一种修复希捷硬盘磁头故障的方法.pdf

本发明公开了一种修复希捷硬盘磁头故障的方法，包括以下步骤：S1：选出正常硬盘中与故障盘Model号、SN号前三位、固件版本号都一致的盘则作为匹配盘；S2：找到匹配盘和故障盘的磁头偏离率，找到磁头偏离率最接近故障盘的匹配盘；S3：重组并替换故障盘ROM中的磁头参数。本发明解决了硬盘更换磁头后无法适配的问题；通过两次筛选，快速且准确找到最接近故障盘的匹配盘，防止在适配过程中匹配盘数据不兼容的情况；能够找到并重组SAP数据，修复硬盘成功率高并降低修复时间。

1.  一种修复希捷硬盘磁头故障的方法，其特征在于包括以下步骤： 
S1：选出正常硬盘中与故障盘Model号、SN号前三位、固件版本号都一致的盘则作为匹配盘；
S2：找到匹配盘和故障盘的磁头偏离率，找到磁头偏离率最接近于故障盘的匹配盘；
S3：重组并替换故障盘ROM中的SAP磁头参数。

2.  根据权利要求1的一种修复西数硬盘无法访问数据的方法，其特征在于所述S2的详细步骤如下：
S201：通过指令使匹配盘和故障盘都进入T级模式，然后进入2级指令模式；
S202：获取匹配盘和故障盘的磁头偏离率；
S203：对比匹配盘和故障盘的磁头偏离率，找到最接近故障盘的匹配盘作为最终需要的匹配盘，淘汰其他匹配盘。

3.  根据权利要求1的一种修复西数硬盘无法访问数据的方法，其特征在于所述S3的详细步骤如下：
S301：读取匹配盘和故障盘的ROM数据；
S302：找到ROM数据体内的SAP数据的存储位置；
S303：计算SAP数据体的大小，并提取；
S304：将SAP数据体的前后8个字节去掉；
S305：将SAP数据体分为5个数据段；
S306：将匹配盘的第二数据段和第四数据段写入故障盘SAP数据体的相应位置替换原有数据；
S307：将替换完成的新SAP数据体写入故障盘的ROM中替换原有的SAP数据体。

4.  根据权利要求3的一种修复西数硬盘无法访问数据的方法，其特征在于所述S305中的数据体分段方式如下：
第一数据段为：“0~4B”；
第二数据段为：“4C~2CD”；
第三数据段为：“2CE~2FC”；
第四数据段为：“2FD~32C”；
第五数据段为：“32D~尾部”。

一种修复希捷硬盘磁头故障的方法
技术领域
本发明涉及信息安全技术领域，特别涉及一种修复希捷硬盘磁头故障的方法。
背景技术
硬盘是通过磁头的读写来存放数据的，由于硬盘使用时间过长和不特定因素的影响，如在硬盘工作过程中抖动硬盘都会使硬盘的磁头损伤，导致硬盘ATA状态一直长忙或者坏死，这时硬盘就没有办法读取到硬盘中的数据，并出现会无法寻道、敲盘、异响、甚至无法起转等现象。
目前，修复希捷硬盘磁头故障的方法主要是采用更换磁头的方式，但是更换磁头后容易出现磁头与盘体不匹配的情况，这时硬盘无法正常工作。
发明内容
本发明针对现有技术的缺陷，提出一种修复希捷硬盘磁头故障的方法，其特征在于包括以下步骤：
S1：选出正常硬盘中与故障盘Model号、SN号前三位、固件版本号都一致的盘则作为匹配盘；
S2：找到匹配盘和故障盘的磁头偏离率，找到磁头偏离率最接近于故障盘的匹配盘；
S3：重组并替换故障盘ROM中的SAP磁头参数。
作为优选，所述S2的详细步骤如下：
S201：通过指令使匹配盘和故障盘都进入T级模式，然后进入2级指令模式；
S202：获取匹配盘和故障盘的磁头偏离率；
S203：对比匹配盘和故障盘的磁头偏离率，找到最接近故障盘的匹配盘作为最终需要的匹配盘，淘汰其他匹配盘。
作为优选，所述S3的详细步骤如下：
S301：读取匹配盘和故障盘的ROM数据；
S302：找到ROM数据体内的SAP数据的存储位置；
S303：计算SAP数据体的大小，并提取；
S304：将SAP数据体的前后8个字节去掉；
S305：将SAP数据体分为5个数据段；
S306：将匹配盘的第二数据段和第四数据段写入故障盘SAP数据体的相应位置替换原有数据；
S307：将替换完成的新SAP数据体写入故障盘的ROM中替换原有的SAP数据体。
作为优选，所述S305中的数据体分段方式如下：
第一数据段为：“0~4B”；
第二数据段为：“4C~2CD”；
第三数据段为：“2CE~2FC”；
第四数据段为：“2FD~32C”；
第五数据段为：“32D~尾部”。
与现有技术相比本发明的优点在于：解决了硬盘更换磁头后无法适配的问题；通过两次筛选，快速且准确找到最接近故障盘的匹配盘，防止在适配过程中匹配盘数据不兼容的情况；能够找到并重组SAP数据，修复过程不会破坏硬盘存储的数据，修复硬盘成功率高并降低修复所花费的时间。
附图说明
图1为本发明实施例的主流程图； 
图2为本发明步骤S2的详细流程图；
图3为本发明步骤S3的详细流程图。
具体实施方式
为了详细说明本发明的具体实施方式，下面结合附图说明：
如图1所示，一种修复希捷硬盘磁头故障的方法，其特征在于包括以下步骤： 
S1：选出正常硬盘中与故障盘Model号、SN号前三位、固件版本号都一致的盘则作为匹配盘；
这里通过查看硬盘外标签model号必须一致。
通过查看硬盘外标签SN号前三位必须一致：SN第一位表示制造地点(W = 无锡, S = 苏州, Z = 泰国)；SN第二位表示盘片类型（盘片类型/密度（1 = 1TB/platter，2 = 500GB/platter））；SN第三位表示磁头个数（E = 4磁头，F = 6磁头，D = 2磁头）；
通过硬盘外标签固件版本号（FW）必须一致。
S2：找到匹配盘和故障盘的磁头偏离率，找到磁头偏离率最接近于故障盘的匹配盘；
S3：重组并替换故障盘ROM中的SAP磁头参数。
如图2所示，所述S2的详细步骤如下：
S201：通过指令使匹配盘和故障盘都进入T级模式，然后进入2级指令模式；
S202：获取匹配盘和故障盘的磁头偏离率；
S203：对比匹配盘和故障盘的磁头偏离率，找到最接近故障盘的匹配盘作为最终需要的匹配盘，淘汰其他匹配盘。
如图3所示，所述S3的详细步骤如下：
S301：读取匹配盘和故障盘的ROM数据；
需要说明的是，下面所提到的“XX XX XX”为可变值；
S302：找到ROM数据体内的SAP数据的存储位置，这里找到SAP的存放地址有两种方式，第一种为：找ROM头部以，以4个字节为一组，找到SAP特征“05 XX XX XX”，该值为SAP数据体的头部偏移特征，跳转即可得到SAP数据体头部位置。
第二种为： ROM头部中以4字节为一组进行检索，找到SAP基地址偏移特征“24 XX XX XX”，通过该特征跳转后以4直接为一组向后检索找到SAP特征“05 XX XX XX”。
例如：SAP基地址特征为“24 00 00 10”，那么“0x10000”就是SAP基地址偏移特征，跳转后以4字节为一组向后检索到“05 86 68 00”，
通过“0x10000”+“0x6886”=“0x18668”得到SAP数据体头部偏移位置为“0x18668”。
S303：计算SAP数据体的大小，并提取；所述大小的计算方法为4个自己为一组，SAP特征后的一组数据的后三个字节减去SAP特征后三个字节的值等于SAP数据体大小。例如SAP特征为“05 00 00 07”后面接着是RAP特征“06 00 50 07”，那么通过“0x07500”-“0x07000”得到SAP数据体大小。
S304：将SAP数据体的前后8个字节去掉；
S305：将SAP数据体分为5个数据段；
第一数据段为：“0~4B”；
第二数据段为：“4C~2CD”；
第三数据段为：“2CE~2FC”；
第四数据段为：“2FD~32C”；
第五数据段为：“32D~尾部”。
S306：将匹配盘的第二数据段和第四数据段写入故障盘SAP数据体的相应位置替换原有数据；
S307：将替换完成的新SAP数据体写入故障盘的ROM中替换原有的SAP数据体。
以上描述阐述了具体细节以便充分理解本发明，但本发明还可以采用其他不同于此描述方式来实施，因此本发明并不限于以上公开的具体实施。