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本发明提出了一种基于温度差异性探针基因芯片检测方法,利用两种不同荧光标记对基因芯片进行质量控制,在较低温下,目的探针与带第一荧光基团标记寡聚体序列先进行杂交,检测第一荧光基团,判断目的探针是否固定于基片上;在较高温下,目的探针与第二荧光基团标记待检测的DNA序列杂交,检测第二荧光基团,判断检测的DNA序列信息。同时使用两种荧光能快速、简便地检测目的探针是否固定在基片上,从而排除因目的探针未固定而出。