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1、(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201410790908.7(22)申请日 2014.12.17G01C 17/38(2006.01)(71)申请人 小米科技有限责任公司地址 100085 北京市海淀区清河中街 68 号华润五彩城购物中心二期 13 层(72)发明人 孙伟 底浩 石新明(74)专利代理机构 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415代理人 林祥(54) 发明名称电子罗盘的校准方法和装置(57) 摘要本公开提出一种电子罗盘的校准方法,所述方法包括 :统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数 ;判断所述校准次数是否达到阈值 ;当所述校准次数达到阈值时,如果所述电。
2、子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值,则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准,直到校准成功。本公开可以在电磁干扰较大的环境中,快速的完成针对电子罗盘的校准,缩短校准时长。(51)Int.Cl.(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请权利要求书2页 说明书9页 附图4页(10)申请公布号 CN 104501790 A(43)申请公布日 2015.04.08CN 104501790 A1/2 页21.一种电子罗盘的校准方法,其特征在于,所述方法包括 :统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数 ;判断所述校准次数是否达到阈值 ;当所述校准次数达到阈值时,如果所述电子罗盘的指示误差仍。
3、然低于校准阈值,则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准,直到校准成功。2.如权利要求 1 所述的方法,其特征在于,所述统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数包括 :统计针对所述电子罗盘进行校准时的转动次数 ;将所述转动次数设置为所述校准次数。3.如权利要求 2 所述的方法,其特征在于,所述统计针对所述电子罗盘进行校准时的转动次数包括 :根据预置的重力感应器对所述电子罗盘进行转动检测 ;对检测出的转动次数进行统计。4.如权利要求 1 所述的方法,其特征在于,所述统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数包括 :统计针对所述电子罗盘进行校准时的计算次数 ;将所述计算次数设置为所述校准次数。5.如。
4、权利要求 1 所述的方法,其特征在于,当所述电子罗盘校准成功后,将所述校准阈值恢复为默认值。6.一种电子罗盘的校准装置,其特征在于,所述装置包括 :统计模块,用于统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数 ;判断模块,用于判断所述校准次数是否达到阈值 ;降低模块,用于在所述校准次数达到阈值时,如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值,则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准,直到校准成功。7.如权利要求 6 所述的装置,其特征在于,所述统计模块包括 :第一统计子模块,用于统计针对所述电子罗盘进行校准时的转动次数 ;第一设置子模块,用于将所述转动次数设置为所述校准次数。8.如权利要求 7 所。
5、述的装置,其特征在于,所述第一统计子模块包括 :转动检测子模块,用于根据预置的重力感应器对所述电子罗盘进行转动检测 ;次数统计子模块,用于对检测出的转动次数进行统计。9.如权利要求 6 所述的装置,其特征在于,所述统计模块包括 :第二统计子模块,用于统计针对所述电子罗盘进行校准时的计算次数 ;第二设置子模块,用于将所述计算次数设置为所述校准次数。10.如权利要求 6 所述的装置,其特征在于,所述装置还包括 :恢复模块,用于在所述电子罗盘校准成功后,将所述校准阈值恢复为默认值。11.一种电子罗盘的校准装置,其特征在于,包括 :处理器 ;用于存储处理器可执行指令的存储器 ;其中,所述处理器被配置为。
6、 :权 利 要 求 书CN 104501790 A2/2 页3统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数 ;判断所述校准次数是否达到阈值 ;当所述校准次数达到阈值时,如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值,则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准,直到校准成功。权 利 要 求 书CN 104501790 A1/9 页4电子罗盘的校准方法和装置技术领域0001 本公开涉及终端技术领域,尤其涉及一种电子罗盘的校准方法和装置。背景技术0002 随着智能手机的高速发展,电子罗盘功能已经成为智能手机标配的功能之一。当电子罗盘检测到磁通量发生变化时,会提醒用户校准。在对电子罗盘进行校准时,通常会设置。
7、一个校准阈值,在校准过程中如果计算出的校准值超过校准阈值,则校准成功。校准阈值设置的越高,校准成功后的电子罗盘的指示方向的精度也就越高。0003 在实际应用中,当磁通量变化很小的环境中,例如空旷的环境下,在对电子罗盘进行校准时,计算出的校准值很容易超过校准阈值,然而在电磁干扰较大的环境下,对电子罗盘进行校准时,往往需要校准很多次校准值才能超过校准阈值,因此校准的时间会很长,非常影响用户的使用体验。发明内容0004 为克服相关技术中存在的问题,本公开提供一种电子罗盘的校准方法和装置。0005 根据本公开实施例的第一方面,提供一种电子罗盘的校准方法,所述方法包括 :0006 统计针对电子罗盘进行校。
8、准时的校准次数 ;0007 判断所述校准次数是否达到阈值 ;0008 当所述校准次数达到阈值时,如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值,则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准,直到校准成功。0009 可选的,所述统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数包括 :0010 统计针对所述电子罗盘进行校准时的转动次数 ;0011 将所述转动次数设置为所述校准次数。0012 可选的,所述统计针对所述电子罗盘进行校准时的转动次数包括 :0013 根据预置的重力感应器对所述电子罗盘进行转动检测 ;0014 对检测出的转动次数进行统计。0015 可选的,所述统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数包括 。
9、:0016 统计针对所述电子罗盘进行校准时的计算次数 ;0017 将所述计算次数设置为所述校准次数。0018 可选的,当所述电子罗盘校准成功后,将所述校准阈值恢复为默认值。0019 根据本公开实施例的第一方面,提供一种电子罗盘的校准装置,所述装置包括 :0020 统计模块,用于统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数 ;0021 判断模块,用于判断所述校准次数是否达到阈值 ;0022 降低模块,用于在所述校准次数达到阈值时,如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值,则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准,直到校准成功。0023 可选的,所述统计模块包括 :说 明 书CN 1045017。
10、90 A2/9 页50024 第一统计子模块,用于统计针对所述电子罗盘进行校准时的转动次数 ;0025 第一设置子模块,用于将所述转动次数设置为所述校准次数。0026 可选的,所述第一统计子模块包括 :0027 转动检测子模块,用于根据预置的重力感应器对所述电子罗盘进行转动检测 ;0028 次数统计子模块,用于对检测出的转动次数进行统计。0029 可选的,所述统计模块包括 :0030 第二统计子模块,用于统计针对所述电子罗盘进行校准时的计算次数 ;0031 第二设置子模块,用于将所述计算次数设置为所述校准次数。0032 可选的,所述装置还包括 :0033 恢复模块,用于在所述电子罗盘校准成功后。
11、,将所述校准阈值恢复为默认值。0034 根据本公开实施例的第三方面,提供一种电子罗盘的校准装置,包括 :0035 处理器 ;0036 用于存储处理器可执行指令的存储器 ;0037 其中,所述处理器被配置为 :0038 统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数 ;0039 判断所述校准次数是否达到阈值 ;0040 当所述校准次数达到阈值时,如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值,则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准,直到校准成功。0041 本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果 :0042 本公开的以上实施例中,通过统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数,并判断所述校准次数是。
12、否达到阈值 ;当所述校准次数达到阈值时,如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值,则自动降低所述校准阈值,从而在电磁干扰较大的环境中,可以快速的完成针对电子罗盘的校准,缩短校准时长。0043 应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。附图说明0044 此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理。0045 图 1 是根据一示例性实施例示出的一种电子罗盘的校准方法的流程示意图 ;0046 图 2 是根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准方法的流程示意图 ;0047 图 3 是根据一示。
13、例性实施例示出的一种电子罗盘的校准装置的示意框图 ;0048 图 4 是根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准装置的示意框图 ;0049 图 5 是根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准装置的示意框图 ;0050 图 6 是根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准装置的示意框图 ;0051 图 7 是根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准装置的示意框图 ;0052 图 8 是根据一示例性实施例示出的一种用于电子罗盘的校准装置的一结构示意图。说 明 书CN 104501790 A3/9 页6具体实施方式0053 这里将详细地对示例性实施例进行说明,其示例表示在附图中。下面的。
14、描述涉及附图时,除非另有表示,不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反,它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。0054 在本公开使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的,而非旨在限制本公开。在本公开和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解,本文中使用的术语“和 / 或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。0055 应当理解,尽管在本公开可能采用术语第一、第二、第三等来描述各。
15、种信息,但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如,在不脱离本公开范围的情况下,第一信息也可以被称为第二信息,类似地,第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境,如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在时”或“当时”或“响应于确定”。0056 在现有实现中,当环境中的磁通量发生变化,终端通常会提示用户转动终端对电子罗盘进行校准(例如8字形转动校准法),系统在终端的转动过程中,感知磁通量的变化,通过选定若干磁通量发生变化的点,在选定的点上进行磁感强度计算 ;当计算完成后,由于磁感强度为矢量,因此可以对计算出的磁场强度再进行反向计算得出矢量方向,然后根据磁场强度的。
16、矢量方向还原出地球磁感线 ;最后,在校准阶段,所选定的磁通量发生变化的点中,出现在还原出的地球磁感线上的点越多,则表示还原出的地球磁感线越精确,因此通常会设置一个校准阈值,并判断选定的磁通量发生变化的点中,出现在还原出的地球磁感线上的点占所选定的点的总数的比例是否超过校准阈值,来判断是否校准成功 ;如果所述比例超过校准阈值,则表示校准成功 ;相反,终端会提示用户继续转动终端。因此校准阈值越高,校准成功后的电子罗盘的指示精度越高。0057 在本公开中,仍然可以采用以上方式对终端上安装的电子罗盘进行校准。0058 如图1所示,图1是根据一示例性实施例示出的一种电子罗盘的校准方法,该方法用于终端中,。
17、所述方法包括以下步骤 :0059 在步骤 101 中,统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数 ;0060 在本实施例中,所述校准次数可以是针对电子罗盘进行校准时的转动次数,也可以是系统在对电子罗盘进行校准时的计算次数。0061 其中,当将针对电子罗盘进行校准时的转动次数作为校准次数时,可以通过终端中预置的重力感应器来感知终端是否转动,并统计转动次数,然后将统计出的转动次数作为校准次数 ;当将对电子罗盘进行校准时的计算次数作为校准次数时,系统可以将针对选定的磁通量发生变化的点进行磁感强度计算时的计算次数,作为所述校准次数。0062 在步骤 102 中,判断所述校准次数是否达到阈值 ;0063 在步。
18、骤 103 中,当所述校准次数达到阈值时,如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值,则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准,直到校准成功。0064 在本实施例中,统计出的校准次数可以直接反应出当前环境的电磁干扰的严重程度,因此在实现时可以通过为校准次数设置一个阈值,来衡量当前所处环境的电磁干扰是说 明 书CN 104501790 A4/9 页7否严重。当校准次数超过阈值时,此时可能是由于外界环境中严重的电磁干扰,从而导致对电子罗盘经过很多次校准仍然校准不成功。0065 例如,当将所述转动次数作为校准次数时,可以将所述阈值设置为三次,当用户连续三次转动手机,电子罗盘仍然没有校准成功时。
19、,可以认为当前外界环境存在电磁干扰。又如,当将所述计算次数作为校准次数时,可以将所述计算次数设置为 20 次,当所述计算次数超过 20 次时,如果电子罗盘仍然没有校准成功时,可以认为当前外界环境存在电磁干扰。0066 其中,值得说明的是,将所述转动次数或所述计算次数作为所述校准次数时,所设置的阈值可以不同。例如,以 8 字形转动校准法为例,在对电子罗盘进行校准时,终端每绕8 字转动一圈,系统后台可能会选择出很多个磁通量发生变化的点,因此在进行磁感强度计算时,终端每绕 8 字转动一圈,可能计算很多次,因此在设置阈值时,如果是将所述转动次数作为校准次数的话,可以设置一个较小的阈值 ;如果将所述计算。
20、次数作为校准次数的话,可以设置一个较大的阈值。当然,所述阈值的设置,在实现时可以根据实际应用进行设置,本公开不进行特别限定。0067 在本实施例中,当所述校准次数达到阈值时,如果电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值,例如,在电子罗盘转动过程中所选定的磁通量发生变化的点中,出现在还原出的地球磁感线上的点占所选定的点的总数的比例仍然低于阈值时,此时外界环境有可能存在严重的电磁干扰,在存在严重电磁干扰的环境中,由于磁通量的剧烈变化,会导致即便设置一个较高的校准阈值后校准成功,最终的指示精度也不会有明显的提高。0068 因此,当所述校准次数达到阈值时,如果电子罗盘仍然没有校准成功,可以降低所述校准阈值,。
21、并继续针对电子罗盘进行校准,从而可以达到快速校准,缩短校准时间的目的。其中,值得说明的是,所述校准阈值的下调比例,在本公开不进行特别限定 ;例如,在实现时可以采用工程经验值。0069 通过以上实施例的描述可知,通过统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数,并判断所述校准次数是否达到阈值 ;当所述校准次数达到阈值时,如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值,则自动降低所述校准阈值,从而在电磁干扰较大的环境中,可以快速的完成针对电子罗盘的校准,从而缩短校准时长。0070 如图2所示,图2是根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准方法,该方法用于终端中,所述终端可以是智能手机,所述方法包括以下步骤。
22、 :0071 在步骤 201 中,统计针对所述电子罗盘进行校准时的转动次数或计算次数,将所述转动次数或计算次数设置为校准次数 ;0072 在本实施例中,所述校准次数可以是针对电子罗盘进行校准时的转动次数,也可以是系统在对电子罗盘进行校准时的计算次数。0073 其中,当将针对电子罗盘进行校准时的转动次数作为校准次数时,可以通过终端中预置的重力感应器来感知终端是否转动,并统计转动次数,然后将统计出的转动次数作为校准次数 ;当将对电子罗盘进行校准时的计算次数作为校准次数时,系统可以将针对选定的磁通量发生变化的点进行磁感强度计算时的计算次数,作为所述校准次数。0074 在步骤 202 中,判断所述校准。
23、次数是否达到阈值 ;0075 在步骤 203 中,当所述校准次数达到阈值时,如果所述电子罗盘的指示误差仍然说 明 书CN 104501790 A5/9 页8低于校准阈值,则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准,直到校准成功。0076 在本实施例中,统计出的校准次数可以直接反应出当前环境的电磁干扰的严重程度,因此在实现时可以通过为校准次数设置一个阈值,来衡量当前所处环境的电磁干扰是否严重。当校准次数超过阈值时,此时可能是由于外界环境中严重的电磁干扰,从而导致对电子罗盘经过很多次校准仍然校准不成功。0077 例如,当将所述转动次数作为校准次数时,可以将所述阈值设置为三次,当用户连续三次转。
24、动手机,电子罗盘仍然没有校准成功时,可以认为当前外界环境存在电磁干扰。又如,当将所述计算次数作为校准次数时,可以将所述计算次数设置为 20 次,当所述计算次数超过 20 次时,如果电子罗盘仍然没有校准成功时,可以认为当前外界环境存在电磁干扰。0078 其中,值得说明的是,将所述转动次数或所述计算次数作为所述校准次数时,所设置的阈值可以不同。例如,以 8 字形转动校准法为例,在对电子罗盘进行校准时,终端每绕8 字转动一圈,系统后台可能会选择出很多个磁通量发生变化的点,因此在进行磁感强度计算时,终端每绕 8 字转动一圈,可能计算很多次,因此在设置阈值时,如果是将所述转动次数作为校准次数的话,可以设。
25、置一个较小的阈值 ;如果将所述计算次数作为校准次数的话,可以设置一个较大的阈值。当然,所述阈值的设置,在实现时可以根据实际应用进行设置,本公开不进行特别限定。0079 在本实施例中,当所述校准次数达到阈值时,如果电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值,例如,在电子罗盘转动过程中所选定的磁通量发生变化的点中,出现在还原出的地球磁感线上的点占所选定的点的总数的比例仍然低于阈值时,此时外界环境有可能存在严重的电磁干扰,在存在严重电磁干扰的环境中,由于磁通量的剧烈变化,会导致即便设置一个较高的校准阈值后校准成功,最终的指示精度也不会有明显的提高。0080 因此,当所述校准次数达到阈值时,如果电子罗盘仍然没。
26、有校准成功,可以降低所述校准阈值,并继续针对电子罗盘进行校准,从而可以达到快速校准,缩短校准时间的目的。0081 例如,假设默认校准阈值为 90,所述校准次数达到阈值时,系统在校准过程中一共选定了 20 个磁通量发生变化的点,进行了 20 次计算,最终一共有 10 个点出现在还原出的地球磁感线上,10 个点出现了偏离,此时出现在磁感线上的点占所选定的点的总数仅为50,低于校准阈值,因此未校准成功,系统会提示用户继续转动手机,由于外界环境电磁干扰比较大,最终计算出的所述比例可能一直低于所述校准阈值。因此为了尽快完成校准,可以将所述校准阈值降低为 50,并继续进行校准,由于校准阈值被调低,即便当前。
27、环境存在电磁干扰,在校准过程中所述比例也可以很快会达到所述校准阈值,从而完成校准。0082 其中,值得说明的是,所述校准阈值的下调比例,在本公开不进行特别限定 ;例如,在实现时可以采用工程经验值。0083 通过以上实施例的描述可知,通过统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数,并判断所述校准次数是否达到阈值 ;当所述校准次数达到阈值时,如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值,则自动降低所述校准阈值,从而在电磁干扰较大的环境中,可以快速的完成针对电子罗盘的校准,从而缩短校准时长。0084 在另一个可选的实施例中,结合上述图1或图2示出的实施例,当通过降低校准阈说 明 书CN 104501790 。
28、A6/9 页9值使得电子罗盘快速完成校准后,系统可以在后台将降低后的校准阈值恢复为默认值。例如,假设默认的校准阈值为 90,当校准次数达到阈值后,校准阈值被调低为 50并快速的完成了校准,此时可以将校准阈值从 50恢复为 90。0085 在本实施例中,当校准阈值被降低后,如果用户从一个电磁干扰较严重的环境回到一个电磁干扰小或相对空旷的环境时,由于磁通量的变化,系统可能会再次提示用户对电子罗盘进行校准,由于此时校准阈值被降低,因此校准后的电子罗盘指示精度会受影响。因此本实施例通过在降低校准阈值使得电子罗盘快速完成校准后,将降低后的校准阈值恢复为默认值,可以避免当用户从一个电磁干扰较严重的环境回到。
29、一个电磁干扰小或相对空旷的环境时,根据已降低的校准阈值对电子罗盘进行校准,而导致的丧失指示精度的问题。0086 与前述电子罗盘的校准方法实施例相对应,本公开还提供了电子罗盘的校准装置的实施例。0087 图 3 是根据一示例性实施例示出的一种电子罗盘的校准装置的示意框图。0088 如图 3 所示,根据一示例性实施例示出的一种电子罗盘的校准装置 300,包括 :统计模块 301、判断模块 302 和降低模块 302 ;其中 :0089 所述统计模块 301 被配置为,统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数 ;0090 所述判断模块 302 被配置为,判断所述校准次数是否达到阈值 ;0091 所述降低。
30、模块 303 被配置为,在所述校准次数达到阈值时,如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值,则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准直到校准成功。0092 在本实施例中,通过统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数,并判断所述校准次数是否达到阈值 ;当所述校准次数达到阈值时,如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值,则自动降低所述校准阈值,从而在电磁干扰较大的环境中,可以快速的完成针对电子罗盘的校准,从而缩短校准时长。0093 请参见图 4,图 4 是本公开根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准装置框图,该实施例在前述图3所示实施例的基础上,所述统计模块301可以包括第一统计子模。
31、块 301A 和第一设置模块 301B ;其中 :0094 所述第一统计子模块 301A 被配置为,统计针对所述电子罗盘进行校准时的转动次数 ;0095 所述第一设置子模块 301B 被配置为,将所述转动次数设置为所述校准次数。0096 请参见图 5,图 5 是本公开根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准装置框图,该实施例在前述图 4 所示实施例的基础上,所述第一统计子模块 301A 可以包括转动检测子模块 301A1 和次数统计子模块 301A2 ;其中 :0097 所述转动检测子模块 301A1 被配置为,根据预置的重力感应器对所述电子罗盘进行转动检测 ;0098 所述次数统计子模块。
32、 301A2 被配置为,对检测出的转动次数进行统计。0099 需要说明的是,上述图 5 所示的装置实施例中示出的转动检测子模块 301A1 和次数统计子模块 301A2 的结构也可以包含在前述图 3 的装置实施例中,对此本公开不进行限制。0100 请参见图 6,图 6 是本公开根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准装说 明 书CN 104501790 A7/9 页10置框图,该实施例在前述图3所示实施例的基础上,所述统计模块301可以包括第二统计子模块 301C 和第二设置子模块 301D ;其中 :0101 所述第二统计子模块 301C 被配置为,统计针对所述电子罗盘进行校准时的计算次。
33、数 ;0102 所述第二设置子模块 301D 被配置为,将所述计算次数设置为所述校准次数。0103 需要说明的是,上述图6所示的装置实施例中示出的第二统计子模块301C和第二设置子模块 301D 的结构也可以包含在前述图 4-5 的装置实施例中,对此本公开不进行限制。0104 请参见图 7,图 7 是本公开根据一示例性实施例示出的另一种电子罗盘的校准装置框图,该实施例在前述图 3 所示实施例的基础上,所述装置 30 还可以包括恢复模块 304 ;其中 :0105 所述恢复模块 304 被配置为,在所述电子罗盘校准成功后,将所述校准阈值恢复为默认值。0106 需要说明的是,上述图 7 所示的装置。
34、实施例中示出的恢复模块 304 的结构也可以包含在前述图 4-6 的装置实施例中,对此本公开不进行限制。0107 上述装置中各个模块的功能和作用的实现过程具体详见上述方法中对应步骤的实现过程,在此不再赘述。0108 对于装置实施例而言,由于其基本对应于方法实施例,所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,其中所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的,作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本公开方案的目的。本领域普通技术人员在不付。
35、出创造性劳动的情况下,即可以理解并实施。0109 相应的,本公开还提供一种电子罗盘的校准装置,所述装置包括有存储器,以及一个或者一个以上的程序,其中一个或者一个以上程序存储于存储器中,且经配置以由一个或者一个以上处理器执行所述一个或者一个以上程序包含用于进行以下操作的指令 :0110 统计针对电子罗盘进行校准时的校准次数 ;0111 判断所述校准次数是否达到阈值 ;0112 当所述校准次数达到阈值时,如果所述电子罗盘的指示误差仍然低于校准阈值,则降低所述校准阈值并继续针对所述电子罗盘进行校准,直到校准成功。0113 图 8 是根据一示例性实施例示出的一种电子罗盘的校准装置的结构示意图。0114。
36、 如图 8 所示,根据一示例性实施例示出的一种电子罗盘的校准装置 80,该装置 80可以是计算机,移动电话,数字广播终端,消息收发设备,游戏控制台,平板设备,医疗设备,健身设备,个人数字助理等。0115 参照图 8,装置 80 可以包括以下一个或多个组件 :处理组件 81,存储器 82,电源组件 83,多媒体组件 84,音频组件 85,输入 / 输出 (I/O) 的接口 86,传感器组件 87,以及通信组件 88。0116 处理组件81通常控制装置80的整体操作,诸如与显示,电话呼叫,数据通信,相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件 81 可以包括一个或多个处理器 89 来执行指令,说 明 书CN 104501790 A。