一种晶圆级封装VDRDL重新布局技术.pdf

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摘要
申请专利号:

CN201010281597.3

申请日:

2010.09.15

公开号:

CN102403235A

公开日:

2012.04.04

当前法律状态:

撤回

有效性:

无权

法律详情:

发明专利申请公布后的视为撤回IPC(主分类):H01L 21/50申请公布日:20120404|||公开

IPC分类号:

H01L21/50; H01L21/60

主分类号:

H01L21/50

申请人:

涂嘉晋; 李应煌

发明人:

涂嘉晋; 李应煌

地址:

中国台湾台北县板桥市东丘里7邻中山路二段90巷1号五楼

优先权:

专利代理机构:

北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246

代理人:

龚燮英

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内容摘要

一种晶圆级封装VDRDL重新布局技术,它涉及一种晶圆封装技术。它的工艺流程为:1)介电层镀膜;2)Die Pad保护并以光罩将回路形成;3)将金属液体倒入晶圆,并使其均匀分布,并形成纳米金属粉末沉积,液体飘在沉积物表面;4)真空下,液体升华为气体,并加温使纳米金属粉末融化并固化;5)磨除多余介电层,保护回路,并钝化处理;6)殖球。它能克服不连续和气孔产生的问题,而金属粉末已被烧结成为连续固体,因此不会有破碎和剥离的可能。

权利要求书

1: 一种晶圆级封装 VDRDL 重新布局技术, 其特征在于它的工艺流程为 : 1) 介电层镀膜 ; 2)Die Pad 保护并以光罩将回路形成 ; 3) 将金属液体倒入晶圆, 并使其均匀分布, 并形成纳 米金属粉末沉积, 液体飘在沉积物表面 ; 4) 真空下, 液体升华为气体, 并加温使纳米金属粉 末融化并固化 ; 5) 磨除多余介电层, 保护回路, 并钝化处理 ; 6) 殖球。

说明书


一种晶圆级封装 VDRDL 重新布局技术

    技术领域 :
     本发明涉及一种晶圆封装技术, 尤其涉及一种晶圆级封装 VDRDL 重新布局技术。 背景技术 :
     终端产品的发展趋势和规格需求, 始终是组件技术发展的驱动力。若分别以三大 信息产品类别 - 信息、 通讯和消费性产品的发展以及其对组件的主要需求来看, 始终仍不 脱离小型化、 高速 / 高效能、 低成本、 高容量、 同 / 异质性整合等几个构面区追求。在整个 WLCSP 或者是 3D IC 成本中, Bumping 或者是 RDL 占总成本 33%, 是非常重要的一环。
     晶圆级封装中, 可将原始的晶圆上回路 Pad 以重新布局方式移动位置, 或者是增 加回路布线, 以达到 WLCSP(Wafer Level Chip Scale(Size)Package) 的要求。目前做法有 Sputter 电镀制程和挤压涂布制程。
     Sputter 即是用传统电镀方式处理, 因此在成本和污染程度肯定提高。
     挤压涂布法虽然是一个用导电胶方便的做法, 有下列问题无法克服 : 1. 挤压过程 中气孔和不连续面的产生 ; 2. 在 PCBA 过程中会有破碎和剥离 Peeling 的可能 ; 3. 纳米金属 颗粒是绝缘的, 只有在聚合下才会导电, 因此导电胶金属粉末比例愈高, 导电率愈高, 相对 固化碎裂的机会愈大。 发明内容 :
     本发明的目的是提供一种晶圆级封装 VDRDL 重新布局技术, 它能克服不连续和气 孔产生的问题, 而金属粉末已被烧结成为连续固体, 因此不会有破碎和剥离的可能。
     为了解决背景技术所存在的问题, 本发明是采用以下技术方案 : 它的工艺流程为 : 1) 介电层镀膜 ; 2)Die Pad 保护并以光罩将回路形成 ; 3) 将金属液体倒入晶圆, 并使其均匀 分布, 并形成纳米金属粉末沉积, 液体飘在沉积物表面 ; 4) 真空下, 液体升华为气体, 并加 温使纳米金属粉末融化并固化 ; 5) 磨除多余介电层, 保护回路, 并钝化处理 ; 6) 殖球。
     本发明的优点是 : 它能克服不连续和气孔产生的问题, 而金属粉末已被烧结成为 连续固体, 因此不会有破碎和剥离的可能。 具体实施方式 :
     本具体实施方式采用以下技术方案 : 它的工艺流程为 : 1) 介电层镀膜 ; 2)Die Pad 保护并以光罩将回路形成 ; 3) 将金属液体倒入晶圆, 并使其均匀分布, 并形成纳米金属粉 末沉积, 液体飘在沉积物表面 ; 4) 真空下, 液体升华为气体, 并加温使纳米金属粉末融化并 固化 ; 5) 磨除多余介电层, 保护回路, 并钝化处理 ; 6) 殖球。
     本具体实施方式的优点是 : 它能克服不连续和气孔产生的问题, 而金属粉末已被 烧结成为连续固体, 因此不会有破碎和剥离的可能。3

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资源描述

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1、(10)申请公布号 CN 102403235 A (43)申请公布日 2012.04.04 C N 1 0 2 4 0 3 2 3 5 A *CN102403235A* (21)申请号 201010281597.3 (22)申请日 2010.09.15 H01L 21/50(2006.01) H01L 21/60(2006.01) (71)申请人涂嘉晋 地址中国台湾台北县板桥市东丘里7邻中 山路二段90巷1号五楼 申请人李应煌 (72)发明人涂嘉晋 李应煌 (74)专利代理机构北京众合诚成知识产权代理 有限公司 11246 代理人龚燮英 (54) 发明名称 一种晶圆级封装VDRDL重新布局技术。

2、 (57) 摘要 一种晶圆级封装VDRDL重新布局技术,它涉 及一种晶圆封装技术。它的工艺流程为:1)介电 层镀膜;2)Die Pad保护并以光罩将回路形成;3) 将金属液体倒入晶圆,并使其均匀分布,并形成纳 米金属粉末沉积,液体飘在沉积物表面;4)真空 下,液体升华为气体,并加温使纳米金属粉末融化 并固化;5)磨除多余介电层,保护回路,并钝化处 理;6)殖球。它能克服不连续和气孔产生的问题, 而金属粉末已被烧结成为连续固体,因此不会有 破碎和剥离的可能。 (51)Int.Cl. (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书 1 页 说明书 1 页 CN 102403。

3、238 A 1/1页 2 1.一种晶圆级封装VDRDL重新布局技术,其特征在于它的工艺流程为:1)介电层镀膜; 2)Die Pad保护并以光罩将回路形成;3)将金属液体倒入晶圆,并使其均匀分布,并形成纳 米金属粉末沉积,液体飘在沉积物表面;4)真空下,液体升华为气体,并加温使纳米金属粉 末融化并固化;5)磨除多余介电层,保护回路,并钝化处理;6)殖球。 权 利 要 求 书CN 102403235 A CN 102403238 A 1/1页 3 一种晶圆级封装 VDRDL 重新布局技术 技术领域 : 0001 本发明涉及一种晶圆封装技术,尤其涉及一种晶圆级封装VDRDL重新布局技术。 背景技术 。

4、: 0002 终端产品的发展趋势和规格需求,始终是组件技术发展的驱动力。若分别以三大 信息产品类别-信息、通讯和消费性产品的发展以及其对组件的主要需求来看,始终仍不 脱离小型化、高速/高效能、低成本、高容量、同/异质性整合等几个构面区追求。在整个 WLCSP或者是3D IC成本中,Bumping或者是RDL占总成本33,是非常重要的一环。 0003 晶圆级封装中,可将原始的晶圆上回路Pad以重新布局方式移动位置,或者是增 加回路布线,以达到WLCSP(Wafer Level Chip Scale(Size)Package)的要求。目前做法有 Sputter电镀制程和挤压涂布制程。 0004 S。

5、putter即是用传统电镀方式处理,因此在成本和污染程度肯定提高。 0005 挤压涂布法虽然是一个用导电胶方便的做法,有下列问题无法克服:1.挤压过程 中气孔和不连续面的产生;2.在PCBA过程中会有破碎和剥离Peeling的可能;3.纳米金属 颗粒是绝缘的,只有在聚合下才会导电,因此导电胶金属粉末比例愈高,导电率愈高,相对 固化碎裂的机会愈大。 发明内容 : 0006 本发明的目的是提供一种晶圆级封装VDRDL重新布局技术,它能克服不连续和气 孔产生的问题,而金属粉末已被烧结成为连续固体,因此不会有破碎和剥离的可能。 0007 为了解决背景技术所存在的问题,本发明是采用以下技术方案:它的工艺。

6、流程为: 1)介电层镀膜;2)Die Pad保护并以光罩将回路形成;3)将金属液体倒入晶圆,并使其均匀 分布,并形成纳米金属粉末沉积,液体飘在沉积物表面;4)真空下,液体升华为气体,并加 温使纳米金属粉末融化并固化;5)磨除多余介电层,保护回路,并钝化处理;6)殖球。 0008 本发明的优点是:它能克服不连续和气孔产生的问题,而金属粉末已被烧结成为 连续固体,因此不会有破碎和剥离的可能。 具体实施方式 : 0009 本具体实施方式采用以下技术方案:它的工艺流程为:1)介电层镀膜;2)Die Pad 保护并以光罩将回路形成;3)将金属液体倒入晶圆,并使其均匀分布,并形成纳米金属粉 末沉积,液体飘在沉积物表面;4)真空下,液体升华为气体,并加温使纳米金属粉末融化并 固化;5)磨除多余介电层,保护回路,并钝化处理;6)殖球。 0010 本具体实施方式的优点是:它能克服不连续和气孔产生的问题,而金属粉末已被 烧结成为连续固体,因此不会有破碎和剥离的可能。 说 明 书CN 102403235 A 。

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