用于阅读不同厚度光盘的光拾取系统.pdf

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摘要
申请专利号:

CN97114942.9

申请日:

1997.05.30

公开号:

CN1170931A

公开日:

1998.01.21

当前法律状态:

撤回

有效性:

无权

法律详情:

专利申请的视为撤回公告日:1998.1.21||||||公开

IPC分类号:

G11B7/135; G02B26/10

主分类号:

G11B7/135; G02B26/10

申请人:

大宇电子株式会社;

发明人:

崔良吾

地址:

韩国汉城

优先权:

1996.05.31 KR 19114/1996; 1996.06.27 KR 24355/1996

专利代理机构:

永新专利商标代理有限公司

代理人:

蹇炜

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内容摘要

阅读贮存在第一和第二光盘上的信息的光拾取系统,每个光盘有不同的厚度并选择地装入一个盘托架中。该系统有一用于产生波长不同的第一和第二光束的光源、刀刃、包括第一和第二部分的光导装置、物镜和检测仪。光盘被选择安装在盘托架上,光源依据所选择光盘的厚度选择一光束。刀刃反射部分选择光束到光导装置的对应部分而物镜聚焦通过选择光盘传递的选择光束部分。从选择光盘反射的光束聚集到检测仪和光导装置的对应部分上。

权利要求书

1: 1、一个用于阅读选择地装入盘托架上的第一或第二光盘上贮存的信息的光 拾取系统,每个光盘都有一个记录表面和一个不同的厚度,该光拾取系统包括: 一个用于选择地产生第一和第二光束的光源每个光束相互有不同的波长; 用于反射选择地产生的部分光束到选择地装入的光盘的记录表面上的装置; 用于传递反射光束系数的装置,和 用于聚焦传递的光束到光盘的记录表面上的装置,因此,使得光拾取系统能 够阅读偏离记录表面的信息。 2、如权利要求1所述的光拾取系统,进一步包括一个检测仪,安装在相对 聚焦装置来说在光盘的对面,它装配有一个多元的接收表面,每个接收表面能够 测量光束密度并产生出一个对应的输出信号。 3、如权利要求2所述的光拾取系统,其特征在于传递的光束被聚焦在检测 仪上。 4、如权利要求3所述的光拾取系统,其特征在于聚焦装置包括第一和第二 部分能够聚焦第一和第二光束分别到第一和第二光盘的记录表面上。 5、如权利要求4所述的光拾取系统,其特征在于传递装置包括第一和第二 部分能够分别传递从反射装置反射的第一和第二光束。 6、如权利要求5所述的光拾取系统,其特征在于反射装置被放置在传递装 置和检测仪之间。 7、如权利要求6所述的光拾取系统,其特征在于第一光盘的厚度是0.6毫米。 8、如权利要求7所述的光拾取系统,其特征在于第二光盘的厚度为
2: 2毫米。 9、如权利要求8所述的光拾取系统,其特征在于传递装置的第一部分是呈 环状盘状态。 10、如权利要求8所述的光拾取系统,其特征在于传递装置的第一部分的数 值口经大于第二部分的数值口径。 11、如权利要求5所述的光拾取系统,其特征在于反射装置被这样安排,它 相对光轴倾斜一个预定角度,光轴由检测仪中心点和聚焦装置的焦点形成。 12、如权利要求11所述的光拾取系统,其特征在于预定角度为45°。 13、如权利要求1所述的光拾取系统,进一步包括一个衍射光栅用于产生一 个三条光束。 14、如权利要求13所述的光拾取装置,其特征在于衍射光棚被安置在光源 和反射装置之间。 15、如权利要求14所述的光拾取装置,其特征在于轨迹错误信号由使用推 拉方法来检测。

说明书


用于阅读不同厚度光盘的光拾取系统

    本发明涉及一个光拾取系统,一个改进的能够阅读不同厚度光盘的光拾取系统。

    在图1中表示的光拾取系统够还原传统的光导信息记录盘上的信息储存面积中的信号,它被揭示在公开的己被承认的申请中,中国专利申请No.94120179.1,题目是“用于检测光拾取系统中的聚焦错误的刀刃方法”,它在这里由参考文献综合给出。光拾取系统100包括一个光源112,一个物镜116,一个光盘119,一个有一反射表面134的刀刃120,一个差动放大器128和一个装配有一个接收表面127的光导检测仪122。在这系统100中,一个由光源112发射的光束113照射到刀刃120上并由那里的反射面134部分地反射。从反射面134反射的光束115通过物镜116以聚焦光束的形式传递到光盘119的记录表面118上。聚焦后的光束然后由物镜116和通过刀刃120被会聚。通过刀刃120地聚焦光束照射到光导测试仪的接收表面127上,接收表面127包括一个第一和第二光电管132,133。从第一和第二光电管132,133的输出信号被送到差动放大器128上的一对输入孔口124,126上,差动放大器128由比较光导测试仪的第一和第二光电管的输出信号而产生一个聚焦错误信号。

    近来,一个薄形光盘,例如0.6毫米厚的光盘被优先地使用完成高密度的光储存。然而,有一些问题与上述的光拾取系统100有关联。首先,如果阅读传统的1.2毫米厚的光盘119的光拾取系统100被使用阅读0.6毫米厚的光盘,由光盘厚度引起的球差则一定要校正。

    因此,本发明的主要目的是提供一个改进的能够阅读不同厚度光盘的光拾取系统。

    根据本发明,提供一个光拾取系统,它用于阅读分别装入盘托架上的第一和第二光盘上的储存信息,每个光盘有一个记录表面和一个不同的厚度,所说的装置包括:一个光源,用于分别产生第一和第二光束到分别装入的光盘上,每束光束有不同的波长;一个刀刃用于反射部分分别产生的光束到分别装入的光盘的记录表面上;一个光导装置用于传递部分从刀刃形来的精选光束,一个物镜用于聚焦传递在光盘的对应记录表面上的光束,因此,使光感装置能阅读那一边记录表面的信息。

    上述的本发明的其它目的和优点将根据最佳实施例和附图一起进行描述,其中:

    图1表示现有技术光拾取系统的侧视图图解;

    图2是根据本发明最佳实施例的光拾取系统的侧视图解说明;

    图3描述的是当一个薄形光盘装入盘托架中,在图2中所示的光导装置和物镜结构的放大图;

    图4A至4C表示当薄形光盘装入盘乇架中时,示范光束光点照射到检测仪的接收表面的情况;

    图5表示当一个厚形光盘被装入盘托架中,在图2所示中的光导装置和物镜结构的放大图;

    图6A至6C表示当厚形光盘被装入盘托架中,光束点照射到检测仪接收表面的情况。

    图2至图6的各附图说明了根据本发明的最佳实施例的光拾取系统的构成。

    如图2所示,根据本发明的光拾取系统200包括一个光源210,例如,一个可调波长的半导体激光器,用于选择产生第一和第二光束,第一和第二每个光束相互有不同的波长,第一波长λ1,和第二波长λ2,一个绕射光栅270,一个装有一反射表面222的刀刃220,一个包括第一和第二部分232,234的光导装置230,一个物镜240和一个带有一个多个接收表面262,264的检测仪260。

    在系统200中,如果光盘252,256之一被选择装入一个盘托架中,光源210建立在所选择光盘的厚度上,从第一和第二光束中选择出一个光束。从光源210发射的选择光束照射到衍射光栅270上用于得到一个三条衍射的光束,  0和-1。三条衍射的光束被分成两条光束,每一条光束有三条衍射光束。由刀刃220的反射表面222来完成。刀刃220的反射表面222被这样安排。它被相对光轴预定一个角度,光轴是由检测仪60的中心点和通过选择光盘的记录表面上物镜的光束的焦点形成,它优选的预定角为45°。检测仪260就物镜240而论被安置在选择的光盘对面。其中接收表面的262,264中的每一个能够测量光束的密度并产生出一个对应输出信号。三条衍射光束的一部分刀刃220的反射表面222通过光导装置230和物镜240的对应部分反射到选择的光盘上,其中光导装置230的对应部件传递光束有与优选光束相同的波长而反射光束则有不同于优选光束的波长。三条衍射光束物镜240聚焦部分通过所选择光盘上的光感装置230传递而会聚的部分三条衍射光束由选择光盘反射到检测仪260上。部分的三条衍射光束通过物镜240和光导装置230上的对应部件选择光盘反射照射到检测仪260上。

    在图3中,表示图2中光导装置230和物镜240当薄形光盘例如0.6毫米光盘252被装入盘托架上时的结构放大图。

    在还原薄光盘252的记录表面254上的记录信息信号中,光源210产生带有表示在图3中的第一波长λ1的第一光束,其中,实线表示从光源210发射的第一光束的三条衍射光束的光程。此时,光导装置230包括一个第一和第二部分232,234,其中,第一部分232呈环状盘。第一部分232传递带有第一波长λ1的第一光束的三条衍射光束到物镜240而反射带有不同波长的其它光束。物镜240包括一个第一和第二部分242,244,其中第一部分242的数值口径大于第三部分244的数值口径。进一步说,物镜240的第一部分242被设计为用于聚集光束照射到薄光盘252的记录表面254上。通过第一部分232传递的光束的三条衍射光束通过物镜240的第一部分242聚集到光盘252的记录表面254上。物镜240的第一部分242会集通过由刀刃220的反射表面222到记录表面254的反射光束到检测仪260上。

    在图4A至4C中,说明当薄光盘252被装入盘托架上时光束点照射到检测仪260的接收表面262,264的情况。

    图4A表示由第一光束的三条衍射光束产生的一个光束点266分别照射到第一和第二接收表面262,264上,其中,光束点266的大小表示照射在其上的第一光束的三条衍射光束的密度。照射到第一和第二接收表面262,264的三条衍射光束的密度在当薄光盘252被精确地安装在焦点位置时相互相等。此时,从第一和第二接收表面262,246出来的光束相互相等。并且一个信号检测单元(未示出)产生0作为聚焦错误信号。如果薄光盘252朝着物镜240的方向移动闭合器,第一光束的三条衍射光束照射在第二接收表面264上,其中,其上光束点的大小随着薄光盘252的变位大小而变化,如图4B所示,因此,使信号检测单元能产生一个负值作为聚焦错误信号。当薄光盘252移动离开物镜240时,第一光束照射到第一接收表面262,如图4C所示,因此,使信号检测单元产生一个正值作为聚焦错误信号。

    在另一方面,重现记录在厚形光盘记录表面258上的记录信息信号,例如,1.2毫米厚光盘256,光源210产生带有表示在图5所示的第二波长λ2的第二光束,如图5所示,其中,实线表示从光源210发射的第二光束的三条衍射光束的光程。在这种情况下,光导装置230的第二部分234传递带有第二波长λ2的第二光束的三条衍射光束到物镜240而反射有不同波长的其它光束。通过光导装置230的第二部分234传递的光束照射到物镜240的第二部分244上。进一步说,物镜240的第二部分244被设计为聚集集光光照射到厚光盘256的记录表面258上。通过第二部分234传递的第二光束的三条衍射光束由物镜240的第二部分244聚焦在厚光盘256的记录表面258上。在通过光导装置230和通过由刀刃220的反射表面222传递的光束后,物镜240的第二部分244会聚从记录表面258上反射的光束到检测仪260上。

    在图6A至6C中,说明当厚光盘256被装入盘托架上时,光束点照射到检测仪260的接收表面262,264上的情况。

    图6A表示,由第二光束的三条衍射光束产生的一个光束点分别照射在第一和第二接收表面262,264上,其中,光束点266的大小表示在其上的第二光束的三条衍射光束的密度。照射在第一和第二接收表面262,264的光密度,在当厚光盘256被精确安装在焦点位置时是相互相等的。在这样一个位置中,从第一和第二接收表面262,264的输出信号是相等的,而信号检测单元产生0作为一个聚焦错误信号。如果,厚光盘朝着物镜240的方向移动闭合器,第二光束的三条光束射在第二接收表面264上,其中,接收表面上光束点的大小取决于厚光盘256变位的大小,如图6B所示,因此,信号检测单元产生一个负值作为聚焦错误信号。当厚光盘256离开物镜240时,第二光束照射到第一接收表面。如图6C所示,因此,允许信号检测单元产生一个正值作为聚焦错误信号。

    此外,检测轨迹错误可以利用推拉方法来完成。

    虽然本发明己经被描述,本发明的光感装置有一个能选择产生第一和第二光束中的任一个的光源,每束光相互有不同的波长,因此能选择阅读薄,厚任一个光盘上记录的信息,上述的概念可以延伸到光拾取系统,用在一个薄和一个厚光盘上,利用这一点,如一个能选择产生P和S偏振的光源。

    本发明最佳实施例己经被描述,其它的变形和修正没有脱离以下权利要求的精神和范围是可以制做的。

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阅读贮存在第一和第二光盘上的信息的光拾取系统,每个光盘有不同的厚度并选择地装入一个盘托架中。该系统有一用于产生波长不同的第一和第二光束的光源、刀刃、包括第一和第二部分的光导装置、物镜和检测仪。光盘被选择安装在盘托架上,光源依据所选择光盘的厚度选择一光束。刀刃反射部分选择光束到光导装置的对应部分而物镜聚焦通过选择光盘传递的选择光束部分。从选择光盘反射的光束聚集到检测仪和光导装置的对应部分上。 。

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