一种高效研磨组合物.pdf

上传人:111****11 文档编号:44942 上传时间:2018-01-18 格式:PDF 页数:3 大小:355.36KB
返回 下载 相关 举报
摘要
申请专利号:

CN201410282468.4

申请日:

2014.06.23

公开号:

CN104046254A

公开日:

2014.09.17

当前法律状态:

公开

有效性:

审中

法律详情:

公开

IPC分类号:

C09G1/02

主分类号:

C09G1/02

申请人:

青岛祥海电子有限公司

发明人:

张昊亮

地址:

266000 山东省青岛市李沧区铜川路17号综合楼221室

优先权:

专利代理机构:

代理人:

PDF下载: PDF下载
内容摘要

本发明公开了一种高效研磨组合物,其特征在于,包括下列重量份数的物质:磷酸二氢钙1-7份,磷酸氢钙1-3份,过氧化苯甲酰11-18份,乙酸正丁酯14-21份,水杨酸钠2-9份,高岭土9-10份,季戊四醇1-5份,氰尿酸三聚氰胺盐2-3份,水性介质50-55份,纳米石墨粉1-2份,蒙脱土1-3份,氯化钙2-5份。本发明的化学机械研磨剂中包括亲水基表面洁性剂材料,可以降低化学机械研磨剂和正在水性薄膜间的表面张力,使化学机械研磨剂和琉水性薄膜更紧密贴合。

权利要求书

1.  一种高效研磨组合物,其特征在于,包括下列重量份数的物质:磷酸二氢钙1-7份,磷酸氢钙1-3份,过氧化苯甲酰11-18份,乙酸正丁酯14-21份,水杨酸钠2-9份,高岭土9-10份,季戊四醇1-5份,氰尿酸三聚氰胺盐2-3份,水性介质50-55份,纳米石墨粉1-2份,蒙脱土1-3份,氯化钙2-5份。

说明书

一种高效研磨组合物
技术领域
本发明涉及一种研磨组合物。
背景技术
在半导体制造中,化学机械研磨 (CMP) 技术可以实现整个晶圆的平坦化,成为芯片制造工艺中重要的步骤之一。在化学机械研磨中,化学机械研磨剂 (Slurry) 是化学机械研磨技术的关键要素之一,其性能直接影响抛光后表面的质量。设计化学机械研磨剂时,希望能达到去除速率高、平面度好、膜厚均匀、无残留、缺陷少等效果。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种高效研磨组合物。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是:
一种高效研磨组合物,其特征在于,包括下列重量份数的物质:磷酸二氢钙1-7份,磷酸氢钙1-3份,过氧化苯甲酰11-18份,乙酸正丁酯14-21份,水杨酸钠2-9份,高岭土9-10份,季戊四醇1-5份,氰尿酸三聚氰胺盐2-3份,水性介质50-55份,纳米石墨粉1-2份,蒙脱土1-3份,氯化钙2-5份。
本发明的化学机械研磨剂中包括亲水基表面洁性剂材料,可以降低化学机械研磨剂和正在水性薄膜间的表面张力,使化学机械研磨剂和琉水性薄膜更紧密贴合,从而减少琉水性薄膜表面上的残留物和颗粒等缺陷,改善化学机械研磨的效果。
具体实施方式
实施例1
一种高效研磨组合物,其特征在于,包括下列重量份数的物质:磷酸二氢钙1-7份,磷酸氢钙1-3份,过氧化苯甲酰11-18份,乙酸正丁酯14-21份,水杨酸钠2-9份,高岭土9-10份,季戊四醇1-5份,氰尿酸三聚氰胺盐2-3份,水性介质50-55份,纳米石墨粉1-2份,蒙脱土1-3份,氯化钙2-5份。

一种高效研磨组合物.pdf_第1页
第1页 / 共3页
一种高效研磨组合物.pdf_第2页
第2页 / 共3页
一种高效研磨组合物.pdf_第3页
第3页 / 共3页
亲,该文档总共3页,全部预览完了,如果喜欢就下载吧!
资源描述

《一种高效研磨组合物.pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《一种高效研磨组合物.pdf(3页珍藏版)》请在专利查询网上搜索。

1、10申请公布号CN104046254A43申请公布日20140917CN104046254A21申请号201410282468422申请日20140623C09G1/0220060171申请人青岛祥海电子有限公司地址266000山东省青岛市李沧区铜川路17号综合楼221室72发明人张昊亮54发明名称一种高效研磨组合物57摘要本发明公开了一种高效研磨组合物,其特征在于,包括下列重量份数的物质磷酸二氢钙17份,磷酸氢钙13份,过氧化苯甲酰1118份,乙酸正丁酯1421份,水杨酸钠29份,高岭土910份,季戊四醇15份,氰尿酸三聚氰胺盐23份,水性介质5055份,纳米石墨粉12份,蒙脱土13份,氯化。

2、钙25份。本发明的化学机械研磨剂中包括亲水基表面洁性剂材料,可以降低化学机械研磨剂和正在水性薄膜间的表面张力,使化学机械研磨剂和琉水性薄膜更紧密贴合。51INTCL权利要求书1页说明书1页19中华人民共和国国家知识产权局12发明专利申请权利要求书1页说明书1页10申请公布号CN104046254ACN104046254A1/1页21一种高效研磨组合物,其特征在于,包括下列重量份数的物质磷酸二氢钙17份,磷酸氢钙13份,过氧化苯甲酰1118份,乙酸正丁酯1421份,水杨酸钠29份,高岭土910份,季戊四醇15份,氰尿酸三聚氰胺盐23份,水性介质5055份,纳米石墨粉12份,蒙脱土13份,氯化钙2。

3、5份。权利要求书CN104046254A1/1页3一种高效研磨组合物技术领域0001本发明涉及一种研磨组合物。背景技术0002在半导体制造中,化学机械研磨CMP技术可以实现整个晶圆的平坦化,成为芯片制造工艺中重要的步骤之一。在化学机械研磨中,化学机械研磨剂SLURRY是化学机械研磨技术的关键要素之一,其性能直接影响抛光后表面的质量。设计化学机械研磨剂时,希望能达到去除速率高、平面度好、膜厚均匀、无残留、缺陷少等效果。发明内容0003本发明所要解决的技术问题是提供一种高效研磨组合物。0004为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是一种高效研磨组合物,其特征在于,包括下列重量份数的物质磷酸二氢钙。

4、17份,磷酸氢钙13份,过氧化苯甲酰1118份,乙酸正丁酯1421份,水杨酸钠29份,高岭土910份,季戊四醇15份,氰尿酸三聚氰胺盐23份,水性介质5055份,纳米石墨粉12份,蒙脱土13份,氯化钙25份。0005本发明的化学机械研磨剂中包括亲水基表面洁性剂材料,可以降低化学机械研磨剂和正在水性薄膜间的表面张力,使化学机械研磨剂和琉水性薄膜更紧密贴合,从而减少琉水性薄膜表面上的残留物和颗粒等缺陷,改善化学机械研磨的效果。具体实施方式0006实施例1一种高效研磨组合物,其特征在于,包括下列重量份数的物质磷酸二氢钙17份,磷酸氢钙13份,过氧化苯甲酰1118份,乙酸正丁酯1421份,水杨酸钠29份,高岭土910份,季戊四醇15份,氰尿酸三聚氰胺盐23份,水性介质5055份,纳米石墨粉12份,蒙脱土13份,氯化钙25份。说明书CN104046254A。

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
相关搜索

当前位置:首页 > 化学;冶金 > 染料;涂料;抛光剂;天然树脂;黏合剂;其他类目不包含的组合物;其他类目不包含的材料的应用


copyright@ 2017-2020 zhuanlichaxun.net网站版权所有
经营许可证编号:粤ICP备2021068784号-1