本发明涉及纺织附属电子设备电子清纱器及检测仪器纱疵分级仪的设计方法。 现在的清纱器型号很多，由其传感形式可分为光电式和电容式两大类别。清纱器的目的是对纱疵的粗度和长度作出准确判断和处理，其中对纱疵粗度的判别精度是清纱器的主要精度基础，尤为重要。对于这一点，现有各型清纱器在设计方法上有着共同之处，并成为这一领域共同遵守的设计原则，这些可以概括如下：
（1）无论采用何种方法取得代替全体纱样纱条平均截面粗度X（假定用质量表征）的电平，现有技术都由控制箱根据这一基准电平给出一个确定的纱疵粗度设定电平，并统一给予各锭检测放大单元;
（2）现有技术强调各锭检测放大单元的灵敏度必须高度调准在设计规定值，高品质的清纱器必须保证灵敏度长期稳定不变。
现有的清纱器由于（1）中的取得代替X的电平手段地不同，以及（2）中的各锭检测灵敏度由于自调功能的有无、多少及强弱而表现的长期稳定性差异，形成了各型清纱器主要的品质差异。
根据有关资料及个人实践，认为现有技术需作进一步探讨。现综合分析如下：
纱条通过各锭检测放大单元的检测头，纱条的截面粗度物理信息线性转变成连续的初始电信号。采用电容式传感方式时，初始电信号反映了纱条长度方向的线密度变化，对应于纱条各点的电信号，可以理解为用质量（即截面点单位长度重量）表征纱条该点的截面粗度;采用光电式传感时，初始电信号反映了纱条长度方向上各点正对投影方向的纱径变化，可以理解为用纱条的投影直径来表征纱条的截面粗度。初始电信号的幅度除了线性反映纱条的截面粗度外，受制于整个检测系统的一切影响因素，也受制于纱条其它较为稳定的物理因素，如含湿量、材料值、色度、拈度、支数偏差以及环境对各锭影响差异等综合因素。实践表明：由于检测电容工艺参数的不一致（电容传感），或者光电器件转换效率的不一致（光电传感），以及各锭检测头所受环境影响的不同，各锭对同一试样粗度转换的初始电信号的幅值均不相同，在长期运行中，由于检测电容的容量变异或者光电转换器件转换效率的变异，以及以上列举的整个系统的其它较为稳定因素的缓慢变异，某一确定试样的初始电信号也随之变异，由于初始电信号太小，不能直接用来“测量”，一般在取得初始电信号后，后续一个放大器，或者取其全部或者只取纱疵增值信号，将他们放大成可供测量的最终电信号V。如把V表示于纵轴，把纱条截面S或纱疵增值粗度△S表示于横轴，制成图1中的图1-1。那么，当纱条具有确定的粗度时必然有一确定的V对应，形成了纱条粗度同最终电信号的转换特性曲线。一般来说，现有技术的光电式或电容式这二种传感形式在一定的条件下都能保证这条曲线的线性度，这是二种传感形式的检测系统赖以存在的基础。因此，可把其看作直线，那么这一直线的斜率即可表示为清纱器的某锭在某时刻的灵敏度。
纱疵粗度设定是以全体试样纱条的平均粗度的倍率表征的，因此代表全体纱条平均粗度X的电平构成了整个清纱器设计的精度基准，不管代表X的电平如何取得，其内涵都应该是X粗度的纱条对应于某一灵敏度最终电信号幅度值。如果以X的电平V1示于纵轴，以检测系统的灵敏度K（即图1-1中不同的从原点出发直线的斜率）表示于横轴，可制得图1中的图1-5。图中直纱C即表明了V1同K的对应关系。不难看出，对于某一确定的试样，C具有确定的斜率，但是对于某一确定试样的C的斜率却很难用实验求得。因为其先决条件必须是灵敏度的稳定，如果检测系统设备本身具有充分的稳定性，由于最终电信号幅度并非单纯地决定于纱条粗度，纱条的其它影响灵敏度的物理因素很多，而且因纱条来源而异，甚至于同一试样在不同的长度段这些因素也有差异，因此严格说来，必须对纱条的其它物理状态给予严格的限制，才能按照纱条粗度制得图1-5中C直线的斜率。现有技术预先规定了清纱器的灵敏度，各型清纱器通过各自认为合理的和合适的办法从图1-5中代表相应试样直线C上找到对应于该灵敏度的电平，以此为基准根据工艺要求形成纱疵设定电平。现有清纱器的绝大多数都采用这种形式工作，这类清纱器在设计时就规定了对一切试样都以同一灵敏度工作，在图1-1中就是硬性规定了一条直线（不妨设之为α）为清纱器各锭灵敏度初调及统调的规范这就产生了一个调准环节。
实践证明，清纱器灵敏度的调整历来是一个薄弱环节，原则上可以通过初始电信号后续放大器的增益调整而获得。但是，由于找不到被测试样X的完全等效的模拟物，准确地调准非常困难。因此多锭灵敏度的一致也只能有限地满足，所以实际运行的清纱器的各锭，其灵敏度不可能都重合于图1-1中的直线a，呈现出一定的离散性。如用b、c表示最大的离散界，那么各锭灵敏度将是在b、c二直线范围内的一束从原点发散的直线。在长期运行中，对于缺少自调功能或自调功能较弱的清纱器，这种离散性被进一步扩大了。实践证明：光电式传感的灵敏度大多如图1-4中灵敏度下降的a曲线那样，造成漏疵，电容式传感则象b那样，造成灵敏度趋高的空切、误切。这种由于灵敏度偏离带来的误差，可以称之为检测误差，其本质同灵敏度调准精度不够，以及各锭灵敏度一致性差引入的误差是一样的，都可以在图1-5中得到表达：我们把某锭实际的灵敏度对应于C电平看成是应给予电平，设计规定灵敏度对应于C电平看成实际给予电平。因此，灵敏度变异引入的检测误差其实质是应给予电平同实际给予电平的差值一开始就因灵敏度难以调准就存在，而且在长期运行中被进一步扩大了。低级清纱器由于不具备自调功能而只能依靠定期统调，高级清纱器则必须具有灵敏度自调功能。由于强制要求灵敏度的稳定，只能赋予电路的自调功能去适应由于机器系统、纱条除却粗度的其它影响灵敏度的因素以及环境等因素引起的灵敏度变化。但是，影响检测灵敏度的因素实在太多，一种线路自调功能只能解决一个至几个影响因素，一些清纱器被迫采取多重自调功能电路，以求对尽可能多的影响较大的因素作出自调反应，更有一些清纱器考虑了清纱器灵敏度难予调准，根据纱条号数等因素选择X的电平很难保证足够的精度而赋予线路更强的自调功能。这些措施改善了清纱器的性能，获得了较好的工艺效果，但是，从根本上全部解决一切影响因素仍然存在差距，这种单纯从电路自调功能稳定灵敏度的做法仍属相对稳定，清除由此而引进的检测误差也只能相对满足，其带来的另一很难令人满意的问题是：电路日趋复杂，故障率将因此而不可避免地增加，以至于影响可靠性，对原器件选择更加苛刻，成本被迫提高，对于用户来说，为了获得较好的工艺性能，不得不付出高的经济代价和承担较大技术难度的压力，增加了管理困难。
以设计角度给出一个纱疵粗度设定电平，引入了较大的设定误差，这是现有技术的另一缺陷。众所周知，全体试样纱条的X属于统计学中的位置特征数，是一确实存在而又预先不可知的量，按照有限的几个条件由机器给出纱疵粗度设定电平，其内涵是预先用一个量代替X。完全或部分忽略了试样实际号数同公称号数的允许偏差，以及试样在含湿量、材料值、色度、拈度等方面的差异在物理量转换为电量上的差异，引入了设定误差。请看图1中的图1-2，用设定电压V1表示于纵轴，用时间t表示于横轴，用C表示X对应于设计灵敏度的电平，那么按照纱条公称号数等几个因素定的实际给予电平，在全号数纱条复盖时，其设定电平在二直线aa'范围之内，aa'同C的差距即是设定误差，它不仅因纱的号数不同，而且也无理论推导值，只能依靠这种设定值取得的实验精度，一般来说，误差较大，对于那些通过实测求取纱条平均粗度的清纱器，其效果要好一些，因为实测的内涵是求取纱条一个随机产生的确定片段长度的粗度平均值Xi对应某一灵敏度的电平。但是纱条的粗度在长度方向上是一正态分布的随机事件。在正态分布的置信度为99%时，Xi分布在X±36区域内，任选一个Xi很难保证足够的精度，一些清纱器选用几锭的实测数进行平均，往往由于各锭灵敏度差异而只能成为灵敏度一致性不能足够保证的补充，不能对设定精度的提高提供帮助。在图1-2中可以用bb'直线限定的范围表示精度。
因此，对于那些没有或具有较弱自调能力的清纱器来说，设定误差同灵敏度变异引入的检测误差都可以用图1-3明白表示，图中C表示设计规定的灵敏度下X对应的电平，b表示实际给予的设定电平，a表示在灵敏度稳定不变情况下的实际需要的设定电平，a'表示灵敏度变化（下降）时的实际需要电平，因此检测误差同设定误差一起构成了总的误差，其内涵仍然是实际需要同实际给予的设定电平差值带来的精度问题。
对于那些个别的具有强烈自调功能，使任何纱号的试样的X具同一设定电平的清纱器，图1-5不能对其概括，C不再是从原点出发的固定斜率的直线，而是一个平行于K的直线，在图1-1中，a的设计斜率将随不同的试样号数而不同，这是区别所在。但是，这种清纱器对于多锭检测来说，仍然存在初期严格调准环节，仍然是统一送一固定的纱疵设定电平给各锭，各锭对某一确定号数试样的长期运行仍要求灵敏度稳定不变，因此现有清纱器的设计方法的2条设计原则依然适用。对于纱疵粗度的检测引入的设定误差和检测误差有了改善，但以上的分析也仍然成立。
综上所述，按照现有清纱器设计方法设计的清纱器，其中较为低级的，由于没有或仅有很弱的自调功能，引入了较大的设定误差和检测误差，不能获得较高的工艺性能;其中较为高级的，由于这种设计方法的限制，只能从电路自调功能的赋予抑制检测误差，致使电路日趋复杂，用户为其付出高昂的经济代价和承担沉重的技术压力。同时，现有技术在如何取得X的设定电平上都未充分体现X是统计学位置特征数的特点。设定精度主要以实验精度为基础，因此精度有待进一步提高。由于设定误差不能满意，电路的自调功能又只能相对削弱测误差，因此从纱疵粗度的检测总精度来说，还未见到一家给出理论上的设计精度。这个问题的来源在于这个设计方法本身。
纱疵分级仪的前级，实际上是一个清纱器的设计，现有的纱疵仪大多依附于某一型号的清纱器。因此纱疵分级仪的精度不能超过清纱器现有技术所能达到的精度。纱疵分级仪的后级部分电路，在进一步提高纱疵长度的检测精度、降底成本和降低线路难度方面也还有许多工作要做。
本发明的目的是创造一个新的清纱器和纱疵分级仪的设计方法，这个方法在对纱疵粗度的测量上，具有非电路的完全的灵敏度变异自适应功能，不再存在灵敏度变异引入的检测误差，提高了检测精度，同时给电路设计提供了极大的便利，提供了使用低级电路技术，较低等级元件，获得高品质的清纱器和纱疵分级仪的可能。
本发明提供的设计方法可以这样描述：
无论是采用光电式还是电容式检测手段，各锭的检测放大单元，把通过检测头的试样纱条在长度方向上各点的粗度S或纱疵增值粗度△S转换放大成最终电信号V，使V满足表达式V＝K·S或V＝K·△S，式中K为某锭的纱条长度方向各点的粗度S或纱疵增值粗度△S转换放大成最终电信号V的系数，用来表征该锭检测放大单元在在某一确定时刻的灵敏度，允许各锭的K值互不相等，允许某一锭的K值在长期运行中发生变异，K值的变化范围以最终电信号V的幅值满足电路测量之用，同时各锭独立产生代替全体纱条平均粗度S'的设定电平V1，使V1＝K·S'，参照国家标准或工艺要求，以及选择的电路程式使V满足的表达式，恰当选择增益，各锭按照乘法原则以各自的V1为基准，以选择的同样增益建立一个或一组纱疵设定电平，同最终电信号V进行电平比较，完成纱疵粗度的判别或状态描述，同时把纱疵的计算长度（在采用纱疵的粗度和长度乘积超过规定即予以切除的电路程式时）或实际长度（在按照国家标准的纱疵有效长度的规定时）转换成等效长度的脉冲，进而完成纱疵长度的判别或状态描述。
这种设计方法的关键在于如何找到代替全体纱条平均粗度自动跟随灵敏度K变化的设定电平V1，一个可供选择的方案是用确定片段长度的纱条平均粗度S”来代替，V1的表达式相应改为V1＝K·S”，在光电式清纱器中，S”用直径di表征，电容式则用Xi表征，用积分电路从各锭的最终电信号中直接分离V1是相当有效和简单的办法，因此实行本发明提供的方法的一个比较实用的实施方案是：从各锭获取的满足V＝K·S的最终电信号V中，根据纱速和精度的要求选择适当时间常数的积分电路，各自分离出连续的确定长度片段纱条的平均粗度对应于各锭灵敏度K的V1，以V1为基准，根据相应要求，各自建立纱疵设定电平，同最终电信号V的全部或仅取纱疵增值信号进行比较，完成纱疵粗度的判别和长度的转换，最终作出适当的处理。
这一设计方法的主要特点可从图1-5中得到解释，前面说过，图1-5中直线C表示全体纱条平均粗度，根据不同的灵敏度对于某一试样应赋予的电平。不同的试样，C将呈现不同的斜率。如果暂不考虑这种设计方法引入的设定误差，那么这种设计方法表明实际给予的代替纱条平均粗度的设定电平自动跟随各锭检测灵敏度变化而变化，并且同C直线的斜率无关。
同C直线斜率无关，表明按这种设计方法的清纱器不必根据不同材质，不同支数等因素制约设定电平，不存在因支数等因素引入的检测误差，自动适应毛、麻、棉、化纤等各种材质和号数的试样。
代替全体纱条平均粗度的设定电平自动跟随灵敏度的变化表明：只要纱条的粗度转换成最终电信号在图1-1中满足足够的线性，那么对纱疵粗度的检测精度同检测放大系统的灵敏度无关，从灵敏度变异角度看，可以认为这是一种非电路的灵敏度变异的自适应功能，是完全的彻底的非电路补偿，对影响灵敏度变化的一切因素都不必耽心引入检测误差。按照对现有技术讨论的方法，可以较为详细地阐述如下：
1.不再存在调准环节，自动适应了多锭灵敏度的不一致，简化了操作管理。
2.不再需要由于检测系统设备的稳定性而造成的灵敏度变异进行的自调处理。降低了元件件选择要求，简化了主电路，降低了成本，给电路设计者提供了便利，使设备管理者减少了技术压力。
3.不再需要针对纱条试样本身的物理因素（如材料值、含湿量、色度、拈度等）引起的灵敏度变异而采取的自调手段，也不必采取目前对某些参数（如含湿量）不符合现有技术的规定而必须采取的预处理手段。
4.如果一个检测系统的最终电信号同纱条粗度的转换关系在环境影响因素变化时，仍然保证在图1-1中是从原点发出的直线，那么对环境的变化也不会引入检测误差。
由此可见，按照这种方法设计的检测系统的电路设计只需要保证无纱投入的零输出及有纱投入的线性转换即可完全满足高精度的检测要求，如果环境对各锭的影响能够确保稳定（不要求对各锭影响一致）那么电路设计的要求则可更低一些。
按照图1-5还可以方便地找到这种方法在具体设计时应该应该注意的问题，其一是最终电信号的幅度必须足够“测量”之用，因此灵敏度有一下限K1，其二是由于电源建制的限制，灵敏度应有一上限K2。他们在图1-1中则表示对一个可变增益的检测系统其最终电信号同S或△S的转换关系不再是某一固定直线而是对应于K2的虚线b'和对应于K1的虚线c'之间。一般来说，K1和K2不太直观，很难用数字表达，而且各种试样的粗度不同，以能够“测量”这一原则决定灵敏度下限和上限（超过电源建制允许限度也是一种不能“测量”状态），对于各个试样来说，则具有不同的K1和K2。由此可见，直接使用K1和K2说明对检测系统灵敏度的限制并不合适。如果我们把时间t制成横轴，把全体纱条平均粗度对应某一时刻灵敏度的V1示于纵轴，那么一个检测系统随时间以及灵敏度变化而实际需要给予的V1即可用曲线C表达，这就是图1-6。不难看出，曲线C可以呈任意状态，代表任何试样的V1自动跟随灵敏度变化的状态，此时，V2恰好对应这些试样在灵敏度K2时的V1最高电平，V3则对应于K1。因此，直接对全体纱条平均粗度的代替电平进行监视即可以达到监视K1和K2的目的。按这种方法设计的清纱器应该给出V3和V2数值，这是不能忽略的。
由于不存在对纱疵粗度的检测误差，清纱器对纱疵粗度检测的精度主要由设定误差决定。这种方法的设定误差将随同电容或光电传感的形式而不同;这是因为二种传感方法所反映的纱条粗度是不同的表征。由于代表纱条平均粗度的设定电平同步跟随于灵敏度，因此对设定误差的讨论已和电路无关，完全进入工艺讨论，即用连续的片段长度的纱条粗度平均值Xi（假定用质量表征）代替全体试样的平均粗度X，在二种传感形式时，是否存在相对平均误差，如何表达，最佳参数等。首先，不妨定性地同现有技术作一比较。
这种设定方法很接近采用实测纱条粗度方法的现有技术的清纱器。实测纱条粗度的内涵是用一个随机产生的片段长度的纱条平均粗度Xi代替X，如果本发明提供的设计方法所取片段长度同其相等，当灵敏度稳定不变时，现有技术的实际给予电平是图1-2中bb'范围内的任一直线，其总体的绝对设定误差则是b或b'的对应电平同C的差距，本发明提供方法的设定电平则是在C上下随同Xi浮动且以b和b'为界的曲线d表示。虽然曲线d形态无法决定，但是Xi同X有着统计关系，由于Xi呈正态分布，所以，Xi在X的不同邻近区域发生概率如下：
68.3%的概率：X-σ＜Xi＜X+σ
27.3%的概率：X-2σ＜Xi＜X-σ以及
X+σ＜Xi＜X+2σ
4.1%的概率：X-3σ＜Xi＜X-2σ以及
X+2σ＜Xi＜X+3σ
这就表明：在全部试样的检测过程中，Xi的分布在大部分时间内都同X极为接近，其偏离X较远的概率很少，在灵敏度不变时，不会越出图1-2中bb'直线范围以外。这种设定方法利用Xi呈正态分布时的概率发生主要集中在位置特征数X的附近这一特点，用连续的Xi逼近X，以解决X可望而不可及的困难，获得了明显的精度提高。因此用连续Xi对应于灵敏度变化的设定电平反映在图1-5及图1-6中，不是固定直线或曲线C，而是在C上下游离的曲线d，图1-5及图1-6的虚线bb'则是d在C上下的界，bb'都是呈喇叭状，则是因为这种设定方法从理论上存在着平均相对误差，这一点将在下面仔细讨论。
根据《纱条均匀度分析》（上海纺织科学研究院王贤洁著），用质量表征纱条截面时，有以下表达式成立：
平均数：
X＝（Σi = 1n]]>Xi）/n
平均差：
H＝（Σi = 1n]]>｜Xi-X｜）/n
平均差系数：U＝H/X×100%
可以认为：用连续的Xi代替X作纱条的基本粗度设定引入的设定平均误差就是H，从总体来说，可以看成是用X+H来代替X，设定的平均相对误差可以这样表达：
平均相对误差：A＝（X+H）/X-1
＝U
在纱条均匀度理论中，X、Xi、H都是用质量表征的，在采用电容式传感时，二者恰好同义，因此电容式平均相对设定误差即是平均差系数，记作：
A电容＝U （1）
在用光电式传感手段时，不能用质量表征粗度，应该用纱条平均直径表征。根据《纱条均匀度分析》中的工艺分析理论，纱条直径不匀和纱条单位长度重量不匀密切地关联着，如以d代表纱条中某截面点上的直径数值，以W代表该截面点纱条单位长度的重量值，则二者的关系根据实测和分析表明下列关系的存在：即：W＝m·da（式中m是常数），式中a的数值低于2，并随不同来源的纱条及试验方法不同而有所差异。因此，假定片段长度的纱条平均粗度用质量表征是X+H，用平均直径表征是di;假定全体纱条的平均粗度用质量表征是X，用平均粗度表示是d′，那么：
H+X＝m·dia
X＝m·d′a
在用光电传感时，平均相对设定误差应该是：
A光电＝di/d-1
所以 A光电＝1+Ua-1]]>(2)
表示平均相对设定误差的A光电，A电容的（1）式和（2）式都表明这是同U直接关系的量。U值可以从《纱条均匀度分析》中P12图上直接查到。这是一个对于一般平均水平的精梳纱条和一般平均水平的粗梳纱条根据片段长度不同的Xi对应的CB（L）（外不匀率）或U值曲线，本发明附录于后，见图6。不难看出，片段长度越长，U值越小。但是当片段长度超过30米后，曲线相当平坦，U值变化不大，不纺假定30米为本设计方法的最长片段长度。由于CB（L）或U值曲线对纱条的周期不匀并不敏感，纱条中主要的周期不匀其片段长度又多在1米以内，因此这一图表可以作为这一设计方法选择片段长度的根据，而无需为纱条周期不匀是否导致设定误差无以控制而困感。根据简单地计算，片段长度的最小长度选择为5米不致使精度丧失过多。因此本发明提供的设计方法推荐选用5米至30米片段长度纱条的平均粗度Xi代替X。根据简单计算，对于一般平均水平的粗梳棉纱纱条，在用电容传感时，其平均设定误差在3.6%至2.9%之间，在用光电式传感时，不纺假定（2）式中的a为2，不会引入显著误差，那么其平均设定误差为：1.8%至1.4%之间;对于一般水平的精梳棉纱，在用电容传感时，其平均相对设定误差为2.4%至1.8%之间，在用光电式传感时，其平均相对设定误差为1.2%至1%之间。对于较高水平的纱条，则精度更高。可以认为这就是本设计方法对于二种传感形式的纱疵粗度判别的最高理论精度值。
各锭检测放大单元从最终电信号中连续分离出一个确定片段长度的纱条平均粗度Xi对应的电平，一种有效的技术手段是：在最终电信号之后接一积电路。这通常称作迟缓试验。《纱条均匀度分析》中有关迟缓试验理论指出：应用迟缓试验在电路中引入积分电路后，其实质是对纱条的截面变化起平均化过程，因此所获得的连续电压即是确定片段长度的纱条平均粗度Xi对应于一定灵敏度电平。这一电平随动于Xi，也随动于该锭的检测灵敏度。其片段长度可由下式获得，即有：
L＝n·V'·T
式中n为2-3，T为积分电路时间常数，V'为纱条试样速度。令V'为600米/分，那么当片段长度为5至30米时，T为0.3秒至1.6秒，显见纱速的变化影响到片段长度，根据纱速变化适当选择T，可以使片段长度不低于5米，根据以上分析可以看出，只要片段长度大于5米，清纱器的粗度设定精度就有了足够保证，不难看出，对积分电路中元器件标称数值的准确也不严格。
在各锭取得代替X的电平以后，用乘法法则建立各锭独立的纱疵设定电压，由于增益系数一致，可统一由控制箱主令控制，也可由各锭直接通过波段开关选择，可以灵活处理。
在加接了迟缓试验电路以后，纱条各点粗度转换的最终电信号同步跟随图1-7的灵敏度变化曲线a，纱条基本粗度设定电平同步跟随曲线b，曲线a，b形态可认为完全一样，曲线b延迟曲线a一个△t时间，即n·T时间，约几秒钟，这里提出了2个问题：其一是提出了检测放大系统灵敏度的稳定要求，即在n·T时间灵敏度的变化应小到可以忽略的程度，一般来说，对于图1-4及图1-7这种表示没有线路灵敏度自调功能的清纱器，灵敏度在数天之内乃至更长一些的时间都不会有明显变化，完全可以忽略n·T的时间惯性，而认为是绝对重合。第二个问题是在纱条入槽后的n·t时间内，设定电压的建立尚未完成，在纱条出槽以后，设定电压亦需延时消失，应该在线路设计时给予相应的措施。还应该注意的是防止超长双纱的混入形成假Xi信号，造成检测误差，对于因纱条接头而投入的双纱可通过加强操作责任心或专门电路设计防止;对于中途双纱混入，不妨将清纱器设计成具有双纱鉴别能力的双功能清纱器。
考察一个清纱器对纱疵判别的精度，当然是纱疵的粗度和长度的鉴别精度，由于纱疵长度的转换直接受制于纱疵粗度的精度，因此纱疵粗度的鉴别精度，尤为重要。在现有技术中，虽然设定误差较大，但是同灵敏度变异引起的检测误差相比，则小得多，因此现有技术容忍了设定误差，通过复杂的电路自调去减小检测误差。本发明提供的设计方法不存在灵敏度变异引入的检测误差，使得人们可以进一步地寻求代替全体纱条平均值的设定电平的设定方法，使设定误差更小，工艺效果更好。本发明提出的一种符合本设计方法的设定手段，即用连续的一个足够长度的片段纱条平均粗度去代替全体纱条的平均粗度已能取得这样的效果，即，在任何间刻，任意锭，对于任何材质和号数试样的检测，按这种方法设计的清纱器对纱疵粗度的判别精度达到了足够小的被认可的程度。由于获得了清纱器的较高的整体精度，获得了较好的工艺效果。
按照这样的设计方法进行纱疵分级仪的设计、显见，对纱疵的粗度判别必定有明显的提高。
本发明按照这一设计方法提供2个实施例，其一是对双纱有鉴别功能清纱器设计方案，其二是纱疵分级仪设计方案。后者还对纱疵长度判别精度的提高，提供了一个新的电路设计。
这二个设计方案都要求环境对各锭的影响稳定，代表纱条X的设定电平限制是0.75伏至2.1伏之间，可在相应设计中标有DC符号的检测端直接对各锭进行检查，作迟缓试验的积分电路T为1秒，在每分600米的纱速下，片段长度为15米。纱疵分级仪的纱速规定每分600米。清纱器有纱速选择电位器，纱疵粗度设定分别由各锭波段开关独立控制，统一给予纱疵长度设定。二个设计必须从DC处进行检查，确保无纱入槽时的零输出。
实施例1：双功能清纱器设计方案。
提供图纸有图2、图3、图4及图5。控制箱中电源部分图纸略去。
由图4产生光调制信号SO和解调信号S1，SO信号50KC，脉宽5μS，峰峰值正负12V，S1信号50KC，脉宽1μS，峰峰值正12V。图4中，IC1 IC2及附属电路形成500K的多谐振荡器，产生1μS脉宽时钟脉冲。由C423双四位移位寄存器组成逻辑电路产生1μS和5μS脉宽的2路脉冲，周波50KC，最终形成S0和S1。
S0送给图2的T3，使得红外发光管T2调制发光，在硅光电池T4上获得交流电压波形，由于C6及W2，电压波形呈现三角波形状，IC1交流放大，在R10上获得脉动交流电压。T5、C10及T6构成采样保持电路。图2的S1端接图4的S1解调信号，适当调鉴W2使得R10上的峰值电压正对S1的峰值，由此在R14上获得R10上交流电压的正值包络电压。此电压送至IC2的反相端，IC2接成系数为1的减法器，适当调整W4，使得无纱运行时A端输出为零。
在有纱运行时，R14上获得电压较小，A端获得一脉动的正值电压，相当于在无纱运行所获电压迭加一个反相的线性转换纱条粗度电压。
适当调整W1及W3，在无纱运行时，使R14上为9伏电平。在有纱运行时，使得较粗纱条时，A端电压不超过2.1伏，较细粗度纱条时，A端电压不低于0.75伏。
按动按钮T，使T2发光量锐减，相当于出现一个大纱疵，可在纱条运行中检验直至切刀的后续电路是否正常工作。
图3的A、B、C端分别同图2对应符号相接，S端同图5对应端相接，图5的电路安放在控制箱内，产生纱疵长度设定信号，从S端送给各锭检测放大单元。现对图3解释如下：A端送来最终电信号一路经R1C1的积分电路形成15米长度片段（设纱速600米/分）的纱条平均粗度对应该锭灵敏度电平，形成代替X的设定电平分别送于IC2和IC1。IC1、IC2为同相放大器，IC1的输出端形成纱疵粗度设定电压，直接由波段开关根据工艺需要选择适当档次。按照通常用增值表示纱疵设定电压的方式，图中提供了增值分别为0.68倍、1倍、1.3倍、1.6倍及1.9倍于基本粗度的设定电压，可以根据需要扩展。IC2形成1.41倍主纱直径的双纱设定电压。IC1IC2的输出端分别送于电压比较器IC3和IC4的反相端。A端的最终电信号另一路经过R2C2及R3C3构成毛羽信号滤波电路分别送去IC3和IC4的同相端，因此当纱条中疵点电压超过设定电压时，将纱疵的超过长度形成了同等长度、幅度等同电源电压的方波脉冲，通过W3及C4的积分电路，将方波长度转换成一定电平送给比较器IC5的反相端，当此电压超过S端送来的设定电平时，IC5出现低位零，引起后续切刀单稳电路工作，切除纱疵。IC6情况与其相仿，切除纱疵。IC2的输出端同时送给IC7的同相端。IC7的反相加有1伏偏压，在纱线入槽后，由于IC2的输出电压大于1伏，IC7送出高电位。C5电压缓缓上升并送给比较器IC8的同相端。当此电压低于IC8的反相输入设定电压或者纱线未入槽时，IC8出现低位零，由此单位钳位C4和C6的输出电压，使IC5、IC6的输出端维持高位，切刀线路不工作。适当调整W5，可以使纱条入槽后延迟2.5秒左右的时间。当超过这一时间后，IC8转成高位信号，由于T3及T4的作用，对C4及C6不再起作用，恢复纱条疵点的检测。
图5中W1为调整设定用，W2为纱速选择用，开关K为纱疵长度设定选择。
DC端为纱条15米片段长度（600米/分纱速时）截面平均粗度电平测试端，可做成插口形式。
实施例2：纱疵分级仪设计方案
此分级仪设计是光电传感六锭仪器。
实际提供图纸有图2、图4、图7、图8、图9、图10、图11、图12、图13、图14、图15及图16。电源部分及荧光管显示部分的电路略去。其中图2、图7、图8、图9及图14是每锭都应有的电路，现解释如下：
在实施例1中已经说明了图2、图4的作用，从A端获得最终电信号后送至图7。现解释图7。图7的A、B、C同图2的相应端相接，各锭的最终电信号通过R1C1积分电路取得了纱条平均粗度X的代替电平，此电平送给IC1，通过W2的精确调整获得增益为5的同相放大输出，在R15至R25及W10组成的电阻网络里形成了一组精确的纱疵电平设定值送往IC4直到IC13的电压比较器的同相端或反相端。这组设定电平的调整参数根据国家标准GB4145-84纱疵等级规定及本设计直接把全部最终电信号经过除毛羽影响的滤波电路（R2C2R3C3电路）送至比较器另一输入端的形式而定，比如在+1.5d纱疵幅度检测时，其设定电平为2.5d，从R18R19分压获得。从IC4至IC13的输出端获得了以下结果：
B1输出端获得正脉冲，其宽度等效为短粗节纱疵长度，纱疵设定电平为1.8d（用d表示粗度，以下同）。
A1输出端获得负脉冲，其宽度等效为长粗节纱疵长度，纱疵设定电平为1.45d。
G1输出端获得负脉冲，其宽度等效为长细节纱疵长度，纱疵设定电平为0.76d。
其余C1、D1、E1、F1、H1、I1及J1分别以高电平表示纱疵粗度达到了+1d、+1.5d、+2.5d、+4d、-30%d、-45%d及-75%d。
出现一个纱疵以后，IC4至IC13的比较器输出端完成了对纱疵长度的转换和纱疵粗度的初步描述。
图7中IC2IC3的作用同双功能清纱器设计方案中图3的IC7及IC8的作用。不同之处是在IC2的输出端引出信号E，E电位在高位1时表明纱线已经入槽，低位0时表明纱线出槽。D端电位状态描述同图3IC8的输出端。
图7的C1、D1、E1、F1、H1、I1、A1、J1及E送往图9的相应端，被图9的IC1至IC8（D触发器）记忆，以Q端输出高位1表示纱疵粗度达到了纱疵档规定值。图9IC8的Q输出端同E相与构成1X1输出，1X1信号送图14的1X1端，将纱条强制切断，因为纱条粗度低于正常纱的25%，无法承担纱条后续工艺强力需要，不如将其切断重接。图9其余电路下面再谈。
图7的B1、A1、G1、E及D送往图8。图8中的CP1、CP2接自图10，CP1、CP2为2个时钟脉冲，CP1时钟脉冲100KC，在纱速每分600米时，每个脉冲相当于0.1毫米纱条长度。IC1、IC2、IC3接成三级级连计数器。B1正脉冲宽度相当于短粗节纱疵长度，由IC24变成负脉冲送到IC1的CT端，打开计数门，IC1IC2IC3开始对CP1时钟计数，当IC2的计数输出端1为高位时，表明纱疵长度已达1毫米长度档级，此高位立刻被IC10记住。同理，在IC9IC8IC7的Q输出端可以用电位的高低来描述短粗节的长度状态。A1及G1负脉冲通过IC20的双输入端与非门构成负逻辑的或操作，把长粗节或长细节纱疵的宽度转成正脉冲，通过IC26转换成负脉冲送给IC4IC5IC6构成的计数器，通过类似短粗节长度测量的分析在IC11IC12的Q输出端得到纱疵是否达到8厘米和32厘米的描述。当纱疵（长粗节或长细节）长度超过40厘米时，为了防止对设定电压的干扰，从IC6的4输出端信号同D、E在IC29上相与得1X2信号此信号送到图14的切刀电路，把纱条强制切断。
CP2时钟频率10KC，在每分600米纱速时，一个脉冲周期相当于1毫米纱条长度。因此对长粗节或长细节的绝对测量精度为正负0.1毫米。图8的B接自图2的B。
图9中1X1及图8中的1X2输出端产生用以对超过-75%的过细纱条以及对长度达40厘米的长粗节、长细节纱疵切除的信号，如图加进E和D控制信号的目的前者是防止纱条已经出槽，设定电压由于图7RIC1的积分电路存在而形成的假细节，造成切刀空动作;在1X2信号产生电路中除了E之外又引进D电位则是控制纱条初入槽时，设定电压尚未建立完善而造成的对正常纱当作超长粗节而切断。
现解释图8的其余电路。
由于长粗节的计算长度的粗度起点低于短粗节，因此IC20的输出正脉冲的后沿可以表示各种纱疵的应测量长度的结束，对于短粗节来说，实际的长度脉冲后沿稍先于IC20正脉冲后沿，长度检测精度与此后沿的时间差没有关系。用IC20的后沿表示任一纱疵长度的结束可以收电路设计的便利。当IC20的脉冲后沿（下降沿）通过IC25的倒相变成上升沿，IC25的上升沿表示一个纱疵的结束。用此上升沿触发IC13（IC13和IC14是双单稳触发器），在Q端得到一个正脉冲（470微秒），这一正脉冲同D、E及IC27的输出信号相与形成一个控制电压打开图8中IC15至IC19以及图9中IC10至IC15的模拟开关把相应信号输出。在模拟开关未打开时，由于电阻R1至R5的接地（在图9中是R1至R6电阻接地），使这些输出端为稳定的低电位输出。
由于D、E信号的加入避免纱线初入槽和纱条出槽后的假信号送出。IC27的作用可以这样理解，IC21的输入端接长度达到1毫米长度的IC10Q端的输出，F为图9中纱疵粗度超过1d的状态描述，在IC21的输出端为高电位1时表明短粗节纱疵未达到A1等级，同理G、H分别为粗度是否超过-30%及+45%的状态描述，他们同长度是否超过8厘米的状态描述在IC22和IC23的输出端都是以高位1表示不满足最低等级的长粗节和长细节。IC21、IC22及IC23的输出低电位有效使IC27构成了负逻辑的或输出，IC27的输出1y端，如果是高位表明检测到纱疵已达到了最小等级的短粗节、长粗节或长细节纱疵，1y信号兼作该锭的中断申请信号。
1A电位的高低表明1号锭中检测到的短粗节纱疵是否超过1cm的长度。
对于1号锭的其它输出端电位高低可以这样描述：
1B、1C表示短粗节是否超过2cm和4cm、1D、1E表示长粗节或长细节是否超过8cm和32cm图9的1F、1G、1H、1I、1K、1L分别表示纱疵粗度达到+1d、+1.5d、+2.5d、+4d、-45%、+45%。
对于2至6号锭的相应输出端将前面数字如标号1A前的1相应改为2至6，这样从6锭检测单元里得到各自出现的疵点状态的全部描述。由于6锭中的几锭同时出现纱疵的可能极小，因此将这些对应信号在图12中进行或非处理，在通过IC13IC14的J330进行接口（并倒相）处理使之适应微机工作的电源建制，最终获得送给图15微机系统中，供给纱疵描述信号采集。
再回到图8中来，1y信号输出为1号锭向微机申请中断信号，不难看出它出现在IC20送出的等效纱疵宽度的正脉冲后沿，同时同超过短粗节长粗节长细节的最小等级相或的输出信号进行与操作，以及再同D和E相与。因此，对于长度不足以构成最小级A1（国家标准的纱疵描述等级）以及不足以构成最小长粗节和长细节的微小纱疵都避免了向机申请采集判断处理，也避免了在图12中各锭同样描述端进行或处理时的互相干扰。由于D和E信号参加了与操作，避免了纱线入槽初期的假粗节信号以及纱线出槽后的假细节信号送出。2号锭至6号锭的中断申请信号命名为2y直至6y。6个中断信号经过图11的或操作并经晶体管倒相形成了向微机申请中断信号T1（负电平有效）。
图8中IC13的Q端同时送给IC14的B端，IC14接成下降沿触发的单稳触发器，紧跟在IC13Q端输出的正脉冲之后，IC14Q端送出一个脉冲对IC6的计数器，IC7至IC12D触发器以及图9中的IC1至IC8D触发器清0，准备下一个纱疵脉冲的测量。IC13IC14的 Q端在Q送出正脉冲的同时，相应出现负脉冲，这二个脉冲加在IC24IC25IC26上封锁干扰脉冲的进入，保证测量的准确。
在投纱入槽后的数秒钟，IC13IC14工作虽然无效，但具有自动清零的效果，因此电路的初期预清零电路可以省略。
当微机系统响应中断信号，采集纱疵信息描述作出相应处理，如果决定切断纱疵，将给出一个负脉冲（X输出端），这一负脉冲送至图13，通过晶体管接口电路进行电平转换并倒相成正脉冲。这一正脉冲送给IC1至IC6的与门电路的一个输入端，同各锭的中断申请信号相与，自选择锭号切刀电路，如果是1号锭的1y出现高位，那么1X将得到高位输出，并送至图14的切刀执行电路相应端，触发切刀动作，将纱疵切断。根据微机软件计算，一个纱疵的最长判别时间约300微秒，送出切刀执行脉冲要200多微秒，申请中断信号时间长度决定于图8IC13的单稳时间，设计给出为470微秒，1y信号长度可以复盖X信号，如要更可靠些IC13的电容可选择5100P。IC13和IC14二个单稳脉冲之和为700微秒时间，相当于纱条长度在每分600米时的7毫米长，这是一个纱疵出现后的机器盲区，亦即2个可分辨纱疵的最小间隔为7毫米。
图10为时钟脉冲产生电路，ALE取自图15的相同符号端，微机系统使用6M的晶振，ALE送出400KC标准时钟，经过接口变换电平，IC1四分频，IC2再十分频形成了100KC的CP1及10KC的CP2时钟。
通过以上的电路设计完成了六锭描述纱条中疵点的任务，形成了一组描述纱疵粗度和长度的信号，表示于图12的A'、B'、C'、D'、E'、F'、G'、H'、I'、K'、L'，以上共11个信号，端点电位高表示满足，低表示不满足。形成了向微机申请中断的T1信号（图11），负电平有效。具有接受微机切刀执行指令并自选择锭号的功能（图13）。同时机器自动对超过40cm的长粗节或长细节和粗度低于25%的细节切除的功能。
图15为微机系统设计示意图。采用MCS-48系列中8039单片微机，主振6M，内存128个单元，单级中断，系统用四只专用接口电路8243扩展输入输出接口。
系统主要功能：
1.纱疵描述信息采集，采用内中断，由T1接受中断申请（低电平有效），按照图中指定的口及口上位安排采集纱疵全部描述信号，放入内存中R6及R7单元，供微机判别。
R6及R7上位安排如下：
7位 6位 5位 4位 3位 2位 1位 0位
R6 L' K' J' I' H' G' F' E'
R7 D' C' B' A'
2.纱疵清除指令采集：在测试之前，人工给予23种纱疵切除指令，在控制箱面板上安放设定器，使得应切除纱疵等级送出高电平1，不切除为低电平。这一部分电路简单，略去。微机对切除指令进行一次性采集并存放在78、79、80单元内，具体位安排如下（所用符号如A4，均为国家标准规定的纱疵等级符号）：
7位 6位 5位 4位 3位 2位 1位 0位
R78 A4 A3 A2 A1 B4 B3 B2 B1
R79 C4 C3 C2 C1 D4 D3 D2 D1
R80 I2 I1 H2 H1 G F E
3.切刀执行指令输出，一旦微机判别纱疵应予切除，从图15中X端处送出一个负脉冲，此信号送到图13的自选择网络。
4.显示输出：由指定接口驱动电路送给荧光显示部分。采用七段数码管表示，数码管附属显示电路，本方案未提供，按常规接。四位显示数字为十进制，数字表达容量为0-9999，并能显示符号，如显示纱疵等级符号A4等。
同微机系统直接有关的安排为：
1.内存中计数单元，每级纱疵计数占用2个单元，采用2-10进制转换，每级纱疵计数容易为0-9999。单元安排顺序，自32单元开始，依次A1、A2、A3、A4、B1、B2、B3、B4、C1、C2、C3、C4、D1、D2、D3、D4、E、F、G、H1、H2、I1、I2。
2.程序第三页见表《程序第三页表安排设计》，表中的a、b、c、d、e、f、g及h对应数码管相应笔划符号。数码管笔划符号安排见图16。
3.操作过程，微机接通电源，左方2只数码管显示“0”符号。此时，按工艺要求在控制箱面板上安排纱疵切除指令，接着把T0控制开关打向低电位，机器进入检测状态，可以开机络简测试纱疵。在检测中途或者结束需要显示检测结果时，把INT开关拨向低电位，机器通过四位数码管逐一显示纱疵数目，首先2位显示纱疵等级，接着4位显示数字。在全部显示结束后，机器自动检查INT电平，如仍在低位，则继续第二次显示。因此在核对数字记录无误后，在最后一级纱疵数目显示熄灭之前应将INT打向高电位，否则将再次进行全部显示。在显示检测结果期间，机器对纱疵没有检测能力。T0开关保持电位不变，内存中数字不会清0。显示结束后，（即当INT拨向高电位）左边2只数码管重新显示两个“0”。在一个试样检测期间，不能拨动T0，在改换品种后则必须重新根据工艺要求拨动纱疵清除设定器，再把T0拨向低电位。
在检测运行中，将对刚刚检测到的纱疵自动显示其等级，如A4、E等。
本设计方案提供的软件请见《汇编程序清单》
程序第三页表安排设计
单位 hgfedcba 显示内容
300（H） 11000000 C0（H） 显示“0”
301（H） 11111001 F9（H） 显示“1”
302（H） 10100100 A4（H） 显示“2”
303（H） 10110000 B0（H） 显示“3”
304（H） 10011001 99（H） 显示“4”
305（H） 10010010 92（H） 显示“5”
306（H） 10000010 82（H） 显示“6”
307（H） 11111000 F8（H） 显示“7”
308（H） 10000000 80（H） 显示“8”
309（H） 10010000 90（H） 显示“9”
30A（H） 10001000 88（H） 显示“A”
30B（H） 10000011 83（H） 显示“b”
30C（H） 11000110 C6（H） 显示“c”
30D（H） 10100001 A1（H） 显示“d”
30E（H） 10000110 86（H） 显示“E”
30F（H） 10001110 8E（H） 显示“F”
310（H） 10011000 98（H） 显示“q”
311（H） 10001001 89（H） 显示“H”
312（H） 11110000 F0（H） 显示“I”
313（H） 01111111 7F（H） 显示“·”
314（H） 11111111 FF（H） 无显示
…… 11111111 FF（H） 无显示
3FF（H） 11111111 FF（H） 无显示
汇编程序清单
000：JMP PR MOV RO·＃20H
003：CALL PR2 CLR A·
RETR AK：MOV @RO·A
007：JTF D INC R0
RETR DJNZ R1·AK
D：CALL IX MOV PSW·A
MOV A·＃BFH MOV A·＃EFH
OUTL P2·A OUTL P2·A
MOV A·＃FFH MOVD A·P4
MOVD P7·A MOVD A·P4
OUTL P2·A SWAP A·
MOV T·A MOVD A·P5
RETR MOVD A·P5
PR：DIS I MOV R1·＃4EH
DIS TCNTI MOV @R1·A
SEL RBO INC R1
CALL SC4 MOVD A·P6
MOV R2·＃00H MOVD A·P6
MOV R3·＃00H SWAP A·
CALL SC1 MOVD A·P7
P：JTO PR1 MOVD A·P7
JMP P MOV @R1·A
PR1：MOV R1·＃31H INC R1
MOV A·＃DFH MOV R7·A
OUTL P2·A MOV A·＃FFH
MOVD A·P4 OUTL P2·A
MOVD A·P4 MOV A·R7
SWAP A· JB3 X1
MOVD A·P5 MOV A·R6
MOVD A·P5 JB2 X11
MOV @R1·A MOV A·R7
MOV A·＃FFH JBO X21
OUTL P2·A MOV R2·＃OAH
MOV T·A MOV R3·＃01H
STRT CNT CALL SC1
EN I MOV R1·＃4EH
EN TCNTI MOV A·@RI
JP1：JNTO PR JB4 M1
JMP JP1 JMP N11
IX：MOV A·＃BFH M1：CALL KI
OUTL P2·A JMP N11
MOVD A·P4 X21：JB1 X22
MOVD A·P4 MOV R2·＃0BH
SWAP A· MOV R3·＃01H
MOVD A·P5 CALL SC1
MOVD A·P5 MOV R1·＃4EH
MOV R6·A MOV A·@R1
MOVD A·P6 JBO M2
MOVD A·P6 JMP N21
M2：CALL KI MOV R3·＃02H
JMP N21 CALL SC1
X22：JB2 X23 MOV R1·＃4EH
MOV R2·＃OCH MOV A·@R1
MOV R3·＃01H JB5 M5
CALL SC1 JJMP N12
MOV R1·＃4FH M5：CALL KI
MOV A·@R1 JMP N12
JB4 M3 X31：JB1 X32
JMP N31 MOV R2·＃0BH
M3：CALL KI MOV R3·＃02H
JMP N31 CALL SC1
X23：MOV R2·＃ODH MOV R1·＃4EH
MOV R3·＃01H MOV A·@R1
CALL SC1 JB1 M6
MOV R1·＃4FH JMP N22
MOV A·@R1 M6：CALL KI
JBO M4 JMP N22
JMP N41 X32：JB2 X33
M4：CALL KI MOV R2·＃OOH
JMP N41 MOV R3·＃02H
X11：JB3 X13 CALL SC1
MOV A·R7 MOV R1·＃4FH
JBO X31 MOV A·@R1
MOV R2·＃OAH JB5 M7
JMP N32 MOV R2·＃OBH
M7：CALL KI MOV R3·＃03H
JMP N32 CALL SC1
X33：MOV R2·＃ODH MOV R1·＃4EH
MOV R3·＃02H MOV A·@R1
CALL SC1 JB2 M10
MOV R1·＃4FH JMP N23
MOV A·@R1 M10：CALL KI
JB1 M8 JMP N23
JMP N42 X42：JB2 X43
M8：CALL KI MOV R2·＃OOH
JMP N42 MOV R3·＃03H
X13：JB4 X15 CALL SC1
MOV A·R7 MOV R1·＃4FH
JBO X41 MOV A·@R1
MOV R2·＃0AH JB6 M11
MOV R3·＃03H JMP N33
CALL SC1 M11：CALL KI
MOV R1·＃4EH JMP N33
MOV A·@R1 X43：MOV R2·＃ODH
JB6 M9 MOV R3·＃03H
JMP N13 CALL SC1
M9：CALL KI MOV R1·＃4FH
JMP N13 MOV A·@R1
X41：JB1 X42 JB2 M12
JMP N43 MOV R2·＃OCH
M12：CALL KI MOV R3·＃04H
JMP N43 CALL SC1
X15：MOV A·R7 MOV R1·＃4FH
JBO X51 MOV A·@R1
MOV R2·＃0AH JB7 M15
MOV R3·＃04H JMP N34
CALL SC1 M15：CALL KI
MOV R1·＃4EH JMP N34
MOV A·@R1 X53：MOV R2·＃ODH
JB7 M13 MOV R3·＃04H
JMP N14 CALL SC1
M13：CALL KI MOV R1·＃4FH
JMP N14 MOV A·@R1
X51：JB1 X52 JB3 M16
MOV R2·＃0BH JMP N44
MOV R3·＃04H M16：CALL KI
CALL SC1 JMP N44
MOV R1·＃4EH N14：MOV R0·＃38H
MOV A·@R1 CALL ADD
JB3 M14 N13：MOV RO·＃30H
JMP N24 CALL ADD
M14：CALL KI N12：MOV R0·＃28H
JMP N24 CALL ADD
X52：JB2 X53 N11：MOV RO·＃20H
CALL ADD N41：MOV RO·＃26H
RETR CALL ADD
N24：MOV R0·＃3AH RETR
CALL ADD X1：MOV A·R6
N23：MOV R0·＃32H JB7 X3
CALL ADD JBO X4
N22：MOV R0·＃2AH JB6 X12
CALL ADD MOV R2·＃11H
N21：MOV R0·＃22H MOV R3·＃01H
CALL ADD CALL SC1
RETR MOV R1·＃50H
N34：MOV R0·＃3CH MOV A·@R1
CALL ADD JB4 M17
N33：MOV R0·＃34H JMP X16
CALL ADD M17：CALL KI
N32：MOV R0·＃20H JMP X16
CALL ADD X12：MOV R2·＃11H
H31：MOV R0·＃24H MOV R3·＃02H
CALL ADD CALL SC1
RETR MOV R1·＃50H
N44：MOV R0·＃3EH MOV A·@R1
CALL ADD JB5 M18
N43：MOV R0·＃36H JMP X14
CALL ADD M18：CALL KI
N42：MOV R0·＃2EH X14：MOV R0·＃48H
CALL ADD CALL ADD
X16：MOV R0·＃46H X3：JB1 X5
CALL ADD JBO X9
RETR MOV R1·＃50H
X4：JB6 X6 MOV A·@R1
MOV R2·＃12H JB2 M21
MOV R3·＃01H JMP X7
CALL SC1 M21：CAL KI
MOV R1·＃50H X7：MOV R2·＃OFH
MOV A·@R1 MOV R3·＃14H
JB6 M19 CALL SC1
JMP X10 MOV R0·＃42H
M19：CALL KI CALL ADD
JMP X10 RETR
X6：MOV R2·＃12H X9：MOV R1·＃50H
MOV R3·＃02H MOV A·@R1
CALL SC1 JB3 M22
MOV R1·＃50H JMP X61
MOV A·@R1 M22：CALL KI
JB7 M20 X61：MOV R2·＃10H
JMP X8 MOV R3·＃14H
M20：CALL KI CALL SC1
X8：MOV R0·4CH MOV R0·＃44H
CALL ADD CALL ADD
X10：MOV R0·4AH RETR
CALL ADD X5：MOV R1·＃50H
RETR MOV A·@R1
JB1 M23 AB3：MOV R3·＃14H
JMP X62 MOV R1·＃03H
M23：CALL KI AB4：CALL SC1
X62：MOV R2·＃OEH CALL SC3
MOV R3·＃14H CALL SC2
CALL SC1 CALL SC3
MOV RO·＃40H INC R2
CALL ADD INC R0
RETR DJNZ R1·AB4
PR2：STOP TCNT AB5：MOV R1·＃02H
MOV R2·＃0AH MOV R3·＃01H
MOV R0·＃20H AB6：CALL SC1
AB1：MOV R3·＃01H CALL SC3
MOV R1·＃04H CALL SC2
AB2：CALL SC1 CALL SC3
CALL SC3 INC R0
CALL SC2 INC R3
CALL SC3 DJNZ R1·AB6
INC R3 MOV A·R2
INC R0 ADD A·＃EDH
DJNZ R1·AB2 JNZ AB7
INC R2 INC R2
MOV A·R2 JMP AB5
ADD A·＃F1H AB7：CALL SC4
JNZ AB3 MOV R2·＃00H
JMP AB1 MOV R3·＃00H
CALL SC1 OUTL P1·A
STRT CNT MOV A·＃DFH
RETR OUTL P2·A
KI：MOV A·＃BFH MOV A·@RO
OUTL P2·A SWAP A
CLR A· ANL A·＃OFH
MOVD P7·A MOV P3·@A
RETR MOVD P6·A
SC1：MOV A·＃7FH SWAP A
OUTL P2·A MOVD P7·A
MOV A·R2 INC RO
MOV P3·@A MOV A·＃7FH
MOVD P6·A OUTL P2·A
SWAP A· MOV A·@RO
MOVD B7·A ANL A·＃OFB
MOV A·R3 MOV P3·@A
MOV P3·@A MOVD P4·A
MOVD P4·A SWAP A·
SWAP A· MOVD P5·A
MOVD P5·A MOV A·@RO
MOV A·＃FFH SWAP A·
OUTL P2·A ANL A·＃OFH
RETR MOV P3·@A
SC2：MOV A·@R0 MOVD P6·A
ANL A·＃OFH SWAP A·
MOV P3·@A MOVD P7·A
MOV A·＃FFH MOVD P6·A
OUTL P2·A MOVD P7·A
RETR MOV A·＃DFH
SC3：MOV A·＃FFH OUTL P2·A
MOV R4·A MOV A·＃FFH
AC1：MOV R5·A MOVD P6·A
AC2：NOP MOVD P7·A
NOP OUTL P2·A
NOP OUTL P1·A
NOP RETR
NOP AID：MOV A·@RO
NOP INC A·
NOP DA A·
NOP MOV @RO·A
NOP INC RO
NOP NOV A·@RO
DJNZ R5·AC2 ADDC A·＃OOH
DJNZ R4·AC1 DA A·
RETR NOV @RO·A
SC4：NOV A·＃7FH RETR
OUTL P2·A
MOV A·＃FFH
MOVD P4·A
MOVD P5·A