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1、(10)申请公布号 CN 103136138 A (43)申请公布日 2013.06.05 CN 103136138 A *CN103136138A* (21)申请号 201110380080.4 (22)申请日 2011.11.24 G06F 13/20(2006.01) G06F 11/26(2006.01) (71)申请人 炬力集成电路设计有限公司 地址 519085 广东省珠海市高新区科技创新 海岸科技四路 1 号 (72)发明人 严家亮 雷长发 梅利 (74)专利代理机构 北京同达信恒知识产权代理 有限公司 11291 代理人 黄志华 (54) 发明名称 一种芯片、 芯片调试方法以及。
2、芯片与外部设 备通信的方法 (57) 摘要 本发明公开了一种芯片， 用于实现调试设备 的即插即用， 提高芯片系统调试的效率， 降低设 备调试和维修成本。该芯片包括处理器、 调试端 口、 数据传输端口以及数据传输管脚， 还包括 ： 时 分多路复用器， 与所述数据传输管脚连接， 用于根 据所述处理器的控制， 将经由所述调试端口和 / 或数据传输端口的信号通过所述数据传输管脚传 送。本发明同时公开了一种上述芯片的调试方法 以及上述芯片与外部设备进行通信的方法。 (51)Int.Cl. 权利要求书 2 页 说明书 6 页 附图 4 页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要。
3、求书2页 说明书6页 附图4页 (10)申请公布号 CN 103136138 A CN 103136138 A *CN103136138A* 1/2 页 2 1. 一种芯片， 包括处理器、 调试端口、 数据传输端口以及数据传输管脚， 其特征在于， 还 包括 ： 时分多路复用器， 与所述数据传输管脚连接， 用于根据所述处理器的控制， 将经由所述 调试端口和 / 或数据传输端口的信号通过所述数据传输管脚传送。 2. 如权利要求 1 所述的芯片， 其特征在于， 所述调试端口至少包括 JTAG 端口和通用异 步接收发送 UART 端口中的一种， 所述数据传输端口为安全数字输入输出 SDIO 端口。 3。
4、. 如权利要求 1 或 2 所述的芯片， 其特征在于， 所述时分多路复用器对应有寄存器， 用 于寄存所述处理器发送的选择控制信号 ； 所述时分多路复用器具体用于 ： 根据寄存的所述 选择控制信号， 选择 将经由所述调试端口的信号通过所述数据传输管脚传送 ； 或者 将经由所述数据传输端口的信号通过所述数据传输管脚传送 ； 或者 将经由所述调试端口的信号和经由所述数据传输端口的信号通过所述数据传输管脚 传送。 4. 如权利要求 3 所述的芯片， 其特征在于， 所述芯片的数据传输管脚连接有转接板， 所 述转接板具有与所述数据传输管脚数目相同且结构相匹配的数据传输接口， 并具有与外部 调试设备相连接的。
5、调试接口， 所述调试接口分别与相应的所述数据传输接口相连接。 5. 一种权利要求 1 所述芯片的调试方法， 其特征在于， 包括 ： 通过数据传输管脚将外部调试设备发送的调试信号传送至时分多路复用器， 所述时 分多路复用器根据接收的选择控制信号， 将所述调试信号经由对应的调试端口传送至处理 器 ； 所述选择控制信号是由处理器根据用户选择的调试类型向所述时分多路复用器发送 的 ； 所述处理器根据接收到的调试信号返回相应的返回信号， 经由所述对应的调试端口、 时分多路复用器以及数据传送管脚传送至所述外部调试设备。 6. 如权利要求 5 所述的方法， 其特征在于， 所述调试端口至少为 JTAG 端口和。
6、通用异步 接收发送 UART 端口中的一种。 7. 如权利要求 6 所述的方法， 其特征在于， 所述调试端口包括 JTAG 端口和通用异步接 收发送 UART 端口 ； 所述数据传输管脚包括用于传送经由所述 JTAG 端口的调试信号的第一 部分管脚， 以及用于传送经由所述 UART 端口的调试信号的第二部分管脚 ； 当所述第一部分管脚接收到 JTAG 调试设备发送的 JTAG 调试信号， 且所述第二部分管 脚接收到 UART 调试设备发送的 UART 调试信号时， 经所述时分多路复用器发送所述 JTAG 调 试信号至相应的 JTAG 端口， 以及发送所述 UART 调试信号至相应的 UART 。
7、端口 ； 与所述 JTAG 调试信号相应的返回信号和与所述 UART 调试信号相应的返回信号， 分别 经由相应的 JTAG 调试端口和相应的 UART 端口以及时分多路复用器， 分别由所述第一部分 管脚和所述第二部分管脚传送至连接的 JTAG 调试设备和 UART 调试设备。 8.如权利要求5、 6或7所述的方法， 其特征在于， 所述外部调试设备经由转接板与所述 芯片的数据传输管脚连接， 所述转接板具有与被调试芯片的数据传输管脚数目相同且结构 相匹配的数据传输接口， 并具有与外部调试设备相连接的调试接口， 所述调试接口分别与 相应的所述数据传输接口相连接。 9. 如权利要求 5 所述的方法， 。
8、其特征在于， 处理器根据用户选择的调试类型向所述时 权 利 要 求 书 CN 103136138 A 2 2/2 页 3 分多路复用器发送所述选择控制信号， 具体包括 ： 所述处理器检测到有按键按下时， 选择与所述按键对应的调试类型， 并将与该调试类 型对应的选择控制信号发送给所述时分多路复用器， 所述处理器中预设有按键与调试类型 的对应关系。 10. 一种权利要求 1 所述芯片与外部设备进行通信的方法， 其特征在于， 包括 ： 由芯片处理器发送外部设备检测命令至数据传输端口， 并控制所述时分多路复用器将 所述外部设备检测命令通过数据传输管脚发送 ； 所述外部设备检测命令用于检测所述数据 传输。
9、管脚是否连接有数据传输设备 ； 当所述处理器接收到返回的所述外部设备检测命令的响应消息后， 判定所述数据传输 管脚连接有数据传输设备， 则通过所述时分多路复用器将经由数据传输端口的业务数据通 过所述数据传输管脚传送。 11. 如权利要求 10 所述的方法， 其特征在于， 所述处理器按照预定时间间隔发送所述 外部设备检测命令。 12. 如权利要求 11 所述的方法， 其特征在于， 所述芯片还具有用于检测所述数据传输 管脚是否连接有外部设备的检测引脚 ； 当根据所述检测引脚确定出所述数据传输管脚连接有外部设备时， 所述处理器产生外 部中断， 启动发送所述外部设备检测命令。 13. 如权利要求 10。
10、 或 12 所述的方法， 其特征在于， 若所述处理器未收到返回的所述外 部设备检测命令的响应消息， 则控制所述时分多路复用器将经由所述调试端口的信号通过 所述数据传输管脚发送。 权 利 要 求 书 CN 103136138 A 3 1/6 页 4 一种芯片、 芯片调试方法以及芯片与外部设备通信的方法 技术领域 0001 本发明涉及电子技术领域， 尤其涉及一种芯片、 芯片调试方法以及芯片与外部设 备通信的方法。 背景技术 0002 JTAG(Joint Test Action Group) 是一种边界扫描技术， 用于进行芯片内部测 试， 可方便访问芯片系统 (SOC) 的调试模块， 用于实现程序。
11、的单步调试、 跟踪调试等， 并 且， 大部分 SOC 芯片都设有 JTAG 端口。通用异步接收发送器 (Universal Asynchronous Receiver/Transmitter， UART) 也是常用的软件开发调试手段， 用于在调试过程中输出一些 有用的调试信息， 以帮助开发人员了解程序运行情况， 使用非常广泛。 0003 然而， 一般在产品中不会直接使用 JTAG 和 UART 调试接口， 在完成开发阶段的成 品机中并没有将这些调试接口引出， 这就为产品开发阶段或后续在产品出现问题时进行调 试， 造成较大的困难。 例如， 在产品量产过程中， 若需要进行问题排查， 还需要重新引出。
12、调试 接口， 使得批量样机问题排查非常耗时， 效率低下 ； 又例如， 在产品返修时， 需要拆除外壳并 进行飞线， 以引出调试接口， 而外壳拆除极易损坏外壳， 且飞线的难度较大， 耗费时间较长。 0004 现有技术中， 通过协议转换在 PC 端注册一个串行通信 (COM) 端口， 把 UART 输出信 息通过 USB 物理接口传输过孔， 一定程度上改善了 UART 传输问题， 但是该方法仅能满足部 分 UART 的调试需求。 0005 而 ADB(Android Debug Bridge) 作为 Android 提供的通用调试工具， 物理接口为 USB， PC 端通过监听 Socket TCP 。
13、端口的方式与下位机通讯， 实现对下位机的控制以及调试 信息的传输等。但是 ADB 仅适用于调试 Android 平台的应用程序， 且仅限于上层应用程序， 对底层和驱动的调试却无能为力。 发明内容 0006 本发明提供一种芯片、 芯片调试方法以及芯片与外部设备通信的方法， 用以实现 调试设备的即插即用， 提高芯片系统调试的效率， 降低设备调试和维修成本。 0007 本发明实施例提供的具体技术方案如下 ： 0008 一种芯片， 包括 ： 处理器、 调试端口、 数据传输端口以及数据传输管脚， 还包括 ： 0009 时分多路复用器， 与所述数据传输管脚连接， 用于根据所述处理器的控制， 将经由 所述调。
14、试端口和 / 或数据传输端口的信号通过所述数据传输管脚传送。 0010 一种上述芯片的调试方法， 包括 ： 0011 通过数据传输管脚将外部调试设备发送的调试信号传送至时分多路复用器， 所述 时分多路复用器根据接收的选择控制信号， 将所述调试信号经由对应的调试端口传送至处 理器 ； 所述选择控制信号是由处理器根据用户选择的调试类型向所述时分多路复用器发送 的 ； 0012 所述处理器根据接收到的调试信号返回相应的返回信号， 经由所述对应的调试端 说 明 书 CN 103136138 A 4 2/6 页 5 口、 时分多路复用器以及数据传送管脚传送至所述外部调试设备。 0013 一种上述芯片与外。
15、部设备进行通信的方法， 包括 ： 0014 由芯片处理器发送外部设备检测命令至数据传输端口， 并控制所述时分多路复用 器将所述外部设备检测命令通过数据传输管脚发送 ； 所述外部设备检测命令用于检测所述 数据传输管脚是否连接有数据传输设备 ； 0015 当所述处理器接收到返回的所述外部设备检测命令的响应消息后， 判定所述数据 传输管脚连接有数据传输设备， 则通过所述时分多路复用器将经由数据传输端口的业务数 据通过所述数据传输管脚传送。 0016 基于上述技术方案， 本发明实施例中， 通过芯片处理器控制时分多路复用器将经 由数据传输端口和 / 或调试端口的信号通过芯片的数据传输管脚传送， 从而将经。
16、由调试端 口的信号经由数据传输管脚引出， 在对芯片系统进行调试时， 可以直接利用通过数据传输 管脚引出的经由调试端口的信号， 实现简单， 节约成本。并且， 在需要对芯片系统进行调试 时， 无需对产品进行拆壳飞线等破坏性处理， 提高了调试效率。同时， 通过芯片的数据传输 端口引出经由调试端口的信号有利于实现外部调试设备的即插即用， 不管是底层调试还是 系统、 驱动和应用调试， 即插即用的调试方式可以贯穿整个产品项目的开发或维修调试过 程， 进一步提高了调试效率， 节约了成本。 附图说明 0017 图 1 为本发明实施例中芯片结构示意图 ； 0018 图 2 为本发明实施例中一种具体实现方式的芯片。
17、结构示意图 ； 0019 图 3 为本发明实施例中芯片调试方法流程图 ； 0020 图 4 为本发明实施例中通过按键选择调试类型的示意图 ； 0021 图 5 为本发明一个具体实施例中芯片与外部设备连接关系示意图 ； 0022 图 6 为本发明实施例中转接板结构示意图 ； 0023 图 7 为本发明实施例中芯片与外部设备通信的方法流程图 ； 0024 图 8 为本发明实施例中芯片 SDIO 管脚复用状态切换流程图。 具体实施方式 0025 为了实现调试设备的即插即用， 提高芯片系统调试的效率， 降低设备调试和维修 成本， 本发明提供了一种芯片、 芯片的调试方法以及芯片与外部设备进行通信的方法。。
18、 0026 下面结合附图对本发明优选的实施方式进行详细说明。 0027 如附图 1 所示， 本发明实施例提供了一种芯片， 该芯片包括处理器 10、 调试端口 11、 数据传输端口 12 以及数据传输管脚 13， 此外， 该芯片还包括 ： 时分多路复用器 14， 该时 分多路复用器 14 与数据传输管脚 13 连接， 用于根据处理器 10 的控制， 将经由调试端口 11 和 / 或数据传输端口 12 的信号通过数据传输管脚 13 传送。 0028 其中， 调试端口至少包括 JTAG 端口和异步接收发送 (UART) 端口中的一种， 数据 传输端口为安全数字输入输出 (SDIO) 端口， 与 SD。
19、IO 端口对应的数据传输管脚为 SDIO 管 脚。实际应用中， 只要芯片相应信号所占用的管脚数目能够满足调试信号所需占用的管脚 数据， 且该信号能够与调试信号通过时分多路复用器实现相应管脚的复用即可。 说 明 书 CN 103136138 A 5 3/6 页 6 0029 较佳地， 如附图 2 所示， 可以将经由 JTAG 端口 20 的信号、 经由 UART 端口 21 的信 号以及经由 SDIO 端口 22 的信号通过时分多路复用器 14 后经 SDIO 管脚传送。 0030 其中， 时分多路复用器对应有寄存器， 用于寄存处理器发送的选择控制信号， 时分 多路复用器根据寄存的选择控制信号，。
20、 将经由调试端口的信号通过数据传输管脚传送， 或 者将经由数据传输端口的信号通过数据传输管脚传送， 或者将经由调试端口的信号和经由 数据传输端口的信号通过数据传输管脚传送。 0031 其中， 将经由调试端口的信号通过数据传输管脚传送， 可以是同时有一种调试端 口的信号通过数据传输管脚传送， 也可以是同时有两种或两种以上的调试端口的信号通过 数据传输管脚传送。在一个较佳的实施例中， 时分多路复用器中针对每一信号比特位都相 应的设置有寄存器， 每一比特位的寄存器寄存的控制信号用于控制针对该比特位信号的复 用状态切换， 从而可以实现时分多路复用器对信号的一个比特位分别进行控制， 例如， 可以 通过时。
21、分多路复用器实现同时输出部分 JTAG 信号和部分 UART 信号， 也可以通过时分多路 复用器实现同时输出部分 JTAG 信号和部分 SDIO 信号。 0032 较佳地， 芯片的数据传输管脚连接有转接板， 该转接板具有与数据传输管脚数目 相同且结构相匹配的数据传输接口， 并具有与外部调试设备相连接的调试接口， 该调试接 口分别与相应的数据传输接口相连接。 0033 如附图 3 所示， 本发明实施例还提供了一种上述芯片的调试方法， 其详细流程如 下 ： 0034 步骤 301 ： 通过数据传输管脚将外部调试设备发送的调试信号传送至时分多路复 用器， 时分多路复用器根据接收的选择控制信号， 将调。
22、试信号经由对应的调试端口传送至 处理器， 其中， 选择控制信号是由处理器根据用户选择的调试类型向时分多路复用器发送 的。 0035 其中， 调试类型为用户根据当前的采用的外部调试设备以及该外部调试设备对应 的芯片的调试端口确定。 例如， 若当前需要进行JTAG调试， 则将调试类型设定为JTAG调试， 处理器根据用户指定的JTAG调试类型， 发送与JTAG调试类型对应的选择控制信号， 时分多 路复用器在该选择控制信号的控制下将数据传输管脚复用为传送经由 JTAG 端口的信号。 0036 实际应用中， 对调试类型的选择实现方式有多种， 较佳的一种实现方式为在芯片 处理器中预设按键与调试类型的关系，。
23、 用户根据当前采用的外部调试设备确定调试类型 后， 将与调试类型对应的按键按下， 处理器在检测到有按键按下时， 选择与该按键相应的调 试类型， 并将与该调试类型对应的选择控制信号发送给时分多路复用器。例如， 如附图 4 所示， 芯片上电后， 检测是否有按键按下， 若有， 则选择该按键对应的调试类型， 否则， 通过 SDIO 端口传输数据。 0037 步骤 302 ： 由处理器根据接收的调试信号返回相应的返回信号， 经由对应的调试 端口、 时分多路复用器以及数据传送管脚传送至外部调试设备。 0038 其中， 调试端口至少为 JTAG 端口和 UART 端口中的一种。 0039 较佳地， 调试端口。
24、包括JTAG端口和通用异步接收发送(UART)端口， 数据传输管脚 包括用于传送经由 JTAG 端口的调试信号的第一部分管脚， 以及用于传送经由 UART 端口的 调试信号的第二部分管脚 ； 当第一部分管脚接收到JTAG调试设备发送的JTAG调试信号， 且 第二部分管脚接收到 UART 调试设备发送的 UART 调试信号时， 经时分多路复用器发送 JTAG 说 明 书 CN 103136138 A 6 4/6 页 7 调试信号至相应的 JTAG 端口， 以及发送 UART 调试信号至相应的 UART 端口 ； 与 JTAG 调试信 号相应的返回信号和与 UART 调试信号相应的返回信号， 分别。
25、经由相应的 JTAG 调试端口和 相应的 UART 端口以及时分多路复用器， 分别由第一部分管脚和第二部分管脚传送至连接 的 JTAG 调试设备和 UART 调试设备。该实现方式可以将 JTAG 调试信号通过数据传输管脚 中的第一部分进行传送， 同时将 UART 调试信号通过数据传输管脚的第二部分进行传送， 同 时可以使用 JTAG 调试设备和 UART 调试设备对芯片进行调试。 0040 以数据传输管脚为 SDIO 管脚为例， 可以针对 SDIO 管脚中每一个管脚分别进行设 置， 即将 SDIO 管脚中的一部分用于输出 UART 信号， 另一部分用于输出 JTAG 信号， 从而能够 同时实现。
26、 UART 和 JTAG 信号输出。其中， 能够同时将 SDIO 管脚切换为 UART 和 JTAG 信号输 出的管脚复用方式有很多种， 例如， 表 1 所示为实现同时切换为 UART 和 JTAG 信号输出的一 种管脚复用方式， 0041 表 1 0042 管脚名称 SDIO 信号 调试信号 P_SD0_D0 SD0_D0 UART_RX P_SD0_D1 SD0_D1 UART_TX P_SD0_D2 SD0_D2 EJ_TDO P_SD0_D3 SD0_D3 EJ_TDI P_SD0_CLK SD0_CLK EJ_TCK P_SD0_CMD SD0_CMD EJ_TMS 0043 以数据。
27、传输设备为标准 SDIO 设备， 数据传输管脚为 SDIO 管脚为例， 在标准 SDIO 设备为安全数字存储卡 ( 即 SD 卡 ) 时， 将 SD 卡插入相应的卡槽中， 以与位于卡槽内的芯片 的 SDIO 管脚相连接， 实现 SDIO 功能， 这就使得在需要对芯片进行调试时， 同样需要将位于 卡槽内的 SDIO 管脚传送的 JTAG 信号和 / 或 UART 信号引出， 如附图 5 所示， 以与外部调试 设备连接， 才能够对芯片系统进行调试。 0044 在一个较佳的实施例中， 外部调试设备经由转接板与芯片的数据传输管脚连接， 该转接板具有与被调试芯片的数据传输管脚数目相同且结构相匹配的数据传。
28、输接口， 并具 有与外部调试设备相连接的调试接口， 调试接口分别与相应的数据传输接口相连接。 0045 以数据传输管脚为 SDIO 管脚， 数据传输端口为 SDIO 端口， 外部调试设备为 JTAG 和 UART 为例， 如附图 6 所示， 转接板主要包括与芯片管脚连接的部分 61 和附加部分 62， 其 中， 与芯片管脚连接的部分 61 上设置有与被调试芯片的 SDIO 管脚数目相同且结构相匹配 的SDIO接口610 ； 附加部分62上设置有用于连接JTAG调试设备的JTAG连接端口620和用 于连接 UART 调试设备的 UART 连接端口 621， JTAG 连接端口 620 和 UAR。
29、T 连接端口 621 分别 与相应的 SDIO 接口相连接。在进行调试时， 将该转接板插入 SD 卡的卡槽中即可通过 SDIO 接口将 JTAG 信号和 / 或 UART 信号引出至 JTAG 调试设备和 / 或 UART 调试设备， 从而实现 说 明 书 CN 103136138 A 7 5/6 页 8 调试设备的即插即用， 提高调试效率。 0046 如附图 7 所示， 本发明实施例中还提供了一种上述芯片与外部设备进行通信的方 法， 其详细流程如下 ： 0047 步骤 701 ： 由芯片处理器发送外部设备检测命令至数据传输端口， 并控制时分多 路复用器将外部设备检测命令通过数据传输管脚发送，。
30、 其中， 外部设备检测命令用于检测 数据传输管脚是否连接有数据传输设备。 0048 其中， 处理器发送外部设备检测命令可以有以下两种方式 ： 第一种实现方式为处 理器按照预定的时间间隔发送外部设备检测命令 ； 第二种实行方式为在芯片上设有用于检 测数据传输管脚是否连接有外部设备的检测引脚， 当根据检测引脚确定出数据传输管脚连 接有外部设备时， 处理器产生外部中断， 启动发送外部设备检测命令。 0049 在一个具体的实现方式中， 数据传输端口为 SDIO 端口， 数据传输管脚为 SDIO 管 脚， 数据传输设备为标准 SDIO 设备， 外部设备检测命令为 SDIO 标准命令字， 通过 SDIO 。
31、标准 命令字查询与芯片的 SDIO 管脚连接的是否为标准 SDIO 设备。 0050 步骤 702 ： 当处理器接收到返回的外部设备检测命令的响应消息后， 判定数据传 输管脚连接有数据传输设备， 则通过时分多路复用器将经由数据传输端口的业务数据通过 数据传输管脚传送。 0051 本实施例中， 若处理器未收到返回的外部设备检测命令的响应消息， 则控制时分 多路复用器将经由调试端口的信号通过数据传输管脚发送。也就是说， 在数据传输管脚未 连接数据传输设备时， 通过时分多路复用器将该数据传输管脚用于传送调试信号， 在处理 器发送外部设备检测命令时， 控制时分多路复用器将数据传输管脚用于传送经由数据传。
32、输 端口的业务数据。 0052 其中， 实现芯片数据传输管脚的复用可以有多种实现方式， 例如， 将芯片 SDIO 管 脚通过时分多路复用器复用为传送经由 JTAG 端口的信号、 经由 UART 端口的信号和经由 SDIO端口的信号， 其复用关系可以有多种设置方式， 如表2所示， 为芯片SDIO管脚的复用关 系中的一种 ： 0053 表 2 0054 0055 以数据传输端口为 SDIO 端口， 数据传输管脚为 SDIO 管脚， 数据传输设备为标准 SDIO设备为例， 如附图8所示， 在芯片上电后， 芯片的时分多路复用器默认将芯片的SDIO管 说 明 书 CN 103136138 A 8 6/6。
33、 页 9 脚复用为传送调试端口的信号， 芯片处理器按照预定的时间间隔发送 SDIO 标准命令字， 同 时控制时分多路复用器将该芯片的 SDIO 管脚用为传送 SDIO 端口的信号， 并在接收到标准 SDIO 设备返回的响应后， 在时分多路复用器将 SDIO 管脚用为传送 SDIO 端口信号的复用状 态下， 在芯片的 SDIO 端口和标准 SDIO 设备之间进行数据传输。 0056 基于上述技术方案， 本发明实施例中， 通过芯片处理器控制时分多路复用器将经 由数据传输端口和 / 或调试端口的信号通过芯片的数据传输管脚传送， 从而将经由调试端 口的信号经由数据传输管脚引出， 在对芯片系统进行调试时。
34、， 可以直接利用通过数据传输 管脚引出的经由调试端口的信号， 实现简单， 节约成本。并且， 在需要对芯片系统进行调试 时， 无需对产品进行拆壳飞线等破坏性处理， 提高了调试效率。同时， 通过芯片的数据传输 端口引出经由调试端口的信号有利于实现外部调试设备的即插即用， 不管是底层调试还是 系统、 驱动和应用调试， 即插即用的调试方式可以贯穿整个产品项目的开发或维修调试过 程， 进一步提高了调试效率， 节约了成本。 0057 同时， 本发明实施中， 通过转接板与数据传输管脚相连接， 将调试信号引出， 以用 于对芯片系统进行调试， 从而实现了外部调试设备的即插即用， 不管是底层调试所需的 JTAG 。
35、端口， 还是系统、 驱动和应用调试所需的 UART 端口， 即插即用的调试方式可以贯穿整 个产品项目的开发或维修调试过程， 进一步提高了调试效率， 节约了成本。 0058 显然， 本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精 神和范围。这样， 倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围 之内， 则本发明也意图包含这些改动和变型在内。 说 明 书 CN 103136138 A 9 1/4 页 10 图 1 图 2 说 明 书 附 图 CN 103136138 A 10 2/4 页 11 图 3 图 4 说 明 书 附 图 CN 103136138 A 11 3/4 页 12 图 5 图 6 图 7 说 明 书 附 图 CN 103136138 A 12 4/4 页 13 图 8 说 明 书 附 图 CN 103136138 A 13 。