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一种用于确定写光盘(40)的最佳功率的方法(10)，包括执行功率校准测试，该测试包括将测试数据写入光盘(40)上的用户数据区，并且读取写入到光盘(40)上的用户数据区中的测试数据。

1.  一种确定用于写光盘(40)的最佳功率的方法(10)，包括：执行功率校准测试，包括：
将测试数据写入光盘(40)上的用户数据区(25)；以及
读取测试数据(30)。

2.  如权利要求1所述的方法(10)，进一步包括确定其跨越当前最佳功率设置(20)的功率测试范围。

3.  如权利要求2所述的方法(10)，进一步包括确定当前的最佳功率设置(12)。

4.  如权利要求3所述的方法(10)，其中确定当前最佳功率设置(12)包括利用初始功率测试范围来执行初始功率校准测试。

5.  如权利要求1所述的方法(10)，其中将测试数据写入到用户数据区(25)包括响应所确定的功率测试范围写入测试数据。

6.  如权利要求1所述的方法(10)，进一步包括响应读取测试数据确定新的最佳功率设置(32)。

7.  如权利要求2所述的方法(10)，其中确定功率测试范围(20)包括：
将下限功率测试值(20)设置为低于当前最佳功率设置的预定比率；以及
将上限功率测试值(22)设置为高于当前最佳功率设置的预定比率。

8.  如权利要求1所述的方法(10)，其中将测试数据写入到用户数据区包括将测试数据写入到下一个写入操作的位置。

9.  如权利要求1所述的方法(10)，其中将测试数据写入到用户数据区包括将数据写入到与下一个写入操作相邻近的一位置。

10.  如权利要求1所述的方法(10)，其中响应检测光盘温度的升高反复执行功率校准测试。

确定用于写光盘的最佳功率的系统及方法
技术领域
本发明通常涉及光盘记录领域，特别是涉及一种确定用于写光盘的最佳功率的系统及方法。
背景技术
光盘已经用作计算机的优选数据存储媒体。虽然诸如CD-ROM(只读光盘存储器)及DVD(数字化多用途盘)这样的某些光盘是只读的，但是计算机用户可使用诸如CD-R(可写光盘存储器)、CD-RW(可重写的光盘)、DVD+RW(可重写的数字化多用途盘)、以及DVD-RAM(数字化视频光盘随机存取存储器)来记录数据。
通常，写光盘所使用的激光二极管的最佳功率是可变的并且取决于许多因素。例如，光盘的特性可影响写磁盘的最佳激光功率，该光盘特性在磁盘至磁盘之间变化并且在边缘至边缘之间变化或者根据每个磁盘的半径而变化。另外，激光二极管的特征以及其工作温度还必需对激光功率进行校准。进一步，光学器件或者媒体上的残渣、热量、或者机械应力可使激光束畸变。现有的系统通过对光盘上的未用于记录数据的一区域进行写操作来执行最佳功率校准(OPC)。该测试区通常被称为功率校准区域(PCA)或者OPC区域并且占据了磁盘内半径附近的区域。随后，由于认识到光盘的特性是不均匀的遍布其表面，因此还在导出区中的光盘外缘附近执行最佳功率校准。然而，这两个测试区域仍远离其上记录有数据的光盘区域并且可以具有记录特性。另外，因为周期性的执行最佳功率校准，因此将激光定位在功率校准区或者导出区上所需的较长的查找时间使磁盘写时间增加并且使系统的整个操作慢下来。
发明内容
根据本发明的一实施例，用于确定适合于写光盘的最佳功率的方法包括执行功率校准测试。功率校准测试包括将测试数据写入光盘上的用户数据区，并且读取写入到光盘上的用户数据区中的测试数据。
根据本发明的又一个实施例，用于确定适合于写光盘的最佳功率的系统包括一可操作的处理器，该处理器指示激光将测试数据写入光盘上的用户数据区，并且指示传感器读取所写入到光盘上的用户数据区中的测试数据。
根据本发明的另一个实施例，一件产品包括一计算机可读媒体，该计算机可读媒体是由一可操作的处理器所编码的以执行功率校准测试。该处理包括将测试数据写入光盘上的用户数据区，并且读取测试数据。
附图说明
为了更彻底的了解本发明，参考结合附图的以下描述即可得出其目的及优点，在附图中：
图1给出了根据本发明教导的最佳功率校准测试过程的一实施例的简化流程图；
图2给出了光盘上的区域的示意图；
图3给出了根据本发明教导的最佳功率校准测试系统的简化方框图；
图4给出了根据本发明教导的功率重新校准测试过程的一实施例的流程图。
具体实施方式
参考附图1至附图4可更好的理解本发明的优选实施例以及其优点，在各个附图中相同的数字标记用于相同的并且相应的部件。
图1给出了根据本发明教导的最佳功率校准测试过程10的一实施例的简化流程图。如块12所示，最佳功率校准测试过程10执行初始校准测试。如图2所示，为了该目的所保留的初始功率校准测试与典型的通过写入光盘40上地功率校准区(PCA)42所执行的传统校准测试相同或者相似。功率校准区42位于光盘40内半径附近。从光盘40的中心继续向外，下一个区域是导入区46，该导入区46包含有盘信息。在某些光学格式中，PCA 42被认为是部分导入区。继导入区46之后的下一个区域是程序区或者用户数据区48，该用户数据区具有用户写数据道。与光盘40的外缘相邻近的导出区50具有导出信息，并且还可包括或者继之以二次功率校准区以进行正常的或者高速的功率校准。
同时参考图3，图3给出了最佳功率校准系统60的简化方框图，在第一写操作之前在光盘40上执行典型的初始校准。在初始校准测试过程中，从在光盘40的导入区46中所编码的预制沟槽中的绝对时间(ATIP)信息或者预制沟槽中的地址(ADIP)信息中读取最初所提议的最佳记录功率(RORP)估计值。利用该估计值，处理器66确定其包括有该估计值的激光功率测试范围。在某些实施例中，功率测试范围可跨越三个至四个毫瓦或者更多。在测试的过程中，激光62将测试数据写入到功率校准区42或者导出区50中，同时控制器64将激光62的功率步调到功率测试范围中。光盘读取器68此后读取测试数据。典型的，测试数据是预定的测试模式，该预定测试模式的值为处理器66所知。光盘读取器68包括低功率激光或者光源，该低功率激光或者光源使激光束聚焦在形成于光学磁盘记录表面上的标记及间隔上。由光检测器以及光盘读取器68中的有关电子设备来解译来自该标记和间隔的反射光并且将其转换为其可提供与不同功率值有关的信息的数据。处理器66根据位于光盘40记录表面上的由激光62所形成的标记和间隔的大小及光学性能来确定适合于将数据写入到光盘40的最佳功率设置。如过程10的块14所示，此后使用所确定的最佳功率设置以在随后的写操作中写入光盘40。
在过程10的块16中，做出这样一个确定，即确定是否已经满足用于重新校准的一个或多个预定准则。例如，如果系统60(图3)已经在一段时间期间执行了许多写操作，那么希望对激光功率的最佳设定进行重新校准。许多写操作可造成激光62的工作温度足以增加到可改变激光62的工作波长。另一个示例性的准则可以是下一个写操作的位置。光盘40的物理组成不均匀的遍布其表面，以致当写入到相同磁盘上的用户数据区时，所确定的光盘内缘或者外缘附近的最佳功率设置未必是最佳的。因此，块16中的决策过程根据其可改变激光62最佳功率设置的多个因素来确定是否重新校准。如果所确定结果是“否”，此后回到块14以继续操作；然而，如果所确定的结果是“是”重新校准，那么此后转到块18。在图4中更详细的描述了块18中的重新校准过程。
图4给出了根据本发明教导的功率重新校准测试过程18的一实施例的流程图。过程18可以是由硬件和/或软件来执行的。尤其是，过程18例如可包括由处理器66和/或控制器64所执行的软件代码。在初始功率校准过程之后执行功率重新校准过程18并且此后根据过程10的确定其是周期性的以便保持写光盘的最佳激光功率设置。在块20中，确定在重新校准过程中所测试的功率设置的范围。因为新的最佳功率设置不可能偏离当前在初始功率校准过程中或者先前重新校准过程中所确定的最佳功率设置很远，因此重新校准测试范围最好是以当前最佳功率设置为中心。因此，重新校准测试范围实质上比初始校准过程中所使用的范围更密集。例如，如果上次最佳记录功率值是20毫瓦，而不是利用18至22毫瓦的重新校准功率范围，那么本发明的优选实施例例如将重新校准功率测试范围设置为从低于当前最佳功率设置的大约5％至高于当前最佳功率设置的大约5％。利用先前的例子，此后将重新校准测试范围设置为19至21毫瓦的预定范围，而不是18至22毫瓦。或者，因为激光利用率由于更高的温度而降低了，因此例如可将测试范围的上限设置为高于当前最佳功率设置的大约7％。还可设置重新校准的功率测试范围以响应传感器(未给出)的输入。例如，温度传感器用于确定激光和/或光盘的工作温度。所检测的温度接着用于改变功率测试范围的上限值或者下限值。值得注意的是上述所列举的比率以及范围是作为例子而提供的并且可根据所使用的激光和光盘技术而改变。
在块22中，激光62的写入磁头查找在其上执行功率重新校准处理的用户数据区的位置。传统的重新校准过程需要通过写入指定的其未用于记录数据的功率校准区或者导出区来执行测试，因为激光功率测试范围跨越这样的设置，即该设置可破坏光盘道或者邻近道中的记录数据。然而，因为本发明某些实施例的重新校准过程使用其以当前最佳功率设置为中心的较窄重新校准测试范围，因此破坏的可能性极大的降低了。因此，在其上记录有数据的用户数据区中执行重新校准。最好是，在下一个写入操作块或者扇区附近执行重新校准以便根据位于该位置上的光盘的组成来确定最佳功率设置。未包含有数据的任何扇区用于写重新校准数据。或者，包含有数据的扇区用于通过在重新校准之后将数据写回到该扇区而进行的重新校准。除了由于较窄的测试范围所带来的节约时间之外，该过程还避免了长时间寻找光盘的内缘或者外缘以便执行重新校准测试。在块24中，将测试功率设置为预定的重新校准功率范围的下限值。在块25中，首先利用测试功率设置将测试数据写入到用户数据区。此后在块26中确定测试功率设置是否已到达先前在块20中所确定的上界。如果测试功率未到达上限，此后在块28中增加测试功率级别。否则，重新校准测试跨越整个功率测试范围并且读取测试数据，如块30所示。此后响应检测反射率或在写入过程中所产生的标记及空隙的位置以及长度在块32中确定新的最佳功率设置。此后在随后的写入操作中使用该新的功率设置直到下一个重新校准测试。
因为激光功率量新校准处理对位于当前最佳功率设置周围的窄范围之内的功率设置进行测试，因此不可能将损坏引入到光盘记录层或者相邻的数据道。因此，可通过将测试数据写入到与下一个写入操作的扇区和块相邻近的用户数据区的数据道中来执行重新校准测试。无需长时间的寻找功率校准区或者导出区即可进行按照这种方式所执行的重新校准，因此可提高该系统的总性能。因为在位于下一个写入操作附近的或者位于下一个写入操作位置上的用户数据区中执行重新校准测试，因此根据此结果所得出的最佳功率设置还考虑了光盘的不均匀性并且其因此更正确。
在当前的其采用恒角速度记录的驱动器中，需要外推计算，因为不可能以所要求的速度对导出区执行写入操作。根据本发明的实施例，不必在用户数据区中使用重新校准处理以执行外推计算。
最佳功率校准系统60可包括远离激光62的一处理器66，控制器64和/或光盘读取器68。处理器66是可操作的以执行在计算机可读介质上所编码的目前为大家所熟知的或者随后所开发的软件代码实现处理10及18。