用于测试SFP的检测装置.pdf

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1、(10)申请公布号 CN 104301035 A (43)申请公布日 2015.01.21 C N 1 0 4 3 0 1 0 3 5 A (21)申请号 201410554644.5 (22)申请日 2014.10.17 H04B 10/07(2013.01) (71)申请人深圳市易飞扬通信技术有限公司 地址 518067 广东省深圳市南山区科技园科 技中一路创业印章大厦二楼西 (72)发明人秦伟东 李振东 (74)专利代理机构广州华进联合专利商标代理 有限公司 44224 代理人胡海斌 (54) 发明名称 用于测试SFP的检测装置 (57) 摘要 用于测试SFP的检测装置通过误码检测模块 。

2、及码型发生模块配合时钟控制模块及主控制模块 来检测SFP的误码率;通过光电转换模块及模数 转换模块配合主控制模块检测光功率。通过主控 制模块读取SFP内的地址数据获取数字诊断数 据。从而实现SFP的误码检测、数字诊断数据获 取及光功率的检测。且误码检测模块、码型发生 模块、时钟控制模块、主控制模块、光电转换模块 及模数转换模块集成为一体,因此,用于测试SFP 的检测装置不仅能够检测实现SFP的多个功能测 试,且方便用户携带。 (51)Int.Cl. 权利要求书1页 说明书4页 附图2页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书1页 说明书4页 附图2页 (10)申。

3、请公布号 CN 104301035 A CN 104301035 A 1/1页 2 1.一种用于测试SFP的检测装置,其特征在于,包括误码检测模块、码型发生模块、时 钟控制模块、主控制模块、光电转换模块及模数转换模块; 所述光电转换模块连接所述模数转换模块,所述主控制模块同时连接所述时钟控制模 块、所述模数转换模块及所述误码检测模块,所述误码检测模块还与所述时钟检测模块及 所述码型发生模块连接; 所述码型发生模块用于根据所述时钟控制模块发出的时钟信号生成伪随机二进制序 列,并发送给SFP;所述伪随机二进制序列经由SFP的光路衰减后发送给所述误码检测模 块;所述误码检测模块用于根据经由所述SFP。

4、衰减后的伪随机二进制序列判断所述SFP的 误码率是否合格; 所述光电转换模块用于将其接收到的光信号转换成电流信号,输出给所述模数转换模 块,所述模数转换模块将接收的模拟信号转换为数字信号后输出给所述主控制模块,所述 主控制模块用于根据接收的数字信号计算光功率的大小; 所述主控制模块还用于通过I2C总线连接所述SFP,所述主控制模块用于读取所述SFP 内的地址数据并还原为数字诊断数据; 所述误码检测模块、所述码型发生模块、所述时钟控制模块、所述主控制模块、所述光 电转换模块及所述模数转换模块集成封装为一体。 2.根据权利要求1所述的用于测试SFP的检测装置,其特征在于,还包括分别连接所述 光电转。

5、换模块和所述模数转换模块的第一放大器,所述第一放大器用于放大所述光电转换 模块输出的电流信号,并将放大后的电流信号输出给所述模数转换模块。 3.根据权利要求1所述的用于测试SFP的检测装置,其特征在于,还包括分别连接所 述SFP及所述主控制模块的第二放大器;所述第二放大器用于将所述SFP上产生的压降进 行放大,并将放大后的压降输出给所述主控制模块,所述主控制模块用于根据接收的压降 信号计算出所述SFP上的电流。 4.根据权利要求1所述的用于测试SFP的检测装置,其特征在于,所述光电转换模块包 括光电二极管。 5.根据权利要求1所述的用于测试SFP的检测装置,其特征在于,所述误码检测模块和 所述。

6、码型发生模块为芯片VSC8228;所述芯片VSC8228用于码型发生和误码检测。 6.根据权利要求1所述的用于测试SFP的检测装置,其特征在于,所述时钟控制模块包 括时钟芯片SYS58029U。 7.根据权利要求1所述的用于测试SFP的检测装置,其特征在于,所述主控制模块包括 芯片C8051F380。 8.根据权利要求1所述的用于测试SFP的检测装置,其特征在于,所述模数转换模块包 括芯片D7091R。 9.根据权利要求1所述的用于测试SFP的检测装置,其特征在于,还包括电源转换模 块;所述电源转换模块用于将直流电压为所述SFP、所述误码检测模块、所述码型发生模 块、所述时钟控制模块、所述主控。

7、制模块、所述光电转换模块及所述模数转换模块所需要的 工作电压。 权 利 要 求 书CN 104301035 A 1/4页 3 用于测试 SFP 的检测装置 技术领域 0001 本发明涉及SFP检测装置,特别是涉及一种易携带、多功能的用于测试SFP的检测 装置。 背景技术 0002 SFP光模块(small form pluggable,小型可热插拔光模块)在生产测试和现场 应用中需要测试误码率、DDM(数字监控诊断)信息以及其他一些重要的光电参数,如工作 电流、光功率等。而现有的测试架构需要数台不同功能的设备来搭建,包括直流电源、测试 板、误码仪、光功率计、万用表、PC等,这些设备不但成本昂贵。

8、且占用空间大,操作使用也不 方便。特别是不易携带到工程现场使用。 发明内容 0003 基于此,有必要一种易携带、多功能的用于测试SFP的检测装置。 0004 一种用于测试SFP的检测装置,包括误码检测模块、码型发生模块、时钟控制模 块、主控制模块、光电转换模块及模数转换模块; 0005 所述光电转换模块连接所述模数转换模块,所述主控制模块同时连接所述时钟控 制模块、所述模数转换模块及所述误码检测模块,所述误码检测模块还与所述时钟检测模 块及所述码型发生模块连接; 0006 所述码型发生模块用于根据所述时钟控制模块发出的时钟信号生成伪随机二进 制序列,并发送给SFP;所述伪随机二进制序列经由SF。

9、P的光路衰减后发送给所述误码检测 模块;所述误码检测模块用于根据经由所述SFP衰减后的伪随机二进制序列判断所述SFP 的误码率是否合格; 0007 所述光电转换模块用于将其接收到的光信号转换成电流信号,输出给所述模数转 换模块,所述模数转换模块将接收的模拟信号转换为数字信号后输出给所述主控制模块, 所述主控制模块用于根据接收的数字信号计算光功率的大小; 0008 所述主控制模块还用于通过I2C总线连接所述SFP,所述主控制模块用于读取所 述SFP内的地址数据并还原为数字诊断数据; 0009 所述误码检测模块、所述码型发生模块、所述时钟控制模块、所述主控制模块、所 述光电转换模块及所述模数转换模。

10、块集成封装为一体。 0010 在其中一个实施例中,还包括分别连接所述光电转换模块和所述模数转换模块的 第一放大器,所述第一放大器用于放大所述光电转换模块输出的电流信号,并将放大后的 电流信号输出给所述模数转换模块。 0011 在其中一个实施例中,还包括分别连接所述SFP及所述主控制模块的第二放大 器;所述第二放大器用于将所述SFP上产生的压降进行放大,并将放大后的压降输出给所 述主控制模块,所述主控制模块用于根据接收的压降信号计算出所述SFP上的电流。 0012 在其中一个实施例中,所述光电转换模块包括光电二极管。 说 明 书CN 104301035 A 2/4页 4 0013 在其中一个实施。

11、例中,所述误码检测模块和所述码型发生模块为芯片VSC8228; 所述芯片VSC8228用于码型发生和误码检测。 0014 在其中一个实施例中,所述时钟控制模块包括时钟芯片SYS58029U。 0015 在其中一个实施例中,所述主控制模块包括芯片C8051F380。 0016 在其中一个实施例中,所述模数转换模块包括芯片D7091R。 0017 在其中一个实施例中,还包括电源转换模块;所述电源转换模块用于将直流电压 为所述SFP、所述误码检测模块、所述码型发生模块、所述时钟控制模块、所述主控制模块、 所述光电转换模块及所述模数转换模块所需要的工作电压。 0018 上述用于测试SFP的检测装置通过。

12、误码检测模块及码型发生模块配合时钟控制 模块及主控制模块来检测SFP的误码率;通过光电转换模块及模数转换模块配合主控制模 块检测光功率。通过主控制模块读取SFP内的地址数据获取数字诊断数据。从而实现SFP 的误码检测、数字诊断数据获取及光功率的检测。且误码检测模块、码型发生模块、时钟控 制模块、主控制模块、光电转换模块及模数转换模块集成为一体,因此,用于测试SFP的检 测装置不仅能够检测实现SFP的多个功能测试,且方便用户携带。 附图说明 0019 图1为用于测试SFP的检测装置的模块图; 0020 图2为用于测试SFP的检测装置的原理图。 具体实施方式 0021 如图1所示,为用于测试SFP。

13、的检测装置的模块图。 0022 一种用于测试SFP的检测装置,包括误码检测模块106、码型发生模块105、时钟控 制模块104、主控制模块101、光电转换模块102及模数转换模块103。 0023 所述光电转换模块102连接所述模数转换模块103,所述主控制模块101同时连接 所述时钟控制模块104、所述模数转换模块103及所述误码检测模块106,所述误码检测模 块106还与所述时钟检测模块104及所述码型发生模块105连接。 0024 所述码型发生模块105用于根据所述时钟控制模块104发出的时钟信号生成伪随 机二进制序列,并发送给SFP;所述伪随机二进制序列经由SFP的光路衰减后发送给所述。

14、误 码检测模块106;所述误码检测模块106用于根据经由所述SFP衰减后的伪随机二进制序 列判断所述SFP的误码率是否合格。 0025 所述光电转换模块102用于将其接收到的光信号转换成电流信号,输出给所述模 数转换模块103,所述模数转换模块103将接收的模拟信号转换为数字信号后输出给所述 主控制模块101,所述主控制模块101用于根据接收的数字信号计算光功率的大小。 0026 所述主控制模块101还用于通过I2C总线连接所述SFP,所述主控制模块101用于 读取所述SFP内的地址数据并还原为数字诊断数据。 0027 所述误码检测模块106、所述码型发生模块105、所述时钟控制模块104、所。

15、述主控 制模块101、所述光电转换模块102及所述模数转换模块103集成封装为一体。 0028 用于测试SFP的检测装置还包括分别连接所述光电转换模块102和所述模数转换 模块103的第一放大器,所述第一放大器用于放大所述光电转换模块102输出的电流信号, 说 明 书CN 104301035 A 3/4页 5 并将放大后的电流信号输出给所述模数转换模块103。 0029 用于测试SFP的检测装置还包括分别连接所述SFP及所述主控制模块101的第二 放大器;所述第二放大器用于将所述SFP上产生的压降进行放大,并将放大后的压降输出 给所述主控制模块101,所述主控制模块101用于根据接收的压降信号。

16、计算出所述SFP上的 电流。 0030 光电转换模块102用于将接收到的光信号转换电流信号;一般采用光电二极管PD 作为光传感器完成光电转换模块102的功能。光电转换模块102转换的电流信号相当来说 比较小,直接传输到模数转换模块103会导致无法读取,因此,一般会采用放大器对电流信 号进行放大。 0031 具体的,采用同时连接光电转换模块102和模数转换模块103的第一放大器进行 放大。第一放大器为增益三阶的可控放大器。 0032 经由第一放大器放大的电流信号进入模数转换模块103转换为数字信号后,最终 由主控制模块101进行功率计算,从而得出SFP的光功率相对损耗。 0033 用户选择需要测。

17、试的速率后,主控制模块101控制时钟控制模块104输出相应的 时钟信号给误码发生模块105,误码发生模块105产生目标速率的伪随机二进制序列,输出 到SFP的TX接口,转换为光信号后输出到SFP的光路,经SFP的光路衰减后回到SFP的RX 接口,重新还原为伪随机二进制序列,并输出到误码检测模块106;误码检测模块106根据 接收的伪随机二进制序列判断SFP的误码率是否合格。具体地,误码率误码数量/总码 量。 0034 I2C(InterIntegrated Circuit)总线用于连接微控制器及其外围设备。 0035 主控制模块101通过I2C总线直接连接SFP后,能够读取SFP内的地址数据,。

18、并将 地址数据还原为数字诊断数据,从而实现SFP的DDM(数字监控诊断)信息查看功能。 0036 第二放大器用于采样SFP与供电电流之间的电阻上的压降,并将采样到的压降放 大后输出给主控制模块101,主控制模块101接收放大后的压降并转换成对应的电流信号, 从而能够计算出SFP的工作电流,即检测SFP的工作电流。 0037 请结合图2。 0038 光电转换模块102包括光电二极管。 0039 误码检测模块106和所述码型发生模块105为芯片VSC8228;所述芯片VSC8228用 于码型发生和误码检测。 0040 时钟控制模块104包括时钟芯片SYS58029U。 0041 主控制模块101包。

19、括芯片C8051F380。 0042 模数转换模块103包括芯片D7091R。 0043 将芯片VSC8228、芯片VSC8228、时钟芯片SYS58029U、芯片C8051F380、芯片D7091R 集成并配合各芯片的周边电子元件,从而能够完成SFP的误码检测、光功率检测、电流检测 及DDM信息查看功能。由于采用上述芯片进行集成,因而极大程度上使得用于测试SFP的 检测装置的体积相对分散实现各功能检测的设备要小的多,因此,用于测试SFP的检测装 置方便用户携带,适用于现场检测SFP。 0044 用于测试SFP的检测装置还包括电源转换模块;所述电源转换模块用于将直流电 压为所述SFP、所述误码。

20、检测模块106、所述码型发生模块105、所述时钟控制模块104、所述 说 明 书CN 104301035 A 4/4页 6 主控制模块101、所述光电转换模块102及所述模数转换模块103所需要的工作电压。 0045 基于上述所有实施例,用于测试SFP的检测装置的工作流程如下: 0046 在用户需要进行误码率检测时,由用户选择需要测试的速率,芯片C8051F380控 制时钟芯片SYS58029U输出相应的时钟信号(Q1,Q2。Q3)给芯片VSC8228,芯片VSC8228的 误码发生单元生成目标速率的伪随机二进制序列,并发送到SFP的TX接口转换为光信号输 出到SFP的光路;经SFP的光路衰减。

21、后回到SFP的RX接口,重新还原为伪随机二进制序列, 并发送到芯片VSC8228的误码检测单元进行误码检测。根据公式误码率误码数量/总码 量判断SFP的误码率是否合格。从而实现SFP的误码率检测。 0047 在需要进行光功率检测时,则通过光电二极管PD将接收的光信号转换为电信号 后由放大器A1进行放大后,输出给芯片D7091R转换为数字信号,再由芯片C8051F380计算 出SFP的光功率的大小,从而完成SFP的光功率检测。 0048 在需要查看SFP的数字诊断信息时,由于芯片C8051F380通过I2C总线与SFP直 接连接,因此,芯片C8051F380能够直接读取SFP的地址数据,然后将地。

22、址数据还原成数字 诊断数据,从而实现SFP的DDM(数字监控诊断)信息查看。 0049 在需要检测SFP的工作电流时,则由放大器A2采样电源转换模块与SFP之间的电 阻上的压降,放大器A2将采样的压降放大后,输出给芯片C8051F380,芯片C8051F380将压 降转换为对应的电流信号数值,从而能够获取SFP的工作电流大小。 0050 电源转换模块用于将5V的直流电压转换为3.3V、1.8V的直流电压。 0051 上述用于测试SFP的检测装置通过误码检测模块106及码型发生模块105配合时 钟控制模块104及主控制模块101来检测SFP的误码率;通过光电转换模块102及模数转 换模块103配。

23、合主控制模块101检测光功率。通过主控制模块101读取SFP内的地址数据 获取数字诊断数据。从而实现SFP的误码检测、数字诊断数据获取及光功率的检测。且误 码检测模块106、码型发生模块105、时钟控制模块104、主控制模块101、光电转换模块102 及模数转换模块103集成为一体,因此,用于测试SFP的检测装置不仅能够检测实现SFP的 多个功能测试,且方便用户携带。 0052 以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并 不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员 来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保 护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。 说 明 书CN 104301035 A 1/2页 7 图1 说 明 书 附 图CN 104301035 A 2/2页 8 图2 说 明 书 附 图CN 104301035 A 。

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