《液晶配向检查机及方法.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《液晶配向检查机及方法.pdf（11页珍藏版）》请在专利查询网上搜索。
1、(10)申请公布号 CN 103293771 A (43)申请公布日 2013.09.11 C N 1 0 3 2 9 3 7 7 1 A *CN103293771A* (21)申请号 201310260939.7 (22)申请日 2013.06.26 G02F 1/1337(2006.01) G02F 1/13(2006.01) (71)申请人深圳市华星光电技术有限公司 地址 518132 广东省深圳市光明新区塘明大 道9-2号 (72)发明人莫圣鹏 江文彬 徐正兴 (74)专利代理机构广东广和律师事务所 44298 代理人刘敏 (54) 发明名称 液晶配向检查机及方法 (57) 摘要 一种。
2、液晶配向检测方法，包括步骤：将待检测 的液晶阵列基板与液晶配向检测机连接，其中，该 液晶阵列基板包括若干信号输入端，该液晶配向 检测机包括探针治具、电压印加装置以及阻抗检 测装置，该探针治具包括若干探针端，每一探针端 均包括第一、第二探针，该若干探针端分别与液晶 阵列基板的若干信号输入端连接；通过电压印加 装置对液晶阵列基板的若干信号输入端输入相应 的电压而对液晶阵列基板进行影像检查；通过阻 抗检测装置检测液晶阵列基板的若干信号输入端 两两之间的阻抗值而判断信号输入端两两之间是 否发生短路。本发明还提供一种液晶配向检测机。 本发明的液晶配向检测机及方法，无需停机，可完 成对液晶配向检查以及基板。
3、信号输入端的短路检 查。 (51)Int.Cl. 权利要求书2页 说明书5页 附图3页 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 权利要求书2页 说明书5页 附图3页 (10)申请公布号 CN 103293771 A CN 103293771 A 1/2页 2 1.一种液晶配向检测机，用于对一已配向的液晶阵列基板进行检测，该液晶阵列基板 包括设置于该液晶阵列基板边缘的彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素 信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路 公共电极信号输入端，其特征在于，该液晶配向检测机包括： 探针治具，包括若干探针端。
4、，每一探针端均包括第一、第二两个探针，该若干探针端用 于在对液晶阵列基板进行检测时，分别与液晶阵列基板的彩膜公共电极信号输入端、蓝像 素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信 号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端一一电接触； 电压印加装置，包括若干电压输出端，该若干电压输出端分别与该每一探针端的第一 探针一一连接，该电压印加装置通过每一探针端的第一探针施加相应的电压至液晶阵列基 板的彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入 端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端，而对液 晶阵列基板进行。
5、影像检查，判断液晶阵列基板是否有配向不良；以及 阻抗检测装置，包括若干连接端，该若干连接端分别与该每一探针端的第二探针一一 连接，该阻抗检测装置用于在液晶阵列基板的影像检查完成后，通过侦测该些第二探针两 两之间的阻抗值而得到液晶阵列基板的彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿 像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列 电路公共电极信号输入端两两之间的阻抗值，从而判断该些信号输入端两两之间是否发生 短路。 2.如权利要求1所述的液晶配向检测机，其特征在于，该阻抗检测装置包括一具有两 个接头的电压表以及一可编程逻辑电路开关，该可编程逻辑电路开关连接于该。
6、电压表的两 个接头与该阻抗检测装置的若干连接端之间，用于依次导通该电压表的两个接头与其中两 个连接端之间的连接，从而，使得电压表的两个接头依次与探针端中的其中两个探针端的 第二探针连接，而依次检测液晶阵列基板的彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、 绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵 列电路公共电极信号输入端中的两个之间的阻抗值。 3.如权利要求1或2所述的液晶配向检测机，其特征在于，该阻抗检测装置检测该两个 信号输入端之间的阻抗值小于一定值时，则表明该两个信号输入端之间存在短路。 4.如权利要求1所述的液晶配向检测机，其特征在于，该液晶配向检。
7、测机还包括显示 设备以及可编程逻辑电路，该显示设备与该电压印加装置以及阻抗检测装置均通过可编程 逻辑电路连接。 5.如权利要求4所述的液晶配向检测机，其特征在于，电压印加装置施加给液晶阵列 基板的电压值通过该可编程逻辑电路传送至该显示设备进行显示，以供用户检查施加电压 是否正确。 6.如权利要求4所述的液晶配向检测机，其特征在于，阻抗检测装置检测的阻抗值通 过该可编程逻辑电路传送至该显示设备进行显示，以供用户根据该阻抗值判断液晶阵列基 板的信号输入端之间是否存在短路。 7.一种液晶配向检测方法，包括步骤： 将待检测的液晶阵列基板与一液晶配向检测机连接，其中，该液晶阵列基板包括若干 权 利 要 。
8、求 书CN 103293771 A 2/2页 3 信号输入端，该液晶配向检测机包括探针治具、电压印加装置以及阻抗检测装置，该探针治 具包括若干探针端，每一探针端均包括第一、第二两个探针，该若干探针端分别与液晶阵列 基板的该若干信号输入端一一连接； 通过电压印加装置对液晶阵列基板的若干信号输入端输入相应的电压而对液晶阵列 基板进行影像检查； 通过阻抗检测装置检测液晶阵列基板的若干信号输入端两两之间的阻抗值而判断该 些信号输入端两两之间是否发生短路。 8.如权利要求7所述的液晶配向检测方法，其特征在于，电压印加装置包括分别与该 每一探针端的第一探针连接的若干电压输出端，该步骤“通过电压印加装置对液。
9、晶阵列基 板的若干信号输入端输入相应的电压而对液晶阵列基板进行影像检查”包括： 该电压印加装置通过每一探针端的第一探针施加相应的电压至液晶阵列基板的若干 信号输入端而对液晶阵列基板进行影像检查。 9.如权利要求7所述的液晶配向检测方法，其特征在于，阻抗检测装置包括分别与该 每一探针端的第二探针一一连接的若干连接端，该步骤“通过阻抗检测装置检测液晶阵列 基板的若干信号输入端两两之间的阻抗值”包括： 通过侦测若干第二探针两两之间的阻抗值而得到液晶阵列基板的若干信号输入端两 两之间的阻抗值。 10.如权利要求7所述的液晶配向检测方法，其特征在于，该方法还包括： 将阻抗检测装置检测的阻抗值通过可编程逻。
10、辑电路传送至显示设备进行显示。 权 利 要 求 书CN 103293771 A 1/5页 4 液晶配向检查机及方法 技术领域 0001 本发明涉及一种系统，特别涉及一种液晶配向检查机及方法。 背景技术 0002 目前，液晶显示面板已经广泛使用在液晶电视、液晶显示器等电子装置中。目前 液晶显示面板的制造中，均为通过一整块的基板切割得到多个液晶显示面板。而对于该整 块基板，需要进行HVA光配向，即，在给基板印加电压的情况下，通过紫外线UV光照射促使 面板内单体反应，从而达到液晶配向的目的。目前，HVA光配向技术已广泛应用于高世代 TFT-LCD行业中。为保证液晶在UV紫外线光照射下能形成特定的配向。
11、角，通常为通过UVM机 台(紫外线光配向机台)通过电压印加装置对基板输入电压使液晶旋转形成预倾角。一般， 基板边缘具有多个信号输入端(curing pad)，包括彩膜公共电极(CF_Com)信号输入端、蓝 像素(Blue)信号输入端、绿像素(Green)信号输入端、红像素(Red)信号输入端、栅极奇数 (Odd)信号输入端、栅极偶数(Even)信号输入端以及阵列电路公共电极(A_Com)信号输入 端。UVM机台通过电压印加装置对该些多个信号输入端输入相应的电压而进行HVA光配向。 目前，为了保证基板HVA光配向的良好，在基板进行了HVA光配向后，还需要通过一AOI检 查机(配向后液晶检查机)检。
12、测是否配向良好。其中，该AOI检查机与UVM机台一样需通 过电压印加装置给基板印加电压，而检查基板的影像是否良好而判断是否有配向不良。然 而，当AOI检查机检测有配向不良时，当确认不是UVM机台造成的配向不良，则通常需在将 AOI检查机停机，并手动使用电压表测量基板的各个信号输入端之间的阻抗值，判断是否有 信号输入端之间短路的现象而排查配向不良的原因。 0003 然而，在AOI检查机停机时，无法对其他基板进行检测，且现有中需要人工使用电 压表检查，耽误了时间。 发明内容 0004 本发明提供一种液晶配向检测机及方法，无需进行停机即可检测基板的配向不良 以及检测基板的信号输入端之间的阻抗值而排查。
13、不良。 0005 一种液晶配向检测机，用于对一已配向的液晶阵列基板进行检测，该液晶阵列基 板包括设置于该液晶阵列基板边缘的彩膜公共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像 素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电 路公共电极信号输入端，其特征在于，该液晶配向检测机包括探针治具、电压印加装置以及 阻抗检测装置。该探针治具包括若干探针端，每一探针端均包括第一、第二两个探针，该若 干探针端用于在对液晶阵列基板进行检测时，分别与液晶阵列基板的彩膜公共电极信号输 入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、栅 极偶数信号输入端以及。
14、阵列电路公共电极信号输入端一一电接触。该电压印加装置，包括 若干电压输出端，该若干电压输出端分别与该每一探针端的第一探针一一连接，该电压印 加装置通过每一探针端的第一探针施加相应的电压至液晶阵列基板的彩膜公共电极信号 说 明 书CN 103293771 A 2/5页 5 输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入端、 栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端，而对液晶阵列基板进行影像检 查，判断液晶阵列基板是否有配向不良。该阻抗检测装置包括若干连接端，该若干连接端分 别与该每一探针端的第二探针一一连接，该阻抗检测装置用于在液晶阵列基板的影像检查 完成。
15、后，通过侦测该些第二探针两两之间的阻抗值而得到液晶阵列基板的彩膜公共电极信 号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅极奇数信号输入 端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端两两之间的阻抗值而判断该些 信号输入端两两之间是否发生短路。 0006 其中，该阻抗检测装置包括一具有两个接头的电压表以及一可编程逻辑电路开 关，该可编程逻辑电路开关连接于该电压表的两个接头与该阻抗检测装置的若干连接端之 间，用于依次导通该电压表的两个接头与其中两个连接端之间的连接，从而，使得电压表的 两个接头依次与探针端中的其中两个探针端的第二探针连接，而依次检测液晶阵列基板的 彩膜公。
16、共电极信号输入端、蓝像素信号输入端、绿像素信号输入端、红像素信号输入端、栅 极奇数信号输入端、栅极偶数信号输入端以及阵列电路公共电极信号输入端中的两个之间 的阻抗值。 0007 其中，该阻抗检测装置检测该两个信号输入端之间的阻抗值小于一定值时，则表 明该两个信号输入端之间存在短路。 0008 其中，该液晶配向检测机还包括显示设备以及可编程逻辑电路，该显示设备与该 电压印加装置以及阻抗检测装置均通过可编程逻辑电路连接。 0009 其中，电压印加装置施加给液晶阵列基板的电压值通过该可编程逻辑电路传送至 该显示设备进行显示，以供用户检查施加电压是否正确。 0010 其中，阻抗检测装置检测的阻抗值通过。
17、该可编程逻辑电路传送至该显示设备进行 显示，以供用户根据该阻抗值判断液晶阵列基板的信号输入端之间是否存在短路。 0011 一种液晶配向检测方法，包括步骤：将待检测的液晶阵列基板与一液晶配向检测 机连接，其中，该液晶阵列基板包括若干信号输入端，该液晶配向检测机包括探针治具、电 压印加装置以及阻抗检测装置，该探针治具包括若干探针端，每一探针端均包括第一、第二 两个探针，该若干探针端分别与液晶阵列基板的该若干信号输入端一一连接；通过电压印 加装置对液晶阵列基板的若干信号输入端输入相应的电压而对液晶阵列基板进行影像检 查；通过阻抗检测装置检测液晶阵列基板的若干信号输入端两两之间的阻抗值而判断该些 信号。
18、输入端两两之间是否发生短路。 0012 其中，电压印加装置包括分别与该每一探针端的第一探针连接的若干电压输出 端，该步骤“通过电压印加装置对液晶阵列基板的若干信号输入端输入相应的电压而对液 晶阵列基板进行影像检查”包括：该电压印加装置通过每一探针端的第一探针施加相应的 电压至液晶阵列基板的若干信号输入端而对液晶阵列基板进行影像检查。 0013 其中，阻抗检测装置包括分别与该每一探针端的第二探针一一连接的若干连接 端，该步骤“通过阻抗检测装置检测液晶阵列基板的若干信号输入端两两之间的阻抗值”包 括：通过侦测若干第二探针两两之间的阻抗值而得到液晶阵列基板的若干信号输入端两两 之间的阻抗值。 001。
19、4 其中，该方法还包括步骤：将阻抗检测装置检测的阻抗值通过可编程逻辑电路传 说 明 书CN 103293771 A 3/5页 6 送至显示设备进行显示。 0015 本发明的液晶配向检测机及方法，无需停机，可完成对液晶配向检查以及基板信 号输入端的短路检查。 附图说明 0016 图1是本发明一实施方式中液晶配向检测机的模块架构图。 0017 图2是本发明一实施方式中液晶配向检测机中的阻抗检测装置的内部结构图。 0018 图3是本发明一实施方式中液晶配向检测方法的流程图。 具体实施方式 0019 请参阅图1，为本发明液晶配向检测机100的模块架构图。该液晶配向检测机100 用于对一已配向的液晶阵列。
20、基板200进行检测。 0020 其中，该液晶阵列基板200包括设置于该液晶阵列基板边缘的彩膜公共电极(CF_ Com)信号输入端CP1、蓝像素(Blue)信号输入端CP2、绿像素(Green)信号输入端CP3、红 像素(Red)信号输入端CP4、栅极奇数(Odd)信号输入端CP5、栅极偶数(Even)信号输入端 CP6以及阵列电路公共电极(A_Com)信号输入端CP7。 0021 该液晶配向检测机100包括探针治具10、电压印加装置20以及阻抗检测装置30。 0022 该探测治具10包括若干探针端P1P7，每一探针端均包括两个探针SP、SP2。该 若干探针端P1P7用于在对液晶阵列基板200进。
21、行检测时，分别与液晶阵列基板200的 彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号 输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数信号输入端CP6以及阵列电路公共电极信 号输入端CP7一一电接触。 0023 其中，每一探针端的两个探针SP、SP2用于连接该液晶阵列基板200的同一信号输 入端。即，该探针端P1的两个探针SP、SP2与彩膜公共电极信号输入端CP1电接触，探针端 P2的两个探针SP、SP2与蓝像素信号输入端CP2电接触，探针端P3的两个探针SP、SP2与 绿像素信号输入端CP3电接触，探针端P4的两个探针SP、SP2与红像素信号输入端C。
22、P4电 接触，探针端P5的两个探针SP、SP2与栅极奇数信号输入端CP5，探针端P6的两个探针SP、 SP2与栅极偶数信号输入端CP6电接触，探针端P7的两个探针SP、SP2与阵列电路公共电 极信号输入端CP7电接触。 0024 该电压印加装置20包括若干电压输出端21，该若干电压输出端分别与该每一探 针端的其中一个探针SP1连接，该电压印加装置20用于通过该探针端P1P7的探针SP1 与该液晶阵列基板200的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入端CP2、绿像素信 号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数信号输入端CP6 以及阵列电路公共电极信号输入端。
23、CP7电接触。 0025 该阻抗检测装置30包括若干连接端31，该若干连接端分别与该每一探针端的另 一探针SP2连接，该阻抗检测装置30通过该探针端P1P7的探针SP2与该液晶阵列基板 200的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像 素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数信号输入端CP6以及阵列电路公共 电极信号输入端CP7电接触。 说 明 书CN 103293771 A 4/5页 7 0026 其中，在该液晶配向检测机100对基板200进行液晶配向检查时，首先通过该电压 印加装置20施加相应的电压至液晶阵列基板200的彩膜公共电极信。
24、号输入端CP1、蓝像素 信号输入端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、 栅极偶数信号输入端CP6以及阵列电路公共电极信号输入端CP7，而对液晶阵列基板200进 行影像检查，判断液晶阵列基板200是否有配向不良。其中，该检测方式与现有相同，故不 在此赘述。 0027 在对液晶阵列基板200的影像检查完成后，电压印加装置20断电，即停止对液晶 阵列基板200施加电压。 0028 该阻抗检测装置30用于在液晶阵列基板200的影像检查完成后，通过侦测该些第 二探针SP2两两之间的阻抗值而检测液晶阵列基板200的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝 像素信号输入。
25、端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端 CP5、栅极偶数信号输入端CP6以及阵列电路公共电极信号输入端CP7两两之间的阻抗值， 从而根据该些阻抗值判断彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入端CP2、绿像素信 号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数信号输入端CP6 以及阵列电路公共电极信号输入端CP7之间是否发生短路。如果有，则确定短路的两个信 号输入端，以供用户进行相应的维修。 0029 具体的，请一并参考图2，如图2所示，该阻抗检测装置30包括一具有两个接头 C1、C2的电压表VM以及一可编程逻辑电路(PLC)开。
26、关PS。该可编程逻辑电路开关PS连接 于该电压表VM的两个接头C1、C2与该若干连接端31之间，用于依次导通该电压表VM的两 个接头C1、C2与其中两个连接端31之间的连接。从而，使得电压表VM的两个接头C1、C2 依次与探针端P1P7中的其中两个探针端的探针SP2连接。如前所述，由于探针端P1 P7的探针SP2分别与液晶阵列基板200的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入 端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数 信号输入端CP6以及阵列电路公共电极信号输入端CP7连接。从而，电压表VM的两个接头 C1、C2依次与液晶阵列基板200。
27、的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入端CP2、 绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数信号输 入端CP6以及阵列电路公共电极信号输入端CP7连接中的两个连接。因此，电压表VM检测 到的两个接头C1、C2之间的阻抗值为当前两个接头连接的两个探针端的探针SP2之间的阻 抗值也为该两个探针端的探针SP2对应连接的信号输入端之间的阻抗值。 0030 该电压表VM分别测量液晶阵列基板200的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素 信号输入端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、 栅极偶数信号输入端CP6以及阵。
28、列电路公共电极信号输入端CP7中每两个之间的阻抗值， 以供根据该些阻抗值确定液晶阵列基板200的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号 输入端CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极 偶数信号输入端CP6以及阵列电路公共电极信号输入端CP7之间是否发生短路。 0031 具体的，在该电压表测量该两个信号输入端之间的阻抗值小于一定值(例如千欧 姆级)时，则说明该两个信号输入端存在短路。 0032 其中，如图1所示，该液晶配向检测机100还包括显示设备40以及可编程逻辑电 路50。该显示设备40与该电压印加装置20以及阻抗检测装置30均通过可编程逻辑电。
29、路 说 明 书CN 103293771 A 5/5页 8 50连接。如图1所示，该显示设备40通过两个不同的可编程逻辑电路50分别与该电压印 加装置20以及阻抗检测装置30连接。在其他实施方式中，该显示设备40可通过一个可编 程逻辑电路50分别与该电压印加装置20以及阻抗检测装置30连接。 0033 其中，阻抗检测装置30的检测结果，即该电压表VM检测的阻抗值还通过该可编程 逻辑电路50传送至该显示设备40进行显示，以供用户根据该阻抗值判断液晶阵列基板200 的信号输入端之间是否存在短路。显然，用户也可以直接从电压表VM上读取两个信号输入 端之间的阻抗值而判断该两个信号端是否短路。 0034 。
30、其中，电压印加装置20施加给液晶阵列基板200的电压值通过该可编程逻辑电路 50传送至该显示设备40进行显示，以供用户检查施加电压是否正确。 0035 请参阅图3，为本发明一实施方式中液晶配向检测方法的流程图，应用于如图1所 示的液晶配向检查机100中。首先，将待检测的液晶阵列基板200与液晶配向检测机100 连接(S301)。其中，该液晶配向检测机100的探测治具10的若干包括第一探针以及第二探 针的探针端分别与液晶阵列基板200的彩膜公共电极信号输入端CP1、蓝像素信号输入端 CP2、绿像素信号输入端CP3、红像素信号输入端CP4、栅极奇数信号输入端CP5、栅极偶数信 号输入端CP6以及阵。
31、列电路公共电极信号输入端CP7等若干信号输入端一一电接触。 0036 通过电压印加装置20对液晶阵列基板200的若干信号输入端输入相应的电压而 对液晶阵列基板进行影像检查(S302)。其中，该电压印加装置通过每一探针端的第一探针 SP1施加相应的电压至液晶阵列基板200的若干信号输入端而对液晶阵列基板200进行影 像检查(S303)。 0037 通过阻抗检测装置30检测液晶阵列基板200的若干信号输入端两两之间的阻抗 值(S305)。其中，该阻抗检测装置30通过侦测若干第二探针SP2两两之间的阻抗值而得到 液晶阵列基板200的若干信号输入端两两之间的阻抗值。其中，当某两个信号输入端之间 的阻抗。
32、值小于预定值时，则说明该两个信号端之间发生短路。 0038 将阻抗检测装置检测的阻抗值通过该可编程逻辑电路传送至该显示设备进行 显示，以供用户根据该阻抗值判断液晶阵列基板200的信号输入端之间是否存在短路 (S307)。 0039 其中，该方法还包括步骤：将电压印加装置20施加给液晶阵列基板200的电压值 通过该可编程逻辑电路50传送至该显示设备40进行显示，以供用户检查施加电压是否正 确。 0040 本发明的液晶配向检测机100及方法，无需该液晶配向检测机100停机，即可完成 对液晶阵列基板200的影像检测(配向检测)以及该液晶阵列基板200的若干信号输入端 之间的短路检测。 0041 以上具体实施方式对本发明进行了详细的说明，但这些并非构成对本发明的限 制。本发明的保护范围并不以上述实施方式为限，但凡本领域普通技术人员根据本发明所 揭示内容所作的等效修饰或变化，皆应纳入权利要求书中记载的保护范围内。 说 明 书CN 103293771 A 1/3页 9 图1 说 明 书 附 图CN 103293771 A 2/3页 10 图2 说 明 书 附 图CN 103293771 A 10 3/3页 11 图3 说 明 书 附 图CN 103293771 A 11 。