PCIE设备在位检测方法和PCIE设备.pdf

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1、(10)申请公布号 CN 103532621 A (43)申请公布日 2014.01.22 CN 103532621 A (21)申请号 201310512122.4 (22)申请日 2013.10.25 H04B 10/075(2013.01) H04B 10/25(2013.01) (71)申请人 华为技术有限公司 地址 518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为 总部办公楼 (72)发明人 邹雨 (74)专利代理机构 北京同立钧成知识产权代理 有限公司 11205 代理人 刘芳 (54) 发明名称 PCIe 设备在位检测方法和 PCIe 设备 (57) 摘要 本发明实施例提供一种 PCIe。

2、 设备在位检测 方法和 PCIe 设备。其中， 方法包括 ： 第一 PCIe 设 备检测第一光模块接收到第二光模块发送的 M 路 光信号 ； 其中， 所述第一光模块与所述第一 PCIe 设备连接， 所述第二光模块与第二 PCIe 设备连 接， 所述第一光模块与所述第二光模块通过光纤 连接 ； 所述第一 PCIe 设备根据接收到的 M 路光信 号， 确定所述第二 PCIe 设备在位， 其中， M 为正整 数。 (51)Int.Cl. 权利要求书 2 页 说明书 7 页 附图 3 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书2页 说明书7页 附图3页 (10)申请公布。

3、号 CN 103532621 A CN 103532621 A 1/2 页 2 1. 一种外围部件互联通路 PCIe 设备在位检测方法， 其特征在于， 包括 ： 第一 PCIe 设备检测第一光模块接收到第二光模块发送的 M 路光信号 ； 其中， 所述第一 光模块与所述第一PCIe设备连接， 所述第二光模块与第二PCIe设备连接， 所述第一光模块 与所述第二光模块通过光纤连接 ； 所述第一PCIe设备根据接收到的M路光信号， 确定所述第二PCIe设备在位， 其中， M为 正整数。 2. 根据权利要求 1 所述的方法， 其特征在于， 还包括 ： 所述第一 PCIe 设备根据所述 M 路光信号确定所。

4、述第二 PCIe 设备有 M 路可用通路 ； 所述第一 PCIe 设备根据所述 M 路可用通路确定所述第二 PCIe 设备的标准通路数。 3. 根据权利要求 2 所述的方法， 其特征在于， 当 2n M 2n+1时， 所述根据所述 M 路可用通路确定所述第二 PCIe 设备的标准通路 数， 具体为， 确定所述第二 PCIe 设备的标准通路数为 2n， 其中， n 为整数， 并且 n 0。 4.根据权利要求3所述的方法， 其特征在于， 所述根据所述M路可用通路确定所述第二 PCIe 设备的标准通路数之后， 还包括 ： 所述第一 PCIe 设备根据所述第二 PCIe 设备的标准通路数与所述第二 P。

5、CIe 设备通信。 5. 根据权利要求 3 或 4 所述的方法， 其特征在于， 所述第一 PCIe 设备的标准通路数为 2r， 其中 r 为整数， r 0， 并且 2r M， 所述方法还包括 ： 当 2r大于 M 时， 将所述第一 PCIe 设 备的 （2r-2n） 路通路置为电气空闲状态。 6.根据权利要求1至5任一所述的方法， 其特征在于， 所述第二光模块发送M路光信号 是由所述第二 PCIe 设备触发的。 7. 一种外围部件互联通路 PCIe 设备， 其特征在于， 包括 ： 光信号检测模块， 用于检测第一光模块接收到第二光模块发送的 M 路光信号 ； 其中， 所 述第一光模块与第一PCI。

6、e设备连接， 所述第二光模块与第二PCIe设备连接， 所述第一光模 块与所述第二光模块通过光纤连接 ； 处理模块， 用于根据接收到的 M 路光信号， 确定所述第二 PCIe 设备在位， 其中， M 为正 整数。 8. 根据权利要求 7 所述的 PCIe 设备， 其特征在于， 所述处理模块还用于 ： 根据所述 M 路光信号确定所述第二 PCIe 设备有 M 路可用通路 ； 根据所述 M 路可用通路确定所述第二 PCIe 设备的标准通路数。 9. 根据权利要求 8 所述的 PCIe 设备， 其特征在于， 所述处理模块具体用于 ： 当 2n M 2n+1时， 确定所述第二 PCIe 设备的标准通路数。

7、为 2n， 其中， n 为整数， 并且 n 0。 10. 根据权利要求 9 所述的 PCIe 设备， 其特征在于， 所述通路还包括 ： 收发模块， 用于在所述处理模块根据所述M路可用通路确定所述第二PCIe设备的标准 通路数之后， 根据所述第二 PCIe 设备的标准通路数与所述第二 PCIe 设备通信。 11.根据权利要求9或10所述的PCIe设备， 其特征在于， 所述第一PCIe设备的标准通 路数为 2r， 其中 r 为整数， r 0， 并且 2r M， 所述处理模块还用于 ： 当 2r大于 M 时， 将所述 第一 PCIe 设备的 （2r-2n） 路通路置为电气空闲状态。 12. 根据权利。

8、要求 7 至 11 任一所述的 PCIe 设备， 其特征在于， 所述第二光模块发送 M 权 利 要 求 书 CN 103532621 A 2 2/2 页 3 路光信号是由所述第二 PCIe 设备触发的。 权 利 要 求 书 CN 103532621 A 3 1/7 页 4 PCIe 设备在位检测方法和 PCIe 设备 技术领域 0001 本发明实施例涉及通信技术， 尤其涉及一种PCIe设备在位检测方法和PCIe设备。 背景技术 0002 光纤传输具有传输带宽高、 传输距离长， 布线灵活等优点， 目前已经应用于多种高 速总线。外部部件互连通路 （Peripheral Component Inte。

9、rconnect Express， 简称 ： PCIe） 信号是一种主流的高速信号， 将光纤传输应用于PCIe信号是本领域发展的趋势。 PCIe的接 收器或发送器每个端口一般由一个或多个通路 （Lane） 组成， 根据当前的 PCIe 标准， 一个端 口最多可以包括32个Lane， 描述为 ： PCIe Xn， 其中， X代表 “乘” ， n代表Lane的个数， 常见的 PCIe 芯片一般为 PCIe X1， PCIe X2， PCIe X4， PCIe X8， PCIe X16， PCIe X32。根据现有的 PCIe协议， 通过对PCIe接收器所连接的链路的充电时间来检测对端PCIe芯片的。

10、Lane是否 可用的状况。然而由于采用光纤传输 PCIe 信号时， 由于有光模块和光纤的介入， 与 PCIe 接 收器连接的是光模块， 接收器通过充放电时间检测到的只是和其对接的光模块是否可用， 而不能真正检测到对端 PCIe 设备的接收器是否在位。 0003 现有技术中， 通过在 PCIe 芯片与光模块之间连接一个现场可编程门阵列 （Field Programmable Gate Array 简称， FPGA） 芯片， 用于模拟 PCIe 逻辑， 以将 PCIe 芯片的检测 （Detect） 状态机关闭， 或利用某些 PCIe 芯片支持将 Detect 状态机关闭的特性， 将 PCIe 协 。

11、商流程中的主动检测 （Detect.Active） 状态跳过， 即跳过 PCIe 在位检测的过程， 执行非标 准的 PCIe 协商流程。 0004 因此现有技术需要额外芯片， 实现复杂， 成本较高。 发明内容 0005 本发明实施例提供一种 PCIe 设备在位检测方法和 PCIe 设备。 0006 第一方面， 本发明实施例提供一种 PCIe 设备在位检测方法， 包括 ： 0007 第一 PCIe 设备检测第一光模块接收到第二光模块发送的 M 路光信号 ； 其中， 所述 第一光模块与所述第一PCIe设备连接， 所述第二光模块与第二PCIe设备连接， 所述第一光 模块与所述第二光模块通过光纤连接 。

12、； 0008 所述第一 PCIe 设备根据接收到的 M 路光信号， 确定所述第二 PCIe 设备在位， 其 中， M 为正整数。 0009 在第一方面的第一种可能的实现方式中， 还包括 ： 0010 所述第一 PCIe 设备根据所述 M 路光信号确定所述第二 PCIe 设备有 M 路可用通 路 ； 0011 所述第一 PCIe 设备根据所述 M 路可用通路确定所述第二 PCIe 设备的标准通路 数。 0012 根据第一方面的第一种可能的实现方式， 在第二种可能的实现方式中， 当 2n M 2n+1时， 所述根据所述 M 路可用通路确定所述第二 PCIe 设备的标准通路数， 具体为， 确定 说 。

13、明 书 CN 103532621 A 4 2/7 页 5 所述第二 PCIe 设备的标准通路数为 2n， 其中， n 为整数， 并且 n 0。 0013 根据第一方面的第二种可能的实现方式， 在第三种可能的实现方式中， 所述根据 所述 M 路可用通路确定所述第二 PCIe 设备的标准通路数之后， 还包括 ： 0014 所述第一 PCIe 设备根据所述第二 PCIe 设备的标准通路数与所述第二 PCIe 设备 通信。 0015 根据第一方面的第二种或第三种可能的实现方式， 在第四种可能的实现方式中， 所述第一 PCIe 设备的标准通路数为 2r， 其中 r 为整数， r 0， 并且 2r M， 。

14、所述方法还包 括 ： 当 2r大于 M 时， 将所述第一 PCIe 设备的 （2r-2n） 路通路置为电气空闲状态。 0016 根据第一方面、 第一方面的第一种至第四种可能的实现方式中的任意一种， 在第 五种可能的实现方式中， 所述第二光模块发送 M 路光信号是由所述第二 PCIe 设备触发的。 0017 第二方面， 本发明实施例提供一种外围部件互联通路 PCIe 设备， 包括 ： 0018 光信号检测模块， 用于检测第一光模块接收到第二光模块发送的 M 路光信号 ； 其 中， 所述第一光模块与第一 PCIe 设备连接， 所述第二光模块与第二 PCIe 设备连接， 所述第 一光模块与所述第二光。

15、模块通过光纤连接 ； 0019 处理模块， 用于根据接收到的M路光信号， 确定所述第二PCIe设备在位， 其中， M为 正整数。 0020 在第二方面的第一种可能的实现方式中， 所述处理模块还用于 ： 0021 根据所述 M 路光信号确定所述第二 PCIe 设备有 M 路可用通路 ； 0022 根据所述 M 路可用通路确定所述第二 PCIe 设备的标准通路数。 0023 根据第二方面的第一种可能的实现方式， 在第二种可能的实现方式中， 所述处理 模块具体用于 ： 0024 当 2n M 2n+1时， 确定所述第二 PCIe 设备的标准通路数为 2n， 其中， n 为整数， 并且 n 0。 00。

16、25 根据第二方面的第二种可能的实现方式， 在第三种可能的实现方式中， 所述通路 还包括 ： 0026 收发模块， 用于在所述处理模块根据所述M路可用通路确定所述第二PCIe设备的 标准通路数之后， 根据所述第二 PCIe 设备的标准通路数与所述第二 PCIe 设备通信。 0027 根据第二方面的第二种或第三种可能的实现方式， 在第四种可能的实现方式中， 所述第一 PCIe 设备的标准通路数为 2r， 其中 r 为整数， r 0， 并且 2r M， 所述处理模块 还用于 ： 当 2r大于 M 时， 将所述第一 PCIe 设备的 （2r-2n） 路通路置为电气空闲状态。 0028 根据第二方面、。

17、 第二方面的第一种至第四种可能的实现方式中的任意一种， 在第 五种可能的实现方式中， 所述第二光模块发送 M 路光信号是由所述第二 PCIe 设备触发的。 0029 本发明实施例提供的 PCIe 设备在位检测方法和 PCIe 设备， 通过第一 PCIe 设备检 测第一光模块接收到第二光模块发送的 M 路光信号， 确定所述第二 PCIe 设备在位， 实现方 式简单， 从而解决了现有技术进行第二 PCIe 设备在位检测需要额外芯片， 实现复杂， 成本 较高的问题。 附图说明 0030 为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案， 下面将对实施例或现有技术描述 说 明 书 CN 103532621 A。

18、 5 3/7 页 6 中所需要使用的附图作一简单地介绍， 显而易见地， 下面描述中的附图是本发明的一些实 施例， 对于本领域普通技术人员来讲， 在不付出创造性劳动性的前提下， 还可以根据这些附 图获得其他的附图。 0031 图 1 为采用光纤传输的 PCIe 系统的结构示意图 ； 0032 图 2 为本发明 PCIe 设备负载检测方法实施例一的流程图 ； 0033 图 3 为本发明 PCIe 设备负载检测方法实施例二的流程图 ； 0034 图 4 为本发明 PCIe 设备实施例一的结构示意图 ； 0035 图 5 为本发明 PCIe 设备负载检测系统实施例的结构示意图。 具体实施方式 0036。

19、 为使本发明实施例的目的、 技术方案和优点更加清楚， 下面将结合本发明实施例 中的附图， 对本发明实施例中的技术方案进行清楚地描述， 显然， 所描述的实施例是本发明 一部分实施例， 而不是全部的实施例。 基于本发明中的实施例， 本领域普通技术人员在没有 做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例， 都属于本发明保护的范围。 0037 在本发明各个实施例中， PCIe 设备可以为 PCIe 交换器 （PCIe Switch） ， 也可以为 其他的 PCIe 设备。 0038 由于 PCIe 设备是标准设备， 通常 PCIe 的通路 （Lane） 个数为标准通路个数， 也即 PCIe 设备的规格为。

20、标准规格， 通常 PCIe 设备的标准规格表示为 X1， X2， X4， X8， X16， X32， 分 别表示 PCIe 设备的标准通路个数为 1， 2， 4， 8， 16， 32， PCIe 设备的 1 个通路包括发送逻辑 （发送链路， 表示为 Tx） 和接收逻辑 （接收链路， 表示为 Rx） ， 1 个通路也可以称为一个 PCIe 资源。另外， 本发明实施例中， PCIe 设备的可用通路及标准通路个数不作具体限定， 但是具 体个数遵循 PCIe 标准规范。PCIe 设备使用标准规格进行通信， 也即 PCIe 设备使用标准通 路进行通信。图 1 为采用光纤传输的 PCIe 系统的结构示意图。

21、， 为了描述方便， 在图 1 中将 本端 PCIe 设备 （图 1 左边的 PCIe 设备） 称为第一 PCIe 设备， 将对端 PCIe 设备 （图 1 右边的 PCIe 设备） 称为第二 PCIe 设备。 0039 第一 PCIe 设备需要检测第二 PCIe 设备是否在位， 由于 PCIe 设备使用标准通路 进行通信， 因此当本端 PCIe 设备检测到对端 PCIe 设备在位时， 协商本端 PCIe 设备与对端 PCIe设备通信使用的标准通路个数， 要确定对端PCIe设备的标准通路， 也即对端PCIe设备 的标准规格。 0040 如图 1 所示， 第一 PCIe 设备的通路与一个光模块 （。

22、称为第一光模块） 连接， 对端 PCIe 设备的通路也与一个光模块 （称为第二光模块） 连接， 第一光模块与第二光模块之间通 过光纤连接。 0041 图2为本发明PCIe设备在位检测方法实施例一的流程图， 本实施例的方法对应于 图1所示的PCIe系统。 在本实施例中， 描述第一PCIe设备对第二PCIe设备在位检测方法， 本实施例的方法可以包括 ： 0042 步骤 201、 第一 PCIe 设备检测第一光模块接收到第二光模块发送的 M 路光信号 ； 其中， 所述第一光模块与所述第一 PCIe 设备连接， 所述第二光模块与第二 PCIe 设备连接， 所述第一光模块与所述第二光模块通过光纤连接。 。

23、0043 其中， 一种实现方式， 所述第二光模块发送 M 路光信号是由所述第二 PCIe 设备触 说 明 书 CN 103532621 A 6 4/7 页 7 发的。 0044 具 体 地， 一 种 实 施 情 况， 第 一 PCIe 设 备 与 第 一 光 模 块 之 间 以 n 个 通 路 （PCIe1Lane0 PCIe1Lane n-1， ） 相连， 第一光模块和第二光模块之间的光信号为也为 n 路， 其中 n 为大于 0 的整数。 0045 具体地， 步骤301可以由集成在第一PCIe设备中的检测逻辑实现， 在具体实现时， 也可以由独立于所述第一 PCIe 设备的主电路之外的单片机，。

24、 这时该单片机需要与所述第 一 PCIe 设备的主电路以及与第一光模块连接。 0046 以下将具体执行步骤301的单片机或第一PCIe设备中的检测逻辑称为检测模块。 0047 一种实施方式， 第一光模块具有指示接收到第二光模块发送的光信号的个数的功 能， 例如第一光模块可以向检测模块发送一个指示信息， 使检测模块读取该指示信息后确 定第一光模块接收到 M 路光信号。 0048 一种实施方式， 第一光模块还具有光丢失检测功能和光丢失指示功能， 具体地， 第 一光模块的光丢失检测方法例如包括 ： 0049 第一光模块的接收器可以输出一个电信号， 其电位高低反映出所接收的光信号强 度是否足够， 第一。

25、光模块将该电位与预设电位进行比较以判定光信号是否丢失。其中电位 比较可以采用具有一定回滞效应的比较器实现。 0050 根据第一光模块所采用的光模块的类型， 第一光模块的光丢失指示的方式可 以为硬件信号指示， 也可以为其他的总线检测信号指示， 例如 I2C（Inter-Integrated Circuit） 信号指示。 例如， 若该第一光模块为四信道小型可插拨 （Quad Small Form Factor Pluggable， 简称 ： QSFP） 接口的光模块， 则采用 I2C 信号进行光丢失指示， 相应地， 检测模块 采用 I2C 信号去读取第一光模块发出的光丢失指示 ； 若该第一光模块为。

26、小型可插拨 （Small Form Factor Pluggable， 简称 ： SFP） 接口的光模块， 则采用硬件信号进行光丢失指示， 相 应地， 检测模块可以通过硬件信号读取第一光模块发出的光丢失指示。 0051 步骤 202、 所述第一 PCIe 设备根据接收到的 M 路光信号， 确定所述第二 PCIe 设备 在位， 其中， M 为正整数。 0052 本实施例， 第一 PCIe 设备通过检测第一光模块是否接收到第二光模块发送的光 信号判断第二 PCIe 设备在位情况， 具体第一 PCIe 设备检测第一光模块接收到第二光模块 发送的 M 路光信号， 确定所述第二 PCIe 设备在位， 从。

27、而完成对采用了光纤传输 PCIe 信号时 的第二PCIe设备在位检测， 实现方式简单， 从而解决了现有技术进行第二PCIe设备在位检 测需要额外芯片， 实现复杂， 成本较高的问题。 0053 图3为本发明PCIe设备在位检测方法实施例二的流程图， 本实施例的方法也对应 于图 1 所示的 PCIe 系统。在本实施例在图 2 所示实施例的基础上增加了第一 PCIe 设备对 第二PCIe设备的可用通路数和标准通路数的确定过程， 以及后续的通信过程。 如图3所示， 本实施例的方法可以包括 ： 0054 步骤 301、 第一 PCIe 设备检测第一光模块接收到第二光模块发送的 M 路光信号。 0055 。

28、步骤 302、 所述第一 PCIe 设备根据接收到的 M 路光信号， 确定所述第二 PCIe 设备 在位。 0056 步骤303、 所述第一PCIe设备根据所述M路光信号确定所述第二PCIe设备有M路 可用通路。 说 明 书 CN 103532621 A 7 5/7 页 8 0057 步骤304、 所述第一PCIe设备根据所述M路可用通路确定所述第二PCIe设备的标 准通路数。 0058 基中， 可用通路是指 PCIe 设备能够进行通信的通路。 0059 进一步具体地， 当 2n M 2n+1时， 所述第一 PCIe 设备确定所述第二 PCIe 设备的 标准通路数为 2n， 其中， n 为整数。

29、， 并且 n 0。因为 PCIe 设备之间需要根据标准通路进行 通信， 因此， 当 PCIe 设备的可用通路数不是标准通路时， 需要确定 PCIe 可进行通信的标准 通路个数。 0060 目前 PCIe 芯片的标准通路数为 1、 2、 4、 8、 16、 32， 对应 n 的取值为 0、 1、 2、 3、 4、 5， 随 着 PCIe 标准规范的发展， 以及技术进步， n 也可能取更大的整数值。例如， 当 M 为 6 时， 所 述第一 PCIe 设备根据所述 6 路光信号确定所述第二 PCIe 设备有 6 路可用通路， 由于 6 大 于 4 而小于 8， 因此第一 PCIe 设备可以确定所述第。

30、二 PCIe 设备的可用的标准通路数为 4。 0061 步骤 305、 所述第一 PCIe 设备根据所述第二 PCIe 设备的标准通路数与所述第二 PCIe 设备通信。 0062 需要说明的是， 所述第一 PCIe 设备的标准通路数为 2r， 其中 r 为整数， r 0， 并且 2r M， 则所述方法还包括以下的步骤 406 或者步骤 407。 0063 步骤 306、 当 2r大于 M 时， 将所述第一 PCIe 设备的 （2r-2n） 路通路置为电气空闲状 态。 0064 步骤 307、 当 2r大于 M 时， 将所述第一 PCIe 设备的 （2r-2n） 路通路用于与另一 PCIe 设备。

31、通过光模块连接， 并进行本发明实施例所述的检测。 0065 其中， 步骤306和步骤307为并列的两种处理方式， 在实际执行时仅需要选择其中 一种。 0066 例如 r=3， 即所述第一 PCIe 设备的标准通路数为 8， 由于在步骤 404 中所述第一 PCIe 设备可以确定所述第二 PCIe 设备的可用的标准通路数为 4， 所述第一 PCIe 设备需要 使用的通路数为4， 这时， 需要将所述第一PCIe设备的另外4个通路置为电气空闲状态或设 置为与另一 PCIe 设备通过光模块连接。 0067 本实施例， 第一PCIe设备根据所述M路光信号确定所述第二PCIe设备有M路可用 通路， 并根据。

32、所述 M 路可用通路确定所述第二 PCIe 设备的标准通路数， 从而确定第一 PCIe 设备本身也需要使用的标准通路数， 根据所述标准通路数与所述第二 PCIe 设备通信， 实现 方式简单， 从而解决了现有技术进行第二 PCIe 设备在位检测需要额外芯片， 实现复杂， 成 本较高的问题 ； 同时可以完成第一PCIe设备与第二PCIe设备之间标准通路的协商， 实现第 一 PCIe 设备与第二 PCIe 设备通信。另外， 通过将第一 PCIe 设备的 （2r-2n） 路通路置为电 气空闲状态或设置与另一 PCIe 设备通过光模块连接， 从而完成对第一 PCIe 设备在本次通 信过程中不需使用的通路。

33、的处理。 0068 图 4 为本发明 PCIe 设备实施例一的结构示意图， 如图 4 所示， 本实施例的 PCIe 设 备 400 可以包括 ： 光信号检测模块 401、 处理模块 402， 还包括收发模块 403， 其中， 0069 光信号检测模块 401， 用于检测第一光模块接收到第二光模块发送的 M 路光信号 ； 其中， 所述第一光模块与第一 PCIe 设备连接， 所述第二光模块与第二 PCIe 设备连接， 所述 第一光模块与所述第二光模块通过光纤连接 ； 0070 处理模块402， 用于根据接收到的M路光信号， 确定所述第二PCIe设备在位， 其中， 说 明 书 CN 10353262。

34、1 A 8 6/7 页 9 M 为正整数。 0071 其中， 所述第二光模块发送的 M 路光信号是由所述第二 PCIe 设备触发的。 0072 需要说明的是， 光信号检测模块 401 可以为集成在第一 PCIe 设备中的检测逻辑， 在具体实现时， 也可以为独立于所述第一 PCIe 设备的主电路之外的单片机， 这时该单片机 需要与所述第一 PCIe 设备的主电路以及与第一光模块连接。 0073 第一光模块具有指示接收到第二光模块发送的光信号的个数的功能， 例如第一光 模块可以向光信号检测模块 401 发送一个指示信息， 使光信号检测模块 401 读取该指示信 息后确定第一光模块接收到 M 路光信。

35、号。 0074 本实施的 PCIe 设备可以作为图 1 所示实施例的第一 PCIe 设备， 用于执行图 2 或 3 所示方法实施例的技术方案， 其实现原理类似， 此处不再赘述。 0075 本实施例， 具体通过第一PCIe设备检测第一光模块接收到第二光模块发送的M路 光信号， 确定所述第二 PCIe 设备在位， 实现方式简单， 从而解决了现有技术进行第二 PCIe 设备在位检测需要额外芯片， 实现复杂， 成本较高的问题。 0076 进一步地， 所述处理模块 402 还可以用于 ： 0077 根据所述 M 路光信号确定所述第二 PCIe 设备有 M 路可用通路 ； 0078 根据所述 M 路可用通。

36、路确定所述第二 PCIe 设备的标准通路数。 0079 进一步地， 所述处理模块 402 还可以用于 ： 0080 当 2n M 2n+1时， 确定所述第二 PCIe 设备的标准通路数为 2n， 其中， n 为整数， 并且 n 0。 0081 进一步地， 所述收发模块 403， 可以用于在所述处理模块根据所述 M 路可用通路确 定所述第二 PCIe 设备的标准通路数之后， 根据所述第二 PCIe 设备的标准通路数与所述第 二 PCIe 设备通信。从而完成第一 PCIe 设备与第二 PCIe 设备之间标准通路的协商， 实现第 一 PCIe 设备与第二 PCIe 设备通信。 0082 进一步地， 。

37、所述第一 PCIe 设备的标准通路数为 2r， 其中 r 为整数， r 0， 并且 2r M， 所述处理模块 402 还用于 ： 当 2r大于 M 时， 将所述第一 PCIe 设备的 （2r-2n） 路通路 置为电气空闲状态 ； 或者， 所述处理模块402还用于 ： 当2r大于M时， 将所述第一PCIe设备 的 （2r-2n） 路通路设置与另一 PCIe 设备通过光模块连接， 进行上述在位检测步骤及标准通 路协商步骤， 从而完成对第一 PCIe 设备在本次通信过程中不需使用的通路的处理 0083 图 5 为本发明 PCIe 设备在位检测系统实施例的结构示意图， 如图 5 所示， 本实施 例的系。

38、统 500 包括 ： 第一 PCIe 设备 501、 第一光模块 502 和第二 PCIe 设备 503 和第二光模 块 504， 其中， 第一 PCIe 设备 501 可以采用图 4 所示的 PCIe 设备， 所述第二 PCIe 设备 503 也可以采用图 4 所示的 PCIe 设备，（所述第二 PCIe 设备 503 也可以采用现有技术的 PCIe 设备， 本实施例的系统的第一 PCIe 设备 501 和第二 PCIe 设备 503 只需要其中一个采用图 4 所示的 PCIe 设备即可） ， 所述第一 PCIe 设备 501 与所述第一光模块 502 连接， 所述第二 PCIe 设备 50。

39、3 与所述第二光模块 504 连接， 所述第二光模块 504 通过光纤与所述第一光模 块 502 连接。 0084 对应地， 本实施例的 PCIe 负载检测系统可以执行图 2 或图 3 所示方法实施例的技 术方案， 其实现原理类似， 此处不再赘述。 0085 本实施例的 PCIe 负载检测系统， 第一 PCIe 设备通过第一光模块接收光信号来判 说 明 书 CN 103532621 A 9 7/7 页 10 断第二PCIe设备在位， 实现方式简单， 从而解决了现有技术进行第二PCIe设备在位检测需 要额外芯片， 实现复杂， 成本较高的问题 ； 同时可以完成第一 PCIe 设备与第二 PCIe 。

40、设备之 间标准通路的协商， 实现第一 PCIe 设备与第二 PCIe 设备通信。 0086 本领域普通技术人员可以理解 ： 实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通 过程序指令相关的硬件来完成。前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中。该程 序在执行时， 执行包括上述各方法实施例的步骤 ； 而前述的存储介质包括 ： ROM、 RAM、 磁碟 或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。 0087 最后应说明的是 ： 以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案， 而非对其限制 ； 尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明， 本领域的普通技术人员应当理解 ： 其 依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改， 或者对其中部分或者全部技术特征 进行等同替换 ； 而这些修改或者替换， 并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技 术方案的范围。 说 明 书 CN 103532621 A 10 1/3 页 11 图 1 图 2 说 明 书 附 图 CN 103532621 A 11 2/3 页 12 图 3 说 明 书 附 图 CN 103532621 A 12 3/3 页 13 说 明 书 附 图 CN 103532621 A 13 。