，作详细说明如下。
附图说明
图1a是为公知的液晶显示面板的示意图；
图1b是为图1a中的A部份的放大图；
图2a是为本发明的液晶显示面板的示意图；
图2b是为图2a中的B部份的放大图；
图2c是为图2b中的C部份的放大图；以及
图3是为本发明的液晶显示面板的电流电压曲线测试方法的流程图。
附图符号说明：
10液晶显示面板
11电性测试组件群
12短路金属条
13液晶盒测试垫片
20液晶显示面板
21显示区
22外部接脚压合区
22a第一测试垫片
22b第二测试垫片
22c第三测试垫片
22d测试像素
22e、22f、22g线路
具体实施方式
参考图2a、2b、2c，本发明的液晶显示面板20包括一显示区21以及一外部接脚压合区(OLB，outer lead bonding)22，其中显示区21中具有多个显示像素(未图示)，以显示所需的影像。
外部接脚压合区22位于显示区21周边，且具有一第一测试垫片22a、一第二测试垫片22b、一第三测试垫片22c、以及一测试像素22d，其中第一测试垫片22a和第二测试垫片22b是为显示区21中的显示像素的测试垫片，也即，第一测试垫片22a和第二测试垫片22b如图1b中的测试垫片13般，是为液晶盒测试垫片(cell test pad)。
本发明的液晶显示面板20与公知的液晶显示面板的不同处在于：外部接脚压合区22中更设有第三测试垫片22c以及测试像素22d，且通过将第一测试垫片22a、第二测试垫片22b、和第三测试垫片22c分别经由线路22e、22f、22g与测试像素22d电连接，可使公知的无用的液晶盒测试垫片(第一测试垫片22a和第二测试垫片22b)，作为薄膜晶体管电流电压曲线测试垫片(TFT I-V curve test pad)。
总而言之，在薄膜晶体管电流电压曲线测试时，第一测试垫片22a可作为测试像素22d的控制极(栅极)，而第二测试垫片22b是为测试像素22d的第一极(源极或源极)，且第三测试垫片22c是为测试像素22d的第二极(源极或源极)。
应了解的是，第一测试垫片22a、第二测试垫片22b、和第三测试垫片22c的表面上皆覆盖有ITO(氧化铟锡)，且分别通过外部接脚压合区22中的穿孔与位于下方的金属层导通，由于这是本技术领域的普通技术人员所熟知的，所以在此省略其详细说明。
本发明的液晶显示面板的构成如上所述，以下说明其电流电压曲线测试方法。
参考图3，测试方法包括下列步骤：首先，如步骤s11所示，提供上述液晶显示面板20、一电流电压曲线测量机台(未图示)、以及多个测试探针(未图标)，其中电流电压曲线测量机台分别与测试探针电连接，以经由测试探针提供一测试讯号至测试像素22d；接着，如步骤s12所示，将测试探针分别与第一测试垫片22a、第二测试垫片22b、和第三测试垫片22c接触，以将测试讯号经由第一测试垫片22a、第二测试垫片22b、和第三测试垫片22c传导至测试像素22d；最后，如步骤s13所示，测试像素22d内的讯号经由第一测试垫片22a、第二测试垫片22b、第三测试垫片22c、和测试探针传导至电流电压曲线测量机台，并进行运算分析，即可得到测试像素22d的电流电压曲线。
如上述，由于可充分利用公知的在液晶显示面板中无用的液晶盒测试垫片，将其转变成薄膜晶体管电流电压曲线测试垫片，且只需再放置一测试垫片和一测试像素，即可测量电流电压曲线，无需在面板内寻找空间放置电性测试组件群(TEG mark)或另外放置两个测试垫片，可使玻璃的空间达到最佳的利用率。
虽然本发明已以较佳实施例披露如上，然而其并非用以限定本发明，任何本技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当然可作些更动与润饰，因此本发明的保护范围应当以权利要求书范围所界定的为准。